métrologie 2006 - glossaire

8/2/2019 mtrologie 2006 - glossaire

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Petit glossaire de mtrologie

Mise jour le 11 mars 2006 1/15

Mtrologie - Glossaire

A

Affichage analogique : voir dispositif d'affichage(NF X 07-001).Affichage numrique : voir dispositif d'affichage(NF X 07-001).

Ajustage (d'un instrument de mesure) : opration destine amener un instrument de mesureun tat de fonctionnement convenant son utilisation. L'ajustage peut tre automatique, semi-automatique ou manuel (NF X 07-001).

Appareil de mesure : voir instrument de mesure(NF X 07-001).

B

Biais : diffrence entre l'esprance mathmatique d'un rsultat d'essaiou rsultat de mesure et la valeur

vraie. Le biais est une erreur systmatiquetotale par opposition l'erreur alatoire. Il peut y avoir uneou plusieurs composantes d'erreurs systmatiques qui contribuent au biais. Une diffrence syst-matique importante par rapport la valeur vraie est reflte par une grande valeur du biais. Lebiais (erreur dejustesse) d'un instrument de mesureest normalement estim en prenant la moyenne del'erreur d'indication sur un nombre appropri d'observations rptes. L'erreur d'indication est :"l'indication d'un instrument de mesure moins une valeur vraie de la grandeur d'entre corres-pondante". Dans la pratique, la valeur de rfrence accepteremplace la valeur vraie (ISO/DIS 3534-2).

Biais de la mthode de mesure : diffrence entre l'esprance mathmatiquedes rsultats d'essaiobte-nus partir de tous les laboratoires utilisant cette mthode et une valeur de rfrence accepte. Un

exemple de ceci serait le suivant : une mthode devant mesurer la teneur en soufre d'un composne russit pas normalement extraire tout le soufre, conduisant un biaisngatif de la mthodede mesure. Le biais de la mthode de mesure est mesur par le dplacement de la moyenne desrsultats d'un grand nombre de laboratoires diffrents utilisant tous la mme mthode. Le biais dela mthode de mesure peut tre diffrent pour diffrents niveaux (NF ISO 5725-1).

Biais du laboratoire : diffrence entre l'esprance mathmatiquedes rsultats d'essaid'un laboratoireparticulier et une valeur de rfrence accepte(NF ISO 5725-1).

Budget d'incertitude : liste de sources d'incertitudeet de leurs incertitudes-typesassocies, tablie envue d'valuer l'incertitude-type composeassocie un rsultat de mesure. Cette liste peut comprendre enoutre des informations telles que les coefficients de sensibilit, les degrs de libert pour chaque

incertitude-type et une identification des moyens d'valuer chaque incertitude-type en des termesd'valuation de type A ou de type B (FD ISO/TS 21748).

C

Calibrage (d'un instrument de mesure) : positionnement matriel de chaque repre (ventuel-lement de certains repres principaux seulement) d'un instrument de mesureen fonction de la valeurcorrespondante du mesurande. Ne pas confondre calibrageet talonnage(NF X 07-001).

Calibration : terme anglais traduit en franais par talonnage.

Calibre : tendue d'chelle que l'on obtient pour une position donne des commandes d'un ins-trument de mesure. Le calibre est normalement exprim par ses limites infrieure et suprieure, parexemple "100 C 200 C". Lorsque la limite infrieure est zro, le calibre est habituellement


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exprim par la seule limite suprieure, par exemple un calibre de 0 V 100 V est appel "calibrede 100 V" (NF X 07-001).

Caractristique : trait distinctif. Une caractristique peut tre intrinsque ou assigne. Une carac-tristique peut tre quantitative ou qualitative. Il existe diffrents types de caractristiques, telsque : physiques (par exemple, mcaniques, lectriques, chimiques, biologiques), sensorielles (par

exemple, odeur, toucher, got, aspect visuel, sonorit), comportementales (par exemple, courtoi-sie, honntet, vracit), temporelles (par exemple, ponctualit, fiabilit, disponibilit), ergono-miques (par exemple, caractristique physiologique ou relative la scurit des personnes), fonc-tionnelles (par exemple, vitesse maximale d'un avion) (ISO/DIS 3534-2).

Carte de contrle : graphique sur lequel sont reportes les valeursd'une mesure statistique faitesur une srie d'chantillonsdans un ordre particulier pour orienter le processusen fonction de cettemesure et pour contrler et rduire la variation. L'ordre particulier est gnralement fond sur unordre chronologique ou de numro d'chantillon. La carte de contrle est plus efficace lorsque lamesure concerne une variable du processus corrle unproduitfinal ou une caractristique deservice(ISO/DIS 3534-2).

Carte de Shewhart : carte de contrleprincipalement utilise pour diffrencier une variationsur lamesure reporte ou due des causes alatoireset celle due des causes spciales(ISO/DIS 3534-2).

Cause alatoire Cause commune : source de variation intrinsque tout au long d'un processus.Dans un processus soumis uniquement une variation de cause alatoire, la variation est prvi-sible dans les limites statistiquement tablies. La rduction de ces causes donne lieu l'amliora-tion du processus. Cependant, la mesure de leur identification, rduction et limination fera l'ob-jet d'une analyse cot/bnfice en termes de rsolubilit technique et d'conomie (ISO/DIS3534-2).

Cause spciale : source de variationau-dessus et en dessous de la variation intrinsquedans unpro-cessus. La "cause spciale" est parfois rfrence comme "cause systmatique". Une distinction

doit toutefois tre faite. Une cause spciale est systmatique uniquement lorsqu'elle est spcifi-quement identifie. Une cause spciale survient du fait de circonstances spcifiques qui ne sontpas toujours prsentes. Ainsi, par exemple, dans un processus soumis des causes spciales,l'amplitude de la variation peut parfois ne pas tre prvisible (ISO/DIS 3534-2).

Certificat d'talonnage : voir talonnage(NF X 07-001).

Classe : sous-ensemble d'individusd'un chantillonpour une caractristique qualitative ou intervallede la droite relle pour une caractristique quantitative. Les classes sont supposes tre mutuelle-ment exclusives et exhaustives. La droite relle est constitue de tous les nombres rels comprisentre moins l'infini et plus l'infini (ISO/CD 4 3534-1).

Classe (cellule) dans une exprience de fidlit : rsultats d'essai un niveau unique, obtenus

par un laboratoire (NF ISO 5725-1).

