등록번호 한글장비명 영문장비명 모델명 제작국가 제작사 취득일자

NFEC-2015-03-198937 고전압분배기 HIGH VOLTAGE DIVIDER 2500A 캐나다Measurement

International 2015-01-21

NFEC-2015-01-195999 무냉매 10K 저온 냉동 시스템10K low temperature refrigerant-free

refrigeration system

SRDK-408S2-

F-50L일본

Shi Cryogenics

Group 2014-12-29

NFEC-2015-01-195808 웨이퍼 휨량측정기 Wafer warpage measurement IFP-801L 대한민국 파이버프로 2014-12-29

NFEC-2015-01-195803자기 저울식 질량측정 고압흡

착 분석기

Gravimetric High Pressure Sorption

Analyzer with Magnetic Suspension

Balance

Res 10ug

Load 10g

150bar 250 C

대한민국 (주)솔텍트레이딩

2014-12-30

NFEC-2015-01-195680 안테나 마스트 시스템 Antenna mast systemTW6000-EP-

25 kg-OATS독일 Maruro Gmbh

2014-12-24

NFEC-2015-01-195323 LWIR용 렌즈투과도 검사기 Lens permeability tester for LWIR IRT50 대한민국 (주)지우광기술 2014-12-19

NFEC-2014-12-194759 전자석시스템 Electromagnet system 648 미국Lake Shore

Cryotronics 2014-10-08

NFEC-2014-12-194777고 분해능 유도결합플라즈마

질량분석기High Resolution ICP-MS ELEMENT 2 미국

Thermo fisher

scientific 2014-10-21

NFEC-2014-12-194049 하드만센서 Shack-Hartmann sensor SID4-HR 프랑스 Phasics 2014-12-12

NFEC-2014-12-193826 누적입자량측정광도계 Particle Fall Out Photometer Set MK5-6 네덜란드 Ingenious Systems 2014-11-18

NFEC-2014-11-193678 고온연소로시스템 Pyrolyser-6 Trio SystemPyrolyser 6-

Trio영국 Raddec

2014-12-03

NFEC-2014-11-193662 4D 무진동 간섭계 4D PhaseCam interferometerPhaseCam

5030미국 4d Technology

2014-10-23

NFEC-2014-11-193661포투스 250mc 3D 공정시스

템Fortus 250mc 3D Production System Fortus 250mc 미국 Stratasys

2014-10-15

NFEC-2014-10-192726뫼비우스 리사이클 28 리터

듀어Mobius Recycler 28-liter Dewar Mobius-PT 미국 Ortec

2014-10-02

NFEC-2014-10-192724 세슘원자시계 Cesium atomic clocks 4310B 미국 Gts Solutions, Inc 2014-09-30

NFEC-2014-10-192534전자상자성공명 방사선량 측

정장치ESR Spectrometers with Data System JES-FA100 일본 Jeol

2014-09-18

NFEC-2014-10-192293 섬광체(엔에이아이) 검출기 NAL(TI) DETECTER 7HW7/5-X 대한민국 영인과학(주) 2014-08-29

NFEC-2014-10-191909 게르마늄검출기Segmented Coaxial Germanium

Detector

EGC100-

seg24프랑스 Canberra France

2014-08-18

NFEC-2014-09-191225미량가스 정성, 정량 질량 분

석 시스템Mass spectrometry system

5977A Series

GC/MSD

System

미국 Agilent Technologies

2014-08-20

NFEC-2014-09-191186 진원도측정기 Roundness measurement 73 MK4-MK5 영국 Talyr Hobson 2014-07-21

NFEC-2014-08-191003의료용 가속기용 무정전 전원

공급 장치

Uninterruptible power supply for

medical LINAC모델명 없음 대한민국 Ino Company

2014-07-30

NFEC-2014-07-190341 비교교정기용 챔버Compare appointed chamber

calibration모델명 없음 대한민국 (주)브이티에스

2013-12-16

NFEC-2014-07-190281 전기용량 저항브릿지 Quadrature bridgeUncert

25x10-9이탈리아 Inrim

2014-06-03

NFEC-2014-06-189032 마이크로 산소 연소 시스템Microwave Oxygen Combustion

SystemMW PRO

오스트리

아Anton Paar

2014-09-23

NFEC-2014-05-188870 황성분 분석시스템 GC/SCD System 7890B 미국 Agilent Technologies 2014-05-19

NFEC-2014-03-186393극저레벨 액체 섬광 계수 시

스템

ULTRA LOW LEVEL LIQUID

SCINTILLATION COUNTING SYSTEM

1220

QUANTULUS미국 Perkin Elmer

2014-01-03

NFEC-2014-01-184913 4펄스 튜브 크라이요쿨러 4 K pulse-tube cryocooler PT415-RM 미국 Cryomech 2013-12-24

NFEC-2014-01-184755 가스크로마토그래피 시스템 Gas Chromatograph System 7890B GC 미국 Agilent Technologies2013-12-23

NFEC-2013-12-184450 회로망 분석기 Vector network analyser

E5071C,E4419

B,N5181A,CM

U200

독일 Rohde&Schwarz

2013-12-11

NFEC-2013-12-184460 안정도 옵션장비Opt-HS, Option higher stability 0.001

%HCH-350 독일 Fug Elektronix

2013-11-18

NFEC-2013-12-184387 나노 입자 추적 분석 Nanoparticle tracking analysis NS300 일본 Nanosight Ltd. 2013-12-11

NFEC-2014-01-184880 인디게이터 Indicator DMP41 독일 Gmbh 2013-12-11

NFEC-2013-12-184413 3000 A 직류션트3000 Amp, Precision DC Current

Shuntsystem with CT9230A-3000 캐나다 Guildline Instruments

2013-10-25

NFEC-2013-12-184440 3000 A 직류션트3000 Amp, Precision DC Current

Shuntsystem with CT9230A-3000 캐나다 Guildline Instruments

2013-10-25

NFEC-2014-01-184724직류 비교기 저항 측정 브릿

지DCC Resistance Bridge 6622A-HV 캐나다 Guildline Instruments

2013-10-25

NFEC-2013-12-184370 저온 액체 항조 Bath, Ultra Lowtemp 7080-26 미국 Fluke 2013-10-11

NFEC-2013-12-184379 이온크로마토 시스템 Ion Chromatography(IC) SystemDionex ICS-

5000미국 Thermo Scientific

2013-11-25

NFEC-2013-12-184376직류 대전류 1000 A 공급 및

제어 시스템

Single 1000Amp CS unit with control

system

6623A-

CS1000캐나다 Guildline Instruments

2013-10-25

NFEC-2013-12-184377 고전압전원장치 High Voltage power supplyNTN 10500-

200독일 Fug Elektronix

2013-10-23

NFEC-2013-11-183921표면 거칠기 및 프로파일 측

정기

Measuring surface roughness and

profileUA3P 일본 Panasonic

2013-11-01

NFEC-2013-11-183769 힘균형압력게이지 Force-balance pressure Gauge FPG8601 미국 Fluke 2013-10-11

NFEC-2013-11-183909 정밀앰프 DMP41 Precision Amplifier DMP41 독일 Hbm 2013-10-11

NFEC-2013-11-183945 전류변압기CURRENT TRANSFORMER

MEASURING UNITWM3000U 독일 Zera

2013-05-28

NFEC-2013-10-183249 가스크로마토 그래피 GasChromatograph-Modify NGCNGC 8206 to

NGC8209스위스 Abb

2013-09-06

NFEC-2013-10-183608 압력증강기 Pressure Intensifier 5506564-53M 대한민국 피디케이2013-08-26

NFEC-2013-09-183019 프리즘 가스분석기 Prismatic Gas Analyzer(CRDS) 모델명없음 미국 Tigeroptics 2013-08-27

NFEC-2013-09-182957 헬륨 세슘 자기장 발생기 Helium-Cesium magnetometer 모델명 없음 러시아 Bhnnm 2013-07-19

NFEC-2013-09-182609 자동기본 저항/온도 브릿지 Thermometry Bridge 6010D 캐나다 Mintl 2013-07-18

NFEC-2013-09-182519 냉동분쇄기 Freezer Mill 6970D 대한민국 엘림글로벌 2013-08-20

NFEC-2013-08-182187 가스분석기 CO/SO2 Analyzer ULTRAMAT 6 독일 Siemens 2013-08-12

NFEC-2013-07-181037 레이저 시스템 tunable laser systemTLS-41000-

MHF미국 Daylight Solutions

2013-10-07

NFEC-2013-07-181040 에어베어링 Air Bearing XXL 550 독일 Paul.hohmann 2013-06-28

NFEC-2013-07-180909 알라닌 선량계 측정 시스템Alanine dosimetry measurement

system모델명없음 대한민국 엔에이시스템

2013-01-09

NFEC-2013-07-180861유방촬영 x-선 표준조사시스

템

Standard mammography x-ray

inspection system모델명없음 대한민국 대성지티

2013-01-09

NFEC-2013-07-180793평행판 소프트 X-선 에어 챔

버

Parallel Plate Soft X-ray Free Air

ChamberSXFAC 대한민국 대성지티

2013-01-13

NFEC-2013-07-1809173중-사중극자 유도결합 플라

즈마 질량분석기

Inductively Coupled Plasma

Mass/Mass(QQQ) Spectrometer

8800 ICP-

QQQ미국 Agilent Technologies

2013-05-15

NFEC-2013-06-180508 표준분동 Standard Mass 모델명없음 대한민국 도형아이엠 2012-01-11

NFEC-2013-07-181419 고성능마이크로저울 High-performance Microbalance XP56V 스위스 Mettler Toledo 2013-06-19

NFEC-2013-06-180017 전압 변압기 측정기VOLTAGE TRANSFORMER

MEASURING UNITWM3000U 독일 Zera

2013-05-20

NFEC-2013-06-179995 고니오미터 시스템 Goniometer systemNeolight

7000S대한민국 파이맥스

2011-12-22

NFEC-2013-06-179926 가스피스톤 게이지

PLATFORM, PURE GAS PISTON

GAUGE,50MM, W/OUT VAC REF

OPTION

PG9607 미국 Fluke

2012-01-13

NFEC-2013-06-180228 압력 가스피스톤 실린더 PURE GAS PISTON CYLINDER PC-9607-5 미국 Fluke 2012-01-01

NFEC-2013-06-180199 초고압 표준 시스템 Highpressure standard system 모델명없음 미국 Fluke 2011-03-17

NFEC-2013-06-180014 통합초정밀전류발생기Digital Current Sources with

integrated Nanovoltmeter모델명없음 독일 Magnicon Gbr

2012-07-19

NFEC-2013-06-179698 랜연결단자 LAN-XI(IN/OUT=16/2)LAN-XI Type

3053덴마크 Bruel&kjaer

2012-08-28

NFEC-2013-06-179699 가스크로마토그래피Gas Chromatograph-NGC8206 with

RackNGC 8206 스위스 Abb

2012-11-09

NFEC-2013-06-179727 고순도 Ge-검출기 High purity Ge-detector GEM30P4-76 미국 Ametek 2012-12-18

NFEC-2013-06-179729 저온표준습도장치 Chilled Mirror Hygrometer 373 LX 미국 Rh Systems 2012-01-03

NFEC-2013-06-179479 벡터회로망분석기 Vector Network Aanlyzer N5225A 미국 Agilent Technologies 2013-01-21

NFEC-2013-05-179264 미터교정기 Calibrator 5700A/5720A 미국 Fluke2009-11-04

NFEC-2013-05-179386 전력증폭기 RF Power Amplifier 100W1000B 미국 Ar-world Wide 2013-04-10

NFEC-2013-05-178841 초저액체 섬광 카운팅 시스템ULTRA LOW LEVEL LIQUID

SCINTILLATION COUNTING SYSTEM

1220

QUANTULUS미국 Perkin Elmer

2013-04-04

NFEC-2013-05-178570 4셀직류참조표준 4 Cell DC Reference Standard 734A 미국 Fluke 2013-03-11

NFEC-2013-03-176910 오일 피스톤 게이지 Oil perated piston gauge PG7302 미국 Fluke 2013-02-19

NFEC-2013-03-176610 잡음교정장치Items for Free-field Reciprocity

Calibration14ZJ6GC 덴마크 Bruel&kjaer

2012-10-12

NFEC-2013-02-175026저온 분리 농축 흡탈착 시스

템CRYO-TRAPPING SYSTEM 모델명없음 대한민국 지앤엘

2012-12-18

NFEC-2013-03-176880 다기능교정기 Multi-function calibrator 5700A/5720A 미국 Fluke2012-11-01

NFEC-2013-03-176666 3000A 대전류발생기3000 A Range Extender with 10000 A

torroid6623A-3000 캐나다 Guildline Instruments

2012-12-04

NFEC-2013-01-174381고순도게르마늄 감마선 분광

시스템

HPGe Gamma-ray Spectrometry

SystemGEM90P4-95 미국 Ametek

2012-10-16

NFEC-2013-02-174933 고압마이크로파 분해장치Microwave High Pressure Digestion

SystemUltrawave 이탈리아 Milestone

2012-10-08

NFEC-2013-02-174864자유공간 물질상수 측정시스

템

Free-space material constant

measurement systemW-band 영국 Sillexinc

2012-09-21

NFEC-2013-02-174930 가스크로마트 그래피 Gas Chromatography 7890A 미국 Agilent Technologies 2012-09-14

NFEC-2012-10-172418총질소 총인 수질연속자동측

정기TN/TP Analyzer

PowerMon

TN/TP독일 Bran+luebbe

2012-10-10

NFEC-2013-01-174551기체크로마토그라피-원자방

출검출기

Gas Chromatograph-Atomic Emission

DetectorJAS 7890 독일 Jas

2012-09-14

NFEC-2013-01-174536 진단 엑스레이 시스템Diagnostic x-ray system(Industrial X-

ray equipment ISOVOLT TITAN E)

MCD 100H-3

Mo독일

GE Sensing &

Inspection

Technologies GmbH 2012-08-16

NFEC-2012-09-172221G/J-band 산란계수 측정시스

템

G/J-bandscattering measurement

systemZVA-Z110E 독일 Rohde&Schwarz

2012-09-21

NFEC-2012-09-170505 질량비교기 Mass Comparator AX64004 스위스 Mettler Toledo 2012-07-13

NFEC-2012-09-170503 4-포트 산란계수 측정시스템4-Port Banded Millimeter-wave

ConfigurationN5262A 미국 Agilent Technologies

2012-07-31

NFEC-2012-09-170049 신호발생기 Signal Generator E8257D 미국 Agilent Technologies 2012-08-06

NFEC-2012-09-170050 잡음지수분석기 Noise Figure Analyzer N8975A 미국 Agilent Technologies 2012-08-06

NFEC-2012-09-170154 주파수확장기 Noise Frequency Block Converter FBC-10-FB 아일랜드 Farran Technologies 2012-08-20

NFEC-2012-08-168244 멀티 복합전류 변환기Reference Multiratio Composite

Current Transformers모델명 없음 캐나다

NATIONAL

RESEARCH COUNCIL 2012-07-05

NFEC-2012-06-164137 온도측정 브릿지 AC Thermometry bridge F-700 미국 Asl 2012-05-15

NFEC-2012-05-163399자외선 가시광선 근적외선 분

광계UV VIS NIR spectrometer

LAMBDA

1050미국 Perkin Elmer

2012-05-10

NFEC-2012-05-163400 신호발생기 Signal Generator MG3697C 일본 Anritsu 2012-05-08

NFEC-2012-05-162763 고순도게르마늄검출기 GEM HPGe Coaxial detector GMX60P4-83 미국 Ametek 2012-04-16

NFEC-2012-04-162815 상대중력계 Relative gravimeter CG-5 캐나다 Scintrex 2012-04-16

NFEC-2012-02-154498 차압표준기 Differential Pressure Primary Standard 2482 미국 Fluke2012-01-03

NFEC-2012-02-154503 감마선검출기 HPGe Detector GL 2015R 미국 Canberra Industries 2012-02-07

NFEC-2012-01-152835열중성자 표준장 발생장치 및

연속 중성자장 발생장치

Continuous neutral magnetic field

generating device모델명 없음 대한민국 신한티씨

2011-12-21

NFEC-2012-01-152562저에너지 X - 선 5 축 정밀 스

테이지

Low energy X-ray 5-axis precision

stage모델명 없음 대한민국 엔에이시스템

2011-12-07

NFEC-2012-01-152147 저주파진동센서 교정시스템Low-frequency vibration sensor

calibration systems

400 mm

stroke독일 Spektra

2011-12-26

NFEC-2012-01-152146 열감지 모니터 Thermal activity monitor TAM III 미국 Ta Instruments 2011-12-26

NFEC-2011-12-151502 절대중력측정기 FGL upgrade to FG5-X FG5-X 미국 Micro-g Lacoste 2011-11-17

NFEC-2011-11-151208 입자계수기 Particle Instruments 308003 미국 Tsi 2011-11-21

NFEC-2011-11-150804가시광선-근적외선 분광복사

계Vis-NIR spectroscopy quarterly MCPD-9800 일본 Otsuka Electronics

2011-11-04

NFEC-2011-11-150803 가시광선-근적외선 분광계 Vis-NIR spectroscopy quarterly MCPD-9800 일본 Otsuka Electronics 2011-11-04

NFEC-2011-11-150178 감마.중성자 분광시스템HPGe Gamma-ray Spectroscopy

SystemHPGE 대한민국 영인과학

2011-11-01

NFEC-2011-11-150053 2 m, 6포트 적분구2 m, 6-port integrating sphere

photometerOPI-1000 대한민국 광전자정밀

2011-10-18

NFEC-2011-09-148999 가스분석시스템 Gas Chromatographic System GC/2TCD 대한민국 지앤엘 2011-09-29

NFEC-2011-09-148958 광스팩트럼분석기 Optical Spectrum Analyzer AQ6317 일본 Yokogawa 2011-09-19

NFEC-2011-09-148913 나노스크래치 테스터 Nano Scratch Tester NST 스위스 CSM Instruments 2011-08-18

NFEC-2011-08-147720 질량비교기 Mass Comparator XP6002KL 스위스 Mettler Toledo 2011-07-13

NFEC-2011-08-147004 정밀 유도 전압 분할기 Precision Inductive Voltage Divider 모델명 없음오스트레

일리아

National

Measurement

Institute Of Australia 2011-04-19

NFEC-2011-08-147000 진원도 측정기 Roundness instrument Talyrond 395 미국 Ametek 2011-07-18

