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Esclusivamente per la didattica
March 7, 2016
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CREIAMOUNA SCIENZA MIGLIORETU ED AGILENT
Fondamenti di Spettroscopia Atomica:Hardware
Esclusivamente per la didattica
March 7, 2016
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Nel quadro del proprio impegnonei confronti del mondoaccademico, Agilent Technologies consente l'accesso a contenutidi proprietà dell'azienda.
Questa serie di diapositive è stata creata da Agilentesclusivamente per l'insegnamento. Qualorasi desiderino utilizzare le immagini, gli schizzi o i disegniper altri scopi, contattare anticipatamente Agilent.
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Sommario
Introduzione• Classificazione• Generale• Cronologia dei primi sviluppi• Cosa viene misurato?
Tecniche spettroscopia atomica• Spettroscopia ad assorbimento atomico
− Principi di funzionamento− Impostazione generale− Lampada− Atomizzatore− Sistema− Esempi
Tecniche spettroscopia atomica• Spettroscopia a emissione atomica
− Generale− MP-AES− ICP-OES− ICP-MS
− Impostazione generale− Sistema
− Esempi• Riepilogo• Ulteriori informazioni
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La spettroscopia comprende un'ampia gamma di sottodiscipline che possono essere classificate secondo il tipo di materiale analizzato. Questa presentazione si concentrerà sulla prima categoria, la spettroscopia atomica.
IntroduzioneClassificazione
Sommario
ATOMISpettroscopia atomica• AAS• MP-AES• ICP-OES• ICP-MS
MOLECOLESpettroscopia molecolare• UV-VIS• UV-VIS-NIR• FTIR• Fluorescenza
CRISTALLI• Cristallografia a
raggi X
NUCLEI• Risonanza
magnetica nucleare
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Spettroscopia atomica
Identificazione sulla base di
Spettro elettromagnetico Spettro di massa
Assorbimento atomico• Spettroscopia ad assorbimento
atomico a fiamma• Spettroscopia ad assorbimento
atomico con fornetto di grafite• Spettroscopia ad assorbimento
atomico a generazione di vapore (idruri)
Emissione atomica• MP-AES• ICP-OES• Fluorescenza raggi X (XRF)
• ICP-MS
Interferenza atomica• Diffrazione raggi X (XRD)
IntroduzioneGeneraleLa spettroscopia atomica comprende una serie di tecniche analitiche utilizzate per determinare la composizione elementare di un campione esaminandone lo spettro elettromagnetico o lo spettro di massa.
Sommario
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IntroduzioneCronologia dei primi sviluppi
Greenfieldutilizza
l'ICP come strumento analitico
1964Prima
spettroscopia ad assorbimento
atomico commerciale
1962Reed
effettua la prima applicazione
principale dell'ICP per la crescita di
cristalli ad alta temperatura
1961Walsh
esplora le potenzialità
dell'assorbimento atomico
1952Babat
effettuaesperimenti con
RF-ICP
1941Lundgardh sviluppa
la tecnica ad assorbimento a
fiamma
Anni '30Hittorf
studia le scariche anulari prive di
elettrodi a bassa pressione
1884
Primo ICP-MS
commerciale
1983Houk
dimostra le possibilità offerte
dalla tecnica ICP-MS
1980Fassel e Gray
effettuano sperimenti con il
plasma argon accoppiato
induttivamente unito allo
spettrometro di massa
1978Gray
unisce il plasma capillare ad arco a
corrente continua a uno spettrometro di
massa a quadrupolo
1975Primo
ICP-OEScommerciale
1973Wendt e Fassel
utilizzano l'ICP come sorgente
spettroscopica
1965
Sommario
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IntroduzioneCosa viene misurato?
1. L'assorbimento di energia provoca il movimento dell'elettrone a un livello energetico più alto (E2) AA
2. L'elettrone eccitato ritorna infine allo stato fondamentale rilasciando luce a una particolare lunghezza d'onda (emissione) MP-AES, ICP-OES
3. Se è presente energia a sufficienza, l'elettrone abbandona completamente l'atomo, lasciando uno ione carico positivamente (ionizzazione) ICP-MS
Elettrone
Nucleo
Emissione
E2
E1
Vedere le note per altri dettagliSommario
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Spettroscopia ad assorbimento atomicoPrincipi di funzionamento
Le tecniche di spettroscopia ad assorbimento atomico (AAS) si basano sul fatto che un elemento atomizzato assorbe luce a una lunghezza d'onda caratteristica, portandolo dallo stato fondamentale a quello eccitato.
