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Struktur Eigenschaften und Anwendungen Elektronische Eigenschaften Herstellungsprozess Carbon Nanotubes Andreas Albrecht, Jens Welzel 22.Januar 2009 Wahlpflichtfach: Theorie der kondensierten Materie Andreas Albrecht, Jens Welzel Carbon Nanotubes

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StrukturEigenschaften und Anwendungen

Elektronische EigenschaftenHerstellungsprozess

Carbon Nanotubes

Andreas Albrecht, Jens Welzel

22.Januar 2009

Wahlpflichtfach: Theorie der kondensierten Materie

Andreas Albrecht, Jens Welzel Carbon Nanotubes

StrukturEigenschaften und Anwendungen

Elektronische EigenschaftenHerstellungsprozess

Inhaltsverzeichnis

1 Struktur

2 Eigenschaften und Anwendungen

3 Elektronische EigenschaftenAllgemeinMetallische CNT

Leitfahigkeit bei niedrigen SpannungenAbweichungen

Nanotube (Halbleiter)/Metall-Kontakte

4 Herstellungsprozess

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Elektronische EigenschaftenHerstellungsprozess

Einleitung

1991: Entdeckung vonMultiwall-Carbon-Nanotubes (MWNT’s)durch Prof. Sumio Iijima (Japan - NEC),welche bei Lichtbogenentladungen zwischenKohlenstoffelektroden entstehen.Nachweis mit hochauflosenderElektronenmikroskopie (HRTEM)1993: Entdeckung vonSinglewall-Carbon-Nanotubes (SWNT’s)(Iijima)(Lichtbogen+Katalysator)heute: Großindustrielle Produktion moglichProdukte/Anwendungen noch in derEntwicklungsphase

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Struktur von Graphen

hexagonaler Aufbau

Basisvektoren:~a1 = a(

√3, 0)

~a2 = a(√

3/2, 3/2)

C-C-Bindungsabstand:a = 0, 147nm

zweiatomige Basis

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Konstruktion von Nanorohren

Charakterisierung uberUmfangsvektor ~C = n~a1 + m~a2,m, n ∈ N0 ergibt drei Arten vonCNT:

n oder m = 0Zigzag (oberes Bild)

n = mArmchair (unteres Bild)

n 6= mchiral

Bestimmt Radius R = |~C |/2πund Chiralitat (n,m).

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Strukturmodelle

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Eigenschaften und Anwendungen von CNT’s

Durchmesser: d=0,7-10 nm, Lange: ≈100·d

Hohe mechanische Stabilitat

Grund: starke C-C Bindungen (sp2-Bindungen)

Verbiegungen bis 90 moglich

hochstes bekanntes E-Modul (≈ 1000GPa )

hohe Zugfestigkeit (MWNT’s)

Anwendungen:stabile Verbundstoffe (Beimischungen zu Kunststoffen, Ersetzungvon C-Fasern / Glasfasern)Spitzen fur RastertunnelmikroskopeLuftfahrt / Raumfahrt (+ CNT’s sind chem. inerte Materialien, +geringes Gewicht)

. . .

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Elektrische Eigenschaften

Hohe Strombelastbarkeit

Metall / Halbleiter abhangig von der Struktur

Bestimmte Strukturen sind supraleitend bei tiefenTemperaturen

Anwendungen:

Ubergang von Mikro- zu NanoelektronikNanodioden, Nanokabel, Transistoren, Schaltkreise, . . .

Hohe Kapillaritat

zylinderformige Struktur + hohes Verhaltnis von Oberflachezu Masse⇒ hohe Gasabsorption

Anwendung: Speicher fur Brennstoffzellen (H2)

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Hohe Warmeleitfahigkeit

≈ 6000W

m · Kdoppelt so hoch wie die Warmeleitfahigkeit von Diamant

Anwendung: Kuhlkorper

Feldemission bei niedrigen Spannungen

einige 100 V, Emittierung hoher Strome (≈0,1mA)Anwendungen: Displays, Beleuchtung

Fluoreszenz im Infrarotbereich

Anwendung: Biosensoren (Kopplung CNT ⇔ Protein)

Quasi-eindimensionale Struktur

Untersuchung eindimensionaler physikalischer Effekte moglich

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AllgemeinMetallische CNTNanotube (Halbleiter)/Metall-Kontakte

Elektronische Eigenschaften von Graphen

Kohlenstoff besitzt vierValenzelektronen.In Graphen:

drei sp2-Orbitale bildenσ-Bindungen zu dennachsten C-Atomen

ein p-Orbital bildetπ-Bindung mit anderemC-Atom.