NFEC-2011-08-146999 자동콜리메이터 Autocollimator Set ELCOMAT HR 독일 Moller Wedll2011-07-18

NFEC-2011-07-146807 연소이온크로마토그래피Mitsubishi Prep station ion

chromatography SystemAQF-2100H 일본 Mitsubishi Electric

2011-07-14

NFEC-2011-07-146812 수소메이저 Active Hydrogen Maser 모델명 없음 미국 Symmetricom 2011-07-06

NFEC-2011-07-146821 디 밴드 모듈D-band T/R module)Vector network

analyzer

OML

V06VNA2-

T/R-A-RLA

미국 Agilent Technologies

2011-06-23

NFEC-2011-07-146797 머시닝센터 machining center VB-2016 대만 Vision Wide Tech 2011-06-23

NFEC-2011-07-146780 동축형전류분규기 AC Current Shunt A40B 미국 Fluke 2011-06-16

NFEC-2011-07-146779 아날로그 신호발생기analog signal generator with ultra-

low phase noise performanceE8663D 미국 Agilent Technologies

2011-06-01

NFEC-2011-06-151394 펄스타임 Pulse Time 7789-A 덴마크 Bruel&kjaer 2006-07-14

NFEC-2011-06-145839 아이씨피/오이에스 시스템 ICP/OES System OPTIMA 5300 영인과학(주)2004-07-22

NFEC-2011-06-145728 이온크로마토그래피 시스템Reagent free Ion Chromatography

SystemICS-5000 미국 Dionex

2011-05-02

NFEC-2011-06-145727 교정기 Calibrator 5700A/5720A 미국 Fluke2011-05-30

NFEC-2011-05-145842 세슘주파수표준기 Primary Frequency Standard 5071Agilent Technologies

Singapore Pte Ltd. 2002-04-12

NFEC-2011-05-145841 저항온도계 Resistance Thermometery BridgeASL F18H-A-

X세인교정기기(주)

2002-05-27

NFEC-2011-05-145622 롱게이지블록 비교기 Long gauge block comparator 130B-16 독일 Mahr Federal 2011-05-12

NFEC-2011-04-145370 정밀 직류 고전압 분압기 Precision DC High Voltage Divider CA150오스트레

일리아

National

Measurement

Institute Of Australia 2011-03-18

NFEC-2011-04-145334 LED측정시스템 VIS-NIR Spectroradiometer CAS 140CT 독일 Instrument Systems 2005-03-08

NFEC-2011-03-145821펨토초 레이저 펌핑용 엔디

와브이오 레이저fs Laser Puming 용 Nd:YVO4 Laser 모델명없음 레이저스펙트라

2003-06-30

NFEC-2011-03-151400 아세틸렌 안정화 레이저 Acetylene Stabilized Diode LaserC2H2LDS-

1540일본 Neoark

2005-03-18

NFEC-2011-03-145223 초정밀 AC 온도브리지 Precision thermometry AC bridges F18H-A-X 세인교정기기(주) 2003-05-21

NFEC-2011-03-145224 세슘 주파수 표준기 튜브 Cesium frequency standard tube 5071A 미국 Symmetricom 2010-05-11

NFEC-2011-03-145846 헬륨누설탐지기 Leak Detector-He 모델명없음

VARIAN

TECHNOLOGIES

KOREA 2000-05-19

NFEC-2011-03-145845 공구현미경 Measuring Microscope MF-1030TH (주)경화상사 2001-08-22

NFEC-2011-03-145144 미터측정기 Meter Calibrator 5700A/5720A 미국 Fluke2007-03-27

NFEC-2011-03-145115 삼차원 좌표 측정기UItra High Precision Coordinate

Measuring Machine

PMM 12.10.6

MG

LEITZ Messtechnik

GmbH 2003-11-08

NFEC-2011-03-145114 주파수 안정 레이저 Stabilized Nd-Yag laser 532nm I2 VNIIM, RUSSIA 2003-11-17

NFEC-2011-01-138875 이온소스 및 챔버 Ion source 및 chamber 모델명없음 (주)브이에스아이 2002-09-09

NFEC-2011-01-138868 벨브유량계수시험평가장치 Valve Cv test system 1set 모델명없음 중앙진공㈜ 2001-09-27

NFEC-2011-01-138866 할로겐누설탐지기 Halogen leak detector ASM 310 INFICON GmbH 2003-09-01

NFEC-2011-01-138861 탈기체평가장치Thermogravimetric Analyzer based on

the magnetic suspension balanceAT 21

RUBATHERM

PRAZISIONSMESSTE

GMBH 2000-08-09

NFEC-2011-01-136981 이동원자시계 Cs Atomic Clock CsIII, 4310B(주)동진커뮤니케이션

시스템 2004-12-23

NFEC-2011-01-136971 스펙트럼 분석기 PSA Spectrum Analyzer E4440ALEYBOLD Vacuum

GMBH 2002-10-08

NFEC-2011-01-139165 측지용 수신기 GPS LAND SURVEYOR 4000SSI 4000SSITRIMBLE

NAVIGATION SYS 1998-10-01

NFEC-2011-01-137718진공펌프 특성평가실의 반무

향실Semi-anechoic Chamber 개발장비 대한민국 한미실업

2007-04-28

NFEC-2011-01-136690 고순도 Ge 핵종분석장치 HPGe Coaxial Detectpr GEM30P 영인과학(주) 2001-08-18

NFEC-2011-01-141368나노유속 고압 액체크로마토

그래피Nano UPLC

nanoACQUIT

Y UPLC미국 Waters

2007-01-02

NFEC-2011-01-139603고분해능 유도결합플라즈마

질량분석기High Resolution ICP/MS ELEMENTS 미국 Thermo Scientific

2007-01-03

NFEC-2011-01-141374 단백질 분석 시스템 Protein analysis system 모델명 없음 미국 Bio-rad 2007-02-16

NFEC-2011-01-136684요오드안정화 Nd-YAG 레이

저532nm I2 Nd-YAG laser 5 pieces VNiiM

2002-12-31

NFEC-2011-01-136692 레이저 이동 계측 시스템LASER DISPLACEMENT MEASURING

SYSTEM ZMI 1000ZMI1000 ZYGO CORP

1996-12-31

NFEC-2011-01-142176 네트워크 분석기기 Network analyzer HP 8720DR HEWLETT PACKARD 1999-10-22

NFEC-2011-01-141376

이차원이온트랩-프리에변환

이온사이클로트론 질량분석

기

A hybrid 2D linear ion trap - Fourier-

transform ion cyclotron resonance

mass spectrometer system

LTQ-FT 미국 Thermo Scientific

2007-03-12

NFEC-2011-01-136648 액체섬광계수장치 Liquid Scintillation AnalyzerTri-Carb

2800TR미국 Perkin Elmer

2007-11-20

NFEC-2011-01-136852 펄스 발생기 pulse generator 8133A 한국휴렛팩커드 1997-08-23

NFEC-2011-01-136237 진공증착기 Thermal Vacuum Evaporator system T4060 코리아바큠테크㈜ 2003-12-23

NFEC-2011-01-135885 멀티가스분석기MULTI-GAS ANALYZER WITH VORTEX

COOLERMIR9000 우성하이백

2001-06-07

NFEC-2011-01-141640 수소메어져 Active Hydrogen Maser Kvarz CH1-75 러시아 Kvarz2007-01-02

NFEC-2011-01-136083 UV-VIS-NIR 분광복사계 UV-VIS-NIR Spectroradiometer CAS 140CT 독일 Instrument Systems 2007-05-10

NFEC-2011-01-136041 원자간력 현미경 AFMAutoprobe

M5ThermoProbe Inc.

2002-03-27

NFEC-2011-01-141389 레이저 간섭계 laser interferometer Agilent 10737 Agilent Technologies2003-12-18

NFEC-2011-01-135095 이온 크로마토그래프 Ion ChromatographDionex DX

600DIONEX CO

2000-06-16

NFEC-2011-01-135599 감마선 분광시스템 Gamma-ray Spectroscopy System GEM 30AMETEK Process

Instruments 2003-11-05

NFEC-2011-01-134733 광섬유분산 및 손실측정기Photonic Dispersion and Loss

Analyzer86038B 미국 Agilent Technologies

2005-12-01

NFEC-2011-01-134922 파장가변레이저 Tunable Laser for upgrade of PDLA 86038B 미국 Agilent Technologies2007-11-07

NFEC-2011-01-135108 옵셋 안정화 헬륨네온 레이저 offset laser system 633 nm

NEO-

92SI/NEO-

OL101K

일본 Neoark

2007-09-07

NFEC-2011-01-140925이온크로마토그래프/질량분

석기

IC/MS/MS System IC/HR Triple

Quadrupole MS/MS SpectrometerICS-3000/TSQ 미국 Dionex

2007-12-12

NFEC-2011-01-134968파장가변다이오드레이저(외

부공진기형)

External Cavity Tunable Diode Laser

System

Controller:

6300NEW FOCUS INC

1999-12-09

NFEC-2011-01-135041 파장측정기 Wavemeter WSU-30 독일 Mouser 2007-10-11

NFEC-2011-01-134917 레이저 파장계측기 Wavelength Measurement System WS-U30 독일 High Finesse 2007-12-21

NFEC-2011-01-134879 파장계 Wavelength meter WA-1500-NIR Burleigh2001-07-16

NFEC-2011-01-135363 저압 차압표준 Low differential pressure standard FRS4 삼덕기술(주) 2001-03-30

NFEC-2011-01-134591 배광측정기 업그레이드 Photometric meter upgradeNeoLight

3000대한민국 파이맥스

2009-05-18

NFEC-2011-01-134866 저온흑체 Low temperature blackbody M385 독일 Impac Infrared 2007-08-24

NFEC-2011-01-135361 상대중력계 Relative gravimeter G-1130Lacoste and

Romberg 2000-05-22

NFEC-2011-01-142709 저항항온조 Resistor Bath 7009 Hart Scientific Inc. 2001-11-20

NFEC-2011-01-134567 외용 터널 레이저 다이오드 External Cavity Laser Diode2010M-

OPT62-40오엠에이

2001-07-06

NFEC-2011-01-134829 광스펙트럼분석기Optical Spectrum Analyzer with

PowermeterQ8384

아드반테스트코리아

(주) 2001-10-19

NFEC-2011-01-142077 미터교정기 Meter Calibrator 5700A Fluke 1996-09-17

NFEC-2011-01-141262 누설전류 측정장치 leakage current measurement 4156A 미국 Agilent Technologies2007-07-27

NFEC-2011-01-133734 질소화합물 모니터링시스템 N2O Monitoring System(GCECD) ECD 대한민국 지앤엘 2010-12-23

NFEC-2011-01-141606가스압력조절식 열관 전기로

시스템

Pressure Controlled Heat pipe

Furnace System

Dynatherm

1064Dynatherm company

1997-07-11

NFEC-2011-01-133905 교류-직류 변환표준기 AC-DC Transfer Standard 792A Fluke 2001-08-09

NFEC-2011-01-134014 네트워크 분석기기 NETWORK ANALYZER HP 8751AHEWLETT PARKARD

LTD 1997-11-12

NFEC-2011-01-134386 수분분석기 Moisture AnalyzerMTO-1000-

H2O미국 Tiger Optics

2007-08-10

NFEC-2011-01-142071 다기능 미터교정기 Multifunction Meter Calibrator 4808 Wavetek 1997-07-24

NFEC-2011-01-134137 고주파 증폭기 RF Power Amplifier 20ST1G18A 미국 Amplifier Research 2007-03-27

NFEC-2011-01-139326 보호열판법 열전도도 측정기 Guarded hot plate instrumentGHP 456

Titan독일 Netzsch

2007-08-22

NFEC-2011-01-132259 세슘원자시계 Cesium atomic clock 5071A 미국 Agilent Technologies 2010-11-23

NFEC-2011-01-131930 기준복사온도계 Standard radiation thermometer 모델명 없음 독일 Heitronics 2010-12-23

NFEC-2010-12-122564 5kA표준전류변성기 5 kA standard current transformer 4764 스위스 Haefely Test AG 2006-06-01

NFEC-2010-12-122600 전류 전압 변성기 비교기Current and voltage instrument

transformer test set2767 스위스 Haefely Test AG

2006-06-01

NFEC-2010-12-117043 고전압표준용량기 High voltage standard capacitor 3370 NK 스위스 Haefely Test AG 2006-06-01

NFEC-2010-12-122601 커패시턴스 측정 브리지capacitance and dissipation factor

measuring bridgeTG-1-07 스위스 Presco

2007-08-01

NFEC-2010-12-122833 초정밀 전기용량 브리지 Ultra-precision capacitance bridge AH2700A 미국 Andeen-hagerling 2005-04-01

NFEC-2010-12-122836 전력표준공급기 Electrical power standard 6100A 미국 Fluke 2005-09-01

NFEC-2010-12-122840 자동 고전압 전기용량 브리지Automated high voltage

capacitance/tan delta bridge7010B 캐나다 Mi

2006-07-03

NFEC-2010-12-122870 4kA전류변성기평가시스템 4 kA Current transformer test systemSCM 4000-

200독일 Zera

2006-04-03

NFEC-2010-12-122868 미터교정기 Meter calibrator 5700A/5720A 미국 Fluke2005-05-02

NFEC-2010-12-122866 파장가변레이저시스템Chromatic Dispersion Measurement

System Upgrade

8164B,81600B

,8100B-

130,81000NI

미국 Agilent Technologies

2006-11-08

NFEC-2010-12-122864 표준전류변성기 standard current transformer NCD 20000d오스트레

일리아Epro

2006-06-01

NFEC-2010-12-122841 직교류 변환기 AC-DC transfer standard 792A 미국 Fluke 2007-05-01

NFEC-2010-12-122835전압 변성기(1차전압 66 kV -

200 kV)Voltage transformer NVOS 220mo

오스트레

일리아Epro

2005-10-03

NFEC-2010-11-085462RH 373HX 노점계의 상점 구

별 부속장치

Special Frost-point Measurement

System FOR 373HXi-Cube 미국 Rh Systems

2010-10-04

NFEC-2010-11-085562 액체크로마토그래피시스템 Agilent HPLC System 1200 미국 Agilent Technologies2010-09-16

NFEC-2010-11-085401GC-ICP/MS용 가스크로마토

그래피

GC-ICP/MS Gas Cromatography

Autoinjector7890A 미국 Agilent Technologies

2010-10-28

NFEC-2010-11-085321 온도측정시스템 Temperature Measurement System Base 독일 Testo 2010-10-20

NFEC-2010-08-082983 광섬유 펨토초 펄스 레이저 Fiber Femtosceond Pulse Laser M-COMB 독일 MenloSystems 2010-07-29

NFEC-2010-08-082742 세슘원자시계 Primary Frequency Standard 5071A 미국 Symmetricom 2010-07-22

NFEC-2010-08-082743 세슘원자시계 Primary Frequency Standard 5071A 미국 Symmetricom 2010-07-22

NFEC-2010-07-080824감마선- 백그라운드 저감용

검출기NaI(Tl) compton suppressor 9HW9(4)2L-X 프랑스 Saint-gobain

2008-11-10

NFEC-2010-07-080835 콘포칼 현미경 형상 측정기Confocal profiler (OLS3100-Universal

A/S type-150)

LEXT OLS

3100일본 Olympus

2009-12-22

NFEC-2010-07-080832 미터 교정기 Calibrator 5700A/5720A 미국 Fluke2009-11-04

NFEC-2010-07-080831 냉각거울 노점습도계Chilled Mirror Hygrometer (RH

System 373 HX)373HX 미국 Rh Systems

2009-11-10

NFEC-2010-07-080840 실리콘반도체검출기

OCTETE-PLUS with eight 450 mm2

ULTRA-AS Detectors and 230-V PPS-

- 8-unit Alpha Spectrometer with

Table-Top Mounting Enclosure, one

each of all four SampleTrays, and

MAESTRO-32 Software

OCTPL-U0450 미국 Ametek

2009-12-01

NFEC-2010-06-080092 UV-VIS-NIR 분광복사계UV-Vis-NIR spectroscopy quarterly

clothingCAS 140CT 독일 Instrument Systems

2010-05-13

NFEC-2010-06-080094마이크로파 증폭기 및 전원

공급기

Microwave amplifier and power

supply83020A 미국 Agilent Technologies

2010-06-04

NFEC-2010-06-080090 다이오드펌프형 야그레이저

CW/Q-switched diode pumped

1064nm laser system(Hawk II-1064-

50-M-QS)

Hawk-II 영국 Quantronix

2010-05-19

NFEC-2010-05-079775고분해능 다중검출기 유도결

합플라즈마 질량분석기High Resolution Multicollector ICPMS Neptune 미국 Thermo Scientific

2010-01-25

NFEC-2010-01-078207 RF 전력증폭기 RF Power Amplifier 1000A250 미국 Amplifier Research 2009-07-17

NFEC-2010-01-078208 감마선 분광계 Gamma-ray spectroscopy system 모델명 없음 미국 Ortec 2009-04-29

NFEC-2010-01-078209 방사선 분광기용 납차폐체Lead shield for gamma-ray

spectroscopy모델명없음 미국 Ametek

2009-06-18

NFEC-2010-01-078215 소형 저온 안정화 흑체 Portable low temperature blackbody IR-PCT 캐나다 Telops 2009-02-11

NFEC-2010-01-078212 마이크로파산분해장치Microwave Digestion System,

MILESTONE, ETHOS 1ETHOS one 이탈리아 Milestone

2009-04-15

NFEC-2010-01-078223 10 k 저온냉동기 Sumitomo Heavy Industries, Ltd RDK-408S 일본Shi Cryogenics

Group 2009-06-18

NFEC-2010-01-078238 자동저배경알파베타계수기Automatic Low Background

Alpha/Beta Counting System

S5X2050E,S5

ACCKIT LB-

S5S

미국 Canberra Industries

2009-02-06

NFEC-2010-01-078234 레이져플레쉬 Laser flash apparatusLFA457

MicroflashTM독일 Netzsch

2009-09-15

NFEC-2010-01-078233 알파분광분석기 Alpha Ray spectrometry Alpha Analyst 미국 Canberra Industries2009-07-15