La quantità di luce assorbitaè proporzionale al numero degli atomi dell'analita nel cammino ottico.
La tecnica viene calibrata introducendo concentrazioni note degli atomi dell'analita nel cammino ottico e rappresentando la curva dell'assorbimento confrontata a quella della concentrazione.
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Spettroscopia ad assorbimento atomicoImpostazione generale
• La lampada emette luce per l'elemento di interesse• L'atomizzatore converte il campione in soluzione in atomi liberi
che assorbono l'energia della lampada• Il monocromatore seleziona la lunghezza d'onda utilizzata per la
misurazione• Il rivelatore misura la luce assorbita dagli atomi liberi
Lampada AtomizzatoreMono-cromatore Rivelatore
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La fonte della luce utilizzata principalmente con la tecnica di assorbimento atomico è la lampada a catodo cavo (HCL).
Tipicamente, ogni lampada è destinata all'analisi di un singolo elemento, anche se, in alcuni casi, è possibile combinare alcuni elementi in una singola lampada.
A causa di questo limite, l'assorbimento atomico è impiegato tipicamente per l'analisi di un singolo elemento o di un piccolo numero di elementi.
Costruzione tipica della lampada a catodo cavo
Catodo
AnodoSpot getter
Involucro inPyrex
Contatti elettrici
Spettroscopia ad assorbimento atomicoLampada
Vedere le note per altri dettagliSommario
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Spettroscopia ad assorbimento atomicoAtomizzatore L'atomizzazione è il processo che converte un campione in soluzione in atomi liberi.
Il diagramma mostra le diverse fasiche si verificano nel corso dell'atomizzazione, partendo con la preparazione dell'elemento sotto forma di soluzione.
L'elemento M è soggetto a varie fasi:• Soluzione: MAliquido (composto)• Nebulizzazione: MAliquido (composto)• Desolvatazione: MAsolido (A = anione in soluzione)• Vaporizzazione: MAgas
• Atomizzazione: M0
• Eccitazione: M*• Ionizzazione: M+
Fascio luminoso
AtomizzazioneVaporizzazioneFuso liquido
Solido
Aerosol
Atomi liberi
Decomposizionecomposto
Desolvatazione
Miscelazione
Nebulizzazione
PrecipitazionegocciolineSoluzione
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Spettroscopia ad assorbimento atomicoAtomizzatore
+
-Energia +
M0 M+ M0+E -E
Statofondamentale
Stato eccitato
Statofondamentale
Energia -
Gli atomi possono assorbire quantità discrete di energia:• Calore• Luce a lunghezze d'onda discrete
Un elettrone può passare da un livello energetico a un altro:• Un atomo può raccogliere (assorbimento) o
rilasciare (emissione) energia. • L'atomo diventa "eccitato"• L'eccitazione è spiegata dalla transizione di
un elettrone da un'orbita interna (minore energia) a una esterna (maggiore energia).
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Spettroscopia ad assorbimento atomicoAtomizzatore AAS a fiamma Nella spettroscopia ad assorbimento atomico a fiamma (FAAS), il campione viene preparato sotto forma di liquido e nebulizzato sulla fiamma.
Questa tecnica si contraddistingue per il fatto che l'atomizzazione avviene nella fiamma.
Diagramma schematico dello spettrometro ad assorbimento atomico a fiamma o con fornetto di grafite
Spettroscopia ad assorbimento atomico a fiammaVantaggi
• Possibili tempi di analisi brevi• Buona precisione• Facilità d'uso• Economicità
Limiti• Sensibilità• Range dinamico• Richiede gas infiammabili• Non è possibile il funzionamento senza
operatore a causa dell'uso di gas infiammabili
• Non deve contenere quantità eccessive di solidi disciolti
Fonte: Atomic spectroscopy applications in the contract environmental laboratorySommario
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Spettroscopia ad assorbimento atomicoAtomizzatore AAS con fornetto di grafite Nella maggior parte dei casi è necessaria la dissoluzione del campione in una forma liquida.
