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Werkstoffgefuge und Elektronenmikroskopie

For tb i ldungsprak t ikum vom 5. bis 9. Oktober 1992

Die strukturelle Ebene ,,Gefuge" bestimmt neben den Phasen fast alle wicbtigen Werkstoffeigcnschaften. Erst die neueren Entwicklungen der Mikroskopie ermogliehen eine vollstandige und quantitative Beschreibung des Gefuges. Im Mittelpunkt des Fortbildungspraktikums steht die Durchstrahlungs- elektronenmikroskopie als umfassendste Methode zur vollstindigen Analyse von in der Praxis auftretenden Gefugen. GroRer Wert wird aber auch auf ihren Zusammenhang mit anderen elektronen- mikroskopischen Methoden (REM, Replikatechnik) und insbesondere mit der Lichtmikroskopie gelegt.

Die taglichen Lehrveranstaltungen sind in drei Teile gegliedert :

a) Eine durcbgehende Vortragsreihe iiber Gefiige und Kontrasterscheinungen rnit Anwendungen auf alle Werkstoffgruppen (Metalle, Halbleiter, Keramik, Polymere) bis zu kompliziert aufgebauten Gefugen am Beispiel technischer Legierungen, bj Demonstrationen und Ubungen in kleinen Gruppen, cj Seminarvortriige, die sich rnit der Anwendung der Elektronenmikroskopie auf spezielle Werkstoff- probleme beschaftigen.

Das Fortbildungspraktikum wendet sich an Wissenschaftler und Ingenieure, die in Industrie und Hochschule rnit der Gefugeanalyse von Werkstoffen zu tun haben. Es wird von der D G M und dem Institut fur Werkstoffe der Ruhr-Universitat Bochum unter der Leitung von Professor Dr.-Ing. E. Hornbogen und Frau Dip1.-Ing. B. Skrotzki veranstaltet.

Die Teilnehmerzahl ist mit Rucksicht auf den Praktikumserfolg begrenzt.

Das Programm steht demnlchst zur Verfugung und kann angefordert werden bei der: Deutschen Gesellschaft fur Materialkunde e.V., Adenaueralle 21, W-6370 Oberursel, Telefon-Nr.: 061 71/4081, Fax-Nr.: 061 7 l / j 25 54.