NFEC-2010-01-078232 감마분광분석기HPGe Detector for Gamma-Ray

SpectroscopyGWL-300-15 미국 Ortec

2009-05-14

NFEC-2010-01-078239 스팩트럼분석기PSA Spectrum Analyzer 3 Hz - 50

GHzRF/μW 미국 Agilent Technologies

2009-06-11

NFEC-2010-01-078210 마이크로 삼차원 측정기 Coordinate Measuring Machine 모델명 없음 대한민국 덕인 2009-05-20

NFEC-2009-06-071446 분광복사휘도계 Spectroradiometer CAS 140CT 독일 Instrument Systems 2008-12-18

NFEC-2009-06-071445양방향 반사/투과 분포 측정

시스템BRDF/BTDF measurement system RT-500 대한민국 제이앤씨테크

2008-09-11

NFEC-2009-06-071416광조도 및 광휘도 자동교정장

치Automated Photometric Bench

NeoOptiCal

5100대한민국 파이맥스

2008-10-15

NFEC-2009-06-071439 커패시턴스 배율기Capacitance multiplier(10, 20, 50,

100)CM-1 미국 Nrc

2008-05-27

NFEC-2009-06-071431 동결건조기 Freeze dryer PVTFD 100R 대한민국 일신바이오베이스 2008-07-07

NFEC-2009-06-071379 벡터회로망분석기VNA (Agilent E8361C with option

014)E8361C 미국 Agilent Technologies

2008-12-09

NFEC-2009-06-071407 광빗발생장치 Optical comb generator WTAS-01 일본 Optical Comb 2008-07-21

NFEC-2009-06-071400주파수 교정용 광원레이저(헬

륨-네온)Calibration SourceHe-Ne laser head

HE-NE LASER

100미국

Winters Electro-

optics 2008-11-21

NFEC-2009-06-071410 절대중력계FG5-L Absolute Gravimeter (Micro-g

LaCoste, Model: FG5-L)FG5-L 미국 Micro-g Lacoste

2009-01-01

NFEC-2007-10-013771 Capacitance Bridge Capacitance Bridge AH2500A ANDEEN HAGERLING2001-06-01

NFEC-2007-10-018976 열팽창측정장비 Dilatometer DIL402 독일 Netzsch 2006-09-11

NFEC-2007-07-016967 하이브리드질량분석기

12 Tesla ESI Hybrid Fourier 12 Tesla

ESI Hybrid Fourier Transform Ion

Cyclotron Mass Spectrometer

12 Tesla 독일 Bruker

2005-01-17

NFEC-2007-07-016969 단백질분석시스템 HPLC system for protein fractionation 모델명 없음 미국Amersham

Biosciences 2006-10-13

NFEC-2007-07-016970 사중극형질량분석장치QMG422, Quadrupole mass

spectrometerQMG422 독일 Pfeiffer Vacuum

2005-10-21

NFEC-2007-07-016979 고전압발생원High voltage source 240 kV, 50/60

Hz(HVT 250)EVRMU 40 독일 Zera

2006-01-02

NFEC-2007-07-018620 광주파수합성기 Optical Frequency Synthesizer System FC8004 독일 MenloSystems 2005-06-01

NFEC-2007-07-018627 원추안테나시스템 Cone antenna System 모델명 없음 대한민국 메닉스 2006-03-29

NFEC-2007-07-018646 검출기 Gem HPGe coaxial detector 모델명 없음 미국 Ametek 2006-01-25

NFEC-2007-07-018645 저준위 HPGe 검출기 시스템 Low-level HPGe detector system 모델명 없음 대한민국 엠케이산업 2006-09-19

NFEC-2007-07-018643 보조출력생성기 AOG 110 Auxiliary Output Generator AOG-110 미국 Symmetricom 2005-09-22

NFEC-2007-07-018641 수소메이저 Active Hydrogen Maser CH1-75A 러시아 Iet Kvarz 2005-02-21

NFEC-2007-07-002146 CCD-검출기 Single molecule imaging system 모델명 없음 일본 Nippon Roper 2006-06-05

NFEC-2007-07-002161 다목적 배광분포 측정장비 Data acqusition system)NeoLight

7000대한민국 파이맥스

2006-09-29

NFEC-2007-07-002157 옵셋안정화 레이저 Winters#200 stable laser Winters-#200 미국Winters Electro-

optics 2006-11-10

NFEC-2007-07-002121 전압전류 변환증폭기 Transconductance amplifier 8100 미국

Clarke-hess

Communication

Research 2005-03-18

NFEC-2007-07-002119 아날로그 신호발생기 PSG analog signal generator E8257D 미국 Agilent Technologies2005-03-23

NFEC-2007-07-002118 벡터회로방분석기Microwave vector network

analyzer,10MHz to 67 GHzE8361A 미국 Agilent Technologies

2005-05-04

NFEC-2007-07-002116 레이저트랙커 Laser tracker Xi V2 system V2 미국 Faro 2006-06-16

NFEC-2007-07-002114 신호발생감쇄기PSG analog signal generator-Step

attenuatorE8257D 미국 Agilent Technologies

2006-10-10

NFEC-2007-07-002142 고전압 표준용량기 High voltage capacitance bridge 9910A 캐나다 Guildline Instruments2006-07-26

NFEC-2007-07-002140광범위 비오차표준 전압 변성

기standard current transformer VST-371 스위스 Haefely Test AG

2006-07-26

NFEC-2007-07-002138 전류 전압 변성기 비교기current and voltage instrument

transformer test set including 59912676 스위스 Haefely Test AG

2006-07-26

NFEC-2007-07-003868 습도제어시스템 Precise Humidity Control System 30 CFM 미국 Pgc 2005-06-28

NFEC-2007-07-003863 질량비교기 Automatic Mass Comparator System 모델명 없음 스위스 Mettler Toledo 2006-09-25

NFEC-2007-07-003862 고전압분압기Resistive High voltage divider 150 kV

(R 150)TK 400-0.5 스위스 Nmi

2006-11-30

NFEC-2007-07-003861 고전압분압기Resistive High voltage divider 150 kV

(R 150)K 400-0.5 스위스 Nmi

2006-11-30

NFEC-2007-07-003860 교류전압분압기 AC Voltage Divider & DMI 551 TK 400-0.5 스위스 DKSH 2006-11-13

NFEC-2007-07-003857 고전압용량브리지Capacitance bridge 120 V, 60 Hz,

9910A(including NRC calibration fee)9910A 캐나다 Guildline Instruments

2005-08-09

NFEC-2007-07-002123마이크로폰 절대교정 계측장

치

Measurement devices absolute

calibration microphone모델명 없음 대한민국 시그널텍

2005-12-14

NFEC-2007-07-002122 미터교정기 Meter Calibrator 5700A/5720A 미국 Fluke2005-05-27

NFEC-2007-07-002155 광섬유 색분산 측정 시스템 Monochromator with lockin amp 모델명 없음 영국 Bentham Instruments2006-02-10

NFEC-2007-07-002154 중금속분석기 Automatic heavy metal analyzer 모델명 없음 대한민국 신코 2006-12-21

NFEC-2007-07-002150 가스분석기 Portable Gas Analyzer PG-250A 일본 Horiba 2005-08-30

NFEC-2007-07-002147 수냉식 고출력 Ar이온 레이저Water-cooled high-power Ar-ion

laserLexel 95-SHG 미국

Cambridge Lasers

Laboratories 2005-09-02

NFEC-2007-07-002196 CE용 LIF 검출기 dual WL LIF detector P/ACE MDQ 미국 Beckman Coulter 2006-07-07

NFEC-2007-07-002194 아날로그 신호 생성기 E8257D PSG analog signal generator E8256D 미국 Agilent Technologies2005-11-15

NFEC-2007-07-002183 헬륨네온안정화레이저 Winters#100 stable laser Winters 100 미국Winters Electro-

optics 2006-11-10

NFEC-2007-07-002180 아세틸렌 안정화 레이저 Acetylene Stabilized Diode LaserC2H2LDS-

1540일본 Neoark

2005-03-18

NFEC-2004-12-002475 신호발생기 Signal generator 7890A 미국 Agilent Technologies2004-06-03

NFEC-2004-12-0256164 kA 전류 변성기 평가 시스

템

4kA Current transformer testing

system including KATC-C1

comparator,10 kA(KCTS-8000)

SCM 4000-

200

QUANTUM-

PRECISION INC. 2004-09-01

NFEC-2004-12-044742 전력표준마스터 Electrical power standard master 6100A FLUKE CORP. 2004-05-07

NFEC-2004-12-008622 수소메이저 Active Hydrogen Maser CH1-75APreciscTime and

Frequency,Inc. 2004-02-10

NFEC-2004-12-028790 게이지블록 비교기 Gage Block Comparator 130B-24 독일 Mahr Federal 2004-06-14

NFEC-2004-12-008620 파장계 WavemeterWA-1500-

NIR-58

EXFO,ELECTRO-

OPTICAL

ENGINEERING 2004-06-03

NFEC-2003-11-044172 분광계SPECTROPHOTOMETER WITH

ACCESSORIESCary5000 Varian Austrialia

2003-09-04

NFEC-2003-11-044204 세라믹 유리 CERAMIC GLASS 모델명 없음 스위스 Lkt Kirchrer 2003-03-15

NFEC-2003-11-044181 직류비교측정기 Direct Current Comparator bridge 6010Q 엑심하아테크(주) 2003-03-11

NFEC-2003-11-041584 광섬유 BOTDA 센서시스템 Fiber optic BOTDA sensor system 모델명 없음 대한민국 한국표준과학연구원 2003-07-31

NFEC-2003-11-025805 질량비교기 Electronic mass comparator 15 Mettler-Toledo 2003-06-26

NFEC-2003-11-044164NEAR FIELD SYSTEM WITH

STANDARD ACC

NEAR FIELD SYSTEM WITH

STANDARD ACC

AL-495ZT-1-

13-13-VORBIT FR Engg

2003-08-19

NFEC-2003-11-019533 네트워크 분석기 NETWORK ANALYZER Agilent 2003-08-09

NFEC-2003-05-040968 출력생성기 AUXILIARY OUTPUT GENERATORAOG-

110,5MHz

Datum Timing,Test

and Measurement 2002-12-02

NFEC-2003-05-040971 마이크로파 전처리 시스템MICROWAVE SAMPLE PREPARATION

SYSTEM

ETHOS SEL

44063MILESTONE S.R.L

2002-12-27

NFEC-2003-04-040908 포토메터PHOTOMETER SPECTRA RADIOMETER

SYSTEMPR-1980B

PHOTO RESEARCH

INC. 2002-09-07

NFEC-2002-08-040600 질량비교기 Mass Comparator KC1000Mettler Toledo

GmbH 2002-05-02

NFEC-2002-08-040601 오일피스톤게이지Oil Operated Controlled Clearance

Piston GaugePG7307 DH I nstruments Inc.

2002-05-06

NFEC-2002-08-040602 다기능 미터교정기 Multifunction Calibrator 5700A Fluke Corp. 2002-05-06

NFEC-2002-08-041643금속 고성능 바이오 액체 크

로마토 그래피 시스템

Metal Free High-Performance Bio-

Liquid Chromatography SystemWater626 Waters Asia Limited

2002-08-01

NFEC-2001-12-040323 세슘주파수표준기 Primary Frequency Standard5071A,opt.00

1

Agilent Technologies

Ltd. 2001-06-11

NFEC-2001-12-040335 질량비교기 Mass Comparator AT1005Mettler-Toledo

GmbH 2001-08-28

NFEC-2001-12-040337 광학교정시스템 Optical Calibration System IQ12002 EXPO 2001-09-03

NFEC-2001-12-040341 미터교정기 Meter Calibrator 5720A 2Fluke Corp. 2001-12-19

NFEC-2001-12-040336 마이크로파 전력 증폭기 Microwave Power Amplifier 40K ETM Electromatic Inc.2001-08-30

NFEC-2001-12-040329 나노 인 덴터 Nano Indenter 모델명 없음 미국MTS Systems

Corporation 2001-08-02

NFEC-2001-04-040028 자동 연속 X-선 분광계Automatic Sequential X-ray

Spectrometer

Rigaku

Model

ZSX100e

Rigaku

2000-12-28

NFEC-2001-04-040023지능형 경위 및 레벨 보정 시

스템

Intelligent Theodolite & Level

Calibration System모델명 없음 미국 Nim

2000-09-14

NFEC-2001-04-040024 검출기 Hp Ge Coaxial DetectorGEM120215-

P

EG&G Instruments

Inc. 2000-10-09

NFEC-2001-04-040026 합성기 스위퍼 Synthesizer Sweeper 83640BAgilent Technologies

Inc. 2000-10-31

NFEC-1998-11-037218 전력 및 에너지 교정기 POWER ＆ ENERGY CALIBRATOR ROTEK 8000ROTEK INSTRUMENT

CORP. 1998-01-01

NFEC-1998-09-037270 신호발생기 DIGITAL SIGNAL GENERATOR E4433BHEWLETT-PACKARD

COMPANY 1998-01-01

NFEC-1998-09-037272 마이크로 앰프 MICROWAVE AMPLIFER AR20T4G18AMPLIFIER

RESEARCH 1998-01-01

NFEC-1998-02-045938 간섭 분석계DISCONTINIOUS INTERFERENCE

ANALYZERDIA1512A

CHASE ELECTORNICS

LTD. 1998-01-01

NFEC-1997-11-024576 RF 증폭기 RF AMPLIFIER TCCX 2200INSTRUMENTS FER

INDUSTRY, INC. 1997-01-01

NFEC-1996-12-029830 RF 임피던스 재료 분석기 RF Impedance Material Analyzer 4291AHewlett-Packard Asia

Pacific 1996-01-01

NFEC-1996-11-023219 표면 측정 시스템 Surface Measuring System

S112/2004-

01[Taylor

Hobson]

Rank Taylor Hobson

Ltd. 1996-01-01

NFEC-1996-11-023221 Air Piston Pressure Gage Air Piston Pressure Gage 2465Ruska Instrument

Corp. 1996-01-01

NFEC-1996-11-023222Hydraulic Piston Pressure

GageHydraulic Piston Pressure Gage 2485

Ruska Instrument

Corp. 1996-01-01

NFEC-1996-10-023235 합성 스위퍼 Synthesized Sweeper 83620BHewlett Packard Asia

Pacific 1996-01-01

NFEC-1996-09-023230 가스 피스톤 게이지 Gas Deadweight Piston Gauge 5988A DH Instruments Inc. 1996-01-01

NFEC-1996-02-045906 공압 차압교정기Pneumatic Differential Pressure

Calibrator5502 DH Instruments Inc.

1996-01-01

NFEC-1995-12-037189 표준 주파수 Primary Frequency Standard 5071AHewlett-Packard Asia

Pacific Ltd. 1995-01-01

NFEC-1995-12-029834 오일 피스톤 게이지 Oil Deadweight Piston Gauge 5306 DH Instruments Inc. 1995-01-01

NFEC-1995-10-037230 Cryogenic ECR Cryogenic ECR RADIOXOxford Instrument

Ltd. 1995-01-01

NFEC-1995-10-023228 3 상 전원 교정 시스템 3 Phase Power Calibration System PCM SystemYoKogawa Electric

Corp. 1995-01-01

NFEC-1995-09-037234 PULSED EMI TEST SYSTEMS PULSED EMI TEST SYSTEMS7700 775 ＆

760VKEYTEK

1995-01-01

NFEC-1995-09-037238 전기 임피던스 분석기ELECTROCHEMICAL IMPEDANCE

ANALYZER

MD

1260A,1287A

SOLARTRON

INSTRUMENTS 1995-01-01

NFEC-1994-09-037128 Single Phase Power Source Single Phase Power Source SWE 104-1 ZERA 1994-01-01

NFEC-1994-02-037125 Pressure Multiplicator Pressure Multiplicator 972702 Desgranges ＆ Huot1993-01-01

NFEC-1992-10-037178 자극 시스템 TORSIONAL EXCITATION SYS.ZONIC

1100T-9

ZONIC

CORPORATION 1992-01-01

NFEC-1992-10-037169 고속 카메라 시스템 High Speed Camera SystemIMACON 792

S2

Hadland photonics

Ltd. 1992-01-01

NFEC-1992-10-037168자외선 가시광선 근적외선 분

광광도계UV/VIS/NIR Spectraphotometer 00-100474-00

Varian Australia pty

Ltd. 1992-01-01

NFEC-1991-10-045979RADIATION SHIELDING

WINDOWRADIATION SHIELDING WINDOW

NECLEAR

PACIFICG.E

1982-01-01

NFEC-1991-10-037146 SPECTRUM ANALYZER SPECTRUM ANALYZER 8566B HEWLETT-PACKARD 1987-01-01

NFEC-1991-10-037066 측정기 UNIVERSAL MEASURING MACHINE UMM500 CARL ZEISS 1981-01-01

NFEC-1991-10-037106 SPECTRUM ANALYZER SPECTRUM ANALYZER 8566A H.P 1981-01-01

NFEC-1991-06-037082 MASS COMPARATOR MASS COMPARATOR C10000S SARTORIUS AG 1991-01-01

NFEC-1991-03-027310 SPECTRUM ANALYZER SPECTRUM ANALYZER HP71210C HEWLETT PACKARD 1990-01-01

NFEC-1988-05-037267 SO2/NO GAS ANALYZER SO2/NO GAS ANALYZER SM8160 MONITOR LABS, INC.1998-01-01

NFEC-2015-02-197603국가전력표준기용 전압/전류

원

National Power Standard hired

voltage / current source8100 미국 Rotek Instrument

2015-01-22

NFEC-2015-01-196165액체유량시스템 이전 구축 및

제어시스템 설치

Liquid flow systems installed prior to

deployment and control system모델명 없음 대한민국 정상엔지니어링

2014-07-04

NFEC-2015-01-196096 체압분포기 Body Pressure minutes waiver X3 PX100 캐나다 Xsensor Technology 2015-01-02