Il campione viene iniettato in una testata di grafite e riscaldato elettrotermicamente in diverse fasiper atomizzare l'analita.
Nell'assorbimento atomico con fornetto di grafite(GFAAS), l'atomizzazione ha luogo in tre fasi:
• Essiccazione• Incenerimento • Atomizzazione
L'uso del fornetto di grafite rappresenta una tecnica complementare al tradizionale assorbimento atomico a fiamma e aggiunge alcuni vantaggi all'analisi.
Fornetto di grafite
Vantaggi
• Elevata sensibilità per il fatto che− l'intero campione viene atomizzato in un unico momento− gli atomi liberi rimangono più a lungo nel percorso ottico
• Volume inferiore dei campioni • Possibili analisi in ultratracce• Può essere effettuato senza operatore, persino di notte
Limiti
• Molto lento• Possono essere analizzati meno elementi• Precisione inferiore• Maggiori interferenze chimiche (rispetto all'altro)• Lo sviluppo di metodi richiede capacità• Calibrazione di aggiunte di standard necessaria con
maggiore frequenza (rispetto all'assorbimento atomico a fiamma)
• Prodotti di consumo costosi (testate di grafite)
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Spettroscopia ad assorbimento atomicoAtomizzatore AAS con fornetto di grafite La testata di grafite si trova in questo apparato che fornisce gas inerte e un potente ... per riscaldare la testata, che successivamente desolvata e atomizza il campione.
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Spettroscopia ad assorbimento atomicoCopertura elementale nella AAS
H Solo fiamma He
Li Be Fiamma e fornetto B C N O F Ne
Na Mg Al Si P S Cl Ar
K Ca Sc Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Ga Ge As Se Br Kr
Rb Sr Y Zr Nb Mo Tc Ru Rh Pd Ag Cd In Sn SB Te I Xe
Cs Ba La Hf Ta W Re Os Ir Pt Au Hg Tl Pb Bi Po At Rn
Fr Ra Ac
Ce Pr Nd Pm Sm Eu Gd Tb Dy Ho Er Tm Yb Lu
Th Pa U Np Pu AM Cm Bk Cf Es Fm Mo No Lr
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Spettroscopia ad assorbimento atomicoAltri atomizzatoriTecnica per generazione d'idruroAdatta per elementi che formano idruri volatili (As, Sn, Bi, Sb, Te, Ge e Se) quando reagiscono con un agente riducente come il boroidruro di sodio.
Vantaggi
• Separazione di elementi specifici come gli idruri, cosa che può eliminare l'interferenza dovuta alla matrice
• Buona sensibilità grazie al 100% di efficacia di campionamento
• Buona precisione• Più veloce rispetto all'assorbimento atomico a fornetto
Limiti
• Tecnica limitata a specifici elementi• Alcune interferenze chimiche• Richiede una specifica preparazione del campione
(l'analita deve essere convertito in uno specifico stato di ossidazione)
Tecnica a vapore freddo Utilizzata specificatamente per il mercurio (ha unapressione del vapore sufficientemente alta a temperatura ambiente), che può essere ridotto allo stato atomico con un forte agente riducente come il boroidruro di sodio o il cloruro stannoso (II).
Vantaggi
• Elimina molte interferenze dovute alla matrice• Buona sensibilità grazie al 100% di efficacia di
campionamento• Buona precisione• Più veloce rispetto all'assorbimento atomico a fornetto
Limiti
• Tecnica limitata al solo mercurio• Il mercurio deve essere stabilizzato in soluzione
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Spettroscopia ad assorbimento atomicoSistema
Applicazioni principali• Determinazione di metalli in
traccia/impurezze in olio, piante, acqua
• Analisi di elementi in fluidi, acqua, suolo, alimenti, siero, materiali semiconduttori
• molto altro
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EsempioAAS a fiamma: Determinazione di livelli bassi di oro nel materiale minerale minerario
Lunghezza d'onda
utilizzata (nm)
Concentrazione caratteristica
(mg/L)
Limite di rivelazione
(mg/L)
242,8 0,079 0,0054
267,6 0,14 0,0098
Risultati AAS a fiamma per Au nel materiale minerale minerario
Fonte: Extending the Analytical Range for Gold Using Agilent UltrAA LampsSommario
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EsempioAAS GF: Misurazione di Cd, Cu, Pb, Co, Ni negli invertebrati marini
Grafici segnale per Ni in tessuto mitili CRM 786 R
Fonte: Sequential Determination of Cd, Cu, Pb, Co and Ni in Marine Invertebrates by Zeeman GFAASSommario
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EsempioAAS a generazione d'idruro: Determinazione di As, Sb e Se
Fonte: Determination of As, Sb and Se in Difficult Environmental Samples by Hydride Generation
Preparazione del campione per As e SbUna preparazione del campione per entrambi gli elementi: 5 mL di campione in 50 mL volumetrico,aggiunta di 25 mL di HCl.
