Upload
others
View
1
Download
0
Embed Size (px)
Citation preview
© 2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP
メモリ製品データブック
ご注意:この日本語版ドキュメントは、参考資料としてご使用の上、最新情報につきましては、必ず英語版オリジナルをご参照いただきますようお願いします。
マイクロチップ テクノロジー社 ( 以下、マイクロチップ社 ) デバイスのコード保護機能に関する以下の点にご留意ください。
• マイクロチップ社製品は、その該当するマイクロチップ社データシートに記載の仕様を満たしています。
• マイクロチップ社では、通常の条件ならびに仕様どおりの方法で使用した場合、マイクロチップ社製品は現在市場に流通している同種製品としては もセキュリティの高い部類に入る製品であると考えております。
• コード保護機能を解除するための不正かつ違法な方法が存在します。マイクロチップ社の確認している範囲では、このような方法のいずれにおいても、マイクロチップ社製品をマイクロチップ社データシートの動作仕様外の方法で使用する必要があります。このような行為は、知的所有権の侵害に該当する可能性が非常に高いと言えます。
• マイクロチップ社は、コードの保全について懸念を抱いているお客様と連携し、対応策に取り組んでいきます。
• マイクロチップ社を含むすべての半導体メーカーの中で、自社のコードのセキュリティを完全に保証できる企業はありません。コード保護機能とは、マイクロチップ社が製品を「解読不能」として保証しているものではありません。
コード保護機能は常に進歩しています。マイクロチップ社では、製品のコード保護機能の改善に継続的に取り組んでいます。マイクロチップ社のコード保護機能を解除しようとする行為は、デジタルミレニアム著作権法に抵触する可能性があります。そのような行為によってソフトウェアまたはその他の著作物に不正なアクセスを受けた場合は、デジタルミレニアム著作権法の定めるところにより損害賠償訴訟を起こす権利があります。
本書に記載されているデバイスアプリケーションなどに関する情報は、ユーザーの便宜のためにのみ提供されているものであり、更新によって無効とされることがあります。アプリケーションと仕様の整合性を保証することは、お客様の責任において行ってください。マイクロチップ社は、明示的、暗黙的、書面、口頭、法定のいずれであるかを問わず、本書に記載されている情報に関して、状態、品質、性能、商品性、特定目的への適合性をはじめとする、いかなる類の表明も保証も行いません。マイクロチップ社は、本書の情報およびその使用に起因する一切の責任を否認します。マイクロチップ社デバイスを生命維持および / または保安のアプリケーションに使用することはデバイス購入者の全責任において行うものとし、デバイス購入者は、デバイスの使用に起因するすべての損害、請求、訴訟、および出費に関してマイクロチップ社を弁護、免責し、同社に不利益が及ばないようにすることに同意するものとします。暗黙的あるいは明示的を問わず、マイクロチップ社が知的財産権を保有しているライセンスは一切譲渡されません。
DS00157E_JP - ページ ii
商標
Microchip の名前付きロゴ、Microchip ロゴ、Accuron、dsPIC、KEELOQ、KEELOQ ロゴ、microID、MPLAB、PIC、PICmicro、PICSTART、PRO MATE、rfPIC、SmartShunt は、米国およびその他の国における Microchip Technology Incorporated の登録商標です。
AmpLab、FilterLab、Linear Active Thermistor、Migratable Memory、MXDEV、MXLAB、SEEVAL、SmartSensor、The Embedded Control Solutions Company は、米国における Microchip Technology Incorporated の登録商標です。
Analog-for-the-Digital Age、Application Maestro、CodeGuard、dsPICDEM、dsPICDEM.net、dsPICworks、dsSPEAK、ECAN、ECONOMONITOR、FanSense、FlexROM、fuzzyLAB、In-Circuit Serial Programming、ICSP、ICEPIC、Mindi、MiWi、MPASM、MPLAB Certified ロゴ、MPLIB、MPLINK、PICkit、PICDEM、PICDEM.net、PICLAB、PICtail、PowerCal、PowerInfo、PowerMate、PowerTool、Real ICE、rfLAB、Select Mode、Smart Serial、SmartTel、Total Endurance、UNI/O、WiperLock、ZENA、は米国およびその他の国におけるMicrochip Technology Incorporated の商標です。
SQTP は米国における Microchip Technology Incorporatedのサービスマークです。
その他、本書に記載されている商標は、各社に帰属します。
© 2007, Microchip Technology Incorporated, Printed in the U.S.A., All Rights Reserved.
再生紙を使用しています。
© 2007 Microchip Technology Inc.
マイクロチップ社では、Chandler および Tempe ( アリゾナ州 )、Gresham ( オレゴン州 ) の本部、設計部およびウエハ製造工場そしてカリフォルニア州とインドのデザインセンターが ISO/TS-16949:2002認証を取得しています。マイクロチップ社の品質システムプロセスおよび手順は、PIC® MCU および dsPIC® DSC、KEELOQ® コードホッピングデバイス、シリアル EEPROM、マイクロペリフェラル、不揮発性メモリ、アナログ製品に採用されています。また、マイクロチップ社の開発システムの設計および製造に関する品質システムは、ISO 9001:2000 の認証を受けています。
ページ
目次
セクション 1 MICROCHIP TECHNOLOGY INC. はじめに
はじめに .......................................................................................................................................1-1
セクション 2 シリアル EEPROM 製品選択ガイドおよび相互参照
シリアル EEPROM 製品選択ガイド .........................................................................................2-1他社製品のナンバリング ガイド ..............................................................................................2-9
セクション 3 製品ファミリ データ シート
I2C™ シリアル EEPROM ファミリ データ シート .................................................................3-11K ~ 16K Microwire 互換シリアル EEPROM .......................................................................3-31SPI シリアル EEPROM ファミリ データシート ...................................................................3-57特定の製品について .................................................................................................................3-89
セクション 4 アプリケーション ノート
マイクロチップ社製 I2C™ シリアル EEPROM デバイスの使用例 ......................................4-1マイクロチップ社製 Microwire シリアル EEPROM デバイスの使用例 ..............................4-9マイクロチップ社製 SPI シリアル EEPROM デバイスの使用例 .......................................4-13
セクション 5 パッケージ
パッケージ外形図 .......................................................................................................................5-1製品のテープ&リール仕様 .....................................................................................................5-11はんだリフロー工程における推奨事項 .................................................................................5-19マイクロチップ社のダイ / ウェハー サポート .....................................................................5-23
セクション 6 開発ツール
Total Endurance™ ソフトウェア モデル ....................................................................................6-1SEEVAL® 32 シリアル EEPROM 設計者用キット .................................................................6-2
© 2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ iii
DS00157E_JP - ページ iv © 2007 Microchip Technology Inc.
1はじめに
1
セクション 1MICROCHIP TECHNOLOGY INC.
はじめに
はじめに .....................................................................................................................................................................1-1
©2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ 1-i
DS00157E_JP - ページ1-ii ©2007 Microchip Technology Inc.
1はじめに
1
MICROCHIP TECHNOLOGY INC.
はじめに
1.0 はじめに
マイクロチップ テクノロジー社は、マイクロコントローラ、アナログおよびインターフェース半導体製品、そしてシリアル不揮発性メモリのメーカーとして世界の市場をリードしています。米国アリゾナ州チャンドラーに本拠を置くマイクロチップ社は、アリゾナ州テンピとオレゴン州グレシャムに自社のウェハー製造工場を、タイに自社の組立兼テスト工場を所有しています。半導体業界で も堅実で安定した業績を挙げている企業の 1 つであるマイクロチップ社は、以下のような幅広い製品ポートフォリオを提供し、組み込み制御市場のニーズに対応しています。
• 8 ビット PIC® マイクロコントローラ
• 16 ビット PIC® マイクロコントローラおよびdsPIC® デジタル シグナル コントローラ
• LDO、POR、電圧リファレンス、ADC、DAC、オペアンプ、コンパレータ、PGA、サーマル マネージメント、電力マネージメント ソリューションなどの全アナログ製品
• CAN、IRDA® 標準、LIN、およびシリアル対応のインターフェース製品
• 使用頻度の高い 3 つのバス (I2C™、Microwire、および SPI) すべてに互換性のある高性能な特殊シリアル EEPROM デバイスおよび標準シリアルEEPROM デバイス
• セキュリティ デバイス (KEELOQ® 製品 )マイクロチップ社製品の MAPS をご参照いただき、マイクロチップ社の全製品ラインアップをご覧ください。当資料は、マイクロチップ社のウェブ サイトからダウンロードできます。
1.1 マニュアル概要
シリアル EEPROM 製品の要件を、I2C™、Microwire、そして SPI の 3 つのバスタイプ別に 3 つのファミリデータ シートに記載しています。データ シートはすべて印刷時点で 新のもので、現在入手可能な製品を掲載しています。ここに記載されている情報は予告なく変更されることがあるため、設計を 終決定する前に 新のデータ シートのダウンロードを推奨します。 寄りのマイクロチップ社営業所または販売代理店にお問い合わせいただくか、www.microchip.com/Memory をご参照の上、 新の変更情報や製品発送状況を確認してください。
バスはすべて事実上の業界標準であるI2C、Microwire、および SPI と互換性があります。マイクロチップ社のデバイスは他社のデバイスの一時的な代替品として使用できるものが多数あります。また新設計デバイスについては、マイクロチップ社の機能により、一般的なデバイスより小型化、低消費電力、そしてバス速度の高速化が実現できます。
マニュアルの冒頭に、次の 2 つのセクションをご用意しています。
• シリアル EEPROM 製品選択ガイド – 比較選択をサポートする重要な AC/DC パラメータおよびパッケージ オプションと、マイクロチップ社が提供するシリアル EEPROM 全製品を掲載しています。製品選択ガイドに記載されている各デバイスについては、本書内にデータ シートが提供されていますが、 新の情報は、マイクロチップ社のウェブ サイト www.microchip.com でご確認ください。
• 他社製品のナンバリング ガイド – 本ガイドは、多数のデータ シートから特定の製品についての記述を検索しやすいよう、シリアル EEPROMメーカー数社の基本的な製品のナンバリング方式を紹介します。各メーカーの製品番号には温度、パッケージ、電圧などのパラメータにより独自のコードが使用されているため、マイクロチップ社製品の中から代替品を決定する際に非常に便利です。他社のデバイスのパラメータをもとに、マイクロチップ社の MAPS ( マイクロチップ アドバンスト パーツ セレクタ ) ツールを使用して、 適なマイクロチップ社デバイスを選択できます。MAPS は www.microchip.com/MAPS からダウンロードできます。
1.2 主要 EEPROM パラメータ
I2C EEPROM の 24AAXX ファミリ製品は、128 ビット~ 1M ビットまでの全容量範囲で 1.7V ~ 5.5V までのより広範な動作電圧から選択できるため、低い動作電圧のニーズにもお答えし、ますます増え続けるバッテリ駆動システムをサポートしています。高速の 24FCXX ファミリ製品は、1.8V ~ 2.5V までの電圧で 400 kHz、2.5V 以上の電圧で 1 MHz の動作要件を満たすことができます。
©2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ1-1
MICROCHIP TECHNOLOGY INC.