NFEC-2015-01-196000경질유 유량시스템 다이버터

및 시험관로

Light oil produced by the flow

diverter system and in vitro모델명 없음 대한민국 정상엔지니어링

2014-10-01

NFEC-2015-01-195994 유기금속화학기상증착장비Metal-organic chemical vapor

deposition equipmentemcore 미국 Agnitron

2014-12-19

NFEC-2015-01-195998마그넷 어셈블리 장탈착 및

자기장 측정장치

Magnet assembly and magnetic field

desorption measuring device1m 1m 15m 대한민국 케이자동화

2014-12-29

NFEC-2015-01-195798 주사 플라즈마법 센터 Q plus sensor SPMUHV

AFM/STM영국 Oxford

2014-12-29

NFEC-2015-01-195577 고밀도 주사 현미경 Scanning XPS Microprobe SystemPHI

VersaProbe II일본 Ulvac-phi

2014-12-26

NFEC-2015-01-195656 램-5000 시스템 RAM-5000 SYSTEM

RAM-5kW-

005-5 Mark

VI PC

미국 Ritec

2014-12-31

NFEC-2015-01-1954683차원 물 팬텀 방사선량측정

시스템

3D Water Phantom IBA Dosirnetry

System

Wellhofer

Blue

Phantom2

독일 Iba

2014-12-23

NFEC-2014-12-194395 형광 유리 선량계 시스템 Fluorescent glass dosimeter system FGD-1000SE 일본 Asahi Techno Glass 2014-12-19

NFEC-2015-01-195325 레이저 mode-locked soliton ultrafast laser Origami-05 스위스 Onefive 2014-12-18

NFEC-2014-12-194776 주사 탐침 현미경High selectivity Atomic force

microscopeESCA 2000 이스라엘

Nanonics Imaging

Ltd 2014-12-03

NFEC-2014-12-193978 신호발생기 Signal Generators SMF100A 독일 Rohde&Schwarz 2014-12-02

NFEC-2014-11-192909 레이저 입자 분포 분석기Laser Particle Size Distribution

AnalyserLA-960S 대한민국 에이티프런티어(주)

2014-10-22

NFEC-2014-11-192885 주사투과전자현미경ScanningTransmissionElectronMicrosc

opeS-5000 일본 Hitachi

2014-10-21

NFEC-2014-11-192886 고온열전모듈 평가장치High temperature thermoelectric

module test system개발장비 대한민국 고려전기로개발

2014-10-20

NFEC-2014-11-192902광음향 영상 평가를 위한 데

이터 수집장치

Data acquisition system for

photoacoustic imaging evaluationPXIe-1832 미국 National Instruments

2014-09-29

NFEC-2014-11-192874 에어베어링 스테이지(2축) Air Bearing Stages (2 axis)

ABL15020-M-

10-NC-

LT20AS

미국 Aerotech

2014-10-07

NFEC-2014-10-192698 단결정 X-선 회절분석기Single crystal X-ray Diffractometer

SystemD8-quest 독일 Bruker

2014-09-04

NFEC-2014-10-191930 자동단백질정제시스템Automated Protein Purification Liquid

chromatography SystemV9-IAB 스웨덴

Ge Healthcare Bio-

sciences Ab. 2014-09-01

NFEC-2014-10-192219 레이저 트레커 Vantage Tracker System 모델명없음 미국 Faro 2014-09-01

NFEC-2014-10-191894고해상도 가스크로마토그래

피 질량 분석기

High Resolution GC Mass

SpectrometerJMS-800D 일본 Jeol

2014-08-22

NFEC-2014-10-191877고성능액체크로마토그래피

시스템

Ultra High Pressure Nano-HPLC

SystemICS-1000 미국 Thermo Scientific

2014-07-31

NFEC-2014-09-191306깔때기형 반도체 증폭 레이저

시스템

Funnel-type semiconductor laser

amplifier systemTA pro 독일 Toptica

2014-08-11

NFEC-2014-09-191353 초고속 액체 크로마토 그래피Ultra performance liquid

chromatography

ACQUITY

UPLC I-Class미국 Waters

2014-08-06

NFEC-2014-09-191318 고속 액체 크로마토 그래프High Performance Liquid

ChromatographyProminence 일본 Shimadzu

2014-08-18

NFEC-2014-09-191315 형광현미경Upright Fluorescence Research

MicroscopeEclipse Ni-E 일본 Nikon

2014-08-13

NFEC-2014-09-191316 정밀 이온 연마 시스템 Precision Ion Polishing SystemPIPS II Pro

695미국 Gatan

2014-08-18

NFEC-2014-09-191195 고효율 내산성 농축건조기High capacity centrifugal evaporation

systemEZ-2 영국 Genevac

2014-08-11

NFEC-2014-09-191193 이터븀 나노초 펄스 레이저 Ytterbium nanosecond pulsed laserYLPR-03-A1-

60-18미국 Ipg Photonics

2014-08-13

NFEC-2014-08-190987고속 캡쳐 3차원 홀바디 스캐

너

Fast capture three-dimensional body

scanner Hall모델명 없음 대한민국 (주)비젼테크

2014-07-29

NFEC-2014-09-191158 고진공모듈 High Vacuum Module 모델명 없음 대한민국 제스트 2014-07-29

NFEC-2014-08-190966 위상잡음측정기 Phase noise measurement TSC 5125A 미국 Symmetricom, Inc. 2014-07-25

NFEC-2014-08-190864 극자질량분석기Tandem Quadrupole Mass

SpectrometerXevo TQ-S 미국 Waters

2014-10-31

NFEC-2014-07-190303 싱글진동계 시스템 Single Point Vibrometer system

OFV-

5000/OFV-

534

독일 Polytec

2014-08-25

NFEC-2014-07-190298 오류 분석 시스템 Failure analysis probe system EPS150F 미국 Cascade Microtech 2014-06-10

NFEC-2014-07-190305 사건 유발전위 맵핑시스템64Channel EEG & ERP Mapping

SystemEEG 300 미국 Electrical Geodesic

2014-09-23

NFEC-2014-07-190191 방진시스템Non-magnetic Vibration Control

System04SI80807 미국 Newport Corporation

2014-05-16

NFEC-2014-07-190190 통합형 나노분광분석시스템Integrated Nano-spectroscopic

Analysis SystemAlpha300SR 독일 Witec

2014-08-29

NFEC-2014-07-190195LASIK수술용의료기기측정평

가시스템GTK-M tour GT-K manual system

OM-

CONTOUR

GTK-M

독일 Bruker

2014-06-10

NFEC-2014-07-190194중고온용 열전특성 평가시스

템

Seebeck coefficient electric resistance

measuring systemZEM-3M8 일본 Ulvac-riko,inc

2014-06-11

NFEC-2014-07-190255 나노복합 원자 현미경 시스템 NTEGRA spectraNtegra

Spectra러시아 Nt-mdt

2014-03-18

NFEC-2014-07-190193 간섭형 거칠기 측정기 Microfinish topographer MFT 미국Optical Perspectives

Group, Llc 2014-07-02

NFEC-2014-07-189916 신호분석기 EXA Signal Analyzer N9010A 미국 Agilent Technologies 2014-06-20

NFEC-2014-06-189613 네트워크 분석기 ENA Network Analyzer E5071C 미국 Agilent Technologies2014-06-24

NFEC-2014-06-189599 3채널 콘트롤러 3 Channel contoller C3-0355 미국 Seikoh-giken Ltd 2014-06-11

NFEC-2014-06-189600 마이크로파 발생기 PSG Vector Signal Generator E8257D 미국 Agilent Technologies2014-06-03

NFEC-2014-06-189466 고주파 신호발생기 Microwave Analog Signal Generator E8257D 미국 Agilent Technologies2014-05-30

NFEC-2014-06-189019 고전압 전원 공급 장치 High Voltage Power Supply FIB35P/783 미국 Spellman 2014-05-13

NFEC-2014-04-186897 유기 탄소 분석기 Organic Carbon Analyzer TOC-L 일본 Shimadzu 2014-04-10

NFEC-2014-03-186206 임의 파형 발생기 Arbitrary waveform generator AWG7122C 미국 Tektronix 2014-03-05

NFEC-2014-03-186240 6X1 채널 스퀴드 전자 6x1 channel SQUID electronics CE2S 독일 Supracon 2014-01-08

NFEC-2014-03-186137 편광 이색 분광계 Circular Dichroism Spectrometer J-1500-150ST 일본 Ts-science2014-01-17

NFEC-2014-01-184759 중적외선 레이저 Widely Tunable MIR laserFirefly-IR-LP-I

B-tuning영국 M Squared

2013-12-30

NFEC-2014-01-184760 전자저울 ELECTRONIC BALANCE(2500 kg) XP2003KL 스위스 Mettler Toledo 2013-12-30

NFEC-2013-12-184386 신호분석기 Signal analyzer N9030A 미국 Agilent Technologies2013-12-11

NFEC-2013-12-184355 샥-하트만 파면센서 Shack-Hartmann wavefront sensorHASO3 128

GE프랑스 Imagine Optic

2013-05-22

NFEC-2013-12-184273 프로브 스테이션 Cryogen-Free Probe Station CRX-4K 미국Lake Shore

Cryotronics 2013-10-29

NFEC-2013-12-184208 파로 다관절 3차원 측정기FaroArm portable coordinate

measuring machineARM 미국 Faro

2013-11-14

NFEC-2013-12-184207 고주파 스캐닝 진동계 High Frequency Scanning Vibrometer PSV-400-M2 독일 Polytec 2013-11-20

NFEC-2013-11-184144 신호발생기 PSG signal generator E8257D 미국 Agilent Technologies 2013-11-05

NFEC-2013-12-184363 1.2 m 연마테이블 1.2 m polishing table 모델명없음 대한민국 삼익티에이치케이 2013-10-31

NFEC-2013-11-183920 간섭계 마운트 Mount for interferomter 모델명없음 대한민국 미래기술 2013-10-29

NFEC-2013-11-183908 에프티-아이알 분광시스템 FT-IR Spectrometer system Nicolet iS10 미국 Thermo Scientific 2013-10-08

NFEC-2013-10-183474 초전도 자석 Superconducting Magnet Assembly 모델명없음 필리핀 Bluefors Cryogenics 2013-10-14

NFEC-2013-11-183917 전기적특성 측정장치 Electrical measuring device PPMS-14T 미국 Quantum Design 2013-10-14

NFEC-2013-10-183423 희석냉장고 Cryogen-Free Dilution Refrigerator 모델명없음 핀란드 Bluefors Cryogenics 2013-09-26

NFEC-2013-11-183956나노 바이오 이미징 및 초 미

세 분광 분석 시스템

Nanobio Imaging and Hyperspectral

Analysis SystemHRIHSI 미국 Cytoviva

2013-09-13

NFEC-2013-09-182948 3채널 옵티컬 콘트롤러 3ChannelOpticalPorebeControllerUnit C3 1055 일본 Seikoh Giken 2013-09-25

NFEC-2013-10-183161 3D속성시제품제작기 시스템 3D rapid prototyper HD3510 미국 3d Systems 2013-10-25

NFEC-2013-09-182530 3D 종합효소연쇄반응 장비 Quant Studio 3D Digital pcrQuantStudio

™ 3D미국 Applied Biosystems

2013-07-18

NFEC-2013-09-182529적외선 열화상 비파괴 검사

시스템Infrared Thermography NDT Systems X6540sc 미국 Flir Systems

2013-07-12

NFEC-2013-08-182260 시료용 용기 FUSION SYSTEM for XRF, ICP & AA K2Prime 대한민국 엘림글로벌 2013-08-13

NFEC-2013-08-182166 정밀 온도계 Precision thermometer MicroK 70 미국 Isothermal 2013-07-25

NFEC-2013-08-181480유기바이오표면처리용 ICP-

CVD 시스템ICP-CVD System 모델명 없음 대한민국 에스엔텍

2013-07-24

NFEC-2013-08-181843 질소가스동위원소분석기 N2O isotope analyzerN2 OIA-23e-

EP대한민국 신한기술

2012-12-10

NFEC-2013-07-181316실체현미경이 장착된 글러브

박스Glove Box

LabMaster

SP1250독일 M.braun

2013-07-18

NFEC-2013-07-181121 주사터널링현미경 제어 장치Scanning Tunneling Microscope

Controller

Nanonis SPM

Control

System Base

Package 4.5

독일 Specs

2013-06-22

NFEC-2013-07-181083 양자효율측정기IPCE (IQE & EQE) Measurements

SYSTEMIQE-200 미국 Newport

2013-06-26

NFEC-2013-07-180985 신호발생기 Vector signal generator SMBV100A 독일 Rohde&Schwarz 2013-07-02

NFEC-2013-07-180897 헥사포드 Hexapod H-850H1 독일Physik Instrumente

(PI) 2013-06-25

NFEC-2013-07-181030 건식식각장치ICP-RIE System for compound

semiconductorFabStar 대한민국 (주)티티엘

2013-06-21

NFEC-2013-07-180761 간섭계 Verifire ATZ 4" system ATZ 4 미국 Wizoptics 2013-05-29

NFEC-2013-07-180656 이온광학제어 시스팀 FPGA DAQ system NI PXIe-6356 미국 National Instruments 2013-05-15

NFEC-2013-07-180905 자동 연마기Precision Lapping and Polishing

MachineCP-3000 영국 Logitech

2013-05-08

NFEC-2013-07-180630 희석냉동기 Dilution Refrigerator SystemMNK-CF-126-

650네덜란드 Leiden Cryogenics

2013-01-16

NFEC-2013-07-180837 입도분석기 Acusizer 780 Opitical Paticle Sizer 780A 미국Particle Sizing

Systems 2013-06-07

NFEC-2013-06-180151벤치탑 차세대염기서열분석

기Miseq, Illumina SY-410-1003 싱가포르 Manufacturer :

2013-05-22

NFEC-2013-06-180076트리플 사중 극자 GC /

MS/MS 분석기

Triple quadrupole GC/MS/MS

spectrometerTSQ-8000 미국

Thermo fisher

scientific 2013-05-22

NFEC-2013-06-180035 이온 광학 제어 시스템 Ion optics control system NI PXIe-8133 미국 National Instruments 2013-05-15

NFEC-2013-06-179994 디지털 포스퍼 오실로스코프 Digital Phosphor Oscilloscope DPO7254C 미국 Tektronix2013-05-17

NFEC-2013-06-179927 전이차 자동측정브릿지 Automated Potentiometer 8000A 캐나다 Mintl 2012-04-10

NFEC-2013-06-179969 신호발생기 Tektronix AWG5014C AWG5014C 미국 Tektronix 2012-05-04

NFEC-2013-06-179949 무냉매 냉동기 Cryogen-free Dilution Refrigerator 모델명없음 미국 Fluke 2012-03-03

NFEC-2013-06-179805 HEMP 발생기 HEMP GeneratorEMP300K-5-

500스위스 Montena

2011-06-15

NFEC-2013-06-179802 전류유도기 Inductive coupler IC3B 스위스 Montena 2011-06-05

NFEC-2013-06-179823 전력양 분리장치Capacitive coupler with isolation

device, for 2 power linesCCL3-IS 스위스 Montena

2011-01-10

NFEC-2013-06-180225 HEMP발생기-80 kVHEMP-generator- PCI-short pulse 80

kV

EMP80K-5-

500스위스 Montena

2011-01-10

NFEC-2013-06-179818 HEMP발생기HEMP Generator charge line pulse

generator

HV-

CLP25kV/400

A

대한민국 Hanvit Electronics

2011-12-13

NFEC-2013-06-179770 네트웍 분석기Network Analyzer (E5061B-3L5, 1E5,

005)E5061B 미국 Agilent Technologies

2012-12-04

NFEC-2013-06-179734 레이저 도플러 유속계 Laser Doppler Anemometry BSA F60 덴마크 Dantec Dynamics 2011-02-21

NFEC-2013-06-179502 나노임프린트 시스템 Nanoimprint System ANT-4H 대한민국 엑사테크 2013-03-13

NFEC-2013-06-179690 임피던스 분석기 Impedance Analyzer 4294A 미국 Agilent Technologies2013-05-07

NFEC-2013-05-178952 폐쇄 사이클 헬륨 냉장고 Closed Cycle He Refrigerator CCS-350ST 미국 Janis Research 2012-01-16

NFEC-2013-05-179388 신호 분석용 네트웍분석기MRI RF Network analyzer for signal

analysisE5061B 미국 Agilent Technologies

2013-04-30

NFEC-2013-05-179244 3차원 미세 동작분석기Three-dimensional fine-motion

analyzer

Optotrak

Certus캐나다 Ndi

2013-04-10

NFEC-2013-05-179385 금속증발모듈 Metal Evaporation Module KVE-E2000 대한민국 코리아바큠테크 2013-03-14

NFEC-2013-05-179309 블랙카본 모니터 Black Carbon Monitor AE33슬로베니

아Aerosol.d.o.o.