• Miscelazione e raffreddamento. Aggiuntadi 5 mL di urea al 20%
• Miscelazione e raffreddamento. Aggiuntadi 2,5 mL di KI al 20%
• Diluizione per contrassegnare con acqua D.I.• Analisi per As e Sb dopo 30 minuti
Campione Conc. (ppb) %RSD Ass media
Vuoto 0,0 0,008
Standard 1 2,0 2,0 0,062
Standard 2 5,0 0,9 0,148
Standard 3 10,0 0,6 0,262
Standard 4 20,0 1,0 0,455
Standard 5 40,0 0,4 0,70
Preparazione del campione e dati di calibrazione tipici per As utilizzando la generazione d'idruro
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Spettroscopia a emissione atomicaGenerale A causa dei limiti nella AAS, si è iniziato a utilizzare tecniche che non richiedono lampade dedicate per ogni elemento. Queste tecniche, chiamate spettroscopia a emissione atomica (AES), si basano sul fatto che, una volta eccitato l'atomo di un elemento specifico (come nell'assorbimento atomico), esso emette luce in un modello caratteristico di lunghezze d'onda (uno spettro di emissione) quandoritorna allo stato fondamentale.
La fiamma non è una sorgente di eccitazione ideale per l'emissione atomica. Si utilizzano quindi sorgenti più calde.
Parleremo delle seguenti tecniche:• Spettroscopia a emissione atomica al plasma a microonde (MP-AES) • Spettrometria a emissione ottica con sorgente al plasma accoppiato
induttivamente (ICP-OES)
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Spettroscopia a emissione atomicaSpettroscopia a emissione atomica al plasma a microondeIl plasma azoto è utilizzato per desolvatare, atomizzare ed eccitare gli atomi nel campione in soluzione nebulizzato in esso. Il plasma azoto è notevolmente più caldo (fino a 5000o K) della fiamma aria-acetilene utilizzata nell'assorbimento atomico a fiamma.
L'emissione atomica è piuttosto forte per la maggior parte degli elementi, determinando una migliore capacità di rivelabilità e un migliore range dinamico lineare rispetto all'assorbimento atomico a fiamma per la maggior parte degli elementi.
L'intensità della luce emessa viene misurata utilizzando la rivelazione ottica alle lunghezza d'onda caratteristiche degli elementi di interesse.
MP-AES
Vantaggi
• Metodo sicuro (no gas infiammabile)• Bassi costi operativi, in quanto l'azoto può
essere estratto dall'aria compressa utilizzando un generatore di azoto
• Non sono necessarie lampade per l'analisi• Identificazione e quantificazione di virtualmente
tutti i metalli e di molti semimetalli.• Prestazioni migliori rispetto alla spettroscopia ad
assorbimento atomico a fiamma
Limiti
• Costo iniziale più elevato rispetto alla spettroscopia ad assorbimento atomico
• Maggiori interferenze rispetto all'assorbimento atomico a fiamma (comprese interferenze spettrali)
• Non così sensibile come la spettroscopia ad assorbimento atomico con fornetto di grafite o l'ICP-MS
• Non produttivo come l'ICP-OES• Nessuna determinazione di isotopi
Sommario
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Spettroscopia a emissione atomica al plasma a microondeSistema
Applicazioni principali• Elementi in tracce nei campioni
geologici• Metalli in campioni estratti dal terreno• Elementi principali in alimenti e
bevande• Analisi di petrolio• Analisi di acque reflue
Sistema di formazione delle microonde
Sistema di introduzione del campione
Torcia
Pre-ottica
Plasma
Monocromatore con rivelatore ad accoppiamento di carica
Meccanica lunghezza d'onda
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Spettroscopia a emissione atomica al plasma a microondeCome funziona?