SPI EEPROM の 25LCXX ファミリ製品は、1K ビット~ 大 1M ビットまでの容量範囲全体で、より高速な動作速度を実現できるようになりました。256Kビットまでの容量は 10 MHz、512K ビットおよび1M ビットのデバイスについては 20 MHz の速度を実現します。さらに、EEPROM/ フラッシュ デバイスとして 512K および 1M ビット デバイスが発売されました。これらのデバイスは、高耐久性、幅広い電圧範囲、およびバイト / ページ オペレーションに強力な EEPROM として設計され、標準フラッシュコマンドおよびセクタ動作にも対応します。1.3 パッケージ : RoHS 準拠
マイクロチップ社の EEPROM のパッケージングは、自社工場またはサブコントラクタで行います。パッケージングを社内、社外のいずれで作業したものであるかを問わず、デバイスはすべて出荷前にマイクロチップ社の自社工場で再検査されます。 マイクロチップ社は、以下のようなシリアルEEPROM 用超小型パッケージに 適です。
• 8 ピン SOIC – 大 1M ビット
• 8 ピン MSOP – 大 256K ビット
• 8 ピン TSSOP – 大 256K ビット
• 5 ピン SOT23 – 大 16K ビット
• 6 ピン SOT23 – 大 16K ビット
• 8 ピン 5x6 DFN – 大 1M ビット
• 8 ピン 2x3 DFN – 大 64K ビット
• ダイおよびウェハー パッケージ – 全容量
全製品とも鉛フリー加工が施され、RoHS に準拠しています。厳密な検査および製造環境により、高温のはんだ付け性および耐湿性レベルが確保され、ウィスカーの発生を抑え、鉛フリー パッケージファミリの信頼性を維持しています。
1.4 品質
マイクロチップ社は、世界 高レベルのイールドと製造工程、および SPC ( 統計的工程管理 ) 手法の実践を誇る、継続的改善を遂行する工場で、世界 高品質のシリアル EEPROM を提供しています。出検品質レベルは、毎年出荷されてきた約 10 億個のシリアル EEPROM でほぼ 0 ppm です。
シリアル EEPROM には次の 3 回のテストがあります。1 回目はウェハー工程で、ウェハー上の個々のダイに対して AC/DC テストをデータ シートのパラメータすべてについて 100%実施します。このテスト終了時に、ダイはそれぞれメモリ セルごとにデータをプログラムされ、その後メモリ データ リテンションを補償するため 5 時間 250°C でベークします。ベーク後、AC/DC データ シートのパラメータについて、また酸化物の品質確認と初期不良を防ぐためデータ アレイの特殊テストなどを含め、各ウェハー上のダイがそれぞれ再テストされます。 後にパッケージング後、各デバイスは組み立て関連の問題のスクリーニングとして、ファイナル ファンクション テストを行います。
終テスト後、品質サンプルで信頼性を継続的に検証します。検査結果は、毎年正式な報告書としてwww.microchip.com で入手できます。
マイクロチップ社にとって品質は二義的な問題ではなく、自社の文化、システム、そして製品に不可欠な実践的のビジネス モデルです。
1.5 開発ツール
マイクロチップ社は業界 高水準を誇る次のシリアル EEPROM ツールを提供しています。
• SEEVAL® 32 設計者用キット – 全マイクロチップ社シリアル EEPROM 製品に対応する多機能で使用しやすいプログラマ / データ ビューアです。このツールは価格がリーズナブルで、製品化を短縮できます。このツールは、セットアップが簡単で、箱から取り出してすぐ使用できます。詳細は、本マニュアルの開発ツールの項をご覧ください。
• Total Endurance™ ソフトウェア – 特定のアプリケーションで使用する特定のシリアル EEPROMの消去 / 書き込み耐久性を予測する強力な数学モデルです。いずれのメーカーのシリアルEEPROM でも、一定の消去 / 書き込みサイクルを重ねると、ビット障害が発生します。マイクロチップ社のシリアル EEPROM の耐久性は世界
高クラスで、Total Endurance ソフトウェアは、デバイスの寿命をモデル化し予測する唯一のツールです。このソフトウェア モデリング ツールを使用すると、トレードオフ分析が容易にできるため堅牢性の高い設計に役立ちます。
耐久性について論じる場合には常に、耐久性を表す数字が何を意味するのかを理解し、そのデバイスが特定のアプリケーションでどのように動作するのかを予測するために、電圧、温度、半導体製造工程、セル設計、アレイ サイズ、1サイクル当たりのバイト数、そして 1 日当たりのサイクル数というパラメータを含めて考える必要があります。Total Endurance ソフトウェアでは、これらの各パラメータを入力し、FIT レートあるいは時間またはサイクル数に対するMTBF を出力できます。www.microchip.com で無料ダウンロードしてください。
1.6 E コマース
マイクロチップ社のEEPROM製品は、マイクロチップ社営業所または販売代理店、またはマイクロチップ社の E コマース サイト www.microchipDirect.comからも購入できます。また無償サンプルは、マイクロチップ社のメインウェブ サイトからお申し込みいただき、お届けいたします。無償サンプルのお申し込みは、「Sample ( サンプル )」ボタンをクリックするだけです。また「Buy Online ( オンラインで購入 )」ボタンをクリックし、クレジットカードを使用してシリアル EEPROM 製品を購入できます。
DS00157E_JP - ページ 1-2 ©2007 Microchip Technology Inc.
製品選択
および
相互参照
2セクション 2
シリアル EEPROM 製品選択ガイドおよび相互参照
シリアル EEPROM 製品選択ガイド .......................................................................................................................2-1他社製品のナンバリング ガイド ............................................................................................................................2-9
©2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ 2-i
DS00157E_JP - ページ2-ii ©2007 Microchip Technology Inc.
©2007 M
icrochip Technology Inc.D
S00157E
_JP -ペ
ージ
2-1
製
相 2
シリアル
EEPRO
MI2C™ 互換製品
Device VCCRange
WriteProtect
Page Size
Max Clock
WriteCycle Cascade Endurance Temp
Grade Packages DataSheet
128-bit I2C compatible24 DS2117824 DS2117824 DS211781K24 DS2171124 DS2171124 DS2120124 DS2180924 DS2180924 DS2116024 DS211612K24 DS2170924 DS2170924 DS2168224 DS2120224 DS2116624 DS2116624 DS2121024 DS2121024 DS2121024 DS21210
シリアル
EEPRO
M製品選択ガイド
P = C = 2x3 mm DFN一部
I2C
品選択および互参照
AA00 1.8-5.5 No N/A 400 kHz 4 ms No 1,000,000 I P, SN, ST, OT, MCLC00 2.5-5.5 No N/A 400 kHz 4 ms No 1,000,000 I P, SN, ST, OT, MCC00 4.5-5.5 No N/A 400 kHz 4 ms No 1,000,000 I, E P, SN, ST, OT, MCbit I2C compatible
AA01 1.8-5.5 Yes 8 bytes 400 kHz 5 ms No 1,000,000 I P, SN, ST, MS, OT, MCLC01B 2.5-5.5 Yes 8 bytes 400 kHz 5 ms No 1,000,000 I, E P, SN, ST, MS, OT, MCC01C 4.5-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 1 ms 8 1,000,000 I, E P, SN, ST, MS, MCAA014 1.8-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 10 ms 8 1,000,000 I P, SN, ST, MS, MCLC014 2.5-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 10 ms 8 1,000,000 I P, SN, ST, MS, MCLC21A 2.5-5.5 No 8 bytes 400 kHz 10 ms No 1,000,000 I P, SNLCS21A 2.5-5.5 Yes 8 bytes 400 kHz 10 ms No 1,000,000 I P, SNbit I2C compatible
AA02 1.8-5.5 Yes 8 bytes 400 kHz 5 ms No 1,000,000 I P, SN, ST, MS, OT, MCLC02B 2.5-5.5 Yes 8 bytes 400 kHz 5 ms No 1,000,000 I, E P, SN, ST, MS, OT, MCLCS22A 2.5-5.5 Yes 8 bytes 400 kHz 10 ms No 1,000,000 I P, SNC02C 4.5-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 1 ms 8 1,000,000 I, E P, SN, ST, MS, MCLCS52 2.5-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms 8 1,000,000 I P, SN, ST, MS, MCAA52 1.8-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms 8 1,000,000 I P, SN, ST, MS, MCAA024 1.8-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 10 ms 8 1,000,000 I P, SN, ST, MS, MCLC024 2.5-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 10 ms 8 1,000,000 I, E P, SN, ST, MS, MCAA025 1.8-5.5 No 16 bytes 400 kHz 10 ms 8 1,000,000 I P, SN, ST, MS, MCLC025 2.5-5.5 No 16 bytes 400 kHz 10 ms 8 1,000,000 I, E P, SN, ST, MS, MC
8 PDIP、SN = 150 Mil SOIC、SM = 207 Mil SOIC、ST = 8 TSSOP、MS = 8 MSOP、OT = SOT-23、MF = 6x5 mm DFN、ST14 = 14 TSSOP、Mを除き、デバイスはダイおよびウェハーでも購入できます。詳細は、マイクロチップ社営業所にお問い合わせください。