2013-04-17

NFEC-2013-04-178174 멀티 앵글 산란 시스템 Multi Angle Scattering SystemminiDAWN

TREOS미국 Wyatt Technology

2013-03-12

NFEC-2013-04-177579고성능 사중극자 퓨리에변환

오비트랩 질량분석 시스템

Benchtop Quadrupole-Orbitrap Mass

SpectrometerQ Exactive 미국

Thermo fisher

scientific 2013-02-14

NFEC-2013-04-177613 제타전위 및 입도 분석기Zeta potential and particle size

analyzerELSZ-1000 일본 Otsuka Electronics

2013-03-25

NFEC-2013-04-177462 인체 미세 진동측정기 Fine human vibration meter VATS2000 캐나다 Nexgen Ergonimics 2013-03-28

NFEC-2013-03-176839 부상엑피텍시 시스템 Levitation Epitaxy System STS304 대한민국 아이티에스 2013-01-22

NFEC-2013-03-176591폐쇄 사이클 교류 가스 진동

절연 시스템

ClosedCycleExchange-

gasVibrationIsolatedSystem

CCSXGUHV20

4N미국 Janis Research

2012-07-05

NFEC-2013-03-176690 금어븀 스퍼터 시스템 Au:Er Sputtering System KVS-2000L 대한민국 코리아바큠테크 2012-11-14

NFEC-2013-03-176677 콘포컬 스퍼터 시스템 Confocal sputter system 304 SS 18 미국 Kurt J Lseker 2013-02-01

NFEC-2013-02-175338 라만분광기 High Resolution Raman Spectrometer 모델명 없음 일본 Horiba 2012-11-28

NFEC-2013-01-174709 헤드 스페이스 샘플러 시스템 Headspace Sampler System 7697A 미국 Agilent Technologies2012-12-05

NFEC-2013-02-176144 챔버 프로브 스테이션Vacuum Chamber Analyze triaxial I-V

measure probing systemtriaxial I-V 대한민국 엠에스테크

2012-11-02

NFEC-2013-03-176713 초원심분리기 Optima MAX - XP UltracentrifugeOptima Max-

TL미국 Beckman Coulter

2012-11-09

NFEC-2013-03-176683 다채널 생체 분석 시스템Multi-channel physiological

monitoring and analyzing system모델명없음 대한민국 Micromed

2012-11-26

NFEC-2013-02-175903 고출력 초음파 시스템 SNAP System RAM-5000 미국 Ritec 2012-10-08

NFEC-2013-02-175901수소재료 동적 역학특성 측정

시스템

Hydrogen materials measuring the

dynamic mechanical characteristics of

the system

MTS 32231 미국MTS Systems

Corporation 2012-10-12

NFEC-2013-01-174440 저온열량계Low Temperature Reaction

CalorimeterBT 2.15 프랑스

Setaram

Instrumentation 2012-09-13

NFEC-2013-02-174937 고출력 X선 회절장치High-power X-ray diffractometer

systemSmartLab 일본 Rigaku

2012-10-08

NFEC-2013-01-174415 나노입자분석기 Dynamic Light Scattering ZEN3690 영국 Malvern Instruments 2012-10-12

NFEC-2013-02-174905 마이크로어레이어 Microarrayer 모델명없음 일본ms techo

corporation 2012-09-27

NFEC-2013-01-174629

다차원 초고성능 액체크로마

토그래피 탄뎀 사중극자 질량

분석기

2D UPLC-Tandem Quardupole Mass

spectrometer

Xevo QTof

MS미국 Waters

2012-09-04

NFEC-2012-10-171945 대기압탈착분무이온화원DESI(desorption electrospray

ionization)for MS/MS SystemOS-3201 미국 Prosolia

2012-09-13

NFEC-2012-09-170336 카멜레온 레이저 Chameleon-Vision S Laser Source Excimer Laser 미국 Coherent2012-07-17

NFEC-2012-09-170423이온 크로마토 그래피 / 바이

오 액체 크로마토 그래피

Ion chromatography/Bio Liquid

Chromatography

ICS-5000+

HPIC미국

Thermo fisher

scientific 2012-08-16

NFEC-2012-09-170023 모세관 전기시스템 Capillary Electrophoresis System7100 CE

System미국 Agilent Technologies

2012-07-13

NFEC-2012-09-170020 비선형광학레이저 Firefly-IR Widely Tunable MIR laser 80mW 미국 M Squared Lasers 2012-08-07

NFEC-2012-09-170058 자동전기시스템 Automated electrophoresis system

2100

Bioanalyzer

Instruments

미국 Agilent Technologies

2012-08-21

NFEC-2012-07-168098 나노초 펄스 레이저 Nanosecond pulsed fiber laser YLP-G-10 미국 Ipg Photonics 2012-06-27

NFEC-2012-06-164218주파수 변환기 및 역률 보상

용 콘덴서 뱅크

Frequency converters and power

factor compensating capacitor banks

75 kVA, 380

V대한민국 Vosta

2012-05-16

NFEC-2012-06-164214 위상잡음및 알란편차 측정기Measuring the phase noise and Allan

Deviation5120A 미국 Symmetricom

2012-06-11

NFEC-2012-06-164194 고순도 크로마토 분석시스템 HPLC system 1260 미국 Agilent Technologies2012-05-24

NFEC-2012-05-163301 다중 마이크로플레잇 리더 Multimode Microplate Reader EnSpire 미국 Chayon Laboratories2012-05-03

NFEC-2012-05-163524 간섭계 Intellium InterferometerIntellium

H2000미국 Edsi

2012-04-27

NFEC-2012-04-161838 엑스피알 교정기 6530-XPR with calibration 6530-XPR 캐나다 Guildline Instruments2012-02-07

NFEC-2012-04-161440프로봇 마이크로 분취 및 점

적장치

Probot Microfraction Collector

microdosage unit

Dionex

Probot미국 Thermo Scientific

2012-03-27

NFEC-2012-03-155574 바이오 이미지 분석 시스템 Image Analyzer System

ImageQuant

LAS-4000

mini

미국Amersham

Biosciences 2012-03-02

NFEC-2012-03-155397 펨토섬유레이저 T-ligtht fs fiber laser T-Light 독일 MenloSystems 2012-05-31

NFEC-2012-02-154828 전기화학분석장비 Electrochemical Analyzer system Modulab ECS 영국 Solartron Analytical 2012-02-21

NFEC-2012-02-154500 고온전기로 High Temperature Dual FurnaceDual and

Heat Pipe영국 Isotech

2012-01-18

NFEC-2012-02-154037 UHV고온열처리장치 UHV Heat Treatment Device 모델명 없음 대한민국 넥스트론 2012-01-26

NFEC-2012-01-152815 초정밀 고분해능 X-선 회절기 X-ray difractometer system D8 DISCOVER 독일 Bruker2012-01-11

NFEC-2012-01-152546 마이크로 저울 Micro balance XP2U 스위스 Mettler Toledo 2012-01-11

NFEC-2012-01-152144 표준 조셉슨어레이 10 V PJVS chip and Cryoprobe 10 V 미국 Nist 2011-12-20

NFEC-2011-12-152040레이저기반 유도초음파 송수

신 시스템

Ultrasound guided laser-based

transmission system모델명 없음 대한민국 파이버프로

2011-12-16

NFEC-2011-12-151507 레이저진동계 Laser vibrometer OFV-505 독일 Polytec 2011-12-02

NFEC-2011-12-151503 스펙트로 레디오메터 Spectroradiometer CS-2000A 일본 Konica Minolta 2011-12-01

NFEC-2011-11-151180 주사전자현미경 Scanning Electron MicroscopeQuanta 650

FEG미국 Fei

2011-12-08

NFEC-2011-11-151170 4도 펄스 튜브 크라요쿨러 4K Pulse tube cryocoolerSRP-082B2S-

F70H일본

Shi Cryogenics

Group 2011-11-15

NFEC-2011-11-150839 반응 이온 에칭 시스템 RIE Etching System Phantom III 미국 Trion Technology 2011-11-23

NFEC-2011-11-150802적외선 분광스펙트럼 측정장

치Infrared spectral measurement device Nicolet iS10 미국 Thermo Scientific

2011-11-10

NFEC-2011-11-150656 자동 높은 저항 브리지Automated High Resistance Bridge-

100 Volt100 볼트 캐나다 Mintl

2011-10-21

NFEC-2011-11-150176 가스파인더 GasFinder2path length

500m미국 Boreal Laser

2011-10-12

NFEC-2011-11-150037 신호분석기 Signal Analyzer N9030A 미국 Agilent Technologies 2011-11-04

NFEC-2011-09-148998 무냉매자기냉동기Non-magnetic refrigeration

refrigerant모델명 없음 미국 Quantum Design

2011-07-21

NFEC-2011-09-148995 유세포분류기 Fluorescence activated cell sorter FACSAria 미국Becton Dickinson

And Company 2011-10-04

NFEC-2011-09-149752 3축 기울기 증폭시스템 3-axis MRI gradient amplifier system 261HC 미국 Analogic2011-10-25

NFEC-2011-09-148959 고성능 액체 분석법Corona ultra UHPLC Charged

Detector모델명 없음 미국 Thermo Scientific

2011-08-24

NFEC-2011-09-148954 바이오 액체분석 시스템 Bio LC System ICS-5000 미국 Dionex 2011-10-04

NFEC-2011-09-148923 폴리머광섬유 인출장치 Polymer optical fiber take-offs 모델명 없음 대한민국 폴리옵틱스 2011-08-30

NFEC-2011-09-148421 PTR - TOF 질량 분석계 PTR-TOF Mass Spectrometer 모델명 없음오스트리

아Ionicon Analytik

2011-07-18

NFEC-2011-09-148423 원심분리기 superspeed refrigerated centrifuge RC-6 Plus 미국 Thermo Scientific 2011-08-18

NFEC-2011-08-147707 형광현미경Automated Dark-field fluorescence

microscopeDM5000 B 독일 Leica

2011-08-04

NFEC-2011-08-147706 마이크로프로브 PSM Potential Seebeck Microprobe PSM 독일 Lot-oriel 2011-07-26

NFEC-2011-08-147573 엠원로드룩 시스락 M- One Loadlock System 모델명 없음 스위스 Mettler Toledo 2011-07-13

NFEC-2011-08-147500 신호발생기 Signal Generator E8267D 미국 Agilent Technologies2011-07-26

NFEC-2011-08-147370 입자유기무기탄소분석기 OCEC analyzer Lab OCEC 미국 Sunset Laboratory 2011-08-04

NFEC-2011-08-146998 질량분석기 DESI Mass Spectrometer LTQ XL 미국Thermo fisher

scientific 2011-07-05

NFEC-2011-07-1468463.39um 레이저 간섭계용 카

메라 시스템

Camera system for 3.39um laser

interferometer640x512pixels 독일 Jenoptik

2011-07-19

NFEC-2011-07-146804 염소분석기 Tiger-i 2000(HCl) Tiger-i 2000 미국 Tiger Optics 2011-04-12

NFEC-2011-07-146802 250kN 동적엑츄에이터 250kN Dynamic Actuator 모델명 없음 미국MTS Systems

Corporation 2011-05-11

NFEC-2011-07-146811써모 피셔 사이 언티픽 가스

벤치Thermo Fisher Scientific Gas Bench 모델명 없음 미국 Thermo Scientific

2011-07-15

NFEC-2011-07-146808 고정 파장 레이저 시스템3.5 um Fixed Wavelength Laser

System1001-TLC 미국 Daylight Solutions

2011-07-08

NFEC-2011-07-146791 편광생태생성분석기 Polarization State Generator analyzer E8257D 미국 Agilent Technologies2011-06-24

NFEC-2011-07-146790 고주파 파워앰프 RF Power Amplifier 1000A225M1 미국 Amplifier Research 2011-07-13

NFEC-2011-07-146789 자동 질소 분석기 Automatic Kjeldahl Nitrogen analyzerVapodest

50s/KBL 20독일 Gerhardt

2011-06-23

NFEC-2011-07-146777액체크로마토크래피 질량분

석기

Liquid Chromatography-Mass

SpectrometerXevo Qtof 미국 Waters

2011-06-17

NFEC-2011-06-145808DC 마그네트론 스퍼터링 시

스템DC Magnetron Sputtering System 모델명없음 (주)울텍

2004-07-16

NFEC-2011-06-145806 노광기 MASK Aligner SUSS MA6 (주)신코 2000-04-24

NFEC-2011-06-145819 스퍼터시스템 Sputter system 모델명없음 (주)신코 2001-08-03

NFEC-2011-06-145817 스퍼터링시스템 Magnetron Sputtering System 모델명없음 (주)한백 2002-07-12

NFEC-2011-06-145781 듀얼 섬유 간섭계Dual fiber(differential) interferometer

PolytecOFV-512 하이센

2003-11-18

NFEC-2011-06-145776 재료내구시험기 Material Durability TestingMTS

858system엠티에스

2003-10-14

NFEC-2011-06-146757 경도표준시험기

Hardness Standardization Machine

with Direct Weights for Rockwell,

Brinell and Vickers

PHS-DW 이탈리아 Ltf Spa

2011-03-22

NFEC-2011-06-145752 주사전자현미경 Scanning Electron Microscope SM-300 성우상사 2003-09-26

NFEC-2011-06-145751 주사전자현미경 Scanning Electron Microscope SM-300 성우상사 2003-08-16

NFEC-2011-06-145750 원자현미경 VT NIDDLE-SENSOR SPM 25 SPM 25 (주)다우에어트랜스 2003-10-20

NFEC-2011-06-145763 샘플조작온/난방시스템Precision sample manipulator and

low temp/ heating system모델명없음

Thermionics

Northwest,Inc. 2003-03-11

NFEC-2011-06-145764 에폭시보세강판 HKL EBSP Detector systemNordlys-

200MHz성우상사

2003-07-29

NFEC-2011-06-145738 굴뚝온실가스측정시스템Greenhouse gas emission monitoring

systemULTRAMAT 6 독일 Siemens

2011-05-23

NFEC-2011-06-145747 이온크로마토그래피 시스템 Ion Chromatography System DX-120 인성크로마텍(주) 2001-03-29

NFEC-2011-06-145840 현미경시스템Variable Temperature UHV Scanning

Probe Microscopy System모델명없음 (주)다우에어트랜스

2003-04-02

NFEC-2011-05-145599계장화 압입형 재료물성평가

시험기

Advanced indentation-based

materials testing systemAIT-U 대한민국 프론틱스

2011-05-25

NFEC-2011-05-145603 질량분석기 Quadrupole Mass Spectrometer qmg422파이퍼베큠코리아유

한회사 2002-07-04

NFEC-2011-05-145479 티디알 모듈DCA-J with 18GHz differential TDR

module86100C 미국 Agilent Technologies

2007-10-08

NFEC-2011-04-151395 전기화학적 부식 측정 시스템Electrochemical Workstation

Measurement systemIM6ex 독일 Zahner Elektrik

2007-08-24

NFEC-2011-04-145843 샥-하트만 파면측정장치 Shack-Hartmann sensor

INS-C2D-003

complete

CLAS-2D-

Analog

system

(주)삼중광산업

2004-06-03

NFEC-2011-04-145373 유세포분석기 Flow Cytometry Eclipse 미국 Icyt 2011-03-08

NFEC-2011-04-145375 신호발생기 Signal Generator E8257D 미국 Agilent Technologies2011-03-09

NFEC-2011-04-151396투과전자현미경 시편 오염 제

거장비Advanced Plasma System Solarus 950 미국 지엘코퍼레이션

2007-09-14

NFEC-2011-04-145844 측지용 GPS 수신기 5700 GPS Receiver bundle 2 5700 (주)지오시스템 2002-07-10

NFEC-2011-03-151399 전자빔 증착 장비 E-beam Evaporator UEE-150 대한민국 울텍 2009-11-23

NFEC-2011-03-145221 다이오드펌프레이저 시스템 Diode-Pumped Nd Laser SystemModel Verdi-

V5우양교역

2001-08-29

NFEC-2011-03-145225 고온 그라파이트 전기로Tungsten/Graphite High Temperature

Furnace모델명없음 (주)고려전기로개발

2004-07-21

NFEC-2011-03-145649 유전자(DNA)증폭기 PCR tetrad thermal cycler MJ PTC-0225 (주)파마테크 2000-03-07

NFEC-2011-03-145136주사탐침현미경용 콘트롤러

및 소프트웨어Controller and software for SPM N-Tracer 대한민국 나노포커스

2011-02-17

NFEC-2011-03-145189 웨이퍼 절단rl Automatic Dicing Saw DAD3230 일본 Disco 2011-03-02

NFEC-2011-03-145118 미터측정기 Meter Calibrator 5700A/5720A 미국 Fluke2007-04-03

NFEC-2011-03-144998 미터측정기 Meter Calibrator 5725A 미국 Fluke 2000-07-13

NFEC-2011-03-145045 온도 제어 저온용 인써트 Variable Temperature Insert 모델명 없음 미국

micro fluidics

international

corporation 2007-06-20

NFEC-2011-02-144866단백질 분석용 고속액체크로

마토그라피 시스템

High performance liquid

chromatography SystemUFLC 일본 Shimadzu

2007-12-03

NFEC-2011-02-144858 전자선 박막증착기 E-Gun Evaporating System 모델명없음 울텍 2001-08-13

NFEC-2011-02-144835액체크로마토그라피-질량분

석기

HPLC-Tandem Mass

Spectrometer(Triple Stage

Quadrupole Type)

Quatro

Ultima

MICROMASS V.K.

LTD 2001-08-18

NFEC-2011-02-144855 웨트스테이션 Wet Station 모델명없음 에이치아이티 2000-06-23

NFEC-2011-02-143912 광섬유 브래그 격자 복조기 Fiber Bragg Grating Interrogator IS7000 대한민국 파이버프로 2007-07-25

NFEC-2011-02-143350 파장가변 광원 Tunable Laser Source AQ4321D 동양시스템전자(주) 2002-06-12

NFEC-2011-02-143414멀티컨디셔너 클러스터 시스

템

MULTICONDITIONER CLUSTER

SYSTEMMCC-16A AL CORP

1998-08-12

NFEC-2011-02-143907 중에너지 엑스선 조사장치Medium energy X-ray irradiation

system모델명 없음 영국 Ge Healthcare

2007-04-20

NFEC-2011-02-143551 노광기 Mask AlignerMJB3 -UV

400신코

2003-05-26

NFEC-2011-02-141358 디지털 제어시스템 Digital control system FlexTest SE 미국MTS Systems

Corporation 2007-01-03

NFEC-2011-01-136891고진공표준기용 배기장치 및

미세유량조정장치

Emission standards for vacuum

devices and micro flow control

devices

S-Leak 대한민국 브이티에스

2007-12-31

NFEC-2011-01-142742 GPS 이용 시각비교수신기 GPS Ashtech Z-12T 금륜국제무역㈜ 2001-05-17

NFEC-2011-01-141652 X 선 발생기 Rotating anode X-ray generator Rint2400 (주)한국아이티에스 2001-09-18

NFEC-2011-01-139571 X 선 발생기 Rotating anode X-ray generator RAD-rB (주)한국아이티에스 2001-09-18

NFEC-2011-01-137048 집합조직 분석기 TEXTURE Bruker (주)신코 2002-04-30

NFEC-2011-01-136976 위성안테나 시스템 Satellite Antenna System for JCSAT 모델명 없음 일본종합연구소 2002-12-03

NFEC-2011-01-136892 스피닝로터 게이지 Spinning Rotor Gauge SRG-2 미국 Mks 2000-12-31

NFEC-2011-01-136893 펄스형 전자총Pulse type electron gun (P/N:OME-

0051P, KS001)F370

Kabusikikaisa

Omegayron Co.,Ltd. 2003-12-31

NFEC-2011-01-141378 전자현미경 SEM Scanning Electron Microscope SM-200 Topcon Corp. 2003-12-03