Lo spettrometro a emissione atomica al plasma a microonde (MP-AES) di Agilent ricorre all'azoto estratto dall'aria utilizzando il generatore di azoto.• Il campo magnetico assiale e quello elettrico radiale preservano il plasma
azoto• L'aerosol del campione viene introdotto nel plasma azoto
Sommario
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Spettroscopia a emissione atomica al plasma a microondeCome funziona?• L'emissione assiale dal plasma azoto è diretta nei materiali ottici del
monocromatore a scansione rapida• Le emissioni specifiche per lunghezza d'onda sono rilevate utilizzando un
CCD ad alta efficienza
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Spettroscopia a emissione atomica al plasma a microondeDeterminazione dei nutrienti nel terreno (test multielemento)
Risultati MP-AES per Cu, Fe, Mn e Zn nell'estrazione DTPA del terreno, rispetto a FAAS
Cu Fe Mn Zn
Lunghezza d'onda (nm) 324,754 324,7 259,94 372 257,61 280,1 213,857 213,9
Tecnica MP-AES FAAS MP-AES FAAS MP-AES FAAS MP-AES FAAS
Conc. misurata μg/g
SSTD-Traccia 1 1,44 1,42 7,76 8,44 24,26 26,22 0,64 0,62
SSTD-Traccia 1 1,46 1,45 7,96 8,24 24,40 25,96 0,64 0,64
SSTD-Traccia 1 1,44 1,42 8,08 8,64 23,70 26,50 0,62 0,58
Media µg/g 1,45 1,43 7,93 8,44 24,12 26,23 0,63 0,61
Dev. standard 0,01 0,02 0,16 0,20 0,37 0,27 0,01 0,03
Fonte: Determination of available nutrients in soil using the Agilent 4200 MP-AESSommario
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Spettroscopia a emissione atomica al plasma a microondeMisurazione di elementi principali e minori nel latteElemento Valori
certificati (g/kg)
Incertezza (g/kg)
Risultato (g/kg)
Recupero (%)
Ca 13,9 0,7 14,21 102
K 17 0,8 16,66 98
Mg 1,26 0,07 1,31 104
Na 4,19 0,23 4,25 101
P 11 0,6 11,27 102
Valori certificati
(g/kg)
Incertezza (mg/kg)
Risultato (mg/kg)
Recupero (%)
Zn 44,9 2,3 45,89 102
Fe 53 4 50,51 95
Cu 5 0,23 5,13 103
Determinazione di Ca, K, Mg, Na, P, Fe, Zn e Cu in TMAH, Triton X-100, EDTA e soluzione tampone ionizzata con MP-AES 4200
Fonte: Measuring major and minor elements in milk using the Agilent MP-AES 4200Sommario
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Spettrometria a emissione ottica con sorgente al plasma accoppiato induttivamentePrincipi di funzionamento
ICP- OES
Vantaggi
• Produttività più veloce per l'analisi dei campioni• Analisi di più elementi in contemporanea
(fino a 73 elementi)• Ampio range dinamico (da livello di sub-ppb a %)• Tollera matrici complesse• Basso consumo di gas argon• Metodo sicuro (no gas infiammabile)
Limiti
• Costi iniziali più elevati rispetto a AAS o MP-AES• Più interferenze spettrali rispetto a MP-AES• Non così sensibile come la spettroscopia ad
assorbimento atomico con fornetto di grafite o l'ICP-MS• Nessuna determinazione di isotopi
Il plasma argon accoppiato induttivamente (più caldo di MP, fino a 10.000o K) è utilizzato per desolvatare, atomizzare ed eccitare gli atomi nel campione in soluzione nebulizzato in esso.
L'intensità della luce emessa viene misurata utilizzando la rivelazione ottica alle lunghezza d'onda caratteristiche degli elementi di interesse.
ICP-OES è in grado di misurare le emissioni sia atomiche, sia ioniche. Così è possibile monitorare più lunghezze d'onda
Queste misurazioni possono essere confrontate con uno standard per quantificare la concentrazione degli elementi nel campione.