は Philips Corporation の登録商標です。
シリ
アル
EEPRO
M
DS
00157E_JP
-ページ
2-2©
2007 Microchip Technology Inc.
Packages DataSheet
P, SN, ST, MS, OT, MC DS21708P, SN, ST, MS, OT, MC DS21708
P, SN, ST, MS, OT, MC DS21710P, SN, ST, SM, OT, MC DS21710
P, SN, ST, MS, OT, MC DS21703P, SN, ST, MS, OT, MC DS21703
P, SN, ST, MS, MC DS21713P, SN, ST, MS, MC DS21713
P, SN, ST, MS, MC DS21189P, SN, ST, MS, MC DS21189
P, SM DS21073P, SM DS21073P, SM DS21073
P, SN, ST, MS, MF DS21191P, SN, ST, MS, MF DS21191P, SN, ST, MS, MF DS21191
P, SN, ST, MS, MF DS21203P, SN, ST, MS, MF DS21203P, SN, ST, MS, MF DS21203
I2C 互換製品
Device VCCRange
WriteProtect
Page Size
Max Clock
WriteCycle Cascade Endurance Temp
Grade
4Kbit I2C compatible24AA04 1.8-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms No 1,000,000 I24LC04B 2.5-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms No 1,000,000 I, E8Kbit I2C compatible24AA08 1.8-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms No 1,000,000 I24LC08B 2.5-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms No 1,000,000 I, E16Kbit I2C compatible24AA16 1.8-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms No 1,000,000 I24LC16B 2.5-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms No 1,000,000 I, E32Kbit I2C compatible24AA32A 1.8-5.5 Yes 32 bytes 400 kHz 5 ms 8 1,000,000 I24LC32A 2.5-5.5 Yes 32 bytes 400 kHz 5 ms 8 1,000,000 I, E64Kbit I2C compatible24AA64 1.8-5.5 Yes 32 bytes 400 kHz 5 ms 8 1,000,000 I24LC64 2.5-5.5 Yes 32 bytes 400 kHz 5 ms 8 1,000,000 I, E24AA65 1.8-5.5 Yes 64 bytes 400 kHz 2 ms 8 1M/10M O24LC65 2.5-5.5 Yes 64 bytes 400 kHz 2 ms 8 1M/10M I24C65 4.5-5.5 Yes 64 bytes 400 kHz 2 ms 8 1M/10M I128Kbit I2C compatible24AA128 1.8-5.5 Yes 64 bytes 400 kHz 5 ms 8 1,000,000 I24LC128 2.5-5.5 Yes 64 bytes 400 kHz 5 ms 8 1,000,000 I, E24FC128 1.8-5.5 Yes 64 bytes 1 MHz 5 ms 8 1,000,000 I256Kbit I2C compatible24AA256 1.8-5.5 Yes 64 bytes 400 kHz 5 ms 8 1,000,000 I24LC256 2.5-5.5 Yes 64 bytes 400 kHz 5 ms 8 1,000,000 I, E24FC256 1.8-5.5 Yes 64 bytes 1 MHz 5 ms 8 1,000,000 I
©2007 M
icrochip Technology Inc.D
S00157E
_JP -ペ
ージ
2-3
シリ
アル
EEPRO
M製
相 2
5124 , SM, ST14, MF DS2175424 , SM, ST14, MF DS2175424 , SM, ST14, MF DS2175424 P, SM DS2167324 P, SM DS2167324 P, SM DS21673
I2
Packages DataSheet
Mi
es DataSheet
1K93 , OT, MC DS2174993 , OT, MC DS2174993 , OT, MC DS2174993 , OT, MC DS2174993 , OT, MC DS2174993 , OT, MC DS2174993 S, MC DS2174993 S, MC DS2174993 S, MC DS217492K93 , OT, MC DS2179493 , OT, MC DS21794P MC = 2x3 mm DFN一
品選択および互参照
2Kbit I2C compatibleAA512 1.8-5.5 Yes 128 bytes 400 kHz 5 ms 8 1,000,000 I PLC512 2.5-5.5 Yes 128 bytes 400 kHz 5 ms 8 1,000,000 I, E PFC512 2.5-5.5 Yes 128 bytes 1 MHz 5 ms 8 1,000,000 I PAA515 1.8-5.5 Yes 64 bytes 400 kHz 5 ms 4 1,000,000 ILC515 2.5-5.5 Yes 64 bytes 400 kHz 5 ms 4 1,000,000 IFC515 2.5-5.5 Yes 64 bytes 1 MHz 5 ms 4 1,000,000 I
C 互換製品
Device VCCRange
WriteProtect
Page Size
Max Clock
WriteCycle Cascade Endurance Temp
Grade
crowire 互換製品
Device VCC Range
ORGPin
WordSize
Max Clock
WriteCycle Endurance Temp
Grade Packag
bit Microwire compatibleAA46A 1.8-5.5 No 8-bit 2 MHz 6 ms 1,000,000 I P, SN, ST, MSAA46B 1.8-5.5 No 16-bit 2 MHz 6 ms 1,000,000 I P, SN, ST, MSLC46A 2.5-5.5 No 8-bit 2 MHz 6 ms 1,000,000 I, E P, SN, ST, MSLC46B 2.5-5.5 No 16-bit 2 MHz 6 ms 1,000,000 I, E P, SN, ST, MSC46A 4.5-5.5 No 8-bit 2 MHz 2 ms 1,000,000 I, E P, SN, ST, MSC46B 4.5-5.5 No 16-bit 2 MHz 2 ms 1,000,000 I, E P, SN, ST, MSAA46C 1.8-5.5 Yes 8- or 16-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I P, SN, ST, MLC46C 2.5-5.5 Yes 8- or 16-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I, E P, SN, ST, MC46C 4.5-5.5 Yes 8- or 16-bit 3 MHz 2 ms 1,000,000 I, E P, SN, ST, Mbit Microwire compatible
AA56A 1.8-5.5 No 8-bit 2 MHz 6 ms 1,000,000 I P, SN, ST, MSAA56B 1.8-5.5 No 16-bit 2 MHz 6 ms 1,000,000 I P, SN, ST, MS
= 8 PDIP、SN = 150 Mil SOIC、SM = 207 Mil SOIC、ST = 8 TSSOP、MS = 8 MSOP、OT = SOT-23、MF = 6x5 mm DFN、ST14 = 14 TSSOP、部を除き、デバイスはダイおよびウェハーでも購入できます。詳細は、マイクロチップ社営業所にお問い合わせください。
シリ
アル
EEPRO
M
DS
00157E_JP
-ページ
2-4©
2007 Microchip Technology Inc.
, MS, OT, MC DS21794, MS, OT, MC DS21794, MS, OT, MC DS21794, MS, OT, MC DS21794ST, MS, MC DS21794ST, MS, MC DS21794ST, MS, MC DS21794
, MS, OT, MC DS21795, MS, OT, MC DS21795, MS, OT, MC DS21795, MS, OT, MC DS21795, MS, OT, MC DS21795, MS, OT, MC DS21795ST, MS, MC DS21795ST, MS, MC DS21795ST, MS, MC DS21795
OT DS21796OT DS21796OT DS21796OT DS21796OT DS21796OT DS21796
ST, MS, MC DS21796ST, MS, MC DS21796ST, MS, MC DS21796
ckages DataSheet
2Kbit Microwire compatible (continued)93LC56A 2.5-5.5 No 8-bit 2 MHz 6 ms 1,000,000 I, E P, SN, ST93LC56B 2.5-5.5 No 16-bit 2 MHz 6 ms 1,000,000 I, E P, SN, ST93C56A 4.5-5.5 No 8-bit 2 MHz 2 ms 1,000,000 I, E P, SN, ST93C56B 4.5-5.5 No 16-bit 2 MHz 2 ms 1,000,000 I, E P, SN, ST93AA56C 1.8-5.5 Yes 8- or 16-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I P, SN, 93LC56C 2.5-5.5 Yes 8- or 16-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I, E P, SN, 93C56C 4.5-5.5 Yes 8- or 16-bit 3 MHz 2 ms 1,000,000 I, E P, SN, 4Kbit Microwire compatible93AA66A 1.8-5.5 No 8-bit 2 MHz 6 ms 1,000,000 I P, SN, ST93AA66B 1.8-5.5 No 16-bit 2 MHz 6 ms 1,000,000 I P, SN, ST93LC66A 2.5-5.5 No 8-bit 2 MHz 6 ms 1,000,000 I, E P, SN, ST93LC66B 2.5-5.5 No 16-bit 2 MHz 6 ms 1,000,000 I, E P, SN, ST93C66A 4.5-5.5 No 8-bit 2 MHz 2 ms 1,000,000 I, E P, SN, ST93C66B 4.5-5.5 No 16-bit 2 MHz 2 ms 1,000,000 I, E P, SN, ST93AA66C 1.8-5.5 Yes 8- or 16-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I P, SN, 93LC66C 2.5-5.5 Yes 8- or 16-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I, E P, SN, 93C66C 4.5-5.5 Yes 8- or 16-bit 3 MHz 2 ms 1,000,000 I, E P, SN, 8Kbit Microwire compatible93AA76A 1.8-5.5 No 8-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I93AA76B 1.8-5.5 No 16-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I93LC76A 2.5-5.5 No 8-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I, E93LC76B 2.5-5.5 No 16-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I, E93C76A 4.5-5.5 No 8-bit 3 MHz 2 ms 1,000,000 I, E93C76B 4.5-5.5 No 16-bit 3 MHz 2 ms 1,000,000 I, E93AA76C 1.8-5.5 Yes 8- or 16-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I P, SN, 93LC76C 2.5-5.5 Yes 8- or 16-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I, E P, SN, 93C76C 4.5-5.5 Yes 8- or 16-bit 3 MHz 2 ms 1,000,000 I, E P, SN,
Microwire 互換製品
Device VCC Range
ORGPin
WordSize
Max Clock
WriteCycle Endurance Temp
Grade Pa
©2007 M
icrochip Technology Inc.D
S00157E
_JP -ペ
ージ
2-5
シリ
アル
EEPRO
M製
相 2
1693 DS2179793 DS2179793 DS2179793 DS2179793 DS2179793 DS2179793 S, MC DS2179793 S, MC DS21797
S
ges DataSheet
1K25 ST, MC DS2183225 ST, MC DS218322K25 ST, MC DS2183325 ST, MC DS218334K25 ST, MC DS2182725 ST, MC DS21827
Mi
es DataSheet
品選択および互参照
Kbit Microwire compatibleAA86A 1.8-5.5 No 8-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I OTAA86B 1.8-5.5 No 16-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I OTLC86A 2.5-5.5 No 8-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I, E OTLC86B 2.5-5.5 No 16-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I, E OTC86A 4.5-5.5 No 8-bit 3 MHz 2 ms 1,000,000 I, E OTC86B 4.5-5.5 No 16-bit 3 MHz 2 ms 1,000,000 I, E OTAA86C 1.8-5.5 Yes 8- or 16-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I P, SN, ST, MLC86C 2.5-5.5 Yes 8- or 16-bit 3 MHz 6 ms 1,000,000 I, E P, SN, ST, M
PI 互換製品
Device VCCRange
WriteProtect
PageSize
Max Clock
WriteCycle Endurance Temp
Grade Packa
bit SPI compatibleAA010A 1.8-5.5 Yes 16 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I P, MS, SN,LC010A 2.5-5.5 Yes 16 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I, E P, MS, SN,bit SPI compatible
AA020A 1.8-5.5 Yes 16 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I P, MS, SN,LC020A 2.5-5.5 Yes 16 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I, E P, MS, SN,bit SPI compatible
AA040A 1.8-5.5 Yes 16 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I P, MS, SN,LC040A 2.5-5.5 Yes 16 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I, E P, MS, SN,