Classe d'exactitude : classe d'instruments de mesure qui satisfont certaines exigences mtrolo-giques destines conserver les erreursdans des limites spcifies (erreurs maximales tolres). Uneclasse d'exactitude est habituellement indique par un nombre ou symbole adopt par conventionet dnomm indice de classe(NF X 07-001).

Classe de distributions : famille particulire de distributionsqu'il est possible de spcifier totale-ment par les valeurs de paramtres appropris. Par exemple, distribution normale symtrique encloche deux paramtres avec paramtres moyenneet cart-type(ISO/DIS 3534-2).

Client : destinataire d'unproduitfourni par lefournisseur(NF EN ISO 8402).

Coefficient de variation :cart-typedivis par la moyenne(ISO/CD 4 3534-1).

Coefficient de variation de la rptabilit : voir cart-type de rptabilit(NF ISO 5725-1).


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Coefficient de variation de reproductibilit : voir cart-type de reproductibilit(NF ISO 5725-1).

Composante laboratoire du biais : diffrence entre le biais du laboratoireet le biais de la mthode demesure. La composante laboratoire du biais est spcifique un laboratoire donn et aux conditionsde mesure dans ce laboratoire, et peut galement tre diffrente diffrents niveaux de l'essai. Lacomposante laboratoire du biais est relative au rsultat de la moyennegnrale et non la valeur vraie

ou de rfrence(NF ISO 5725-1).

Conditions de rptabilit : condition o les rsultats d'essaiou de mesure indpendants sont ob-tenus par la mme mthode sur des individusd'essai ou de mesure identiques sur la mme installa-tion d'essai ou de mesure, par le mme oprateur, utilisant le mme quipement et pendant uncourt intervalle de temps. Les conditions de rptabilit comprennent : le mme mode opratoireoula mme mthode d'essai, le mme observateur, le mme instrument de mesureou d'essai utilis dansles mmes conditions, le mme lieu, la rptition durant une courte priode de temps (ISO/DIS3534-2).

Conditions de reproductibilit : condition o les rsultats d'essaiou de mesureindpendants sontobtenus par la mme mthode sur des individus d'essai ou de mesure identiques sur diffrentes

installation d'essai ou de mesure avec diffrents oprateurs et utilisant des quipements diffrents(ISO/DIS 3534-2).

Correction :valeurajoute algbriquement au rsultat brut d'un mesuragepour compenser une erreursystmatique. La correction est gale l'oppos de l'erreur systmatique estime. Puisque l'erreursystmatique ne peut pas tre connue parfaitement, la compensation ne peut pas tre complte(NF X 07-001).

D

Dispositif d'affichage ; dispositif indicateur : partie d'un appareil de mesurequi affiche une indi-cation. Ce terme peut inclure le dispositif l'aide duquel la valeur fournie par une mesure matria-lise est affiche ou rgle. Un dispositif d'affichage analogiquefournit un affichage analogique ; undispositif d'affichage numriquefournit un affichage numrique (NF X 07-001).

Distribution continue :voir loi de probabilit continue(ISO/CD 4 3534-1).

Distribution d'effectif : relation empirique entre les classeset leur nombre d'occurrences et devaleurs observes(ISO/CD 4 3534-1).

Distribution d'une caractristique : toutes les valeurs d'une caractristique. La distribution d'unecaractristique peut tre classe, par exemple, en classant les valeurs de la caractristique et enreprsentant les rsultats des mesuresou les scores sous la forme d'un tableau de dpouillement oud'un histogramme. Ce modle fournit toutes les donnes de la caractristiques l'exception de

l'ordre dans lequel les donnes apparaissent. La distribution d'une caractristique dpend de con-ditions gnrales. Ainsi, si l'on dsire connatre des informations utiles sur la distribution d'unecaractristique, il convient de spcifier les conditions dans lesquelles les donnes ont t recueil-lies. Il est important de connatre la classe de distribution, par exemple loi normaleou log-normale,avant de prvoir ou d'estimer l'aptitudeou les performances du processus ainsi que les indices ou laproportion de non conformes (ISO/DIS 3534-2).

Division : partie d'une chellecomprise entre deux repres successifs quelconques (NF X 07-001).

E

Ecart-type : racine carre positive de la variance. L'cart-type de l'chantillonest un estimateursans

biais de l'cart-type de lapopulation(NF ISO 3534-1).


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Ecart-type de rptabilit : cart-typedes rsultats d'essaiobtenus sous des conditions de rptabilit.C'est une mesure de la dispersion de la loi de distribution des rsultats d'essais sous des condi-tions de rptabilit. On peut dfinir de faon similaire la variance de rptabilitet le coefficient devariation de la rptabilitet les utiliser comme mesures de la dispersion des rsultats d'essai sous desconditions de rptabilit (NF ISO 5725-1).

Ecart-type de reproductibilit : cart-typedes rsultats d'essaiobtenus sous des conditions de repro-ductibilit. C'est une mesure de la dispersion de la loi de distribution des rsultats d'essais sous desconditions de reproductibilit. On peut dfinir de faon similaire la variance de reproductibilitet lecoefficient de variation de reproductibilit et les utiliser comme mesures de la dispersion des rsultatsd'essai sous des conditions de reproductibilit (NF ISO 5725-1).

Ecart-type exprimental : pour une srie de n mesuragesdu mme mesurande, grandeur s caract-risant la dispersion des rsultats, donne par la formule :

n2

ii 1

(x x)

s

n 1

Dans cette expression, xi est le rsultat du ime mesurage et x la moyenne arithmtiquedes n rsultats

considrs. En considrant la srie de n valeurs comme chantillond'une distribution, x est un

estimateursans biais de la moyenne et s2 est un estimateur sans biais de la variance 2 de cette

distribution (NF X 07-001).

Ecart-type exprimental de la moyenne : l'expression s/ n est une estimation de l'cart-typede la distribution de x et est appele cart-type exprimental de la moyenne (NF X 07-001).

Echantillon : sous-ensemble d'une populationconstitu d'une ou de plusieurs units d'chantillon-nage. En fonction de la population considre, les units d'chantillonnage peuvent tre des indivi-

dus, des valeurs numriques ou encore des entits abstraites (ISO/CD 4 3534-1).Echelle (d'un appareil de mesure) : ensemble ordonn de repres avec toute chiffraison asso-cie, formant partie d'un dispositif indicateur d'un appareil de mesure(NF X 07-001).

Echelle linaire : chelledans laquelle la longueur et la valeur de chaque divisionsont relies par uncoefficient de proportionnalit constant le long de l'chelle. Une chelle linaire dont les chelonssont constants est appele chelle rgulire(NF X 07-001).