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Spettrometria a emissione ottica con sorgente al plasma accoppiato induttivamenteImpostazione generale
Plasma argon Spettrometro Quantificazione
Diagramma schematico semplificato dello spettrometro ICP-OES
La torcia al plasma può essere vista assialmente o radialmente. Alcuni strumenti "dual view" consentono di vedere entrambi gli orientamenti a seconda dell'analisi in corso (la vista assiale dà una lunghezza del percorso maggiore e, quindi, una maggiore sensibilità).
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Spettrometria a emissione ottica con sorgente al plasma accoppiato induttivamenteSistema
Applicazioni principali
• Monitoraggio di acqua/acque reflue/rifiuti solidi
• Determinazione di elementi in tracce nell'acqua
• Monitoraggio del mercurio in campioni ambientali
• Analisi quantitativa di elementi multipli in campioni ambientali di acqua/terreno/sedimenti
• Analisi del terreno – Analisi del contenuto di micronutrienti (agricoltura)
• Determinazione di metalli preziosi e oro
Sistema di introduzione del campione
Sistema RF allo stato solido
Torcia verticale
Elettronica
Sistema di pompaggio
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Spettrometria a emissione ottica con sorgente al plasma accoppiato induttivamenteAnalisi del latte in polvere
Fonte: Analysis of milk powders based on Chinese standard method using the Agilent 5100 SVDV ICP-OES
Valore certificato (mg/kg) Valore misurato (mg/kg) Recupero (%)
Nutrienti principali
K 766.491 13630 13070 96
Ca 315.887 9220 9750 106
P 213.618 7800 7160 92
Na 589.592 3560 3530 99
S 181.792 2650 2650 100
Nutrienti minori e in tracce
Mg 279.078 814 749 92
Zn 202.548 28,0 28,9 103
Sr 421.552 4,35 4,37 101
Fe 259.940 1,8 1,9 107
Cu 327.395 0,46 0,46 100
Mo 204.598 0,29 0,27 92
Mn 257.610 0,17 0,18 103
Analisi NIST latte in polvere 8435 SRM utilizzando ICP-OES 5100 SVDV
Sommario
March 7, 2016
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Spettrometria a emissione ottica con sorgente al plasma accoppiato induttivamenteAnalisi di biodiesel
Fonte: Analysis of biodiesel oil (as per ASTM D6751 & EN 14214) using the Agilent 5100 SVDV ICP-OES
Elemento λ(nm)
Correzione del fondo
utilizzata
Intervallo di calibrazione
(mg/kg)
Coefficiente di
correlazione
MDL (ppm)
Ca 422,673 Integrata 0-2 0,99995 0,004
K 766,491 FACT 0-2 0,99996 0,008
K 766,491 Integrata 0-2 0,99935 0,048
Mg 279,553 Integrata 0-2 0,99994 0,0004
Na 588,995 FACT 0-2 0,99991 0,002
Na 588,995 Integrata 0-2 0,99996 0,048
P 213,618 Integrata 0-2 0,99996 0,013
S 181,972 Integrata 0-2 0,99967 0,31
La curva di calibrazione per la linea P 213,618 nm, utilizzando la correzione del background integrata (FBC), mostra un'eccellente linearità nell'intero range calibrato, con un coefficiente di correlazione pari a 0,99986.
Lunghezze d'onda e parametri di calibrazione ICP-OES Agilent 5100. Tutti i risultati sono mostrati in soluzioni.
Sommario
March 7, 2016
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Spettrometria di massa al plasma accoppiato induttivamenteGeneraleL'ICP-MS combina due vantaggi:1. plasma argon accoppiato induttivamente come efficiente sorgente ionica2. uno spettrometro di massa per scansione rapida, elevata trasmissione di ioni e
risoluzione di massa unitaria
La differenza principale rispetto all'ICP-OES è la possibilità di analizzare ioni atomici. La maggior parte degli elementi ha un primo potenziale di ionizzazione pari a 4 - 10 eV, ionizzata in maniera efficace nel plasma argon accoppiato induttivamente.
Gli ioni passano nell'area ad alto vuoto per la separazione e la rivelazione. I fotoni e le specie neutre sono rifiutati.
