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LABORDIENSTLEISTUNGEN
Ansprechpartner:Matthias ScheetzBA. Eng. Tel. +49 7171 10407-37Fax +49 7171 [email protected]
IFO Institut für Oberflächentechnik GmbH Alexander-von-Humboldt-Straße 19 73529 Schwäbisch GmündDeutschland Tel. +49 7171 10 407-0Fax +49 7171 10 [email protected]
Wir beraten Sie gerne.Rufen Sie uns an.
Technische Daten
Rasterelektronenmikroskop (REM)JEOL 6510 Beschleunigungsspannung von 0,5 kV bis 30 kV (Low-Voltage-Elektronenmikroskopie möglich)
Energiedispersive Röntgenstrahl-Mikroanalyse (EDX)Bruker Xflash-Detektor / QUANTAX-Software
ProbenvorbehandlungVakuumcoating mit Gold (JEOL JFC-1200)Fixierung mit Kupferband, leitfähigen Klebepads oder Silberleitlack
IFO-ANALYSE – PROBLEMLÖSUNGEN VERSCHIEDENSTER AUFGABENSTELLUNGEN
Unsere Experten mit langjährigem Know-howsprechen die Sprache der Oberflächentechnik.
Schnelle und unkomplizierte Terminvereinbarungensind bei uns kein Problem. Gerne können Sie beiBedarf auch mit dem zu untersuchenden Bauteil zu uns kommen und bei der Untersuchung anwesend sein. Gerade im persönlichen Dialogergeben sich hilfreiche Erkenntnisse zur Proben-bearbeitung und Untersuchung.
Rasterelektronenmikroskopie EnergiedispersiveRöntgenspektroskopie
REM und EDX – professionelle Analysen für Ihre Forschungszwecke und Schadensfälle
ANWENDUNG· Schadensanalysen (Fraktographie, Korrosion)· Oberflächentopographie
VORTEILE· Abbildung von Oberflächen und unregel- mäßigen Objekten mit sehr hoher Auflösung
und Schärfentiefe· Aufklärung der Oberflächengestalt (Topographie) im Millimeter- bis Nanometer-
bereich
Grundmaterialfehler unter einer Zn-Ni-Beschichtung Verunreinigungen im Gewindebereich einer verzinkten Setzmutter Nickelschicht zwischen Zinnbeschichtung und V2A-Stahl (über Mapping dargestellt)
ANWENDUNG· Ortsauflösende Elementzusammensetzung
auf der Probe / den Beschichtungen
VORTEILE· Punkt-, Defekt- oder Partikelanalysen im
Bereich von ca. 1 µm· Qualitativ: Elementzusammensetzung als
Punkt-, Linien- oder Verteilungsbild· Quantitativ: Konzentration der Elemente
ANWENDUNG· Poren- und Rissbestimmung· Schichtdickenbestimmung· Gefügeanalysen
VORTEILE· 2-dimensionale Oberflächenabbildung· Auflösung bis ca. 1 µm· Vorbereitung der Probe auf die REM- / EDX-Analyse
RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIEMATERIALOGRAPHIE ENERGIEDISPERSIVE RÖNTGENSPEKTROSKOPIE
Fehler im Grundmaterial
Riss / Fehler in der Beschichtung
Korrosionsschicht
EDX-Spektrum der Sn-Ni-Beschichtung auf einem V2A-Stahl