crowire 互換製品
Device VCC Range
ORGPin
WordSize
Max Clock
WriteCycle Endurance Temp
Grade Packag
シリ
アル
EEPRO
M
DS
00157E_JP
-ページ
2-6©
2007 Microchip Technology Inc.
, ST, MS DS21808, ST, MS DS21808, ST, MS DS21808, ST, MS DS21808
, ST, MS DS21807, ST, MS DS21807, ST, MS DS21807, ST, MS DS21807
S, SN, ST DS21828S, SN, ST DS21828
S, SN, ST DS21830S, SN, ST DS21830
, ST, MF DS21831, ST, MF DS21831
, ST, MF DS21822, ST, MF DS21822
N, MF DS22021N, MF DS22021
ckages DataSheet
8Kbit SPI compatible25AA080A 1.8-5.5 Yes 16 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I P, SN25AA080B 1.8-5.5 Yes 32 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I P, SN25LC080A 2.5-5.5 Yes 16 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I, E P, SN25LC080B 2.5-5.5 Yes 32 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I, E P, SN16Kbit SPI compatible25AA160A 1.8-5.5 Yes 16 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I P, SN25AA160B 1.8-5.5 Yes 32 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I P, SN25LC160A 2.5-5.5 Yes 16 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I, E P, SN25LC160B 2.5-5.5 Yes 32 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I, E P, SN32Kbit SPI compatible25AA320A 1.8-5.5 Yes 32 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I P, M25LC320A 2.5-5.5 Yes 32 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I, E P, M64Kbit SPI compatible25AA640A 1.8-5.5 Yes 32 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I P, M25LC640A 2.5-5.5 Yes 32 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I, E P, M128Kbit SPI compatible25AA128 1.8-5.5 Yes 64 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I P, SN25LC128 2.5-5.5 Yes 64 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I, E P, SN256Kbit SPI compatible25AA256 1.8-5.5 Yes 64 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I P, SN25LC256 2.5-5.5 Yes 64 byte 10 MHz 5 ms 1,000,000 I, E P, SN512Kbit SPI compatible25AA512 1.8-5.5 Yes 128 byte 20 MHz 5 ms 1,000,000 I P, S25LC512 2.5-5.5 Yes 128 byte 20 MHz 5 ms 1,000,000 I, E P, S
SPI 互換製品
Device VCCRange
WriteProtect
PageSize
Max Clock
WriteCycle Endurance Temp
Grade Pa
©2007 M
icrochip Technology Inc.D
S00157E
_JP -ペ
ージ
2-7
シリ
アル
EEPRO
M製
相 2プ
1 25 MF DS2183625 MF DS21836
S
ges DataSheet
Packages Data Sheet
Se24 , SN, ST, MS, MC DS2116624 , SN, ST, MS, MC DS2116624 , SN, ST, MS, MC DS2121024 , SN, ST, MS, MC DS21210Se24 P, SN DS2116024 P, SN DS2116124 P, SN DS2168234 , SN, ST, MS, MC DS2202934 , SN, ST, MS, MC DS2202934 , SN, ST, MS, MC DS22029Se24 P, SN, ST, OT, MC DS2117824 P, SN, ST, OT, MC DS2117824 P, SN, ST, OT, MC DS21178
P 一
品選択および互参照
ラグ&プレイ ® および ID 製品
Mbit SPI compatibleAA1024 1.8-5.5 Yes 256 byte 20 MHz 5 ms 1,000,000 I P, SM,LC1024 2.5-5.5 Yes 256 byte 20 MHz 5 ms 1,000, 000 I, E P, SM,
PI 互換製品
Device VCCRange
WriteProtect
PageSize
Max Clock
WriteCycle Endurance Temp
Grade Packa
Device Density VCCRange
WriteProtect
PageSize
MaxClock
WriteCycle Type Endurance Temp
Grade
rial EEPROMs for DRAM DIMM modulesLCS52 2Kbit 2.5-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms DDR 1,000,000 I PAA52 2Kbit 1.8-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms DDR 1,000,000 I PLC024 2Kbit 2.5-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms DDR 1,000,000 I, E PLC025 2Kbit 2.5-5.5 No 16 bytes 400 kHz 5 ms DDR 1,000,000 I, E Prial EEPROMs for VESA® monitors, projectors and flat panelsLC21A 1Kbit 2.5-5.5 No 8 bytes 400 kHz 10 ms — 1,000,000 ILCS21A 1Kbit 2.5-5.5 Yes 8 bytes 400 kHz 10 ms — 1,000,000 ILCS22A 2Kbit 2.5-5.5 Yes 8 bytes 400 kHz 10 ms — 1,000,000 ILC02 2Kbit 2.5-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms DDR2/3 1,000,000 I/E PAA02 2Kbit 1.7-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms DDR2/3 1,000,000 I PLV02 2Kbit 1.5-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms DDR2/3 1,000,000 I Prial EEPROMs for other ID applicationsAA00 128 bit 1.8-5.5 No N/A 400 kHz 4 ms — 1,000,000 ILC00 128 bit 2.5-5.5 No N/A 400 kHz 4 ms — 1,000,000 IC00 128 bit 4.5-5.5 No N/A 400 kHz 4 ms — 1,000,000 I, E
= 8 PDIP、SN = 150 Mil SOIC、SM = 207 Mil SOIC、ST = 8 TSSOP、MS = 8 MSOP、OT = SOT-23、MF = 8 DFN、ST14 = 14 TSSOP部を除き、デバイスはダイおよびウェハーでも購入できます。詳細は、マイクロチップ社営業所にお問い合わせください。
シリ
アル
EEPRO
M
DS
00157E_JP
-ページ
2-8©
2007 Microchip Technology Inc.
Pb-FreeAvailable Data Sheet
N/A DS21748N/A DS21748N/A DS21747N/A DS21747N/A DS21745N/A DS21745N/A DS21746N/A DS21746N/A DS20093N/A DS20093N/A DS21723N/A DS21723N/A DS21716N/A DS21716N/A DS20095N/A DS20095N/A DS20094N/A DS20094N/A DS21785N/A DS21785
スマート カード デバイス
Device VCCRange
WriteProtect
PageSize
MaxClock
WriteCycle Endurance Temp
Grade Packages
Smart-Card devices (meet ISO 7816 bondout)24AA01SC 1.8-5.5 Yes 8 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24LC01SC 2.5-5.5 Yes 8 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24AA02SC 1.8-5.5 Yes 8 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24LC02SC 2.5-5.5 Yes 8 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24AA04SC 1.8-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24LC04SC 2.5-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24AA08SC 1.8-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24LC08SC 2.5-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24AA16SC 1.8-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24LC16SC 2.5-5.5 Yes 16 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24AA32ASC 1.8-5.5 Yes 32 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24LC32ASC 2.5-5.5 Yes 32 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24AA64SC 1.8-5.5 Yes 32 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24LC64SC 2.5-5.5 Yes 32 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24AA128SC 1.8-5.5 Yes 64 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24LC128SC 2.5-5.5 Yes 64 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24AA256SC 1.8-5.5 Yes 64 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24LC256SC 2.5-5.5 Yes 64 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24AA512SC 1.8-5.5 Yes 128 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, S24LC512SC 2.5-5.5 Yes 128 bytes 400 kHz 5 ms 1,000,000 I W, WF, SW = ウェハー、WF = フレーム付きウェハー、S = ワッフル パック入りダイ 1 個
標準の裏面研削厚は 11 mil、15 mil、および未研削 (29 mil) です。
製品選択
および
相互参照
2
シリアル EEPROM他社製品のナンバリング ガイド
他社のデバイスと互換性のあるマイクロチップ社のデバイスを参照するには、www.microchip.com/MAPS から無料で入手できるマイクロチップ社のMAPS ツールが便利です。また、製品名の読み方を説明してありますので、コードや文字列の解読にご活用ください。
©2007 Microchip Technology Inc. DS21621B_JP - ページ 2-9
シリ
アル
EEPRO
M
DS
21621B_JP
-ページ
2-10©
2007 Microchip Technology Inc.
Device Option Bus Density Comment
BR24C01A I2C™ 1 Kbit
BR24C02 I2C 1 Kbit
BR24C04 I2C 4 Kbit
BR24C08A I2C 8 Kbit
BR24C16A I2C 16 Kbit
BR24C32A I2C 32 Kbit
BR25010 SPI 1 Kbit
BR25020 SPI 2 Kbit
BR25040 SPI 4 Kbit
BR25080 SPI 8 Kbit
BR25160 SPI 16 Kbit
BR25320 SPI 32 Kbit
BR25640 SPI 64 Kbit
BR93C46 Microwire 1 Kbit
BR93C56 Microwire 2 Kbit
BR93C66 Microwire 4 Kbit
BR93C76 Microwire 8 Kbit
BR93C87 Microwire 16 Kbit
BR24C32A N- 10 S U- 2.7-
Voltage Range
Temperature andLead Finish
General PackageCode
Secondary PackageCode
Bus Type
Density and DeviceOption
2.7 2.7-5.5V
1.8 1.8-5.5V
U -40°C to 85°C
S SOIC
T TSSOP
N SOIC (JEDEC)(1)
R Rotated pinout
24 I2C™
25 SPI
93 Microwire
See table X
注 1: セカンダリ パッケージ コードの「N」が使用されない場合があります。
ローム社のアドバンテージ シリーズ製品の番号識別方法
( 特別製品およびハイリライアビリティ シリーズ製品は別表を参照 )
©2007 M
icrochip Technology Inc.D
S21621B_JP -
ペー
ジ2-11
シリ
アル
EEPRO
M製品選択および相互参照 2
Device Option Bus Density Comment
BR24C01 I2C™ 1 Kbit
BR24C02 I2C 2 Kbit
BR24C04 I2C 4 Kbit
BR24C08 I2C 8 Kbit
BR24C16 I2C 16 Kbit
BR24C32 I2C 32 Kbit
BR24C64 I2C 64 Kbit
BR95010 SPI 1 Kbit
BR95020 SPI 2 Kbit
BR95040 SPI 4 Kbit
BR95080 SPI 8 Kbit
BR95160 SPI 16 Kbit
BR95320 SPI 32 Kbit
BR95640 SPI 64 Kbit
BR93C46 Microwire 1 Kbit
BR93C56 Microwire 2 Kbit
BR93C66 Microwire 4 Kbit
BR93C76 Microwire 8 Kbit
BR93C87 Microwire 16 Kbit
6 -40°C to 85°C
7 -40°C to 105°C
MN SOIC (JEDEC, 150 mil)
DW TSSOP
DS MSOP
Blank 4.5-5.5V
W 2.5-5.5V
R 1.8-5.5V
T Rotated pinout
Blank Standard pinout
24 I2C™
95 SPI
93 Microwire
See table
BR93C46- T W MN 6 T P
Temperature Range
Package Code
Voltage Range
Pinout
Bus Type
Density and DeviceOption
ローム社の特別製品シリーズ製品の番号識別方法
( アドバンテージおよびハイリライアビリティ シリーズ製品は別表を参照 )