Echelle rgulire :voir chelle linaire(NF X 07-001).

Effectif : nombre d'occurrences ou de valeurs observesdans une classespcifie (ISO/CD 4 3534-

1).

Erreur alatoire :rsultat d'un mesuragemoins la moyenned'un nombre infini de mesuragesdu mmemesurande, effectus dans des conditions de rptabilit. L'erreur alatoire est gale l'erreurmoins l'er-reur systmatique. Comme on ne peut faire qu'un nombre fini de mesurages, il est seulement pos-sible de dterminer une estimationde l'erreur alatoire (NF X 07-001).

Erreur alatoire de rsultat : composante de l'erreur qui, lors d'un certain nombre de rsultatsd'essaiou rsultats de mesure, pour la mme caractristiqueougrandeur, varie de faon imprvisible. Iln'est pas possible de corriger une erreur alatoire (ISO/DIS 3534-2).

Erreur (de mesure) :rsultat d'un mesuragemoins une valeur vraiedu mesurande. Etant donn qu'unevaleur vraie ne peut pas tre dtermine, on utilise une valeur conventionnellement vraie (NF X 07-001).


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Erreur de justesse (d'un instrument de mesure) :erreur systmatiqued'indication d'un instrumentde mesure. L'erreur de justesse est normalement estime en prenant la moyenne de l' erreur d'indica-tionsur un nombre appropri d'observations rptes (NF X 07-001).

Erreur de rsultat : rsultat d'essaiou rsultat de mesuremoins la valeur vraie. Dans la pratique, lavaleur de rfrence accepteremplace la valeur vraie. L'erreur est la somme d'erreurs alatoiresdu rsultat

et d'erreurs systmatiquesdu rsultat (ISO/DIS 3534-2).

Erreur (d'indication) d'un instrument de mesure : indication d'un instrument de mesuremoinsune valeur vraiede la grandeur d'entre correspondante. Etant donn qu'une valeur vraie ne peutpas tre dtermine, on utilise dans la pratique une valeur conventionnellement vraie. Ce concept s'ap-plique principalement lorsqu'on compare l'instrument un talon de rfrence(NF X 07-001).

Erreur relative : rapport de l'erreur de mesure une valeur vraiedu mesurande. Etant donn qu'unevaleur vraie ne peut pas tre dtermine, dans la pratique on utilise une valeur conventionnellementvraie(NF X 07-001).

Erreur systmatique :moyennequi rsulterait d'un nombre infini de mesuragesdu mme mesurande,

effectus dans lesconditions de rptabilit

, moins unevaleur varie

du mesurande. L'erreur systma-tique est gale l'erreurmoins l'erreur alatoire. Comme la valeur vraie, l'erreur systmatique et sescauses ne peuvent pas tre connues compltement (NF X 07-001).

Erreur systmatique de rsultat : composante de l'erreurqui, lors d'un certain nombre de rsul-tats d'essaiou rsultats de mesure, pour la mme caractristiqueougrandeur, demeure constante ou variede faon prvisible. Les erreurs systmatiques et leurs causes peuvent tre connues ou inconnues(ISO/DIS 3534-2).

Erreurs maximales tolres (d'un instrument de mesure) : valeurs extrmes d'une erreurtol-re par des spcifications, rglement, etc., pour un instrument de mesuredonn (NF X 07-001).

Esprance mathmatique (d'une variable alatoire ou d'une loi de probabilit) : pour une

variable alatoire continue X, ayant pour fonction de densit de probabilit f(x), l'esprance mathma-tique, si elle existe, est dfinie par :

X E(X) xf(x)dx L'intgrale est tendue au domaine de variation de X (NF ISO 3534-1).

Essai : opration technique qui consiste dterminer une ou plusieurs caractristiquesou la per-formance d'unproduit, matriau, quipement, organisme, phnomne physique, processusou servicedonn, selon un mode opratoirespcifi. L'essai est cens reprsenter sur site ou au laboratoire lesconditions rencontres en service, auxquelles le produit ou l'quipement est soumis. Lors desessais, le produit peut trs souvent subir des dformations, des dgradations, voire mme une

destruction complte (NF EN 45020). Le mesurageest limit la dtermination de grandeursalorsque l'essaiest utilis dans un sens plus large pour dterminer des caractristiquespar mesurage ouautres moyens tels que la quantification, le classement ou la dtection de la prsence ou de l'ab-sence d'une caractristique (ISO/DIS 3534-2).

Estimateur :statistiqueutilise pour une estimation(ISO/CD 4 3534-1).

Estimation (opration) : opration ayant pour but, partir d'un chantillon alatoire prlevd'unepopulation, d'obtenir une reprsentation statistique de cette population. En particulier, l'op-ration de passage d'un estimateur une estimation spcifique constitue une estimation. Le terme"estimation" est considr dans un large contexte pour comprendre l'estimation ponctuelle, l'es-timation par intervalle ou l'estimation de caractristiques ou de proprits de populations. Une

reprsentation statistique fait souvent rfrence l'estimation d'un paramtre ou de paramtresissus d'un ou de modles supposs (ISO/CD 4 3534-1).


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Estimation (rsultat) :valeur observed'un estimateur. L'estimation est parfois associe l'adjectif"ponctuelle" pour souligner qu'une seule valeur est produite plutt qu'un intervalle de valeurs. Demme, l'estimation est associe l'expression "par intervalle" lorsqu'il s'agit de raliser une esti-mation par intervalle (ISO/CD 4 3534-1).

Etalon : mesure matrialise, appareil de mesure, matriau de rfrence ou systme de mesure des-

tin dfinir, raliser, conserver ou reproduire une unit ou une ou plusieurs valeurs d'une gran-deur pour servir de rfrence (NF X 07-001).

Etalon de rfrence :talon, en gnral de la plus haute qualit mtrologique disponible dans unlieu donn ou dans une organisation donne, dont drivent les mesurages qui y sont faits (NF X07-001).

Etalonnage : ensemble des oprations tablissant, dans des conditions spcifies, la relationentre les valeurs de la grandeur indiques par un appareil de mesureou un systme de mesure, ou les

valeurs reprsentes par une mesure matrialise ou par un matriau de rfrence, et les valeurs cor-respondantes de la grandeur ralises par des talons. Le rsultat d'un talonnage permet soit d'at-tribuer aux indications les valeurs correspondantes du mesurande, soit de dterminer les corrections

appliquer aux indications. Un talonnage peut aussi servir dterminer d'autres proprits mtro-logiques telles que les effets de grandeurs d'influence. Le rsultat d'un talonnage peut tre consigndans un document parfois appel certificat d'talonnageou rapport d'talonnage(NF X 07-001).