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AllgemeinMetallische CNTNanotube (Halbleiter)/Metall-Kontakte

Wellengleichung fur p-Elektronen

Wellenfunktion eines p-Elektrons: ξ~rs (~r), s ∈ A,BPeriodisches Potential in Tight-Binding-Naherung:< ξ~rA |H|ξ~rB >= γδ~rA−~rB ,~a

Ansatz mit Blochwellen fur jedes Untergitter

φs =∑

~rse i~k~rs ξ~rs (~r)

Gesamtwellenfunktion Ψ = 1√2[φA + λφB ]

Energieeigenwerte:

E = ±γ

√1 + 4 cos(3

2kya) cos(√

32 kxa) + 4 cos2(

√3

2 kxa)

E (kx , ky ) = 0 besitzt sechs Losungen

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AllgemeinMetallische CNTNanotube (Halbleiter)/Metall-Kontakte

Energiedispersion von Graphen E (kx , ky)

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AllgemeinMetallische CNTNanotube (Halbleiter)/Metall-Kontakte

Von Graphen zu CNT

Quantisierung entlang desUmfanges: ~C · ~k = 2πn,n ∈ ZDies entspricht einerGeradenschar:kx = −Cy

Cxky + 2πn

Cx

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AllgemeinMetallische CNTNanotube (Halbleiter)/Metall-Kontakte

Energiedispersion der CNT

Uberlagerung mitEnergiedispersion vonGraphen liefert die von CNT

Projektion von ~k auf dieLangsachse und einsetzender Quantisierungs-bedingung in E (~k)Graphen

liefert:

E (k) = ±γ[1 + 4 cos(3Cxka

2C − 3πpaCy

C2 ) cos(√

3Cyka2C +

√3πpaCx

C2 ) +

4 cos2(√

3πpaCx

2C +√

3πpaCx

C2 )]1/2

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AllgemeinMetallische CNTNanotube (Halbleiter)/Metall-Kontakte

Energiedispersion der CNT

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AllgemeinMetallische CNTNanotube (Halbleiter)/Metall-Kontakte

Folgen

Einsetzen der Losungen von EGraphen = 0 in dieGeradengleichungen kx(ky ) fuhrt zu der Bedingung:|n −m| = 3I , I ∈ N0

CNT, die die Bedingung erfullen, z.B. Armchair-CNT, sindmetallisch, die anderen Halbleiter

Bei Halbleitern gilt fur die Bandlucke: Eg ∼ γ ar

1D-Zustandsdichte, wobei E − ε(ki ) = 0:

D(E ) =√

3a2

2πr

∑i

∫dkδ(k − ki )

∣∣ δεδk

∣∣−1

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Zustandsdichte

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AllgemeinMetallische CNTNanotube (Halbleiter)/Metall-Kontakte

Grenzen des Modells

Fur kleine Radien spielen Verbiegung der σ-Bindungen undHybridisierung von σ- und π-Orbitalen eine Rolle.

Nanorohren, die die Bedingung |n −m| = 3I erfullen, konnen(kleine) Bandlucken aufweisen, die sich wie Eg ∼ 1/r2

verhalten. Sie sind daher halbmetallisch.