シリ
アル
EEPRO
M
DS
21621B_JP
-ページ
2-12©
2007 Microchip Technology Inc.
Device Option Bus Density Comment
BR24L01A I2C™ 1 Kbit
BR24L02 I2C 2 Kbit
BR24L04 I2C 4 Kbit
BR24L08 I2C 8 Kbit
BR24L16 I2C 16 Kbit 1.7-5.5V
BR24L32 I2C 32 Kbit 1.7-5.5V
BR24L64 I2C 64 Kbit
BR25L010 SPI 1 Kbit
BR25L020 SPI 2 Kbit
BR25L040 SPI 4 Kbit
BR25L080 SPI 8 Kbit
BR25L160 SPI 16 Kbit
BR25L320 SPI 32 Kbit
BR25L640 SPI 64 Kbit
BR93*46 Microwire 1 Kbit
BR93*56 Microwire 2 Kbit
BR93*66 Microwire 4 Kbit
BR93*76 Microwire 8 Kbit
BR93*87 Microwire 16 Kbit
F SOIC (150 mil)
FJ SOIC (150 mil)(1)
FV TSSOP
FVT TSSOP(1)
FVM MSOP(1)
FVJ MSOP
R Rotated pinout
Blank Standard pinout
L 1.8-5.5V, -40°C to 85°C
A 2.5-5.5V, -40°C to 105°C
H 2.7-5.5V, -40°C to 125°C
24 I2C™
25 SPI
93 Microwire
See table
Package Code
Temperature and
Pinout
Bus Type
Density and DeviceOption
注 1: パッケージ サイズが異なります。
Voltage
BR93 L 46 R FJ -W
ローム社のハイリライアビリティ シリーズ製品の番号識別方法
( アドバンテージおよび特別製品シリーズ製品は別表を参照 )
©2007 M
icrochip Technology Inc.D
S21621B_JP -
ペー
ジ2-13
シリ
アル
EEPRO
M製品選択および相互参照 2
Device Option Bus Density Comment
HN58X2402S I2C™ 2 Kbit Full array WP
HN58X2404S I2C 4 Kbit Full array WP
HN58X2408S I2C 8 Kbit Full array WP
HN58X2408 I2C 8 Kbit 1/2 array WP
HN58X2416S I2C 16 Kbit Full array WP
HN58X2416 I2C 16 Kbit 1/2 array WP
HN58X2432S I2C 32 Kbit Full array WP
HN58X2432 I2C 32 Kbit 1/4 array WP
HN58X2464S I2C 64 Kbit Full array WP
HN58X2464 I2C 64 Kbit 1/4 array WP
HN58X24128 I2C 128 Kbit 1/8 array WP, 14-lead TSSOP
HN58X24256 I2C 256 Kbit 1/8 array WP, 14-lead TSSOP
HN58X24512 I2C 512 Kbit Full array WP,200 mil SOIC
HN58W241000 I2C 1 Mbit 2.5-3.6V, 200 mil SOIC
HN58X2502 SPI 2 Kbit
HN58X2504 SPI 4 Kbit
HN58X2508 SPI 8 Kbit
HN58X2516 SPI 16 Kbit
HN58X2532 SPI 32 Kbit
HN58X2564 SPI 64 Kbit
HN58X25128 SPI 128 Kbit 14-lead TSSOP
HN58X25256 SPI 256 Kbit 14-lead TSSOP
HN58X25512 SPI 512 Kbit 14-lead TSSOP, 200 mil SOIC
AG Industrial
Blank Consumer
FP SOIC (150 mil)(3)
T TSSOP (8-lead)(4)
24 I2C™
25 SPI
See table
Option
Package Code
Bus Type
Density and DeviceOption
注 1: 特に指定のない場合、動作電圧範囲は全製品とも 1.8V~ 5.5Vです。
2: 動作温度範囲は全製品とも -40°C ~ 85°C です。
3: HN58X25512、24512、24100 は、200 mil SOIC パッケージです。
4: HN58X25128、15256、225512、24128、24256 は、14 ピンの TSSOPパッケージです。
HN58X2402S FP I AG E
ルネサス製品の番号識別方法
シリ
アル
EEPRO
M
DS
21621B_JP
-ページ
2-14©
2007 Microchip Technology Inc.
Device Option Bus Density Comment
AK6003A I2C™ 2 Kbit
AK6004A I2C 4 Kbit
AK6008A I2C 16 Kbit
AK6010A I2C 32 Kbit -40°C to 70°C
AK6012A I2C 64 Kbit -40°C to 70°C
AK6510C SPI 32 Kbit
AK6512C SPI 64 Kbit
AK6512CA SPI 64 Kbit
AK6514C SPI 128 Kbit
AK6516C SPI 256 Kbit 1.6-5.5V
AK93C41A Microwire 1 Kbit 0.9-3.6V
AK93C45A Microwire 1 Kbit
AK93C45B Microwire 1 Kbit
AK93C45C Microwire 1 Kbit 1.5-5.5V
AK93C51A Microwire 2 Kbit 0.9-3.6V
AK93C55A Microwire 2 Kbit
AK93C55B Microwire 2 Kbit
AK93C55C Microwire 2 Kbit 1.5-5.5V
AK93C61A Microwire 4 Kbit 0.9-3.6V
AK93C65A Microwire 4 Kbit
AK93C65B Microwire 4 Kbit
AK93C65C Microwire 4 Kbit 1.5-5.5V
AK93C75A Microwire 8 Kbit
AK93C75B Microwire 8 Kbit
AK93C85A Microwire 16 Kbit
AK93C95A Microwire 32 Kbit
AK93C10A Microwire 64 Kbit
F SOIC (150 mil)
V, M(3) TSSOP
T, H(4) MSOP
L 3x3 mm DFN
U 2.2x2.2 mm DFN
24 I2C™
25 SPI
93 Microwire
See table
Package Code
Bus Type
Density and DeviceOption
注 1: 特に指定のない場合、動作電圧範囲は全製品とも 1.8V~ 5.5Vです。
2: 特に指定のない場合、動作温度範囲は全製品とも-40°C~85°Cです。
3: TSSOP のパッケージ コードに「M」を使用した場合、標準の TSSOPパッケージの印字よりも文字幅が大きくなります。
4: MSOP のパッケージ コードに「H」を使用した場合、標準の MSOPパッケージの印字よりも文字幅が狭くなります。
AK93C45A F
旭化成製品の番号識別方法
©2007 M
icrochip Technology Inc.D
S21621B_JP -
ペー
ジ2-15
シリ
アル
EEPRO
M製品選択および相互参照 2
Device Option Bus Density Comment
S-24CS16A I2C™ 16 Kbit 2.7-5.5V reads; 1.8-5.5V writes
S-24CS64A I2C 64 Kbit 2.7-5.5V reads; 1.8-5.5V writes
S-93A46A Microwire 1 Kbit
S-93C46B Microwire 1 Kbit 2.7-5.5V reads; 1.8-5.5V writes
S-93L46A Microwire 1 Kbit 注 2S-93A56A Microwire 2 Kbit
S-93C56B Microwire 2 Kbit 2.7-5.5V reads; 1.8-5.5V writes
S-93L56A Microwire 2 Kbit 注 2S-93A66A Microwire 4 Kbit 2.7-5.5V
S-93C66B Microwire 4 Kbit 2.7-5.5V reads; 1.8-5.5V writes
S-93L66A Microwire 4 Kbit 注 2S-93L76A Microwire 8 Kbit 注 2S-93A86A Microwire 16 Kbit
S-93C86B Microwire 16 Kbit 2.7-5.5V reads; 1.8-5.5V writes
D8S1 PDIP
J8T1, J8T2 SOIC (JEDEC, 150 mil)
T8T1, T8T2 TSSOP
Blank or I -40°C to 85°C
H -40°C to 105°C
A -40°C to 125°C
01, 4, or 0
Blank or D Standard pinout
R Rotated pinout
24 I2C™
93 Microwire
See table
S-93A46A D 01 A- J8T2 G
Package Code
Temperature Range
Fixed
Pin Assignment
Bus Type
Density and DeviceOption
注 1: 特に指定のない場合、動作電圧範囲は 2.7V ~ 5.5V です。
2: 読み出しの電圧範囲は 1.6V ~ 5.5V、書き込みおよび消去の電圧範囲は 1.8V ~ 5.5V、WRAL および ERAL を使用した場合の電圧範囲は2.7V ~ 5.5V です。
3: 動作温度範囲は全製品とも -40°C ~ 85°C です。
セイコー製品の番号識別方法
(2 種類の識別方法を使用。次ページを併せて参照のこと )
シリ
アル
EEPRO
M
DS
21621B_JP
-ページ
2-16©
2007 Microchip Technology Inc.
Device Option Bus Density Comment
S-24CS01A I2C™ 1 Kbit
S-24CS02A I2C 2 Kbit
S-24CS04A I2C 4 Kbit
S-24CS08A I2C 8 Kbit
S-93C76A Microwire 8 Kbit
S-24CS08A FJ- TB H- G(3)
Temperature Range
Package Tape
Package Code
Bus Type
Density and DeviceOption
注 1: 読み出しの電圧範囲は全製品とも 1.8V ~ 5.5V、書き込みの電圧範囲は2.7V ~ 5.5V です。
2: 動作温度範囲は全製品とも -40°C ~ 85°C です。
3: 24CS08A では「G」よりも「1G」が使用されています。
Blank -40°C to 85°C
H -40°C to 105°C
Blank PDIP
TB Use for SOIC, TSSOP
DP PDIP
DFJ, FJ SOIC (JEDEC, 150 mil)
FT TSSOP
24 I2C™
93 Microwire
See table
Specification
セイコー製品の番号識別方法
(2 種類の識別方法を使用。前ページを併せて参照のこと )
©2007 M
icrochip Technology Inc.D
S21621B_JP -
ペー
ジ2-17
シリ
アル
EEPRO
M製
相 2
ty Comment
t
t
t 1/2 array WP
t DIMM serial presence detect, 1.7-3.6V
t 1/2 array WP
it Whole array WP, 1.8-3.6V
it Whole array WP, 1.8-3.6V
it Whole array WP, 1.8-3.6V
it 1.8-3.6V
it 1.8-3.6V
it 1.8-3.6V
t -1.8 version is maximum 3.6V; -2.7 max. is 5.5V
it
t x8 or x16
t x16 (no ORG pin)
4HC02B、および 24HC04B の 大電圧は 5.5V です。
N」を使用しない製品もあります。1.7V ~ 3.6V です。
AT
A( 旧
品選択および互参照
Device Option Bus Densi
AT24C01B(1) I2C™ 1 Kbi
AT24C02(1) I2C 2 Kbi
AT24HC02B(1) I2C 2 Kbi
AT34C02C(3) I2C 2 Kbi
AT24HC04B(1) I2C 4 Kbi
AT24C16B I2C 16 Kb
AT24C32C I2C 32 Kb
AT24C64C I2C 64 Kb
AT24C128B I2C 128 Kb
AT24C256B I2C 256 Kb
AT24C512B I2C 512 Kb
AT24C1024B I2C 1 Mbi
AT25512 SPI 512 Kb
AT93C46D Microwire 1 Kbi
AT93C46E Microwire 1 Kbi
注 1: AT24C01B、24C02B、22: 第二パッケージ コード「3: AT34C02C の電圧範囲は
24C02B N- P U 25- T
Packing Medium
Voltage Range
Temperature andLead Finish
General PackageCode
Secondary PackageCode
Bus Type
Density and DeviceOption
T Tape and reel
B Bulk
25 2.5-3.6V (or 2.5-5.5V)(1)
Blank 1.83-3.6V (or 1.8-5.5V)(1)
I -40 to 85°C
E, A -40 to 125°C
H -40 to 85°C, Pb-free (NiPdAu)
P -40 to 125°C, Pb-free (NiPdAu)
J, U -40 to 85°C, Pb-free
Q -40 to 125°C, Pb-free
P PDIP
S SOIC
T TSSOP
TS SOT-23
Y DFN (2x3, 5x3, or 6x5 mm)
C DFN (8x5 mm)
U BGA
W Die
N SOIC (JEDEC, 150 mil)(2)
W SOIJ (EIAJ, 208 mil)
Y6 2x3 mm DFN
Y1 5x3 mm DFN
Y4, Y7 6x5 mm DFN
C1 8x5 mm DFN
U2, U3, U4 BGA
R Rotated pinout
Blank Other package
24 I2C™
25 SPI
93 Microwire
See table
tmel 社のシリアル EEPROM 製品の番号識別方法
製品は別表を参照 )