Etendue d'chantillon : plus grande statistique d'ordre moins la plus petite statistique d'ordre(ISO/CD 4 3534-1).

Etendue de mesure : ensemble des valeursdu mesurandepour lesquelles l'erreurd'un instrument demesureest suppose comprise dans des limites spcifies. L'erreur est tablie par rfrence unevaleur conventionnellement vraie(NF X 07-001).

Evaluation de Type A (de l'incertitude) : mthode d'valuation de l'incertitudepar l'analyse sta-tistique de sries d'observations (NF ENV 13005).

Evaluation de Type B (de l'incertitude) : mthode d'valuation de l'incertitudepar des moyensautres que l'analyse statistique de sries d'observations (NF ENV 13005).

Exactitude : troitesse de l'accord entre le rsultat d'essaiou rsultat de mesureet la valeur vraie. Dansla pratique, la valeur de rfrence accepteremplace la valeur vraie. Le terme "exactitude" appliqu unensemble de rsultats d'essai ou de mesure, implique une combinaison de composantes alatoireset d'une erreur systmatiquecommune ou d'une composante de biais. L'exactitude fait rfrence une combinaison dejustesseet defidlit(ISO/DIS 3534-2).

Exactitude d'un instrument de mesure : aptitude d'un instrument de mesure donner des r-ponses proches d'une valeur vraie. Le concept d'exactitude est qualitatif (NF X 07-001).

Exprience d'valuation collective : exprience inter laboratoires dans laquelle la performancede chaque laboratoire est value en utilisant la mme mthode de mesure normalise sur un ma-triau identique (NF ISO 5725-1).

F

Facteur d'largissement : facteur numrique utilis comme multiplicateur de l'incertitude-typecomposepour obtenir l'incertitude largie. Un facteur d'largissement k a sa valeur typiquement com-prise entre 2 et 3 (NF ENV 13005).

Facteur de correction : facteur numrique par lequel on multiplie le rsultat brut d'un mesurage

pour compenser une erreur systmatique. Puisque l'erreur systmatique ne peut pas tre connue par-faitement, la compensation ne peut pas tre complte (NF X 07-001).


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Fidlit : troitesse d'accord entre des rsultats d'essaiou rsultats de mesureindpendantsobtenus sousdes conditions stipules. La fidlit dpend uniquement de la distribution des erreurs alatoiresetn'a aucune relation avec la valeur vraieou la valeur spcifie. La mesure de la fidlit est exprimeen terme d'infidlit et est calcule partir de l'cart-typedes rsultats d'essai ou de mesure. Unefidlit faible est reflte par un grand cart-type. Le terme "rsultats d'essai indpendants" signi-

fie des rsultats obtenus d'une faon non influence par un rsultat prcdent sur le mme mat-riau d'essai ou similaire. Les mesures quantitatives de la fidlit dpendent de faon critique desconditions stipules. Les conditions de rptabilitet de reproductibilitsont des ensembles particuliersde conditions extrmes stipules (ISO/DIS 3534-2).

Fidlit d'un instrument de mesure : aptitude d'un instrument de mesure donner des indicationstrs voisines lors de l'application rpte du mme mesurandedans les mmes conditions de me-sure. Ces conditions comprennent : rduction au minimum des variations dues l'oprateur,mme mode opratoire de mesure, mme observateur, mme quipement de mesure utilis dans lesmmes conditions, mme lieu, rptition durant une courte priode de temps. La rptabilitpeuts'exprimer quantitativement l'aide de caractristiques de dispersion des indications (NF X 07-001).

Fonction de densit de probabilit (pour une variable alatoire continue) : fonction nonngative qui lorsqu'elle est intgre de moins l'infini x donne lafonction de rpartitionvalue en xd'une distribution continue. Si la fonction de rpartition F est diffrentiable de manire continue, lafonction de densit de probabilit est alors note :

dF(x)f(x)

dx

aux points o la drive existe. Une reprsentation graphique de f(x) par rapport x suggre desdescriptions telles que symtrique, pointue, aplatie, unimodale, bimodale, etc. Une reprsentationgraphique d'une fonction ajuste f(x)sur un histogramme fournit une valuation visuelle de l'ac-

cord entre une distribution ajuste et les donnes (ISO/CD 4 3534-1).Fonction de rpartition : fonction donnant pour toute valeur x, la probabilitque la variable ala-toireX soit infrieure ou gale x (NF ISO 3534-1) :

rF(x) P X x

Fournisseur : organisme qui fournit unproduitau client(NF EN ISO 8402).

Fractile (d'une variable alatoire) : le fractile d'ordre p est la valeur de la variable alatoirepourlaquelle lafonction de rpartitionprend la valeur p (0 < p < 1) ou "saute" d'une valeur infrieure p une valeur suprieure p (NF ISO 3534-1).

G

Grandeur : attribut d'un phnomne, d'un corps ou d'une substance, qui est susceptible d'tredistingu qualitativement et dtermin quantitativement (NF X 07-001).

Grandeur d'influence : grandeur qui n'est pas le mesurandemais qui a un effet sur le rsultat d'unmesurage(NF X 07-001).

H

Histogramme : reprsentation graphique d'une distribution d'effectifcompose de rectangles conti-gus, ayant chacun une base gale la largeur de classeet une surface proportionnelle l'effectifde laclasse(ISO/CD 4 3534-1).


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I

Incertitude (de mesure) : paramtre associ au rsultat d'un mesurage(de mesure)(ou rsultat d'essai),qui caractrise la dispersion des valeursqui pourraient raisonnablement tre attribues au mesurande( la grandeur particulire soumise mesurage ou la caractristique soumise essai). Le paramtre

peut tre, par exemple, un cart-type(ou un multiple de celui-ci) ou la demi-largeur d'un intervallede niveau de confiance dtermin. L'incertitude de mesure comprend, en gnral, plusieurs com-posantes. Certaines peuvent tre values partir de la distribution statistique des rsultats desries de mesurages et peuvent tre caractrises par des carts-types exprimentaux. Les autres com-posantes, qui peuvent aussi tre caractrises par des carts-types, sont values en admettant deslois de probabilit, d'aprs l'exprience acquise ou d'aprs d'autres informations. Il est entendu que lersultat du mesurage est la meilleure estimationde la valeur du mesurande, et que toutes les com-posantes de l'incertitude, y compris celles qui proviennent d'effets systmatiques, telles que lescomposantes associes aux correctionset aux talons de rfrence, contribuent la dispersion (NF X07-001 & ISO/DIS 3534-2).