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Metallische Nanorohren

Fermi-Energie an kreuzendenSubbandern, unabhangig vonCNT-Durchmesser, entsprechenderk-Wert abhangig von Chiralitat

Unabhangig von Durchmesser undChiralitat sind an der Fermi-Energiegenau zwei Subbander pro Spin

Abstand der ersten beiden nichtkreuzenden Subbander geht mitEg ∼ 1/r

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Leitfahigkeit bei niedrigen Spannungen

Die Leitfahigkeit ergibt sich zu:

G =2 e2

h· Anzahl der Moden / Subbander an der Fermienergie

Nur Bereiche /Bander um die Fermienergie bestimmen denStromtransportVoraussetzung: kleine Spannungen, kleine Durchmesser derNanotubes (Bandlucke!)

Anzahl der Subbander an der Fermikante (konstant,unabhangig von Chiralitat und Durchmesser): 2

⇒ G =4 e2

h=

1

6, 5 kΩ

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Leitfahigkeit bei niedrigen Spannungen

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AllgemeinMetallische CNTNanotube (Halbleiter)/Metall-Kontakte

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AllgemeinMetallische CNTNanotube (Halbleiter)/Metall-Kontakte

Bei niedrigen Spannungen findet ein ballistischer Transport statt

keine Streuprozesse im Nanotube (freie Weglange: ≈ 500 nm,andere Metalle: ≈ 10 nm)Lrelax > LLeiter (Lrelax = τrelax · vFermi )

Leitfahigkeit unabhangig von der Lange und genauenZusammensetzung der CNT’s

Leitfahigkeit hangt nur von der Anzahl der Subbander/Modenab

quantum resistance

Widerstand wird beschrieben durch Landauer Formel:G = 2 e2

h T , Leitwertquantum: G0 = 2 e2

h

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Experimenteller Nachweis der Leitfahigkeit (MWNT’s):

Es wird die Halfte des theoretisch erwarteten Wertes fur die Leitfahigkeit erreicht.Ursachen (?):

Modifikation der Zustandsdichte auf Grund der geschachtelten Struktur derMWNT’s

wave vector mismatch

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SWNT’s:

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Leitfahigkeit bei niedrigen Spannungen

Theoretische Werte fur die Leitfahigkeit konnen experimentellrelativ gut verifiziert werden⇒ ballistischer Transport⇒ Oberflachenstreuung, Phononenstreuung, Unordnungseffektehaben keinen / kaum Einfluss auf die LeitfahigkeitUrsachen:

freie Weglange fur Streuung mit akustischen Phononen ist zugroß

regelmaßige kristalline Oberflache

langreichweitige Potentiale (>|a1|) bewirken keineKopplungen zw. Bandern

hohe Geschwindigkeit der Elektronen (8 · 105 ms ) und geringe

Zustandsdichte → Reflektionswahrscheinlichkeit gering

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Landauer Formel

Uberschuss an nach rechts fließenden Ladungstragernbetimmt den Strom

q U = µ1 − µ2

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Landauer Formel

Zustandsdichte (1 dim.): ρ(ε) =1

π ~

√m

2

1√E

=2

h v

Strom: I = ∆n q v = (ρ(ε) q U) q v =2 q2

hU

(q = −e)

Landauer Formel: G =2 e2

hT ,

T=Transmissionswahrscheinlichkeit

mehrere Bander: T =∑

i Ti

G0 = 2 e2

h Leitwertquantum

Bei endlichen Temperaturen und Vorspannungen musszusatzlich noch die Fermi-Dirac-Verteilung berucksichtigtwerden

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AllgemeinMetallische CNTNanotube (Halbleiter)/Metall-Kontakte

Leitfahigkeit bei hohen Spannungen

Bei hoheren Spannungentritt Elektron-Phonon-WWauf

Verringerung derLeitfahigkeit

Zunahme des Stromsverschwindet

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Einfluss der Lange

Niedrige Spannung:Leitfahigkeit = 2G0,unabhangig von der Lange

Hohen Spannung:Leitfahigkeit ist Funktionder Lange

Mittlere freie Weglange istim Experiment 1/5 destheoretischen Wertes

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Einfluss des Durchmessers

Kleine Durchmesser:Leitfahigkeit = 2G0

Große Durchmesser:Leitfahigkeit wachst linearmit G0 bei nicht zu hoherSpannung

Mogliche Erklarung:Zener-Tunneln

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Elektrostatisches Potential

Niedrige Spannung: Keine Phonon-Elektron WW, ballistischerTransport, kein Abfall

Hohe Spannung: WW spielt Rolle, gleichmaßiger Abfall uberdie Lange

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Metall-Halbleiter-Kontakte

Klassischer Metall-Halbleiter Kontakt: Schottky Barriere an derKontaktstelle

≈ unabhangig von der Auslosearbeit im MetallGrund: An der Kontaktstelle / Oberflache gibt esEnergiezustande in der Energielucke (gap states) →Fermi-Level Pinning