シリ
アル
EEPRO
M
DS
21621B_JP
-ページ
2-18©
2007 Microchip Technology Inc.
Device Option Bus Density Comment
AT24C01, C11 I2C™ 1 Kbit No WP, no address pins
AT24C01A I2C 1 Kbit Whole array WP, 3 address pins
AT24C02 I2C 2 Kbit Whole array WP
AT24C02A I2C 2 Kbit 1/2 array WP
AT34C02/02B I2C 2 Kbit DIMM serial presence detect
AT24C04 I2C 4 Kbit Whole array WP
AT24C04A I2C 4 Kbit 1/2 array WP
AT24C08 I2C 8 Kbit No WP
AT24C08A I2C 8 Kbit Whole array WP
AT24C16 I2C 16 Kbit 1/2 array WP, no address pins
AT24C16A I2C 16 Kbit Whole array WP, no address pins
AT24C164 I2C 16 Kbit Whole array WP, 3 address pins
AT24C32 I2C 32 Kbit 1/4 array WP
AT24C32A I2C 32 Kbit Whole array WP
AT24C64/64B I2C 64 Kbit 1/4 array WP
AT24C64A I2C 64 Kbit Whole array WP
AT24C128(1)/CS128 I2C 128 Kbit -1.8 version is maximum 3.6V; -2.7 max is 5.5V
AT24C256(1) I2C 256 Kbit -1.8 version is maximum 3.6V; -2.7 max is 5.5V
AT24C512 I2C 512 Kbit -1.8 version is maximum 3.6V; -2.7 max is 5.5V
AT24C1024 I2C 1 Mbit
AT25010/010A SPI 1 Kbit
AT25020/020A SPI 2 Kbit
AT25040/040A SPI 4 Kbit
AT25080/080A SPI 8 Kbit
AT25160/160A SPI 16 Kbit
AT25320/320A SPI 32 Kbit
AT25640/640A SPI 64 Kbit
AT25128/128A SPI 128 Kbit
AT25256/256A SPI 256 Kbit
AT25HP256 SPI 256 Kbit
AT25HP512 SPI 512 Kbit
AT25P1024 SPI 1 Mbit
AT93C46/46D Microwire 1 Kbit
AT93C46A/46C/46E Microwire 1 Kbit x16 only (no ORG pin)
AT93C56/56A 2 Kbit
AT93C66/66A 4 Kbit
AT93C86A Microwire 16 Kbit
AT24C32A N- 10 S U- 2.7 T
Packing Medium
Voltage Range
Temperature andLead Finish
General PackageCode
Secondary PackageCode
Bus Type
Density and DeviceOption
注 1: AT24C128-1.8、AT24CS128-1.8、およびAT24C256-1.8 の電圧範囲は 1.8V ~ 3.6V です。
2: 第二パッケージ コード「N」を使用しない場合もあります。
T Tape and reel
B Bulk
5.0 4.5-5.5V
2.7 2.7-5.5V
1.8 1.8-5.5V (or 1.8-3.6V)(1)
1.7 1.7-3.6V
I -40 to 85°C
E, A -40 to 125°C
J, U -40 to 85°C, Pb-free
H -40 to 85°C, Pb-free (NiPdAu)
Q -40 to 125°C, Pb-free
P PDIP
S SOIC
T TSSOP
TS SOT-23
Y DFN (2x3, 5x3, or 6x5 mm)
C DFN (8x5 mm)
U BGA
W Die
N SOIC (JEDEC, 150 mil)(2)
W SOIJ (EIAJ, 208 mil)
Y1 5x3 DFN
Y4 6x5 DFN
Y6 2x3 DFN
C1 8x5 DFN
U2, U3, U4 BGA
R Rotated pinout
Blank Other package
24 I2C™
25 SPI
93 Microwire
See table
Atmel 社のシリアル EEPROM 旧製品の番号識別方法
( 新製品は別表を参照 )
©2007 M
icrochip Technology Inc.D
S21621B_JP -
ペー
ジ2-19
シリ
アル
EEPRO
M製品選択および相互参照 2
Device Option Bus Density Comment
M24C01 I2C™ 1 Kbit
M24C02 I2C 2 Kbit
M34C02 I2C 2 Kbit DIMM serial presence detect
M34E02 I2C 2 Kbit DIMM serial presence detect
M34F04 I2C 4 Kbit 1/2 array WP
M24C04 I2C 4 Kbit
M24C08 I2C 8 Kbit
M24C16 I2C 16 Kbit
M24C32 I2C 32 Kbit
M24C64 I2C 64 Kbit
M34D64 I2C 64 Kbit 1/4 array write-protect
M24128-B I2C 128 Kbit
M24256-B I2C 128 Kbit
M24512 I2C 512 Kbit
M24M01 I2C 1 Mbit
M95010 SPI 1 Kbit
M95020 SPI 2 Kbit
M95040 SPI 4 Kbit
M95080 SPI 8 Kbit
M95160 SPI 16 Kbit
M95320 SPI 32 Kbit
M95640 SPI 64 Kbit
M95128 SPI 128 Kbit
M95256 SPI 256 Kbit
M95512 SPI 512 Kbit
M95M01 SPI 1 Mbit
M93C46 Microwire 1 Kbit
M93C56 Microwire 2 Kbit
M93C66 Microwire 4 Kbit
M93C76 Microwire 8 Kbit
M93C86 Microwire 16 Kbit
M24C32- R MN 6 T P /B
Process Designator
Packing Medium
Temperature Range
Package Code
Voltage Range
Bus Type
Density and DeviceOption
Lead Finish
(Optional)
G, P Pb-free
Blank SnPb
T Tape and reel
Blank Bulk
1 0 to 70°C
3 -40 to 125°C
5 -20 to 85°C
6 -40 to 85°C
7 -40 to 105°C
BN PDIP
MN SOIC (JEDEC, 150 mil)
MW SOIC (EIAJ, 208 mil)
DW TSSOP
DS MSOP
MB 2x3 mm DFN
Blank 4.5-5.5V
W 2.5-5.5V
L 2.2-5.5V
R 1.8-5.5V
F 1.7-5.5V
24 I2C™
95 SPI
93 Microwire
See table
ST マイクロエレクトロニクス社のシリアル EEPROM 製品の番号識別方法
シリ
アル
EEPRO
M
DS
21621B_JP
-ページ
2-20©
2007 Microchip Technology Inc.
Device Option Bus Density Comment
CAT24C01 I2C™ 1 Kbit
CAT24C02 I2C 2 Kbit Full array WP
CAT34C02 I2C 2 Kbit DIMM serial presence detect; 1.7-5.5V
CAT24C03 I2C 2 Kbit 1/2 array WP
CAT24C04 I2C 4 Kbit Full array WP
CAT24C05 I2C 4 Kbit 1/2 array WP
CAT24C08 I2C 8 Kbit
CAT24C16 I2C 16 Kbit No address pins
CAT24C164 I2C 16 Kbit 3 address pins
CAT24C32 I2C 32 Kbit
CAT24C64 I2C 64 Kbit
CAT24C128 I2C 128 Kbit
CAT24C256 I2C 256 Kbit
CAT25010 SPI 1 Kbit
CAT25020 SPI 2 Kbit
CAT25040 SPI 4 Kbit
CAT25080 SPI 8 Kbit
CAT25160 SPI 16 Kbit
CAT25320 SPI 32 Kbit
CAT25640 SPI 64 Kbit
CAT93C46 Microwire 1 Kb
CAT93C46R Microwire 1 Kb
CAT93C66 Microwire 2 Kb Older die revs follow the “old” part number convention
CAT93C76 Microwire 8 Kb
CAT24C16 L I- G T 3
Packing Medium
Lead Finish
Temperature
Package Code
Bus Type
Density and DeviceOption
Reel Quantity
Range
注 1: 電圧範囲は全製品とも 1.8V ~ 5.5V です。
2: 93 シリーズ製品については、パッケージ コード「W」は代替の回転ピン配列です。「V」は標準のピン配列です。
2 2000/reel
3 3000/reel
T Tape and reel
G NiPdAu
Blank Matte tin
I -40 to 85°C
A, E -40 to 125°C
L PDIP
W2, V SOIC (JEDEC, 150 mil)
X SOIC (EIAJ, 208 mil)
Y TSSOP
Z MSOP
TD SOT-23
HU2 2x2 mm DFN
VP2 2x3 mm DFN
ZD4 3x3 mm DFN
ZD2 3x4.9 mm DFN
24 I2C™
25 SPI
93 Microwire
See table
Catalyst シリアル EEPROM 製品の番号識別方法
( 旧製品は別表を参照 )
©2007 M
icrochip Technology Inc.D
S21621B_JP -
ペー
ジ2-21
シリ
アル
EEPRO
M製
相 2
CA
Bus Density Comment
I2C™ 128 bit
I2C 1 Kbit
I2C 1 Kbit
I2C 1 Kbit No WP
I2C 2 Kbit
I2C 4 Kbit
I2C 8 Kbit
I2C 16 Kbit
I2C 16 Kbit 3 address pins
I2C 16 Kbit 1/2 array WP
I2C 32 Kbit
I2C 32 Kbit 1/4 array WP
I2C 64 Kbit
I2C 64 Kbit
I2C 64 Kbit
I2C 128 Kbit
I2C 256 Kbit
I2C 256 Kbit
SPI 1 Kbit
SPI 2 Kbit
SPI 4 Kbit
SPI 8 Kbit
SPI 16 Kbit
SPI 32 Kbit
SPI 64 Kbit
SPI 128 Kbit
SPI 256 Kbit
Microwire 1 Kbit
Microwire 2 Kbit
Microwire 4 Kbit
Microwire 16 Kbit
囲は 1.8V ~ 5.5V です。
ついては、パッケージ コード「W」は代替の回転」および「S」は標準のピン配列です。
Ca( 新
品選択および互参照
T24WC16 P I- 1.8- G TE13
Lead Finish
Voltage Range
Temperature
Package Code
Bus Type
Density and DeviceOption
Packing Medium
Range
Device Option
CAT24C00(1, 3)
CAT24FC01(3)
CAT24WC01
CAT24C01B(3)
CAT24FC02(3)/WC02
CAT24WC04
CAT24WC08
CAT24WC16(3)
CAT24WC164(3)
CAT24FC17(3)
CAT24FC32(3)/FC32A(3)/WC32
CAT24WC33
CAT24FC64(3)/WC64
CAT24F65(3)/WC65(3)/FC66(3)
CAT24WC66
CAT24WC128/AC128/WC129(3)
CAT24FC256(3)
CAT24WC256/WC257(3)
CAT25C01(3)/C11(3)
CAT25C02(3)/C03(3)
CAT25C04(3)/C05(3)
CAT25C08/C09(3)
CAT25C16/C17(3)
CAT25C32/C33(3)
CAT25C64/C65(3)
CAT25C128
CAT25C256
93HC46(3)
93C56/C57
93C66
93C86
注 1: CAT24C00 の電圧範
2: 93 シリーズ製品にピン配列です。「V
3: 製造中止製品
TE13, T2, T3 Tape and Reel
Blank See package code below
G NiPdAu
3 3.0-5.5V
Blank 2.5-5.5V
1.8 1.8-5.5V
Blank 0 to 70°C
I -40 to 85°C
A -40 to 105°C
E -40 to 125°C
P PDIP
J2, S SOIC (JEDEC, 150 mil)
K SOIC (EIAJ, 208 mil)
U TSSOP
TP SOT-23
R MSOP
SP2 2x3 mm DFN
L, GL PDIP, Pb-free
TB, GTB SOT-23, Pb-free
W2, V, GW, GV SOIC (JEDEC, 150 mil), Pb-free
X, GX SOIC (EIAJ, 208 mil), Pb-free
Y, GY TSSOP, Pb-free
Z, GZ MSOP, Pb-free
VP2 2x3 mm DFN, Pb-free
24 I2C™
25 SPI
93 Microwire
See table
talyst シリアル EEPROM 旧製品の番号識別方法
製品は別表を参照 )
シリアル EEPROM
メモ :DS21621B_JP - ページ 2-22 ©2007 Microchip Technology Inc.
