View
249
Download
3
Embed Size (px)
Citation preview
Кондраков А.М., Архипов А.И.
АНАЛИЗ ВЛИЯНИЯ ШУМОВОГО НАПРЯЖЕНИЯ ДИОДОВ НА ИХ НАДЕЖНОСТЬ
Деградационные процессы в полупроводниковых диодах в процессе эксплуатации под воздействием де-
стабилизирующих факторов определяются дефектами структуры кристалла.
В данной работе проведен анализ связей между дефектами, механизмами их развития, отказами и при-
знаками их появления на основе изучения технологических процессов изготовления полупроводниковых
диодов по данным предприятий-изготовителей. Получена таблица наиболее распространенных дефектов дио-
дов и соответствующих отказов и признаков.
Для диагностического контроля качества диодов было предложено использовать параметры низкочастот-
ных шумов. Напряжение шума измерялось компенсационным методом и составляло 5…250 мВ при изменении
обратного напряжения от 2 до 50 В. Обратный ток диодов при этом изменялся от 0,3 до 17 мА.
Установлено, что для каждого типа диодов связь между надежностью и шумовым напряжением разная. В
частности коэффициент корреляции между напряжением шума и количеством постоянных отказов исследован-
ной группы диодов изменялся от 0,62 до 0,8. Это подтверждает тезис о необходимости индивидуального
подхода к каждому типу элементов.
Построены корреляционные поля обратных токов диодов для обратного напряжения 100 В и временных
сечений 1000, 5000, 10000 часов. Рассмотрены вопросы прогнозирования стабильности обратного тока и
других характеристик диодов на основе результатов неразрушающего контроля и методов теории распозна-
вания образов. Дана сравнительная оценка эффективности контроля качества и отбраковки потенциально
ненадежных образцов по напряжению шума с контролем по таким информативным параметрам как m-фактор и
вид вольтамперной характеристики, снятой при разных температурах.