Modell: Dipolebene an der Kontaktstelle

Barriere: φb = φ0b︸︷︷︸

χm−χs

+ ∆E︸︷︷︸Beitrag der gap states

Leitfahigkeit wird bestimmt durch thermischeAnregung

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Kontakt Metall-CNT (Halbleiter)

Modellierung durch Dipolring (”gap state“-

Einfluss) (Potential ∝ 1r3 )

Barriere durch Fermi-Level-Pinning / gap statessehr klein (wenige nm)→ Durchtunneln moglich→ nur geringer Einfluss auf Barriere

φb ≈ φ0b = χm − χs

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AllgemeinMetallische CNTNanotube (Halbleiter)/Metall-Kontakte

Schottky Barriere

φ0b > 0

Leitfahigkeit nimmt mitsteigender Temperatur zu

Ohm’sche Kontaktierung

φ0b < 0 (Au, Pd)

Leitfahigkeit nimmt mitsteigender Temperatur ab(max. G = 4 e2

h )

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Herstellung

Herstellung / Synthese

Lichtbogen, Laser Verdampfung, Solar furnance, ChemicalVapour Deposition (CVD)Katalysatoren / Prozessbedingungen ⇒ gewunschte Produkte(CNTs)

Reinigungsprozess (Purification) / Auswahl

Entfernung unerwunschter Elemente (Katalysatorreste, . . . )Filtration, chromatographische Methoden, Zentrifuge, chem.Methoden

Anpassung der EigenschaftenDotierung,

”Nano-Engineering“ mit Ionenstrahlen

Einbringen von Defekten (Punktdefekte, topologische Defekte,Anderungen in der Hybridisierung)

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Auswirkung von Defekten

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Kontrollierbare Parameter

Wahl des Herstellungsverfahrens bzw. Katalysatoren bestimmen dieEigenschaften der Produkte. Je nach Anwendungszweck werdenbestimmte Forderungen an die CNT’s gestellt (best. Struktur /Chiralitat, Lange, . . . )

kontrollierbare Parameter:

DurchmesserMultiwall / Singlewall NanotubesDefekte

Nicht / schlecht kontrollierbare Parameter:

LangeChiralitat

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Lichtbogen (Arc discharge)

Graphitelektroden, umgeben von inertem Gas (Helium, Argon)

Bogenentladung, Temperaturen im Lichtbogen ≈ 6000C ⇒Erzeugung eines Plasmas

Niedrige Spannungen (≈ 20 V), hohe Strome (≈ 50 - 200 A ),Elektrodenabstand ca. 1 mm

Nanotubes entstehen (auf der Kathode)

ohne Katalysator: MWNTmit Katalysator: SWNT

Zusatzlich entstehen noch andere Kohlenstoffprodukte (→Reinigungsprozess)

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Lichtbogen (Arc discharge)

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Laser Verdampfung (Laser ablation)

Verdampfung eines Kohlenstoff-Metall-Gemisches mit Hilfeeines Lasers (≈ 1200 C)→ Entstehung eines lokalisierten Plasmas

hohere Ausbeute (70-90 %) als beim Lichtbogenverfahrenhohere Qualitat der CNT’s

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CVD (Chemical Vapour Deposition)

Herstellung aus gasformigen Kohlenstoffverbindungen (CO,Methan, . . . )

Gas stromt uber feines, pulverformiges Katalysatorgemisch beiTemperaturen zwischen 500- 1000 C

am besten zu kontrollierendes Verfahren ⇒ IndustrielleProduktion

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