Incertitude largie : grandeur dfinissant un intervalle, autour du rsultat d'un mesurage, dont on

puisse s'attendre ce qu'il comprenne une fraction leve de la distribution des valeurs qui pour-raient tre attribues raisonnablement au mesurande. La fraction peut tre considre comme la

probabilitou le niveau de confiance de l'intervalle. L'association d'un niveau de confiance spci-fique l'intervalle dfini par l'incertitude largie ncessite des hypothses explicites ou implicitessur la loi de probabilitcaractrise par le rsultat de mesure et son incertitude-type compose. Le niveaude confiance qui peut tre attribu cet intervalle ne peut tre connu qu'avec la mme validitque celle qui se rattache ces hypothses. Une incertitude largie s'obtient par la multiplication del'incertitude-type compose uc(y) par unfacteur d'largissementk (NF ENV 13005).

Incertitude-type :incertitudedu rsultat d'un mesurageexprime sous la forme d'un cart-type. Chaqueestimation d'entre xi et son incertitude-type associe u(xi) sont obtenues partir d'une loi des

valeurs possibles de la grandeur d'entre Xi. Cette loi de probabilitpeut tre fonde sur une distri-bution de frquence, c'est--dire sur une srie d'observations Xi,k des Xi, ou ce peut tre une loi apriori. Les valuations de Type A des composantes de l'incertitude type sont fondes sur des distribu-tions de frquences alors que les valuations de Type B sont fondes sur des lois a priori. On doitreconnatre que dans les deux cas, les lois sont des modles utiliss pour reprsenter l'tat denotre connaissance (NF ENV 13005).

Incertitude-type compose : incertitudedu rsultat d'un mesurage, lorsque ce rsultat est obtenu partir des valeurs d'autres grandeurs, gale la racine carre d'une somme de termes, ces termestant des variancesou covariancesde ces autres grandeurs, pondres selon la variation du rsultat demesure en fonction de celle de ces grandeurs. L'cart-typeestim associ l'estimationde sortie ouau rsultat du mesuragey, appel incertitude-type compose et not uc(y), est dtermin partir de

l'cart-type associ chaque estimation des grandeurs d'entre xi, appele incertitude-type et no-te u(xi). L'incertitude-type de y, o y est l'estimation du mesurandeY, donc le rsultat du mesu-rage, est obtenue par une combinaison approprie des incertitudes-types des grandeurs d'entrex1, x2, , xN. Cette incertitude-type compose de l'estimation y est note uc(y) (NF ENV 13005).

Indice d'aptitude du processus : indice dfinissant l'aptitude du processus par rapport la tol-rance spcifie. En gnral, l'indice d'aptitude du processus est not C P, et exprim comme la valeurde la tolrance spcifie divise par une mesure de la longueur de l'intervalle de rfrence, pour un

processus en tat de matrisestatistique, savoir :

P

99,865% 0,135%

U LC

X X

Pour une distribution normale, l'intervalle de rfrence est gal 6s ou 6(ISO/DIS 3534-2).


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Indice de classe :voir classe d'exactitude(NF X 07-001).

Indice de performance du processus : indice dfinissant la performance du processus par rap-port la tolrance spcifie. En gnral, l'indice de performance du processus est not PP, et exprimcomme la valeur de la tolrance spcifie divise par une mesure de la longueur de l' intervalle derfrence, savoir :

P

99,865% 0,135%

U LP

X X

Pour une distribution normale, l'intervalle de rfrence est gal 6s ou 6(ISO/DIS 3534-2).

Individu : objet, entit, tout lment concret ou perceptible. Par exemple : une entit physiquediscrte, une quantit dfinie de matriau en vrac, une activit, une personne, un systme ou unecombinaison de l'ensemble (ISO/DIS 3534-2).

Instrument de mesure : dispositif destin faire des mesurages, seul ou associ un ou plusieursdispositifs annexes (NF X 07-001).

Intervalle de rfrence X99,865% - X0,135% : intervalle compris entre le fractile de distribution99,865%, X99,865%, et le fractile de distribution 0,135%, X0,135%, exprim par la diffrence X99,865%-X0,135%. Ce terme n'est utilis que comme base arbitraire mais rduite pour dfinir l' indice de perfor-mance du processusPP et l'indice d'aptitude du processusCP. Il est parfois dsign tort comme intervalle"naturel". Pour une distribution normale, l'intervalle de rfrence peut tre exprim en carts-typescomme 6 ou 6s lorsqu'il est valu partir d'un chantillon(ISO/DIS 3534-2).

J

Justesse : troitesse de l'accord entre l'esprance mathmatiqued'un rsultat d'essaid'un rsultat de me-sureet la valeur vraie. La mesure de la justesse est gnralement exprime en terme de biais. Dans la

pratique, la valeur de rfrence accepteremplace la valeur vraie (ISO/DIS 3534-2).Justesse d'un instrument de mesure : aptitude d'un instrument de mesure donner des indica-tions exemptes d'erreur systmatique(NF X 07-001).

L

Largeur de classe : diffrence entre la borne suprieure et la borne infrieure d'une classe(ISO/CD 4 3534-1).

Ligne centrale : ligne sur le graphique d'une carte de contrle reprsentant l'objet prvu ou lamoyenne historique de la statistiquereprise graphiquement (ISO/DIS 3534-2).

Limite de contrle : valeur utilise pour dterminer la stabilit d'unprocessus. Des lignes de con-trles sont traces sur une carte de contrlepour reprsenter les limites de contrle. Les limites decontrle indiquent des frontires dtermines statistiquement pour les carts par rapport la lignecentralede la valeur statistique reporte sur une carte de Shewartuniquement dus des causes alatoires(ISO/DIS 3534-2).

Limite de rptabilit : valeur au-dessous de laquelle est situe, avec uneprobabilitde 95%, lavaleur absolue de la diffrence entre deux rsultats d'essai, obtenus sous des conditions de rptabilit.Le symbole utilis est r (NF ISO-5725-1).

Limite de reproductibilit : valeur au-dessous de laquelle est situe, avec uneprobabilitde 95%,la valeur absolue de la diffrence entre deux rsultats d'essai, obtenus sous des conditions de reproducti-

bilit. Le symbole utilis est R (NF ISO-5725-1).