NFEC-2011-01-141638 비소 분해장치 As valved cracker cell VCS 700 RIBER 2003-04-15

NFEC-2011-01-142860 터보분자펌프 Turbo Molecular Pump (TMP) #V2000HT 큐빅테크 1999-04-23

NFEC-2011-01-136408 금선연결장치 Ball-widge Au-Wire Bonder 7700BWESTBOND

INTERNATION INC 1998-02-03

NFEC-2011-01-139096

고분해능삼중사중극자 액체

크로마토그래피 텐덤질량분

석기

High resolution triple quadrupole LC-

MS/MS

TSQ

Quantum

Ultra EMR

미국 Thermo Scientific

2007-01-03

NFEC-2011-01-139595 환원가스 분석기Reduction Gas Monitor / TGA

accessoryTA3000 미국 Ametek

2007-07-06

NFEC-2011-01-139596 열탈착 시스템 Thermal Desorption system007846-090-

NS대한민국 Lab Ts 엔지니어링

2007-07-06

NFEC-2011-01-139597가스크로마토그래프 용 질량

분석기

Gas chromatograph mass

spectrometerG3174A 미국 Agilent Technologies

2007-07-11

NFEC-2011-01-139599 미량수분분석기Trace Moisture Analyzer for High

Purity Gases모델명 없음 대한민국 Lab Ts 엔지니어링

2007-11-02

NFEC-2011-01-139601 150메가헤르츠 진동 생성기 150 MHz Pulse Generator HP 8110A HEWLETT PACKARD 1997-12-29

NFEC-2011-01-136436 신호발생기 PSG Signal generatorAgilent

E8257C

Agilent Technology

simgapore 2003-10-07

NFEC-2011-01-141851 가스 크로마토그래프 시스템 Gas Chromatograph System GC6890 AGILENT TECH 2000-03-02

NFEC-2011-01-139593 가스크로질량분석기 GC MSD system 모델명 없음 AGILENT TECH LTD 2000-08-25

NFEC-2011-01-141852 유전자분석장비 ABI PRISM GENETIC ANALYZER 310APPLIED

BIOSYSTEMS 2001-05-21

NFEC-2011-01-136363 마이크로프로브 스테이션 Micro-Probe Station LP-4D, Luft LUFT LTD 1998-01-31

NFEC-2011-01-135572자왜형 전자기음향변환기 시

스템Magnetostrictive EMAT system GWR320 대한민국 페스콤

2007-10-31

NFEC-2011-01-141627 고속 영상측정기 Fast CCD DetectorQuantEM:512

SC미국 Photometrics

2007-04-02

NFEC-2011-01-135987주거/사무 환경의 통합 운영

시스템 설계PCS System 모델명 없음 보정씨엔아이(주)

2001-09-27

NFEC-2011-01-135594나노표면형상 및 표면강성 측

정기Scanning probe Microscope XE-100 대한민국 파크시스템스

2007-03-29

NFEC-2011-01-135597 진동둔감간섭계 Dynamic Interferometer SystemPhaseCam

5030미국 4d Technology

2007-12-03

NFEC-2011-01-141643대구경 광학계 조립용 짐발마

운트Gimbal mount 모델명 없음 대한민국 하늘엔지니어링

2007-04-30

NFEC-2011-01-136270 다채널 신호취득장치 VXI Data Acquisition System E8408A한국애질런트테크놀

로지스(주) 2001-05-19

NFEC-2011-01-136860 펄스 발생기 pulse generator 4016-215Picosecond pulse

labs 2004-06-07

NFEC-2011-01-136063초고속 펨토초 펄스 레이저

시스템Ultra Short Pulse Oscillator System 모델명 없음 미국 Coherent

2007-07-26

NFEC-2011-01-136230 전자파 장해방어 시험기 Radiated Immunity Test SystemTDK,EMCO

GTEM5400미국 TDK RF Solutions

2007-02-09

NFEC-2011-01-135877 3상 전력확장기 Three Phase Power ExtendROTEK8000-

3P

ROTEK

INSTRUMENTS CORP 2000-12-29

NFEC-2011-01-135882 교류직류 전달 표준기 AC/DC Transfer standard 792A 미국 Fluke 2007-04-27

NFEC-2011-01-141635 두-빔 혼합 복조기 Two-Wave Mixing Demodulator AIR 500Lasson Technologies,

Inc 2002-10-10

NFEC-2011-01-135890 오실로스코프 색상디지털화1GHz, 4CH., Color Digitizing

OscilloscopeLC 574 AL LECROY CORP

1998-02-04

NFEC-2011-01-135895 분진자동발생장치 Small scale powder disperser TSI 3433 TSI Incorporated 2002-10-16

NFEC-2011-01-139738 레이저 초음파 수신기 Laser Ultrasonic Receiver EMF-500Lasson Technologies,

Inc 2000-12-29

NFEC-2011-01-135910저온 고자기장 주사관통현미

경

High magnetic fields low shot

through the microscope

USM1300S/S

PM일본 Unisoku

2010-12-31

NFEC-2011-01-135914 오목 홀로그램 회절발생기 CONCAVE HOLOGRAPHIC GRATINGcustomer

gratingJONBIN VVON

1998-01-15

NFEC-2011-01-139739 공진 검사 장비 Resonant Inspection Unit RI 1000QUASAR

INTERNATIONAL INC 1999-01-16

NFEC-2011-01-135920 저에너지전자회절기 Reverse View LEED Optics ErLEED 150 독일 Specs 2007-06-01

NFEC-2011-01-135925 펄스 발생기 PULSE GENERATOR, GPIB 10,300B 미국Picosecond Pulse

Labs 2007-07-26

NFEC-2011-01-139740 초음파 결함 탐상 시스템ULTRASONIC FLAW DETECTION

SYSTEMFLEXSCAN SONIX Inc.

1997-02-15

NFEC-2011-01-136849 오실로스코우프 Sampling oscilloscope 11801B Tektronix, Inc 1997-08-26

NFEC-2011-01-145848동적환경시험평가를 위한 차

량시뮬레이터 시작품

Evaluation of Dynamic Environmental

Test모델명없음 국민대학교

2000-09-29

NFEC-2011-01-141646 2m 가공용 수치제어장비Door type CNC machine for the

fabrication of 2m opticsCNC 2M 대만 Vision Wide Tech

2007-11-08

NFEC-2011-01-141016 다목적 측정시스템 Mutiple subject measurement systemFARO

Sterling 8Faro Technologies

2002-09-17

NFEC-2011-01-135130 프라즈마이이셔 Plasma Asher 모델명 없음 독일 Plasma Finish 2007-06-20

NFEC-2011-01-135148 도립형 연구용시스템 현미경 Research Inverted System Microscope IX71 부성과학상사2004-12-28

NFEC-2011-01-140924 이온 밀링 장치 Ion milling system 모델명없음 우성하이백 2001-05-28

NFEC-2011-01-135592 정밀 전압/전류 발생원 LOW VOLTAGE POWER SUPPLYNTN 10500-

200독일 Fug Elektronix

2005-07-12

NFEC-2011-01-141629 이동 측량 시스템DISPLACEMENT MEASUREMENT SYS.

ZMI-1000ZMI-1000 자이고

1996-02-21

NFEC-2011-01-142078 광학현미경 Microscope 모델명 없음 OLYMPUS 2002-01-08

NFEC-2011-01-142075마이크로매미프레이터 시스

템Micromanipulator system 3A 독일

Kleindiek

Nanotechnik 2007-10-31

NFEC-2011-01-141632 전자석 시스템 ELECTRO MAGNET SYSTEMB-MN-200/60

A6BRUKER

1986-01-04

NFEC-2011-01-141631 초전도자석 시스템 Superconducting magnet system 모델명 없음 미국 Ask 2007-07-26

NFEC-2011-01-140946 고속측정제어 시스템High-speed Measurement and

Control SystemsPXI-1050 미국 National Instruments

2007-09-28

NFEC-2011-01-141630 차진장치 Vibration isolators 모델명 없음 미국

Technical

Manufacturing

Corporation 2007-10-18

NFEC-2011-01-135051 수평수직 유압진동 시험기Electrohydraulic Actuator & Slip

Table

TEAM 80

ModelTEAM

1999-07-23

NFEC-2011-01-141626 음속 및 감쇠 측정 시스템ACOUSTIC VELOCITY

&ATTENUATION MEASURING SYS

MOD.MBS-

8000Matec

1987-04-03

NFEC-2011-01-135053 6-자유도 진동제시장치 6-DOF Vibration Simulator

KRISS 6-DOF

Vibration

Simulator

유응연제작소

2001-06-15

NFEC-2011-01-141624피코뉴턴 원자간력 현미경 모

듈pico newton AFM module Albatross 대한민국 나노포커스

2007-08-13

NFEC-2011-01-134743 안저망막영상장비 Fundus CameraVisucam Pro

NM독일 Carl Zeiss

2007-10-15

NFEC-2011-01-134685 형광현미경 Fluorescence Microscopy Axioskop 독일 Carl Zeiss 2007-02-02

NFEC-2011-01-134687 광학현미경 Microscope for electrophysiology Axioskop2 마이크로텍 2004-09-23

NFEC-2011-01-134690펨토초레이저 미세가공시스

템fs laser micromachining system fs-machine 레이저월드

2002-04-15

NFEC-2011-01-134533 레이저 바이브로미터 laser doppler vibrometer MLDV-M 대만 Sunwave 2007-09-05

NFEC-2011-01-136345 고압회화기 High pressure asher HPA-S 미국 Perkin Elmer 2003-09-19

NFEC-2011-01-134610 열-전압 변환 표준기 AC/DC Transfer Standard 792A 미국 Fluke 2007-05-21

NFEC-2011-01-134881 자동 비드 샘플러 Automatic Bead Sampler Fluxy10 Midas Tokyo Co. 2001-09-04

NFEC-2011-01-141843 카본.황 분석시스템 Carbon/Sulfur Determinator CS600 리코코리아(주) 2003-01-01

NFEC-2011-01-134895자외선/가시광선/근적외선 분

광분석 시스템UV/VIS/NIR Spectrometer System CARY4000 Agilent Technologies

2003-11-03

NFEC-2011-01-134525 나노입자 입도 측정기 Scanning Mobility Particle Sizer SMPS +C 독일Grimm Aerosol

Technik 2007-11-08

NFEC-2011-01-134522 압축성형기 Cold Isostatic PressingKCIP -

120/360고려진공(주)

2000-12-30

NFEC-2011-01-134894축전지 측정 및 교정용 브릿

지Automatic Capacitance Bridge AH 2500A ARDEEN-HAGERLING

2003-01-08

NFEC-2011-01-139327기체크로마토그래피 질량분

석기GC/MSD system 5973 MSD Agilent Technologies

2001-10-26

NFEC-2011-01-139325시료 전개 장치 및 나노 액체

크로마토그래피

On-Line Maldi spotter & 2-D Dual

NANO LC System

Ultimate

3000미국 Dionex

2006-10-26

NFEC-2011-01-140621 액체크로마토그래피High-Performance Liquid

Chromatography1100 미국 Agilent Technologies

2007-11-07

NFEC-2011-01-142402 전자에너지 분석기 Electron Analyser SES-100 미국 Gamma Data 2003-01-01

NFEC-2011-01-134385 다이오드 레이저 Tunable Diode Laser 6327 New Focus INC 2003-01-01

NFEC-2011-01-141623 엑스선 광전자 분광계X-RAY PHOTOELECTRON

SPECTROMETERESCALAB220 Thermo VG

1993-08-23

NFEC-2011-01-134402 풍동 몸체 Wind Tunnel Body 모델명 없음 대한민국 서원풍력 1991-12-31

NFEC-2011-01-134684 X-선 회절기Multipurpose X-Ray Diffractometer

system

D/MAX-

2200/VPC일본 Rigaku

2007-07-12

NFEC-2011-01-134394 타원편광분석기 Spectroscopic EllipsometerSE MF-1000

system나노뷰(주)

2002-12-27

NFEC-2011-01-133495 가압기 Pressurizer 모델명 없음 일본 Pretech 2010-12-23

NFEC-2011-01-133521 메탄,아세틸렌 분석기 CH4/C2H2 CRDS Analyzer G1203 미국 Picarro 2010-12-21

NFEC-2011-01-132303 입자형상분석기 Particle Shape Analyzer DIPA 2000 이스라엘 Donner Technologies2010-12-31

NFEC-2011-01-132661 6 축 병렬 동점 포지셔너 6-axis parallel kinematic positionerHXP100-

MECA프랑스 Hexapod

2010-10-08

NFEC-2011-01-132662 위상 배열 초음파 탐상기Phased Array Ultrasonic Test

Instrument

OMNI-M-

PA32128일본 Olympus

2010-10-27

NFEC-2011-01-132260 단파 20 kW 송신기 20 kW shortwave transmitters HSS-20KS 대한민국 한진전자산업 2010-10-16

NFEC-2011-01-132262 스펙트럼분석기 Spectrum Analyzer E4440A 미국 Agilent Technologies2010-12-07

NFEC-2011-01-132261 단파 20 kW 송신기 20 kW shortwave transmitters HSS-20KS 대한민국 한진전자산업 2010-06-16

NFEC-2011-01-132394 수소측정기 Hydrogen Determinator OH-900 독일 Eltra 2010-12-21

NFEC-2011-01-131926 네트워크 분석기 Network Analyzer N5230C 미국 Agilent Technologies2010-11-18

NFEC-2011-01-131925 고출력초음파시스템High power ultrasonic

system(RAM5000 SNAP)RAM-5000 미국 Ritec

2010-10-28

NFEC-2011-01-131932 광학측정타우어 Testing tower 모델명 없음 대한민국 하늘엔지니어링 2010-12-28

NFEC-2011-01-132040 신호발생기 Signal Generators E8257D 미국 Agilent Technologies2010-12-27

NFEC-2011-01-132036 신호분석기 Anritsu signal analyzer mainframe MP1800A 일본 Anritsu 2010-11-26

NFEC-2011-01-131931 나노초 파라메트릭 발진기

Narrow-bandwidth nanosecond OPO

with integrated DPSS q-switched

laser system

NT242-SH리투아니

아Ekspla

2010-10-20

NFEC-2010-12-133514 범용 가스분석기 Universal gas analyzer UGA200 미국Stanford Research

Systems 2010-12-02

NFEC-2010-12-122566 IR광주파수합성기 IR optical frequency synthesizer FC1500 독일 MenloSystems 2006-12-07

NFEC-2010-12-122871 8채널정밀전력분석기 8 Voltage & 8 current power analyzer LMG500 독일 Zes Zimmer2007-04-02

NFEC-2010-12-122867 신호발생기 Signal generator E8257D 미국 Agilent Technologies 2006-11-08

NFEC-2010-12-122865 3상측정기 Dytronic three phase standard RD-33 미국 Radian Research 2006-10-02

NFEC-2010-12-122839 커패시터 뱅크 Capacitor bank 99100A 캐나다 Guildline Instruments 2006-09-01

NFEC-2010-12-131963 헬륨-3 담금기계 He-3 dipping insert 모델명 없음 영국 Ice Oxford 2010-11-11

NFEC-2010-12-133515적외선 소스 추적 팬과 틸트

시스템IR source tracking pan & tilt system IR-Tilt 대한민국 리직스포트로닉스

2010-11-30

NFEC-2010-11-086021초고속 레이저 증폭용 DPSS

레이저DPSS laser for fs-laser apmlification Darwin 영국 Quantronix

2010-10-20

NFEC-2010-11-085466 질량분석기 MALDI TOF System Autoflex III 독일 Bruker 2010-07-22

NFEC-2010-11-085464 열분석기 Thermo Gravimetric Analysis SystemTGA/DSC1

1100 SF스위스 Mettler Toledo

2010-09-28

NFEC-2010-11-085561자기차폐실 및 능동차폐 시스

템

Magnetically Shielded Room and

Active Compenstaion System모델명 없음 대한민국 코암테크

2010-07-29

NFEC-2010-11-085641 방사능 오염 모니터링 시스템Radioactivity Contamination

Monitoring SystemLB 147 독일

Berthold

Technologies 2010-11-01

NFEC-2010-10-085143Type 3 수소용기 내구 시험용

AUTOCLAVE

Autoclave for Durability Performance

Verification of Pressure Vessel모델명 없음 대한민국 성신엠에스티

2010-09-30

NFEC-2010-10-085144 오븐, 헤라우스 WU6100 Oven, Heraeus WU6100WU6100(Can.

no51008709)독일 Heraeus

2010-09-13

NFEC-2010-09-083522 초고진공챔버 UHV CHAMBER F-UHV-800LC 대한민국 전자빔기술센터2010-08-30

NFEC-2010-09-083524160 kV 엑스선 발생장치 포지

션닝 스테이지/빔차폐장치Precision stage for 160 kV X-ray 160 kV 대한민국 대성지티

2010-08-31

NFEC-2010-09-083523저에너지 엑스선 측정용 원통

형 자유공기 전리함Cylindrical FAC for low energy X-ray 10 ~ 50 kV 대한민국 대성지티

2010-08-31

NFEC-2010-08-082981 주사투과전자 탐지기 STEM detector for S4800 539-9739 일본 Hitachi 2010-08-02

NFEC-2010-08-082986이산화탄소/메탄 링다운 분광

계

CO2/CH4 cavity ringdown

spectrometer(CRDS)G2301-f 미국 Picarro

2010-07-12

NFEC-2010-08-082741이차원 나노액체상 크로마토

그래피2-D NANO LC System DGP-3600M 미국 Thermo Scientific

2010-07-23

NFEC-2010-07-081161눈동자 위치 추적 및 측정 장

비

Eye/Head Tracking System: FaceLab

5.0Face LAB 5.0

오스트레

일리아Seeing Machines

2010-06-30

NFEC-2010-07-081162 지구자기장 편각/복각 측정기Absolute D/I instruments based on

steel free theodolite

G-resolution

1 sce헝가리

Mingeo

Environmental 2010-07-05

NFEC-2010-07-081164 무냉매자기냉동기용 인써트Standard Top loading insertable

probe

Part for CF-

DR네덜란드 Leiden Cryogenics

2010-07-20

NFEC-2010-07-081169 주사투과전자 탐지기Field Emission Scaning Electron

MicroscopyS-4800 일본 Hitachi

2010-06-08

NFEC-2010-07-081167광투과퓨리에변환 적외선분

광기

Open path FT-IR for air monitoring,

MIDAC model M4601M4601 미국 Midac

2010-06-09

NFEC-2010-07-081165 네트웍 분석기 Network Analyzer E5061B 미국 Agilent Technologies2010-07-20

NFEC-2010-07-080822 고속 주사장치 High speed nano positioning system P-733.2DD 외 독일Physik Instrumente

