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UNE-EN 61164 normaespaola

Junio 2005

TTULO Crecimiento de la fiabilidad

Ensayos estadsticos y mtodos de estimacin

Reliability growth. Statistical test and estimation methods.

Croissance de la fiabilit. Tests et mthodes d'estimation statistiques.

CORRESPONDENCIA Esta norma es la versin oficial, en espaol, de la Norma Europea EN 61164 de abrilde 2004, que a su vez adopta la Norma Internacional IEC 61164:2004.

OBSERVACIONES

ANTECEDENTES Esta norma ha sido elaborada por el comit tcnico AEN/CTN 200 Normas BsicasElctricas cuya Secretara desempea AENOR.

EXTRACTO DEL DOCUMENTO UNE-EN 61164

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Depsito legal: M 24254:2005

LAS OBSERVACIONES A ESTE DOCUMENTO HAN DE DIRIGIRSE A:

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AENOR 2005

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NDICE

Pgina

PRLOGO............................................................................................................................................. 7

INTRODUCCIN................................................................................................................................. 9

1 OBJETO Y CAMPO DE APLICACIN............................................................................... 10

2 NORMAS PARA CONSULTA ............................................................................................... 10

3 TRMINOS Y DEFINICIONES............................................................................................. 10

4 SMBOLOS................................................................................................................................ 115 MODELOS DE CRECIMIENTO DE LA FIABILIDAD EN DISEO Y ENSAYOS.... 15

6 MODELOS DE CRECIMIENTO DE LA FIABILIDAD USADOS PARASISTEMAS O PRODUCTOS EN LA FASE DE DISEO.................................................. 16

6.1 Modelo modificado de la ley de potencia para la planificacin del crecimiento de lafiabilidad en la fase de diseo del producto ........................................................................... 16

6.2 Modelo bayesiano modificado de IBM-Rosner para la planificacin del crecimientode la fiabilidad en la fase de diseo ......................................................................................... 19

7 PLANIFICACIN DEL CRECIMIENTO DE LA FIABILIDAD EN LOS ENSAYOSDE CRECIMIENTO DE LA FIABILIDAD DEL PRODUCTO........................................ 21

7.1 Modelos continuos de crecimiento de la fiabilidad ............................................................... 217.2 Modelo discreto de crecimiento de la fiabilidad.................................................................... 23

8 USO DEL MODELO DE LA LEY DE POTENCIA PARA LA PLANIFICACINDE PROGRAMAS DE ENSAYOS DE CRECIMIENTO DE LA FIABILIDAD............ 25

9 ENSAYOS ESTADSTICOS Y PROCEDIMIENTOS DE ESTIMACIN PARAEL MODELO DE LA LEY DE POTENCIA CONTINUO................................................. 26

9.1 Descripcin general ................................................................................................................... 26

9.2 Ensayos de crecimiento y estimacin de parmetros............................................................ 26

9.3 Ensayos de bondad de ajuste.................................................................................................... 30

9.4 Intervalos de confianza para el parmetro de forma ........................................................... 329.5 Intervalos de confianza para el MTBF actual ....................................................................... 34

9.6 Tcnica de proyeccin............................................................................................................... 35

ANEXO A (Informativo) EJEMPLOS PARA PLANIFICACIN Y MODELOSANALTICOS USADOS EN LAS FASES DE DISEO YENSAYOS DEL DESARROLLO DEL PRODUCTO.................... 39

ANEXO B (Informativo) MODELO DE CRECIMIENTO DE LA FIABILIDADSEGN LA LEY DE POTENCIA. ANTECEDENTES................. 53

BIBLIOGRAFA................................................................................................................................... 58


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Figura 1 Mejora planificada de la tasa media de fallos o de la fiabilidad.............................. 15

Figura A.1 Crecimiento de la fiabilidad planeado y alcanzado. Ejemplo.................................. 42

Figura A.2 Planificacin del crecimiento de fiabilidad usando un modelo de crecimientode fiabilidad bayesiano .................................................................................................. 43

Figura A.3 Diagrama de dispersin de los tiempos de fallo en ensayos esperados yobservados basado en los datos de la tabla A.2 con el modelo de la ley depotencia............................................................................................................................ 51

Figura A.4 Fallos/Tiempo de ensayo acumulados observados y estimados basado en losdatos de la Tabla A.2 con el modelo de la ley de potencia........................................ 52

Tabla 1 Categoras de modelos de crecimiento de la fiabilidad con los apartados dereferencia......................................................................................................................... 16

Tabla 2 Valores crticos del ensayo de bondad de ajuste de Cramr-von Mises alnivel de significacin del 10% ...................................................................................... 36

Tabla 3 Intervalos de confianza bilaterales al 90% para el MTBF a partir de ensayosde Tipo I .......................................................................................................................... 37

Tabla 4 Intervalos de confianza bilaterales al 90% para el MTBF a partir de ensayosde Tipo II......................................................................................................................... 38

Tabla A.1 Clculo del modelo de planificacin para crecimiento de la fiabilidad en lafase de diseo .................................................................................................................. 41

Tabla A.2 Datos completos. Todos los fallos a considerar y tiempos de ensayoacumulados para ensayos de Tipo I............................................................................. 48

Tabla A.3 Datos agrupados para el Ejemplo 3 derivados de la tabla A.2 ................................ 49

Tabla A.4 Datos completos para estimaciones proyectadas en el Ejemplo 4. Todos losfallos a considerar y tiempos de ensayo acumulados ................................................ 49

Tabla A.5 Tipos distintos de fallos de Categora B, de la tabla A.4, con tiempos de fallo,tiempo de primera aparicin, nmero de observaciones y factores de eficacia........ 50


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1 OBJETO Y CAMPO DE APLICACIN

Esta norma internacional proporciona modelos y mtodos numricos para evaluaciones de crecimiento de la fiabilidad

basados en datos de fallos generados en un programa de mejora de fiabilidad. Estos procedimientos tratan delcrecimiento, estimacin, intervalos de confianza de la fiabilidad del producto y ensayos de bondad de ajuste.

2 NORMAS PARA CONSULTA

Las normas que a continuacin se indican son indispensables para la aplicacin de esta norma. Para las referencias con

fecha, slo se aplica la edicin citada. Para las referencias sin fecha se aplica la ltima edicin de la norma (incluyendocualquier modificacin de sta).

IEC 60050-191:1990 Vocabulario Electrotcnico Internacional (VEI), Captulo 191: Confiabilidad y calidad deservicio.

IEC 60300-3-5:2001 Gestin de la confiabilidad. Parte 3-5: Gua de aplicacin. Condiciones para los ensayos defiabilidad y principios para la realizacin de contrastes estadsticos.

IEC 60605-4 Ensayos de fiabilidad de equipos. Parte 4: Procedimientos estadsticos para la distribucin exponencial.

Estimadores puntuales, intervalos de confianza, intervalos de prediccin e intervalos de tolerancia.

IEC 60605-6 Ensayos de fiabilidad de equipos. Parte 6: Contraste para validar la hiptesis de tasa de fallo constante.

IEC 61014:2003 Programas de crecimiento de la fiabilidad.

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