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Limite de spcification, limite de tolrance : borne de conformit spcifie pour une caractris-tique (ISO/DIS 3534-2). Valeurs spcifies de la caractristique donnant les bornes suprieureet/ou infrieure de l'exigence spcifie (FD X 07-022).

Loi de probabilit continue ; distribution continue :loi de probabilitpour laquelle lafonction derpartition value x peut tre exprime comme une intgrale d'une fonction non ngative de

moins l'infini x (ISO/CD 4 3534-1).

Loi de probabilit (d'une variable alatoire) : fonction dterminant laprobabilitqu'une variablealatoireprenne une valeur donne quelconque ou appartienne un ensemble donn de valeurs.La probabilit couvrant l'ensemble des valeurs de la variable est gale 1 (NF ISO 3534-1).

Loi normale ; loi de Gauss ; loi de Laplace-Gauss : distribution continue avec pourfonction dedensit de probabilit(ISO/CD 4 3534-1) :

2

2

x1f(x) exp - x

22

Loi normale centre rduite ; loi de Gauss centre rduite :loi normaleavec 0 et 1 .Lafonction de densit de probabilitde la loi normale centre rduite s'crit (ISO/CD 4 3534-1) :

21 1f(u) exp u - u22

Loi uniforme ; loi rectangulaire : distribution continue avec pourfonction de densit de probabilit :

1f(x) a x b

b a

La loi uniforme avec a 0 et b 1 est la loi sous-jacente pour des gnrateurs de nombres ala-

toires types (ISO/CD 4 3534-1)

M

Matriau de rfrence : matriau ou substance dont une (ou plusieurs) valeur(s) de la (des) pro-prit(s) est (sont) suffisamment homogne(s) et bien dfinie(s) pour permettre de l'utiliser pourl'talonnaged'un appareil, l'valuation d'une mthode de mesurage ou l'attribution de valeurs auxmatriaux. Un matriau de rfrence peut se prsenter sous la forme d'un gaz, d'un liquide oud'un solide, pur ou compos. Des exemples sont l'eau pour l'talonnage des viscosimtres, le sa-phir qui permet d'talonner la capacit thermique en calorimtrie et les solutions utilises pourl'talonnage dans l'analyse chimique (NF X 07-001).

Mdiane :fractiled'ordre 0,5 (NF ISO 3534-1).

Mesurage : ensemble d'oprations ayant pour but de dterminer une valeur d'une grandeur. (NF X07-001). Pour cette dfinition, unegrandeurpeut tre une "grandeur de base" telle que la masse, lalongueur, le temps ou une "grandeur drive" telle que la vitesse (quotient de la longueur par letemps). Le mesurage est limit la dtermination de grandeurs alors que l'essaiest utilis dans unsens plus large pour dterminer des caractristiques par mesurage ou autres moyens tels que laquantification, le classement ou la dtection de la prsence ou de l'absence d'une caractristique(ISO/DIS 3534-2).

Mthode de mesure : succession logique des oprations, dcrites d'une manire gnrique,mises en uvre lors de l'excution de mesurages. La mthode de mesure peut tre qualifie de di-

verses faons telles que : mthodes de substitution, mthode diffrentielle, mthode de zro (NFX 07-001).


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Mesurande :grandeur particulire soumise mesurage. Par exemple, la pression de vapeur d'unchantillon donn d'eau 20C. La dfinition du mesurande peut ncessiter des indications rela-tives des grandeurs telles que le temps, la temprature et la pression (NF X 07-001).

Mtrologie : science de la mesure. La mtrologie embrasse tous les aspects aussi bien thoriquesque pratiques se rapportant aux mesurages, quelle que soit l'incertitudede ceux-ci et dans quelque

domaine de la science ou de la technologie que ce soit (NF X 07-001).

Mode opratoire (de mesure) : ensemble des oprations, dcrites d'une manire spcifique,mises en uvre lors de l'excution de mesuragesparticuliers selon une mthode de mesuredonne (NFX 07-001).

Modle de distribution :distributionspcifie ou classe de distributions. Un modle de distributionpour une caractristique de produit telle que le diamtre d'un boulon peut tre la loi normaleavecune moyennede 15 mm et un cart-typede 0,05 mm. Il s'agit d'un modle totalement spcifi. Unmodle pour le diamtre de boulons peut tre la classe de distributions normales sans spcifica-tion d'une distribution particulire. Il s'agit d'un modle classes de distributions normales(ISO/DIS 3534-2).

Moyenne d'chantillon Moyenne Moyenne arithmtique : somme des variables alatoiresdans un chantillonalatoire divise par le nombre de termes de la somme. La moyenne d'chantil-lon considre comme une statistiqueest souvent utilise comme un estimateurde la moyenne d'une

population. Un synonyme courant est la moyenne arithmtique (ISO CD 4 3534-1). Le terme an-glais "mean" est utilis gnralement en rfrence au paramtre d'une population et le terme "ave-rage" en rfrence un calcul sur des donnes d'un chantillon (NF ISO 3534-1).

N

Niveau de l'essai dans une exprience de fidlit :moyennegnrale des rsultats d'essaide tousles laboratoires pour un matriau ou un spcimen particulier essay (NF ISO 5725-1).

P

Paramtre de population : mesure synthtique des valeurs d'une caractristique donne d'unepopulation. Les paramtres de population sont gnralement reprsents par des lettres grecquesminuscules en italique (ISO/DIS 3534-2).

Population : totalit des individuspris en considration. Une population peut tre relle et finie,relle et infinie ou totalement hypothtique (ISO/CD 4 3534-1).

Principe de mesure : base physique d'un mesurage. Par exemple : l'effet thermolectrique utilis

pour le mesurage de la temprature, l'effet Josephson utilis pour le mesurage de la tension lec-trique, l'effet Doppler utilis pour le mesurage de la vitesse, l'effet Raman utilis pour le mesuragedu nombre d'onde des vibrations molculaires (NF X 07-001).

Probabilit : nombre rel dans l'intervalle ferm [0 ; 1] attribu un vnement (ISO/CD 43534-1).

Processus : ensemble d'activits corrles ou interactives qui transforme des lments d'entreen lments de sortie. Les lments d'entre d'un processus sont gnralement les lments desortie d'autres processus. Les processus d'un organisme sont gnralement planifis et mis enuvre dans des conditions matrises afin d'apporter une valeur ajoute (ISO/DIS 3534-2).


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Processus en tat de matrise Processus stable :processus uniquement soumis des causesalatoires(ISO/DIS 3534-2).