(PI) 2008-05-30

NFEC-2010-07-080823 가변파장 레이저 광원Lightwave measurement system,

mainfram81600B 미국 Agilent Technologies

2008-06-12

NFEC-2010-07-080827 MALDI TOF/TOF 질량분석기autoflexIII smartbeam MALDI-

TOF/TOFAutoflex III 독일 Bruker

2009-12-01

NFEC-2010-07-080828 3차원 초음파유속계3-Dimensional Ultrasonic

AnemometerDA-600 일본 Kaijo Sonic

2009-10-19

NFEC-2010-07-080830 원자흡수분광계 Atomic Absorption Spectrometer AA240FS 미국 Varian 2009-11-04

NFEC-2010-07-080839 직교류 이동표준기 AC/DC Transfer Standard 792A 미국 Fluke 2009-12-29

NFEC-2010-07-080838액체크로마토그래프/탠덤질

량분석기LC/MS/MS system API 4000 미국 Applied Biosystems

2009-12-14

NFEC-2010-07-080836 고출력펨토초레이저Coherent one-box Ti:Sapphire

amplifier systemLibra-F-1K 미국 Coherent

2009-12-30

NFEC-2010-07-080834 레이저 박막증착 시스템 Laser Ablation System PAC-LMBE 스위스 Pascal 2009-11-24

NFEC-2010-07-080833 표면박막 단차 측정기 Surface Profile Measurement System Dektak 150 미국 Veeco2009-11-04

NFEC-2010-07-080829 제타전위측정기 Zetasizer Nano Z System ZEN2600 영국 Malvern Instruments 2009-10-27

NFEC-2010-07-080421 화학기상 증착기 RT-CVD SYSTEM Lucida G100 대한민국 엔씨디 2010-06-01

NFEC-2010-07-080422자기결함 측정용 무선 로봇장

치

Wireless Robot System for Magnetic

Flaw Detection모델명 없음 대한민국 엑셀랩

2010-06-16

NFEC-2010-07-080423 광음파 가스분석기 Photoacoustic Field Gas Monitor Innova 1412 덴마크Lumasense

Technologies 2010-06-09

NFEC-2010-07-080425비접촉식 마이크로디스펜서

시스템non-contact microdispensing system

instrumentT

WO독일 M2-automation

2010-06-14

NFEC-2010-06-080087 xAFM 디지털 컨트롤러Digital Controller with software for

xAFM systemAlbatross 대한민국 나노포커스

2010-05-18

NFEC-2010-06-080088 엑스선 회절분석기 Lynxeye deceter XRD 27 독일 Bruker 2010-05-26

NFEC-2010-06-080091온라인 퓨리에 변환 적외선

분광기

On-line FTIR(Fourier Transform

Infrared Spectrometer)

MultiGas™

2030HS미국 Mks

2010-05-28

NFEC-2010-06-080095 다중채널 형광 분석기 Gemini EM System with softmax pro Gemini EM 미국 Molecular Devices2010-05-31

NFEC-2010-05-079770 CCD 카메라 (2K x 2K)Digital Imaging Systems (CCD

Camera)

UltraScan

1000미국 Gatan

2010-02-18

NFEC-2010-05-079771 무냉매 자기 냉동기Cryogen Free Adiabatic

DemagnetizationRefrigerator103 Rainier 미국 High Precision

2010-02-05

NFEC-2010-05-079772 세슘 자기장 분포 측정장치MAG-MAPPER CESIUM PORTABLE

MAGNETOMETER SYSTEMG-858 미국 Geometrics

2010-01-19

NFEC-2010-05-079773램프 펌프형 Q스위치

Nd:YAG 레이저시스템

Lamp-pumped Q-switched Nd:YAG

Laser System (Nano L90-100)

Nano L90-

100영국 Litron Lasers

2010-03-10

NFEC-2010-05-079774 저잡음 액체헬륨듀어Fiberglass Thermostat of the Model

LH -12.7-NTELH-11.5-NTE 러시아 Cryoton

2010-03-10

NFEC-2010-05-079661고속 단백질 액체 크로마토그

래피 분리장치

Fast Protein Liquid Chromatography

system

AKTA FPLC /

Frac-920영국 Ge Healthcare

2010-04-29

NFEC-2010-05-079662 원자현미경 헤드 및 스테이지 SPM head & stage set N-Tracer 대한민국 나노포커스2010-04-16

NFEC-2010-05-079664 범용 휴대용 음향방출 시스템 Portable Acoustic Emission System SC-311S 대한민국 렉터슨2009-12-23

NFEC-2010-05-079666 중적외선 레이저6.1um Fixed Wavelength Laser

System, TLS-21061-FIXTLS-21061 미국 Daylight Solutions

2010-04-13

NFEC-2010-05-079301 고분해능 적외선현미경 FT-IR Imaging Microscope iN10 미국Thermo fisher

scientific 2010-04-01

NFEC-2010-05-079302콤팩트 초단펄스 레이저 시스

템

onefive GmbH''s Ultrafast Laser

SystemOrigami-10 스위스 Onefive

2010-03-01

NFEC-2010-05-079303 광대역 분광기Wideband Spectrometer for Raman

SpectroscopyWBS260R 미국 Raman Systems

2010-04-20

NFEC-2010-05-079304 주사탐침현미경 제어기 SPM controller ASC500 독일 Attocube Systems 2010-04-07

NFEC-2010-05-079308 다원생체 계측시스템Multifunctional Biological Signal

Measurement SystemPolyG-A 대한민국 락싸

2010-03-30

NFEC-2010-05-079309 안정동위원소 질량분석기Isotope Ratio/MS Spectrometer

SystemMAT253 독일 Bremen

2010-03-23

NFEC-2010-05-079306 PXI 기반 디지타이저 시스템 PXIe Embedded Controller System PXIe-8108 미국 National Instruments2010-02-24

NFEC-2010-05-079305 유압고압발생기 Hydraulic high pressure generator 모델명 없음 영국 Dh Budenberg 2010-01-20

NFEC-2010-01-078202 열전모듈 평가장치Thermoelectric performance

measurement systemP250FDC 대한민국 고려전기로개발

2009-09-25

NFEC-2010-01-078203 태양전지효율측정시스템K3000 Solar Cell I-V Measurement

SystemK3000 대한민국 맥사이언스

2009-07-28

NFEC-2010-01-078206 수소검출용 원격 라만시스템 Multipurpose Raman System LSI-DPI 스위스 Lambda 2009-07-21

NFEC-2010-01-078205 초고속원심분리기 Ultracentrifuges Optima L-90K 미국 Beckman Coulter2009-04-16

NFEC-2010-01-078211 고에너지엑시머레이저High-Pulse-Energy Excimer Laser

System(COMPexPro 201F)

COMPexPro

201F미국 Coherent

2009-09-18

NFEC-2010-01-078220 턴테이블 세트 Turn and Tilt Axis 모델명 없음 대한민국 삼익티에이치케이 2009-08-25

NFEC-2010-01-078219 이동식레이저3차원측정기 Laser trackerLaser Tracker

Systems영국 Hexagon Metrology

2009-06-22

NFEC-2010-01-078218 저주파 전기화학분석기Low frequency electrochemical

analyzer system1280C 영국 Solartron Analytical

2009-07-02

NFEC-2010-01-078217 고압수소특성시험장치high press hydrogen propenties

testing system모델명 없음 대한민국 다로마

2009-07-13

NFEC-2010-01-078216 수소환경시험시스템100 kN Hydrogen Material Test

System모델명 없음 미국

MTS Systems

Corporation 2009-07-06

NFEC-2010-01-078213 주사전자현미경중탐침현미경 Scanning Probe Microscope in SEM 모델명 없음 대한민국 나노포커스2009-09-09

NFEC-2010-01-078229 위상잡음측정기 Signal Source Analyzer E5052B 미국 Agilent Technologies2009-05-28

NFEC-2010-01-078222 공초점 레이저주사현미경Confocal Laser Scanning Microscope

OLS3000-IR

LEXT OLS

3000-IR일본 Olympus

2009-04-20

NFEC-2010-01-078221 티 프로브 장치 T-probe system T-ProbeⅡ 영국 Hexagon Metrology 2009-10-08

NFEC-2010-01-078237 온실가스측정시스템 ch4/h2o/co2 analyzer GGA-24EP 미국 Los Gatos Research 2009-09-11

NFEC-2010-01-078236 다이오드 펌프 펨토초 레이저Compact, all-diode-pumped, solid

state Ytterbium fs oscillator

IC-1040-2000

fs Yb독일

High Q Laser

Production 2009-07-06

NFEC-2010-01-078231 입자발생기 Vibrating Orifice Aerosol Generator 3450 미국 Tsi 2009-06-25

NFEC-2010-01-078230 풍동 Wind Tunnel System 모델명 없음 대한민국 에니텍 2009-04-23

NFEC-2010-01-078243 공압 조절기 / 교정기 Pneumatic controls PPC4 미국 Fluke 2009-08-20

NFEC-2009-06-071443MALDI 이미징 시료 자동 준

비 시스템

Automated MALDI Imaging Sample

Preparation SystemImagePrep 독일 Bruker

2008-07-09

NFEC-2009-06-071442 엘레베터식 전기로 E/V Type Furnace 모델명 없음 대한민국 케이텍 2009-03-31

NFEC-2009-06-071424소형렌즈 검사용 5축 무한광

원 타겟

Infinte Optical Test Target for Small

Lens5-axis 대한민국 지우기술

2008-05-02

NFEC-2009-06-071423 전자식 자동시준장치 ELECTRONIC AUTOCOLLIMATORELCOMAT

3000독일 Moeller-wedel

2008-04-23

NFEC-2009-06-071422소형렌즈용 가변거리 4축 성

능검사기Small Lens Tester Panorama-V 대한민국 지우광기술

2008-02-21

NFEC-2009-06-071421 각도제어 회전테이블 NC ROTARY TABLE HT-801 태국 Golden Sun 2008-02-05

NFEC-2009-06-071420 플라즈마스퍼터 코터 208HR turbo sputter coater ULTER-High 영국Cressington Scientific

Instruments 2009-03-23

NFEC-2009-06-071419 형광현미경 INDUSTRIAL MICROSCOPE BX51 BX51TRF 일본 Olympus 2009-02-25

NFEC-2009-06-071417 고진공증착시스템High vacuum organic deposition

systemYP-0208 대한민국 야스

2008-11-04

NFEC-2009-06-071441 소다 Sodar SFAS 독일 Scintec Ag 2008-10-29

NFEC-2009-06-071440 전자현미경용 시편이동장치 Motorized Stage Control Unit SU-6600 일본 Hitachi 2008-06-13

NFEC-2009-06-071436 고반복률 나노초레이저 high-repetition rate ns-laser INCA-532-Q 독일 Xiton Photonics 2008-12-30

NFEC-2009-06-071435 아르곤레이저 ARGON LASER SYATEMInnova 90C-

A5미국 Coherent

2008-08-26

NFEC-2009-06-071434 접촉각측정장치Video Based Contact Angle

Measurement systemOCA 20 독일

Dataphysics

Instruments 2008-02-23

NFEC-2009-06-071430 생체조직 동결절편기 Cryocut Microtome CM3050 S 독일 Leica 2008-07-07

NFEC-2009-06-071428 레이저빔 스캐닝 장치 Laser GalvanometerFV3-PSU/SU-

3일본 Olympus

2008-07-10

NFEC-2009-06-071427 고정도 전기프로브 시스템 High-Precision Electric Probe System 모델명 없음 대한민국 엑셀랩2008-07-23

NFEC-2009-06-071426대형 광학계 평가용 2축회전

스테이지2-axis rotable stage for large optics 2-axis 대한민국 지우기술

2008-11-10

NFEC-2009-06-071425 우주용 광학부품 테스트 장치 Vacuum tester for space optics VS-8076 대한민국 브이티에스2008-10-16

NFEC-2009-06-071382 이차이온질량분석기 Magnetic Sector SIMS IMS 7f 프랑스 Cameca 2008-09-11

NFEC-2009-06-071384 임피던스측정/재료분석기E4991E RF impedance/Material

AnalyzerE4991A 미국 Agilent Technologies

2009-04-06

NFEC-2009-06-071386 펄스패턴 발생기PSG analog signal generator

(Refurbished)E8257D 미국 Agilent Technologies

2008-05-18

NFEC-2009-06-0713881550 nm 튜너블 레이저 시스

템

System DL 100L, 1550 nm tunable

laser systemDL 100 독일 Toptica

2008-08-22

NFEC-2009-06-071390 탑로딩 He3 냉동고시스템 Top loading 3He refrigerator system HE-3-TLSL 미국 Janis Research 2008-05-29

NFEC-2009-06-071406 광학면 측정용 타우어 testing tower 모델명 없음 대한민국 하늘엔지니어링 2008-06-19

NFEC-2009-06-071405 모세관 전기영동 장치 Capillary electrophoresis system G1600A 미국 Agilent Technologies2008-05-30

NFEC-2009-06-071402 에너지 분산 엑스레이분광기 Energy dispersive X-ray SpectrometerQUANTAX

200독일 Bruker

2008-11-24

NFEC-2009-06-071401 입도분석기 Particle size analyzer ELS-Z2 일본 Otsuka Electronics 2008-06-17

NFEC-2009-06-071411천연가스분석용크로마토그래

프Chromatograph for LNG analysis 770 series 미국

Emerson Process

Management 2008-05-22

NFEC-2009-06-071399 튜너블 레이저소스 Tunable laser Soucre 81600B 미국 Agilent Technologies 2008-09-12

NFEC-2009-06-071395 이온빔 증착장비 Ion Beam Sputtering System 07-03S-IBD 대한민국 인포비온 2008-03-13

NFEC-2009-06-071393 무액체 냉매 희석식 냉동기CF-DR 650 uW at 120 mK with 8T

superconducting magnet

MNK-CF-126-

650네덜란드 Leiden Cryogenics

2008-10-15

NFEC-2009-06-071389 동적 수신 위상 배열 시스템Dynamic Receiving Phased Array

System16-CH 대한민국 인디시스템

2008-12-05

NFEC-2009-06-071385 증폭형 반도체 레이저 시스템Tapered Amplifier Diode Laser

SystemTA 100 독일 Toptica

2008-08-05

NFEC-2009-06-071383표면플라즈몬 공명 바이오분

석장비SPR mainframe (Model: SPR LAB) SPR LAB 대한민국 케이맥

2008-08-04

NFEC-2008-06-056755 전압 배율기 Voltage multiplier VM101 미국 Nrc 2007-10-31

NFEC-2007-07-016975 초고속레이저 Ultrafast Laser Package 모델명 없음 미국 Coherent 2005-09-20

NFEC-2007-07-018622 FDTD P4 클러스터 19노드 FDTD P4 Cluster 19 Node 12bay-rack 대한민국 그레이프 2006-06-16

NFEC-2007-07-018621 광학가공용 씨엔씨 기계 Optics public CNC MACHINEPDP-1320-

1SP대한민국 하림기공

2005-07-26

NFEC-2007-07-018619작은 꼬리 FRP의 그라 이오

스탯Flat tail FRP cryostat 모델명 없음 대한민국 CVE

2006-08-07

NFEC-2007-07-018618MIDAS 마스크 정렬 및 노광

시스템

MIDAS Mask Alignment & Exposure

SystemMDA-8000 대한민국 마이다스시스템

2006-03-09

NFEC-2007-07-018636 헬륨누설감지기 Helium Leak detector 모델명 없음 독일 Pfeiffer Vacuum 2006-05-30

NFEC-2007-07-018632 동결건조기 Freeze dryer PVTFD9R 대한민국 일신바이오베이스 2005-10-06

NFEC-2007-07-018630 광학현미경

IX71 with standards

accessories,research inverted

microscope

IX 71 일본 Olympus

2005-06-08

NFEC-2007-07-018628 XD 레이저 간섭계 XD Laser Interferometer XD-50 미국 Evinrude 2005-09-26

NFEC-2007-07-018642 멀티채널시스템Multi-Channel Measurement System -

12 Channels12030-130 미국 Supreme Technology

2005-08-19

NFEC-2007-07-018638 물성측정시스템 Physical Property Measurement sy 모델명 없음 미국 Quantum Design 2005-08-24

NFEC-2007-07-018637 초저도자석희석냉장고Dilution Refrigerato with

Superconducting Magnet모델명 없음 네덜란드 Leiden Cryogenics

2006-06-13

NFEC-2007-07-002145 모세관전기영동장치 Capillary Electrophoresis System P/ACE™ MDQ 미국 Beckman Coulter2005-01-19

NFEC-2007-07-002207 가스분석기 Industrial Gas Analyzer IG-1000 일본 Otsuka Electronics 2006-07-20

NFEC-2007-07-002206 티시디 위쓰 지시 GC with TCD 6889N 아일랜드 AGC Instruments 2005-04-01

NFEC-2007-07-002168 자기차폐실 Magnetically Shielded Room 모델명 없음 대한민국 코암테크 2005-10-26

NFEC-2007-07-002167 DIC도립현미경Research inverted microscope with

DIC systemIX 71 일본 Olympus

2005-07-20

NFEC-2007-07-002166 SPR 분광기 BIACORE X SPR spectroscopy SPR 스웨덴 Biacore 2005-04-18

NFEC-2007-07-002165 현미경 Universal Inverted MicroscopeAxiovert

200M독일 Carl Zeiss

2006-01-02

NFEC-2007-07-002163 스펙트럼분석기 Spectrum analyser E4403B-BAS 미국 Agilent Technologies2005-09-26

NFEC-2007-07-002160 6 축 산업용 로봇 6-axis industrial robots 모델명 없음 대한민국 영일교육시스템 2006-08-22

NFEC-2007-07-002120 커렌트오 호리존 엠씨 Turret&Horizon M/C HMTH-1100 대한민국 화천기계 2006-05-19

NFEC-2007-07-002137 매니퓰레이터 Z Slide & Primary Rotation Module 모델명 없음 영국 Vacuum Generators 2006-08-08