Lo spettrometro di massa separa gli ioni sulla basse del loro rapporto massa/carica (m/z).
Sommario
March 7, 2016
Esclusivamente per la didattica
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Spettrometria di massa al plasma accoppiato induttivamenteGeneraleUn rivelatore elettromoltiplicatore genera un impulso per ogni ione che lo raggiunge.
Poiché la carica su un elemento ionizzato singolarmente è 1, il rapporto m/z è uguale alla massa, così l'ICP-MS misura gli elementi come uno spettro semplice della massa atomica (isotopica) caratteristica da 6Li a 238U.
ICP-MS
Vantaggi
• Tecnica estremamente sensibile• Analisi multielemento• Informazioni sugli isotopi (analisi IR, ID)• Ampio range dinamico• Tollera matrici complesse
Limiti
• Tolleranza alla matrice inferiore rispetto all'ICP-OES
• Tecnica molto costosa (acquisto e costi di esercizio)
• Soggetto a interferenze isobariche
Sommario
March 7, 2016
Esclusivamente per la didattica
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Spettrometria di massa al plasma accoppiato induttivamenteImpostazione generale
Diagrammaschematicosemplificato dei componenti più concentrati di un sistema ICP-MS a quadrupolo..
Plasma argon Sistema di vuoto Quantificazione
Inte
rfacc
ia
Lent
i ion
iche
Cel
la d
i co
llisio
ne/re
azio
ne
Spe
ttrom
etro
di m
assa
qu
adru
polo
Riv
elat
ore
Sommario
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Pompa per vuoto turbo
Rivelatore
Spettrometro di massa a quadrupolo
Sistema di collisione e reazione ottopolare (ORS)
Nebulizzatore ecamera di
nebulizzazione
Plasma accoppiato
induttivamente
Generatore RF
Pompa peristaltica
Spettrometria di massa al plasma accoppiato induttivamenteSistema
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Spettrometria di massa al plasma accoppiato induttivamenteCome la modalità cella di collisione con elio elimina le interferenze spettrali
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Spettrometria di massa al plasma accoppiato induttivamenteICP-MS come rivelatore della cromatografiaIn aggiunta all'uso tradizionale come un analizzatore di metalli indipendente, l'ICP-MSè sempre più applicato come rivelatore per una gamma di metodi di separazione cromatografici
• Elettroforesi capillare (CE)• Frazionamento in campo-flusso (FFF)• Cromatografia ionica (IC)• Cromatografia liquida (HPLC)• Gascromatografia (GC)
Con questa configurazione, l'importante tecnica separa le diverse specie (con il tempo) e l'ICP-MS opera come rivelatore a selezione di massa per misurare l'elemento/gli elementi associati con il/i composto/i di interesse mentre avviene l'eluizione da parte del cromatografo.Sommario
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Spettrometria di massa al plasma accoppiato induttivamenteSpecifiche con LC-ICP-MS e GC-ICP-MS
Esempi di applicazione HPLC-ICP-MS:• Arsenico inorganico vs. organico• Organostannico• Metilmercurio
Esempi GC-ICP-MS:• Pesticidi• Residui di agenti nervini organofosfati• Polibromodifenileteri (PBDE)• Nanoparticelle
Sette cromatogrammi sovrapposti di succo di mela con aggiunta di 500 ng/L As standard.
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Spettrometria di massa al plasma accoppiato induttivamenteAnalisi di acqua potabileI Paesi più sviluppati hanno introdotto normative e programmi di monitoraggio per garantire che la fornitura di acqua potabile non presenti tracce di sostanze chimiche potenzialmente nocive. La veloce tecnica multielemento ICP-MS è ampiamente utilizzata a questo scopo.
Diagramma di calibrazione di Cd e Hg
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Spettrometria di massa al plasma accoppiato induttivamenteAnalisi di impurezze metalliche in tracce in HCl purissimo
As soggetto a interferenze ArCl+ può essere misurato a livello di tracce.
HCl è frequentemente utilizzato per rimuovere le impurezze metalliche sulla superficie di wafer di silicio. Il processo di produzione di dispositivi semiconduttori richiede il monitoraggio di routine di contaminanti in tracce infinitesimali in HCl.