Produit : rsultat d'unprocessus. Il existe quatre catgories gnriques de produits : les services(parexemple, le transport), les logiciels (par exemple, un programme informatique), les matriels (par

exemple, les pices mcaniques d'un moteur), les produits issus d'un processus caractre conti-nu (par exemple, un lubrifiant). De nombreux produits sont constitus d'lments appartenant diffrentes catgories gnriques de produits. La qualification du produit comme service, logiciel,matriel ou produit issu d'un processus caractre continu dpend de l'lment dominant(ISO/DIS 3534-2)

Q

Qualit : ensemble de proprits et caractristiquesd'un produit, d'un processus, d'un organisme oud'un servicequi lui confrent son aptitude satisfaire des besoins exprims ou implicites (NF ENISO 8402).

R

Rapport d'talonnage : voir talonnage(NF X 07-001).

Rglage (d'un instrument de mesure) :ajustageutilisant uniquement les moyens mis la dispo-sition de l'utilisateur (NF X 07-001).

Rgle de dcision : une dcision est caractrise par le choix d'une solution unique parmi l'en-semble des solutions possibles. Une rgle de dcision permet d'aboutir une dcision partir dedonnes d'entre. Dans le domaine de la conformit prononce partir de rsultats de mesure, lesdonnes d'entre sont : la spcification, le rsultat de mesure, l'incertitude de mesure, les risques Client etFournisseur, dfinis de prfrence par un accord pralable entre les deux parties (FD X 07-022).

Rptabilit (des rsultats d'un mesurage) : troitesse de l'accord entre les rsultats des mesu-ragessuccessifs du mme mesurande, mesurages effectus dans des mmes conditions de mesure.Ces conditions sont appeles condition de rptabilit. La rptabilit peut s'exprimer quantitative-ment l'aide des caractristiques de dispersion des rsultats (NF X 07-001). Fidlitsous des condi-tions de rptabilit(ISO/DIS 3534-2).

Reproductibilit (des rsultats d'un mesurage) : troitesse de l'accord entre les rsultats desmesuragesdu mme mesurande, mesurages effectus en faisant varier les conditions de mesure. Pourquune expression de la reproductibilit soit valable, il est ncessaire de spc ifier les conditionsque lon fait varier. Les conditions que lon fait varier peuvent comprendre : leprincipe de mesure, lamthode de mesure, lobservateur, linstrument de mesure, ltalon de rfrence, le lieu, les conditionsdutilisation, le temps. La reproductibilit peut s'exprimer quantitativement l'aide des caractris-tiques de dispersion des rsultats (NF X 07-001). Fidlit sous des conditions de reproductibilit(ISO/DIS 3534-2).

Rsolution (d'un dispositif afficheur) : la plus petite diffrence d'indication d'un dispositif affi-cheurqui peut tre perue de manire significative. Pour un dispositif afficheur numrique, diff-rence d'indication qui correspond au changement d'une unit du chiffre le moins significatif. Ceconcept s'applique aussi un dispositif enregistreur (NF X-07-001).

Rsultat d'essai : valeur d'une caractristiqueobtenue par l'application d'une mthode d'essai sp-cifie. La mthode d'essai spcifie qu'un nombre donn d'observations individuelles soient faites,et leur moyenne, ou une autre fonction approprie (telle que la mdianeou l'cart-type) soit reporte

comme rsultat d'essai. Elle peut aussi spcifier que des correctionsnormalises soient appliques,telles que la correction de volume de gaz des tempratures et pressions normalises. Un rsultat


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d'essai peut donc tre calcul partir de plusieurs valeurs observes. Dans le cas simple, le rsul-tat d'essai est la valeur observe elle-mme (ISO/DIS 3534-2).

Rsultat d'essai / de mesure indpendant : rsultat d'essai ou rsultat de mesure obtenu d'unefaon non influence par un rsultat d'essai ou de mesure prcdent sur le mme matriel d'essaiou de mesure ou similaire (ISO/DIS 3534-2).

Rsultat de mesure :valeur d'une grandeurobtenue par l'application d'un mode opratoire (de me-sure) spcifi. Le mode opratoire (de mesure) est dfini dans le Vocabulaire International deMtrologie comme l'ensemble des oprations, dcrites d'une manire spcifique, mises en uvrelors de l'excution de mesurages particuliers selon une mthode donnes. Il donne habituellementassez de dtails pour qu'un oprateur puisse effectuer un mesurage sans avoir besoin d'autres in-formations (ISO/DIS 3534-2).

Rsultat d'un mesurage : valeur attribue un mesurande, obtenue par mesurage. Lorsqu'ondonne un rsultat, on indiquera clairement si l'on se rfre l'indication, au rsultat brut, au rsul-tat corrig et si cela comporte une moyenneobtenue partir de plusieurs valeurs. Une expressioncomplte du rsultat d'un mesurage comprend des informations sur l' incertitude de mesure (NF X

07-001).

Risque Client, risque Fournisseur : le risque Client (not ) est le risque que, dans une relationclient-fournisseur, le Clientaccepte un produitnon conforme. Le Client souhaite que la probabilitd'accepter un produit non conforme soit faible. Le risque Client est dfini par le produit de cetteprobabilit par le cot pour le Client d'accepter un produit non conforme. Ce cot dpend de lanature du produit et des consquences de l'utilisation par le Client d'un produit non conforme. Al'inverse, le risque Fournisseur (not ) est le risque que, dans une relation client-fournisseur, leFournisseur se voit refuser un produit conforme. Le Fournisseur souhaite que la probabilit derefuser un produit conforme soit faible. Le risque Fournisseur est alors le produit de cette proba-bilit par le cot, pour le Fournisseur que soit refus un produit conforme. Ce cot est li, parexemple, au cot de mise au rebut ou de traitement (reprise, tri, etc.) d'un produit refus (FD X07-022).

S

Sensibilit : quotient de l'accroissement de la rponse d'un instrument de mesurepar l'accroissementcorrespondant du signal d'entre. La valeur de la sensibilit peut dpendre de la valeur du signal(NF X 07-001).

Service :produitqui est le rsultat d'au moins une activit ralise l'interface entre lefournisseuretle client. La prestation d'un service peut impliquer par exemple : une activit ralise sur un pro-duit tangible fourni par le client (par exemple, la rparation d'une voiture), la fourniture d'un pro-

duit tangible (par exemple, dans l'industrie des transports), la fourniture d'un produit immatriel(par exemple, la transmission de connaissances), la cration d'une ambiance pour le client (parexemple, dans les htels et les restaurants) (ISO/DIS 3534-2).