©2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ 3-i
製品ファミリ
データシート
3I2C™ シリアル EEPROM ファミリ データ シート ...............................................................................................3-11K ~ 16K Microwire 互換シリアル EEPROM .....................................................................................................3-31SPI シリアル EEPROM ファミリ データシート .................................................................................................3-57特定の製品について ...............................................................................................................................................3-89
セクション 3製品ファミリ データ シート
I2C は Philips Corporation の登録商標です。
Smart Serial はマイクロチップ テクノロジー社の登録商標です。
DS00157E_JP - ページ 3-ii ©2007 Microchip Technology Inc.
製品ファミリ
データシート
3
24AA00/24LC00/24C00 24AA01/24LC01B24AA014/24LC014 24C01C24AA02/24LC02B 24C02C24AA024/24LC024 24AA025/24LC02524AA04/24LC04B 24AA08/24LC08B24AA16/24LC16B 24AA32A/24LC32A24AA64/24LC64/24FC64 24AA128/24LC128/24FC12824AA256/24LC256/24FC256 24AA512/24LC512/24FC512
I2C™ シリアル EEPROM ファミリ データ シート
特徴 :• 128 ビット~ 1024K ビットのデバイス
• 24AAXX デバイスの場合、単一電源で 1.7V までの動作
• 低消費電力 CMOS 技術 :- 1 mA のアクティブ電流 ( 標準 )- 1 µAのスタンバイ電流 (一般工業用温度範囲内の場合の標準 )
• 2 線式シリアル インターフェース バス、I2C™ 互換
• シュミット トリガ入力によるノイズ抑制
• グランド バウンスを回避する出力スロープ制御
• 400 kHz (≥ 2.5V): 24LCXX および 24AAXX• 1 MHz (≥ 2.5V) および 400 kHz (1.7V): 24FCXX • セルフタイムの書き込みサイクル ( 自動消去を含む )
• ページ書き込みバッファ
• すべてのデバイスでハードウェアによる書き込み保護機能を装備 ( 一部例外を除く )
• 出荷時にプログラミング (QTP) を提供
• ESD 保護 > 4,000V• 100 万回の消去 / 書き込みサイクル
• データ保存 > 200 年
• 8 ピン PDIP、SOIC、TSSOP、および MSOPパッケージ
• 5 ピン SOT-23 パッケージ ( 一部を除くすべての1K ~ 16K ビットデバイス )
• 8 ピン 2x3 mm および 5x6 mm DFN パッケージも提供
• 鉛フリーおよび RoHS 準拠
• 広い温度範囲 :- 工業用 (I): -40°C ~ +85°C- 車載用 (E): -40°C ~ +125°C
概要 :マイクロチップ テクノロジー社の 24CXX、24LCXX、24AAXX、および 24FCXX (24XX*) デバイスは、128 ビットから 1024K ビットまでの電気的に消去可能な PROM (EEPROM) のファミリです。デバイスは、2 線式シリアル インターフェースを備えたx8ビットメモリのブロックに編成されています。低電圧設計を利用して、24AAXX デバイスの場合、1.7V での動作が可能で、スタンバイ電流は 1 µA、アクティブ電流はわずか 1 mA です。1K ビット以上のデバイスは、ページ書き込み機能を備えています。アドレス ラインが適切に機能する製品の場合、同一バス上に 大 8 つのデバイスを接続できます。24XX ファミリは、標準 8 ピンの PDIP、表面実装SOIC、TSSOP、および MSOP パッケージで提供されています。128 ビットから 16K ビットまでのデバイスの多くは、5 ピンの SOT-23 パッケージでも提供されています。また DFN パッケージ (2x3mm または5x6mm) もあります。パッケージはすべて鉛フリー( つや消しタイプの錫メッキ ) 仕上げです。
* このデータ シートでは、24XX は 24 シリーズ デバイスの一般的な製品番号を表します。例えば、24XX64は64Kビット デバイスの全電圧を表します。
パッケージのタイプ (1)
注 : 本 文 書 は 概 要 で す。仕 様 の 詳 細 は、www.microchip.comで各製品データ シートを参照してください。
A0
A1
A2
VSS
1
2
3
4
8
7
6
5
VCC
WP(3)
SCL
SDA
PDIP/SOIC
A0
A1
A2
VSS
1
2
3
4
8
7
6
5
VCC
WP(3)
SCL
SDA
TSSOP/MSOP(2)
1 5
43
SCL
VSS
SDA
VCC
NC
2
SOT-23-5(24XX00)
SOT-23-5
1 5
43
SCL
VSS
SDA
WP
VCC
2
(all except 24XX00)
A0
A1A2
VSS
WP(3)
SCLSDA5
678
4321 VCC
DFN注 1: A0、A1、A2、および WP ピンを使用しないデバ
イスもあります ( 内部接続なし )。詳細は表 1-1( デバイス選択表 ) を参照してください。
2: 24XX128および24XX256のMSOPデバイスの場
合、A0 および A1 ピンは接続されません。
3: 24XX00、24XX025、および 24C01C デバイスの
場合、ピン 7 は使用しません。
©2007 Microchip Technology Inc. DS21930C_JP - ページ 3-1
24AAXX/24LCXX/24FCXX
表 1-1: デバイス選択表
Part Number VCC Range
Max. Clock Frequency
Page Size
Write-Protect Array
Functional Address
PinsTemp. Range Packages(5)
128-bit devices
24AA00 1.7-5.5V 400 kHz(1)
— None None
I P, SN, ST, OT, MC
24LC00 2.5-5.5V 400 kHz(1) I
24C00 4.5-5.5V 400 kHz I, E
1 Kb devices
24AA01 1.7-5.5V 400 kHz (2)8 bytes Entire Array None
I P, SN, ST, MS, OT, MC
24LC01B 2.5-5.5V 400 kHz I, E24AA014 1.7-5.5V 400 kHz(2)
16 bytes Entire Array A0, A1, A2I P, SN, ST, MS, MC
24LC014 2.5-5.5V 400 kHz I24AA01H(6) 1.7-5.5v 400 kHz(1) 16 bytes Upper Half A0, A1, A2 I P, SN, ST, MS, OT, MC24LC01H(6) 2.5-5.5v 400 kHz(1) 16 bytes Upper Half A0, A1, A2 I, E P, SN, ST, MS, OT, MC24C01C 4.5V-5.5V 400 kHz 16 bytes None A0, A1, A2 I, E P, SN, ST, MC2 Kb devices24AA02 1.7-5.5V 400 kHz (2)
8 bytes Entire Array NoneI P, SN, ST, MS, OT, MC
24LC02B 2.5-5.5V 400 kHz I, E24AA024 1.7-5.5V 400 kHz(2)
16 bytes Entire Array A0, A1, A2I P, SN, ST, MS, MC
24LC024 2.5-5.5V 400 kHz I24AA025 1.7-5.5V 400 kHz(2)
16 bytes None A0, A1, A2I P, SN, ST,MS, MC
24LC025 2.5-5.5V 400 kHz I24AA02H(6) 1.7-5.5v 400 kHz(1) 16 bytes Upper Half A0, A1, A2 I P, SN, ST, MS, OT, MC24LC02H(6) 2.5-5.5v 400 kHz(1) 16 bytes Upper Half A0, A1, A2 I, E P, SN, ST, MS, OT, MC
24C02C 4.5-5.5V 400 kHz 16 bytes Upper Half of Array
A0, A1, A2 I, E P, SN, ST, MC
4 Kb devices24AA04 1.7-5.5V 400 kHz (2) 16 bytes Entire Array None I P, SN, ST, MS, OT, MC24LC04B 2.5-5.5V 400 kHz I, E8 Kb devices24AA08 1.7-5.5V 400 kHz (2)
16 bytes Entire Array NoneI P, SN, ST, MS, OT, MC
24LC08B 2.5-5.5V 400 kHz I, E16 Kb devices24AA16 1.7-5.5V 400 kHz (2)
16 bytes Entire Array NoneI P, SN, ST, MS, OT, MC
24LC16B 2.5-5.5V 400 kHz I, E32 Kb devices24AA32A 1.7-5.5V 400 kHz (2)
32 bytes Entire Array A0, A1, A2I P, SN, SM, ST, MS, MC
24LC32A 2.5-5.5V 400 kHz I, E
注 1: VCC <4.5V では 100 kHz2: VCC <2.5V では 100 kHz3: VCC <2.5V では 400 kHz4: 24XX128 および 24XX256 の MSOP デバイスの場合、A0 および A1 ピンは接続されません。
5: P = 8-PDIP、SN = 8-SOIC (3.90 mm JEDEC)、ST = 8-TSSOP、OT = 5 または 6-SOT23、MC = 2x3mm DFN、MS = 8-MSOP、SM = 8-SOIC (200 mil EIAJ)、MF = 5x6mm DFN。
6: 2007 年第 4 四半期に発売。
DS21930C_JP - ページ 3-2 ©2007 Microchip Technology Inc.