Fonte: Direct analysis of trace metallic impurities in high purity hydrochloric acid by Agilent 7700s ICP-MS
Elemento m/z Modalità DL ppt BEC ppt
Li 7 freddo 0,016 0,004
Be 9 senza gas 0,13 0,11
B 11 senza gas 4,5 9,7
Na 23 freddo 0,44 1,3
Mg 24 freddo 0,11 0,22
Al 27 freddo 0,79 1,1
K 39 freddo/NH3 0,40 0,50
Ca 40 freddo/NH3 1,1 2
As 75 He 4,0 16
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RiepilogoTecniche di spettroscopia atomica
AAS MP-AES ICP-OES ICP-MS
FAAS GFAAS SQ QQQ
Limiti di rivelazione
100ppb
10-100ppt
ppb – 10ppb
100ppt-ppb
<ppt <ppt
Modalità di misurazione
Sequenziale Sequenziale Sequenziale Simultanea Sequenziale(MS)
Sequenziale(*MS/MS per difficili
problemi di interferenza)
Numero massimo campioni/giorno
100-200(~6 elementi)
50-100(~2 elementi)
300-500 (~10 elementi)
2000-2500(50+ elementi)
750-1000(~50 elementi)
500-750(~50 elementi)
Range dinamico di lavoro
3-4 2-3 4-5 7-8 10-11 9
Capacità richieste all'operatore
Basse Medie Basse Medie Alte Molto alte
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Abbreviazioni
Abbreviazione Definizione
A assorbanza
AAS spettroscopia ad assorbimento atomico
AES spettroscopia a emissione atomica
b lunghezza del percorso (cm)
c velocità della luce (3 × 108 ms-1)
εcoefficiente di estinzione o assorbimento molare (Lmol-1cm-1)
E campo elettrico oscillante
E energia
h costante di Planck (6,62 × 10-34 Js)
I radiazione trasmessa
I0 radiazione incidente
Abbreviazione Definizione
ICP-OESSpettroscopia a emissione ottica consorgente al plasma accoppiato induttivamente
ICP-MSspettrometria di massa atomica con sorgente al plasma accoppiato induttivamente
SQ Spettrometria di massa a quadrupolo singolo
QQQ Spettrometria di massa a triplo quadrupolo
M campi magnetici oscillanti
MP-AES spettroscopia a emissione atomica al plasma a microonde
T trasmittanza
v frequenza (s-1)
XRF fluorescenza a raggi X
XRD diffrazione raggi XSommario
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Ulteriori informazioniUlteriori informazioni sui prodotti Agilent sono disponibili all'indirizzo www.agilent.com o www.agilent.com/chem/academia
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Publication Title Pub. No.Primer Atomic spectroscopy applications in the contract environmental laboratory 5991-5326EN
Application Extending the analytical range for gold using UltrAA lamps SI-A-1138
Application Sequential Determination of Cd, Cu, Pb, Co and Ni in Marine Invertebrates by Zeeman GFAAS SI-A-1361
Application Determination of As, Sb and Se in Difficult Environmental Samples by Hydride Generation SI-A-1299
Application Determination of available nutrients in soil using the Agilent 4200 MP-AES 5991-5675EN
Application Measuring major and minor elements in milk using the Agilent MP-AES 4200 5991-5959EN
Application Analysis of milk powders based on Chinese standard method using the Agilent 5100 SVDV ICP-OES 5991-4900EN
Application Analysis of biodiesel oil (as per ASTM D6751 & EN 14214) using the Agilent 5100 SVDV ICP-OES 5991-5333EN
Application Arsenic speciation analysis in apple juice using HPLC-ICP-MS with the Agilent 8800 ICP-QQQ 5991-0622EN
Application Agilent 7900 ICP-MS simplifies drinking water analysis 5991-4938EN
Application Direct analysis of trace metallic impurities in high purity hydrochloric acid by Agilent 7700s ICP-MS 5990-7354EN
Application Compendium Agilent Speciation Handbook (2nd Edition) 5990-9473EN
Brochure Atomic Spectroscopy Portfolio Brochure 5990-6443EN
Web CHROMacademy – free access for students and university staff to online courses
Videos & Images www.agilent.com/chem/teachingresources
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