Spcification : document formulant les exigences auxquelles le produit, le processus ou le ser-vice doit tre conforme. Dans la mesure o cela est ralisable, il est souhaitable que les exigencessoient exprimes numriquement, avec les unitsconvenables et en y incluant leurs limites de spcifi-cation. Une spcification est tablie par une personne, un organisme, dans un contrat, un cahierdes charges ou une rglementation (FD X 07-022).

Statistique : fonction totalement spcifie de variables alatoires(ISO/CD 4 3534-1).

Statistique d'ordre :statistiquedtermine par le rang qu'elle occupe dans un ordre non dcrois-

sant de variables alatoires(ISO/CD 4 3534-1).


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Systme international d'units (SI) : systme cohrent d'unitsadopt et recommand par laConfrence Gnrale des Poids et Mesures (CPGM) (NF X 07-001).

T

Tolrance spcifie : diffrence entre les limites suprieure et infrieure de spcification (ISO/DIS3534-2).

Traabilit : proprit du rsultat d'un mesurageou d'un talontel qu'il puisse tre reli des rf-rences dtermines, gnralement des talons nationaux ou internationaux, par l'intermdiaired'une chane ininterrompue de comparaisons ayant toutes des incertitudesdtermines. Ce conceptest souvent exprim par l'adjectif traable. La chane ininterrompue de comparaisons est appelechane de raccordement aux talons ou chane d'talonnage. La manire dont s'effectue la liaisonaux talons est appele raccordement aux talons (NF X 07-001).

U

Unit d'chantillonnage : unit individuelle en laquelle unepopulationest divise. Selon les cir-constances, le plus petit individu considr peut tre un individu, un mnage, un district scolaire,une circonscription, etc (ISO/CD 4 3534-1).

Unit (de mesure) :grandeurparticulire, dfinie et adopte par convention, laquelle on com-pare les autres grandeurs de mme nature pour les exprimer quantitativement par rapport cettegrandeur. Des noms et des symboles sont attribus par convention aux units de mesure (NF X07-001).

V

Valeur aberrante : lment d'un ensemble de valeurs qui est incohrent avec les autres lmentsde cet ensemble. L'ISO 5725-2 spcifie les tests statistiques et le niveau de signification utiliserpour identifier les valeurs aberrantes dans les expriences de justesse et de fidlit (NF ISO-5725-1).

Valeur conventionnellement vraie (d'une grandeur) : valeur attribue une grandeurparticu-lire et reconnue, parfois par convention, comme la reprsentant avec une incertitudeappropriepour un usage donn (NF X 07-001). Valeur d'une grandeurou d'une caractristiquequantitative quipeut tre substitue la valeur vraiedans un but dtermin. Au sein d'une organisation, la valeurattribue un talon de rfrencepeut tre prise comme tant la valeur conventionnellement vraie dela grandeur ou de la caractristique quantitative ralise par l'talon. Une valeur conventionnelle-ment vraie est, en gnral, considre comme suffisamment proche de la valeur vraie pour que la

diffrence puisse tre non significative pour le but donn (ISO/DIS 3534-2).Valeur (d'une grandeur) : expression quantitative d'unegrandeurparticulire, gnralement sousla forme d'une unit de mesuremultiplie par un nombre (NF X 07-001).

Valeur de rfrence accepte : valeur qui sert de rfrence, selon un agrment pour une com-paraison. La valeur de rfrence pour acceptation rsulte : d'une valeur thorique ou tablie, fon-de sur des principes scientifiques ; d'une valeur assigne ou certifie, fonde sur les travaux d'uneorganisation nationale ou internationale ; d'une valeur de consensus ou certifie, fonde sur untravail exprimental en collaboration et plac sous les auspices d'un groupe scientifique ou tech-nique ; de l'esprance, c'est--dire la moyennede lapopulationspcifie dans les cas o les exemplesprcdents ne sont pas applicables (ISO/DIS 3534-2).

Valeur observe : valeur obtenue d'une proprit associe un lment d'un chantillon(ISO/CD4 3534-1).


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Valeur vraie (d'une grandeur) : valeur compatible avec la dfinition d'une grandeurparticuliredonne. C'est une valeur que l'on obtiendrait par un mesurageparfait. Toute valeur vraie est parnature indtermine (NF X 07-001). Valeur qui caractrise une grandeur ou une caractristiquequantitative parfaitement dfinie dans les conditions qui existent lorsque cette grandeur ou carac-tristique quantitative est considre. La valeur vraie d'une grandeur ou d'une caractristique

quantitative est une notion thorique et, en gnral, ne peut pas tre connue exactement(ISO/DIS 3534-2).

Variable alatoire : variable pouvant prendre n'importe quelle valeur d'un ensemble dterminde valeurs, et laquelle on associe une loi de probabilit. Une variable alatoire qui ne peut prendreque des valeurs isoles est dite "discrte". Une variable alatoire qui peut prendre toute valeur l'intrieur d'un intervalle fini ou infini est dite "continue" (NF ISO 3534-1).

Variable alatoire centre :variable alatoiredont la moyennea t soustraite. Une variable ala-toire centre a une moyenne gale zro. Si la variable alatoire X a une esprance mathmatiquegale , la variable alatoire correspondante est X avec une moyenne gale zro (ISO/CD4 3534-1).

Variable alatoire centre rduite :variable alatoire centredont l'cart-typeest gal 1. Si la distri-bution de la variable X a une moyenne et un cart-type , la variable alatoire centre rduitecorrespondante est alors (ISO/CD 4 3534-1) :

X

Variance : mesure de dispersion qui est la somme des carrs des carts des observations par rap-port leur moyennedivise par un nombre gal au nombre d'observations moins un. La variancede l'chantillonest un estimateursans biais de la variance de lapopulation(NF ISO 3534-1).

Variance de rptabilit : voir cart-type de rptabilit(NF ISO 5725-1).

Variance de reproductibilit : voir cart-type de reproductibilit(NF ISO 5725-1).

Variance d'une loi de probabilit :esprance mathmatiquedu carr de la variable alatoire centre:

22 V(X ) E X E(X)

(NF ISO 3534-1).

Variation : diffrences entre les valeurs d'une caractristique(ISO/DIS 3534-2).

Variation intrinsque du processus :variationobserve lorsqu'unprocessusest en tat de matrise(ISO/DIS 3534-2).

Documents

métrologie 2006 - glossaire