NFEC-2007-07-002136 이온펌프 Ion pump600L/s inlet

7inch미국 Flir Systems

2006-04-20

NFEC-2007-07-002135 압력교정시스템Automatic Quartz Pressure

Calibration System

16319-8100-

K미국 Mensor

2005-08-01

NFEC-2007-07-002134 유압 액추에이터 Hydraulic actuatore 모델명 없음 미국MTS Systems

Corporation 2006-07-12

NFEC-2007-07-002133 액추에이터 어셈블리 Actuator Assembly 모델명 없음 미국MTS Systems

Corporation 2005-06-02

NFEC-2007-07-002132 피로시험기 Fatigue Testing Machine 모델명 없음 미국MTS Systems

Corporation 2006-01-02

NFEC-2007-07-003867 아르곤이온레이저 Ar-ion Laser LA70-1E 미국 Coherent 2005-07-12

NFEC-2007-07-003865 지티이엠 Giga-hertz TEM GTEM 5405 미국 TDK RF Solutions 2006-01-18

NFEC-2007-07-003864 씨씨디 디텍터 CCD Detector PIXIS: 1024B 미국 Kos 2006-08-01

NFEC-2007-07-002128 고성능터닝센터High Performance Turning

Center(CNC Lathe)모델명 없음 대한민국 화천기계

2005-12-07

NFEC-2007-07-002126 오류성능분석기 Error Performance Analyzer 70834B 미국 Agilent Technologies 2005-09-06

NFEC-2007-07-002125 저항현미경Scanning Spreading Resistance

Microscope (SSRM) moduleSSRM 미국 Veeco

2005-12-15

NFEC-2007-07-002124 알파단계 아이큐 KLA Tencor, Alpha step IQAlpha-Step

IQ미국 Kla-tencor

2006-05-08

NFEC-2007-07-002176 임피던스 분석기 Impedance Analyzer 4297A 미국 Agilent Technologies2005-06-22

NFEC-2007-07-002175 펄스패턴발생기 4 channel pulse pattern generator 모델명 없음 일본 Anritsu 2006-05-08

NFEC-2007-07-002171 태오에프 광전자현미경TOF-Photoelectron Miscroscpe

Column set모델명 없음 독일

Omicron Nano

Technology 2006-03-29

NFEC-2007-07-002169 엑시머레이저 Excimer Laser 모델명 없음 미국 Coherent 2006-10-10

NFEC-2007-07-002148 3차원동작분석장비 Optotrak Certus System e-type 중국 Senztech 2006-06-09

NFEC-2007-07-002201 동적간섭계시스템Dynamic interferometer system with

F/12 diverging lens모델명 없음 미국 4d Technology

2006-06-14

NFEC-2007-07-002195 플레이트리더 Multiple microplate reader 모델명 없음 미국 Perkin Elmer 2005-01-19

NFEC-2007-07-002190프린스 모듈형 559 모세관 전

기 시스템

Prince Modular 560 Capillary

Electrophoresis systemPrinCE 560 네덜란드 Prince Technologies

2006-03-08

NFEC-2007-07-002189 스캔전자현미경Field emission scanning electron

microscopy모델명 없음 미국 Fei

2005-07-06

NFEC-2007-07-002188 모스 kSA MOS 모델명 없음 미국 K-space Associates 2006-08-01

NFEC-2007-07-002186 화학발광이미지 분석기 Chemiluminescence Image AnalyzerChemiDoc

XRS미국 Bio-rad

2005-11-22

NFEC-2007-07-016982 열류계법 열전도도 측정장치 Heat Flow MeterHFM 436

Lambda독일 Netzsch

2005-06-22

NFEC-2007-07-016974 바이오 원자힘현미경bio-AFM -

PicoPlus(ambient,solid&liquid)System모델명 없음 미국 Kos

2006-04-03

NFEC-2007-07-016971 Co-60 감마선원 Co-60 gamma-crew 모델명 없음 덴마크 Foss 2006-07-27

NFEC-2004-12-028792 시험기 Universal Testing Machine LR5K-PLUSLLOYD

INSTRUMENTS LTD. 2004-07-20

NFEC-2004-12-016755 만능 재료시험기High frequency fatigue testing

machine모델명없음

RUSSENBERGER

PRUEFMASCHINEN

AG 2004-11-24

NFEC-2004-12-016766 시간차이차이온질량분석기Time-of-Flight Secondary Ion Mass

Spectrometer (ToF-SIMS V)ToF-SIMS V ION-TOF GmbH

2004-07-14

NFEC-2004-12-044741 JAS 원소분석기 JAS Elemental Analyer,G2373AA)set G2373AA 미국Joint Analytical

Systems 2004-07-29

NFEC-2004-12-025614 진동 콘트롤러Modular Vibrometer Controller (OFV-

5000 )외3OFV-5000 POLYTEC GMBH

2004-07-12

NFEC-2004-12-025615 볼 가공기 Ball Machine BOY-300 CODEC CO.,LTD. 2004-09-30

NFEC-2004-12-028794 세라믹 볼 정밀 연마기 Precision Grinding ceramic ball CG-300A CODEC CO.,LTD. 2004-09-22

NFEC-2004-12-016770 유세포분석기 Flow cytometer CyFlow-SL PARTEC GMBH 2004-07-23

NFEC-2004-12-021374 나노바이오 공정기기 Nano-Bio PROCESS Equipment XE-100INV 피에스아이에이(주) 2004-03-30

NFEC-2004-12-044685 고출력 펨토초레이저 High-Power femtosecond laser pulsesIntegra 1.8-

FS-1PAN-TECH

2004-01-09

NFEC-2004-12-028791 실시간 유전자 증폭기 Sequence Detection SystemABI PRISM

7900HT

APPLIED

BIOSYSTEMS INC. 2004-05-27

NFEC-2004-12-008631 컨트롤러 RHK stm controller 모델명없음RHK

TECHNOLOGY,INC. 2004-06-22

NFEC-2004-12-008630 고성능 UV 소스 패키지 High Performance UV source package 모델명없음 주)디케이사이언스2004-02-18

NFEC-2004-12-008629 연구용 도립현미경 Inverted MICROSCOPE 모델명없음

OLYMPUS

CORPORATION,JAPA

N 2004-02-11

NFEC-2004-12-008627 광학 현미경 Inverted MicroscopeAxiovert-

200M MAT

Carl Zeiss Jena

GmbH 2004-01-28

NFEC-2004-12-008614 펄스와전류 탐상장치 Pulsed Eddy Current Testing Device 모델명없음 대한민국 레이나 2004-02-03

NFEC-2004-12-008615 이-빔 증발기 E-Beam Evaporator #EB 600 #EB 600 (주)알파플러스 2004-02-27

NFEC-2004-12-008619 방출현미경Field Emission Scanning E-

Mocroscope모델명없음

FEI

CO.NETHERLANDS 2004-03-10

NFEC-2004-12-008617 정밀습도 제어챔버 Precision Humidity Control Chamber 15 PGI INC. 2004-05-11

NFEC-2004-12-008616 타원이미징 시스템 Imaging ellipsometer system EP3 baseNANOFILM

TECHNOLOGIES,GMB 2004-02-27

NFEC-2003-11-021429 마이크로 PIV 측정시스템MICRO PARTICLE IMAGE

VELOCIMETRY모델명없음

DANTEC

MEASUREMENT 2003-05-15

NFEC-2003-11-028665 나노 및 모세관 LC 시스템 Nano & Capillary LC System

161329

ULTIMATE(T

M)

인성크로마텍(주)

2003-09-01

NFEC-2003-11-041582 Weldind 조립 시스템 Weldind System and Assemble 모델명 없음 대한민국서울플루이드시스템

테크놀로지 2003-06-25

NFEC-2003-11-044159 EVE 추적 시스템 EVE TRACKING SYSTEM ASL 2003-07-03

NFEC-2003-11-044162 나노스캐닝현미경SCANNING PROBE MICROSCOPE,

NANOMAN-02모델명없음 Veeco Asia Pte

2003-08-06

NFEC-2003-11-044167FMRI에 대한 뇌파 / EP에 측

정 시스템

EEG/EP MEASURING SYSTEM FOR

FMRI모델명없음 Brain Product GmbH

2003-10-01

NFEC-2003-11-044169 UHV e - 빔 증발기 시스템 UHV E-BEAM EVAPORATOR SYSTEM 모델명없음 한국표준과학연구원 2003-09-08

NFEC-2003-05-040972 열량 분석기 THERMOGRAVIMETRIC ANALYZERRUBOTHERM

WITH ACC

RUBOTHERM

PRAZISIONSMESSTE

CHNIK GMBH 2003-02-04

NFEC-2003-05-021492 광학 헤드 및 광섬유 커플러 OPTICAL HEAD AND FIBER COUPLERFOR AIR-500,

532nm

LASSON

TECHNOLOGIES 2002-10-10

NFEC-2003-05-040967 고온보관자력 시스템HTS SQUID MAGNETOMETER

SYSTEM701-53G

TRISTAN

TECHNOLOGIES, INC 2002-11-25

NFEC-2003-04-040944 3차원 족형 계측장치3 Dimentional Head Scanner and

Foot Scanner3-D

I-WARE

LABORATORY CO.,

LTD. 2002-08-09

NFEC-2002-08-040595 고 분해능 X 선 회절 High Resolution X-ray Diffractometer

D-8 Discover

X-rayv

System

Bruker AXS

2002-03-25

NFEC-2002-08-040596 가스크로마토그래피 Gas Chromatograph SystemAgilent

6890N GCAgilent Technologies

2002-04-06

NFEC-2002-08-040604 스펙트럼분석기 PSA Spectrum Analyzer E4445A Agilent Technologies 2002-05-21

NFEC-2002-08-040667 수은직접분석기 Direct Mercury Analyzer DMA80 Milestone s.r.l 2002-07-23

NFEC-2002-08-002528 지피에스수신기Dual Frequency GPS Time Transfer

System모델명없음 CSIRO

2002-05-25

NFEC-2002-08-040603 반자동 피스톤게이지Semi Automated Gas Operated

Piston Gauge2465A

Ruska Instrument

Corp. 2002-05-21

NFEC-2001-12-040319 레이저 빔 진단 시스템 Laser Beam Diagnostics System 모델명없음 Spiricon Inc. 2001-04-13

NFEC-2001-12-040373 고성능액체크로마토 그래피High Performance Liquid

Chromatograph모델명없음

Agilent Technologies

Ltd. 2001-05-25

NFEC-2001-12-040333 고온DSC시스템 High Temperature DSC System 404C/3/GNetzsch Geraetebau

GmbH 2001-08-24

NFEC-2001-12-040339 고해상도 FT-IR분석기 High Resolution FT-IR Analyzer IFS-120HR Bruker Optik GmbH 2001-11-02

NFEC-2001-12-040340 Emotion Acquisition System Emotion Acquisition System NF Corp. 2001-11-13

NFEC-2001-12-041608유도 결합 플라즈마 질량 분

광법

Inductively Coupled Plasma Mass

Spectrometry

Elan DRC

PlusPerkin Elmer

2001-10-25

NFEC-2001-12-040334 다이오드 펌핑 레이저 시스템 Diode-Pumped Ring Laser System VERDI-V5 Spirox Holding Inc.2001-08-28

NFEC-2001-05-021542 정밀저항온도 측정 브리지 Precision Thermometry Bridge F900Automatic Systems

Laboratories Ltd. 2001-01-12

NFEC-2001-04-040027 프로브스캐닝현미경 Scanning Probe Microscope 3100 Digital Instruments 2000-12-11

NFEC-2001-04-040025 정밀임피던스분석기 precision Impedance Analyzer 4294AAgilent Technologies

Inc. 2000-10-13

NFEC-2001-04-029866 스펙트럼 분석기 Spectrum Analyzer E4407BAgilent Technologies

Inc. 2000-12-06

NFEC-2000-08-039421 울트라소트레이저시스템 Ultrashort Pulse Laser SystemMillennia

AsP230

Spectra-Physics

Lasers Inc. 2000-01-01

NFEC-2000-08-039420CNC 광학 3 차원 측정 시스

템

CNC Optical 3 Dimensional

Measuring System

OMS 400-

CAANikon

2000-01-01

NFEC-2000-05-038117 광스펙트럼 분석기 Optical Spectrum Analyzer AQ6315A 동양시스템(주) 2000-01-01

NFEC-1999-06-037292 Scanning Probe Microscope Scanning Probe MicroscopeAutoprobe

CP System

Park Scientific

Instruments Corp. 1999-01-01

NFEC-1999-02-037287ULTRASONIC PORTABLE C-

SCAN SYSTEM

ULTRASONIC PORTABLE C-SCAN

SYSTEM

KRAUTKRAM

ER USD 15X

KRAUTKAMER GMBH

＆ CO. 1999-01-01

NFEC-1998-12-037223 액체 핼륨 디워 FLAT TIP LIQUID HELLIUM DEWAR FTM-135/30 CTF SYSTEMS INC. 1998-01-01

NFEC-1998-11-037215 고압 압축기 High-pressure compressor

2.1m3/h,

75bar, 50Hp,

440V

신일기계

1998-01-01

NFEC-1998-09-037213 주파수 분석기 SPECTRUM ANLYZER AN1840 LG정밀(주) 1998-01-01

NFEC-1998-05-029837 마스트 얼라이너 MASK ALIGNER MJB 3TDKARL SUSS KG-

GMBH＆CO. 1998-01-01

NFEC-1998-04-037264X-선 회절 고니 ？？오 미터

시스템

X-RAY DIFFRACTION GONIOMETER

SYSTEMD5005

AXS ANALYTICAL X-

RAY SYSTEMS GMBH 1998-01-01

NFEC-1998-02-024593AUTOMATIC A/C BRIDGE

RACK SYSTEM

AUTOMATIC A/C BRIDGE RACK

SYSTEM

F700B/AS2,RT

E-111M

AUTOMATIC

SYSTEMS LAB., LTD. 1998-01-01

NFEC-1997-10-037154 비트 에러율 테스터 Bit Error Rate Tester GP1400 Tectronix Inc. 1997-01-01

NFEC-1997-05-023241 질량 분광 분석기Isotope Ratio Mass

Spectrophotometerwip 62330-p2 Finnigan MAT

1997-01-01

NFEC-1997-05-037197Brazing Furnace(Brazing Hot

Press)Brazing Furnace(Brazing Hot Press)

tca63-6-

72e40Ionex Inc.

1997-01-01

NFEC-1997-01-037201 공진 초음파 분석기 Resonant Ultrasound Spectrometer RU SPEC Quatrosonics 1997-01-01

NFEC-1996-12-023224 초음파 콘크리트 테스터 Ultrasonic Concrete Tester TR-300 M S Japan Co., Ltd. 1996-01-01

NFEC-1996-12-023225 진공 가열로 Vacuum Heating Furnace10-4X8-G-G-

0000-A-20

Centorr Vacuum

Industries Inc. 1996-01-01

NFEC-1996-11-045989 정밀 가스 질량 분석기Mass Spectrometer for Precision Gas

AnalyzerMAT271 Finnigan Mat GmbH

1996-01-01

NFEC-1996-01-037049Ion Gun ＆ Secondary

Electron Detector System

Ion Gun ＆ Secondary Electron

Detector SystemDX-500 Specs Gmbh

1996-01-01

NFEC-1996-01-037050 인덕션 히터 Induction Heater SP-15 Ameritherm Inc. 1996-01-01

NFEC-1995-12-045997Q - 스위치 ND : 야그 레이저

시스템Q-Switched ND:Yag Laser System SURELITE II Spirox Holding Inc.

1995-01-01

NFEC-1995-11-037242 다중 주파수 ECT 시스템 Multi Frequency ECT SystemECT MAD 4D-

LTR/D Tech

1995-01-01

NFEC-1995-10-037228UV- Visible-NIR

SpectrometerUV- Visible-NIR Spectrometer MD750M Spex Industries Inc.

1995-01-01

NFEC-1994-02-027337 레이저 진동계 Laser Doppler Velocimeter LDV 9

Physikalisch

Technische

Bundesanstalt(Polyte

c) 1993-01-01

NFEC-1993-07-037033Recording Balance(Chan

Balance)Recording Balance(Chan Balance) TF 131

CAHN Isnstruments

Inc. 1993-01-01

NFEC-1993-04-037006High Temperature

Microhardness Tester

High Temperature Microhardness

TesterQM-2

NIKON

CORPORATION 1993-01-01

NFEC-1993-04-037004RF NETWORK ANALYZER

SYSTEMRF NETWORK ANALYZER SYSTEM

8753C,

OPT913,

85047A,

85032B

HEWLETT -

PACKARD1993-01-01

NFEC-1993-04-029759VIBRATING SAMPLE

MAGNETOMETERVIBRATING SAMPLE MAGNETOMETER 4500/150A Janis Research Corp.

1993-01-01

NFEC-1993-02-037052 헬륨희석 냉장고 3He/4 HE Dilution Refrigerator 100 TLE OXford Instruments 1992-01-01

NFEC-1993-02-037054High Temp. Materials

Testing SystemHigh Temp. Materials Testing System

INSTRON

8562INSTRON

1992-01-01

NFEC-1993-02-037000CREEP CRACK GROWTH

TESTING MACHINE

CREEP CRACK GROWTH TESTING

MACHINERT-30S TOSHIN KOGYO

1993-01-01

NFEC-1992-10-028506 Reactive Ion Etching System Reactive Ion Etching System IPL 2000Integrated Plasma

Ltd. 1992-01-01

NFEC-1992-10-037179 부식 피로 시험 시스템 Corrosion Fatigue Testing System

CORTEST

FATIGUE ＆

RTL 2200

CORTEST

INCORPORATED 1992-01-01

NFEC-1992-10-045987

Molecular Beam Epitaxy

System(Ⅲ- V MBE Growth

System)

Molecular Beam Epitaxy System(Ⅲ- V

MBE Growth System)

MBE 329

MODUTRAC

Riber Div of

Instruments SA 1992-01-01

NFEC-1992-10-037171 네트워크 분석 시스템 Network Analyzer System85-107B

OPT005.010

Hewlett - Packard

CO. 1992-01-01

NFEC-1991-10-037144 MICROSCOPE MICROSCOPE

562-115, 514-

646, 562-191,

512-732, 519-

498

LEITZ

1987-01-01

NFEC-1991-10-045984 MASK ALIGNER MASK ALIGNERMTB 3

STANDARD

KARL SUSS KG-

GMBH ＆ CO. 1987-01-01

NFEC-1991-04-037258 저항 매핑 시스템 Resistivity Mapping System PMS11-4 DALER WERKE 1992-01-01

NFEC-1991-03-037042 SQUID MAGNETOMETER SQUID MAGNETOMETER MPMSQUANTUM DESIGN

INTERNATIONAL 1989-01-01