24AAXX/24LCXX/24FCXX製品ファミリ
データシート
3
64 Kb devices24AA64 1.7-5.5V 400 kHz (2)
32 bytes Entire Array A0, A1, A2I P, SN, SM, ST, MS, MC
24LC64 2.5-5.5V 400 kHz I, E24FC64 1.7-5.5V 1 MHz(3) I128 Kb devices24AA128 1.7-5.5V 400 kHz (2)
64 bytes Entire Array A0, A1, A2(4)
I P, SN, SM, ST, MS, MF24LC128 2.5-5.5V 400 kHz I, E24FC128 1.7-5.5V 1 MHz(3) I256 Kb devices24AA256 1.7-5.5V 400 kHz (2)
64 bytes Entire Array A0, A1, A2(4)
I P, SN, SM, ST, MS, MF24LC256 2.5-5.5V 400 kHz I, E24FC256 1.7-5.5V 1 MHz(3) I512 Kb devices24AA512 1.7-5.5V 400 kHz (2)
128 bytes Entire Array A0, A1, A2I P, SM, MF,
24LC512 2.5-5.5V 400 kHz I, E24FC512 1.7-5.5V(3) 1 MHz I1024 Kb devices24AA1025 1.7-5.5V 400 kHz (2)
128 bytesI P, SM
24LC1025 2.5-5.5V 400 kHz Entire Array A0, A1 I, E24FC1025 1.7-5.5V(3) 1 MHz I
表 1-1: デバイス選択表 ( 続き )
Part Number VCC Range
Max. Clock Frequency
Page Size
Write-Protect Array
Functional Address
PinsTemp. Range Packages(5)
注 1: VCC <4.5V では 100 kHz2: VCC <2.5V では 100 kHz3: VCC <2.5V では 400 kHz4: 24XX128 および 24XX256 の MSOP デバイスの場合、A0 および A1 ピンは接続されません。
5: P = 8-PDIP、SN = 8-SOIC (3.90 mm JEDEC)、ST = 8-TSSOP、OT = 5 または 6-SOT23、MC = 2x3mm DFN、MS = 8-MSOP、SM = 8-SOIC (200 mil EIAJ)、MF = 5x6mm DFN。
6: 2007 年第 4 四半期に発売。
©2007 Microchip Technology Inc. DS21930C_JP - ページ 3-3
24AAXX/24LCXX/24FCXX
2.0 電気的特性
絶対最大定格 (†)
VCC..................................................................................................................................................................................... 6.5V
VSS を基準にしたすべての入出力 .......................................................................................................-0.6V ~ VCC +1.0V保存温度 ........................................................................................................................................................ -65°C ~ +150°C通電時の周囲温度 ........................................................................................................................................ -40°C ~ +125°C全ピンに対する静電気保護 ......................................................................................................................................... ≥ 4 kV
表 2-1: DC 特性
† 注意 : 上記の「絶対 大定格」を超えるストレスを加えると、デバイスに恒久的な損傷を与えることがあります。この規定はストレス定格のみを規定するものであり、この条件、あるいはこの仕様の動作条件に記載する規定値以上の他の条件でのデバイス動作を定めたものではありません。デバイスを長時間大定格状態にすると、デバイスの信頼性に影響を与えることがあります。
DC CHARACTERISTICSElectrical Characteristics:Industrial (I): VCC = +1.7V to 5.5V TA = -40°C to +85°CAutomotive (E): VCC = +2.5V to 5.5V TA = -40°C to 125°C
Param.No. Sym. Characteristic Min. Max. Units Conditions
D1 — A0, A1, A2, SCL, SDA and WP pins:
— — — —
D2 VIH High-level input voltage 0.7 VCC — V —D3 VIL Low-level input voltage — 0.3 VCC
0.2 VCCVV
VCC ≥ 2.5VVCC < 2.5V
D4 VHYS Hysteresis of Schmitt Trigger inputs (SDA, SCL pins)
0.05 VCC — V ( 注 1)
D5 VOL Low-level output voltage — 0.40 V IOL = 3.0 mA @ VCC = 2.5VD6 ILI Input leakage current — ±1 µA VIN = VSS or VCC
D7 ILO Output leakage current — ±1 µA VOUT = VSS or VCC
D8 CIN, COUT
Pin capacitance (all inputs/outputs)
— 10 pF VCC = 5.0V ( 注 1)TA = 25°C, FCLK = 1 MHz
D9 ICC Read Operating current — 5004001
µAµAmA
24XX102524XX128, 256, 512:All except 24XX128, 256, 512, 1025:
(VCC = 5.5V, SCL = 400 kHz)ICC Write — 3
5
mA
mA
All except 24XX512 and 24XX102524XX512 and 24XX1025 (VCC = 5.5V)
D10 ICCS Standby current ——
15
µAµA
All except 24XX102524XX1025
— 50 µA 24C01C and 24C02C only(TA = -40°C to +85°C)
— 5 µA All except 24XX1025(TA = -40°C to +125°C)SCL = SDA = VCC = 5.5VA0, A1, A2, WP = VSS or VCC
注 1: このパラメータは無作為に抽出された一部のデバイスを対象に定期的にテストされるもので、テストは全数テストではありません。
DS21930C_JP - ページ 3-4 ©2007 Microchip Technology Inc.
24AAXX/24LCXX/24FCXX製品ファミリ
データシート
3
表 2-2: AC 特性 – 24XX00、24C01C、および 24C02C を除くすべてのデバイス
AC CHARACTERISTICSElectrical Characteristics:Industrial (I): VCC = +1.7V to 5.5V TA = -40°C to +85°CAutomotive (E): VCC = +2.5V to 5.5V TA = -40°C to 125°C
Param.No. Sym. Characteristic Min. Max. Units Conditions
1 FCLK Clock frequency ————
1004004001000
kHz 1.7V ≤ VCC < 2.5V 2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V1.7V ≤ VCC < 2.5V 24FCXXX2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V 24FCXXX
2 THIGH Clock high time 4000600600500
————
ns 1.7V ≤ VCC < 2.5V 2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V1.7V ≤ VCC < 2.5V 24FCXXX2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V 24FCXXX
3 TLOW Clock low time 470013001300500
————
ns 1.7V ≤ VCC < 2.5V 2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V1.7V ≤ VCC < 2.5V 24FCXXX2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V 24FCXXX
4 TR SDA and SCL rise time( 注 1)
———
1000300300
ns 1.7V ≤ VCC < 2.5V 2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V1.7V ≤ VCC ≤ 5.5V 24FCXXX
5 TF SDA and SCL fall time( 注 1)
——
300100
ns All except 24FCXXX1.7V ≤ VCC ≤ 5.5V 24FCXXX
6 THD:STA Start condition hold time 4000600600250
————
ns 1.7V ≤ VCC < 2.5V 2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V1.7V ≤ VCC < 2.5V 24FCXXX2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V 24FCXXX
7 TSU:STA Start condition setup time 4700600600250
————
ns 1.7V ≤ VCC < 2.5V 2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V1.7V ≤ VCC < 2.5V 24FCXXX2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V 24FCXXX
8 THD:DAT Data input hold time 0 — ns ( 注 2)9 TSU:DAT Data input setup time 250
100100
———
ns 1.7V ≤ VCC < 2.5V 2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V1.7V ≤ VCC ≤ 5.5V 24FCXXX
10 TSU:STO Stop condition setup time 4000600600250
————
ns 1.7 V ≤ VCC < 2.5V 2.5 V ≤ VCC ≤ 5.5V1.7V ≤ VCC < 2.5V 24FCXXX2.5 V ≤ VCC ≤ 5.5V 24FCXXX
11 TSU:WP WP setup time(32K and above only)
4000600600
———
ns 1.7V ≤ VCC < 2.5V 2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V1.7V ≤ VCC ≤ 5.5V 24FCXXX
12 THD:WP WP hold time(32K and above only)
470013001300
———
ns 1.7V ≤ VCC < 2.5V 2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V1.7V ≤ VCC ≤ 5.5V 24FCXXX
注 1: テストは全数テストではありません。CB は 1 本のバス ラインの総容量を単位 pF で表したもの。
2: トランスミッタとして、デバイスは SCL の立ち下がりエッジの未定義領域をカバーし、予期せぬ開始や停止の発生を回避するため、 小限の内部遅延時間 (300 ns 以上 ) が必要です。
3: このパラメータはテストされていませんが、特性解析に基づいて保証されています。特定のアプリケーションにおけるデータ書き換え耐久性の概算については、マイクロチップ社のウェブ サイトwww.microchip.com の Total Endurance™ Model をご覧ください。
4: 24FCXXX は 24FC64、24FC128、24FC256、24FC512、および 24FC1025 デバイスを表します。
©2007 Microchip Technology Inc. DS21930C_JP - ページ 3-5
24AAXX/24LCXX/24FCXX
13 TAA Output valid from clock( 注 2)
————
3500900900400
ns 1.7V ≤ VCC < 2.5V 2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V1.7V ≤ VCC < 2.5V 24FCXXX2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V 24FCXXX
14 TBUF Bus free time: Time the bus must be free before a new transmission can start
470013001300500
————
ns 1.7V ≤ VCC < 2.5V 2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V1.7V ≤ VCC < 2.5V 24FCXXX2.5V ≤ VCC ≤ 5.5V 24FCXXX
15 TOF Output fall time from VIHminimum to VIL maximumCb ≤ 100 pF
10 + 0.1Cb 250250
ns All except 24FCXXX ( 注 1)24FCXXX ( 注 1)
16 TSP Input filter spike suppression(SDA and SCL pins)
— 50 ns All except 24FCXXX ( 注 1)
17 TWC Write cycle time (byte or page) — 5 ms18 — Endurance 1,000,000 — cycles 25°C ( 注 3)
表 2-2: AC 特性 – 24XX00、24C01C、および 24C02C を除くすべてのデバイス ( 続き )
AC CHARACTERISTICSElectrical Characteristics:Industrial (I): VCC = +1.7V to 5.5V TA = -40°C to +85°CAutomotive (E): VCC = +2.5V to 5.5V TA = -40°C to 125°C
Param.No. Sym. Characteristic Min. Max. Units Conditions
注 1: テストは全数テストではありません。CB は 1 本のバス ラインの総容量を単位 pF で表したもの。
2: トランスミッタとして、デバイスは SCL の立ち下がりエッジの未定義領域をカバーし、予期せぬ開始や停止の発生を回避するため、 小限の内部遅延時間 (300 ns 以上 ) が必要です。
3: このパラメータはテストされていませんが、特性解析に基づいて保証されています。特定のアプリケーションにおけるデータ書き換え耐久性の概算については、マイクロチップ社のウェブ サイトwww.microchip.com の Total Endurance™ Model をご覧ください。
4: 24FCXXX は 24FC64、24FC128、24FC256、24FC512、および 24FC1025 デバイスを表します。
DS21930C_JP - ページ 3-6 ©2007 Microchip Technology Inc.
24AAXX/24LCXX/24FCXX製品ファミリ
データシート
3
表 2-3: AC 特性 – 24XX00、24C01C、および 24C02C
All Parameters apply across all recommended operating ranges unless otherwise noted
Industrial (I): TA = -40°C to +85°C, VCC = 1.7V to 5.5VAutomotive (E): TA = -40°C to +125°C, VCC = 4.5V to 5.5V
Parameter Symbol Min. Max. Units Conditions
Clock frequency FCLK ———
100100400
kHz 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V (E Temp range)1.7V ≤ Vcc ≤ 4.5V4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V
Clock high time THIGH 40004000600
———
ns 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V (E Temp range)1.7V ≤ Vcc ≤ 4.5V 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V
Clock low time TLOW 470047001300
———
ns 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V (E Temp range)1.7V ≤ Vcc ≤ 4.5V 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V
SDA and SCL rise time( 注 1)
TR ———
10001000300
ns 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V (E Temp range)1.7V ≤ Vcc ≤ 4.5V 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V
SDA and SCL fall time TF — 300 ns ( 注 1)Start condition hold time THD:STA 4000
4000600
———
ns 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V (E Temp range)1.7V ≤ Vcc ≤ 4.5V 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V
Start condition setup time TSU:STA 47004700600
———
ns 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V (E Temp range)1.7V ≤ Vcc ≤ 4.5V 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V
Data input hold time THD:DAT 0 — ns ( 注 2)Data input setup time TSU:DAT 250
250100
———
ns 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V (E Temp range)1.7V ≤ Vcc ≤ 4.5V 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V
Stop condition setup time TSU:STO 40004000600
———
ns 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V (E Temp range)1.7V ≤ Vcc ≤ 4.5V 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V
Output valid from clock( 注 2)
TAA ———
35003500900
ns 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V (E Temp range)1.7V ≤ Vcc ≤ 4.5V 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V
Bus free time: Time the bus must be free before a new transmission can start
TBUF 470047001300
———
ns 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V (E Temp range)1.7V ≤ Vcc ≤ 4.5V 4.5V ≤ Vcc ≤ 5.5V
Output fall time from VIHminimum to VIL maximum
TOF 20+0.1CB
250 ns ( 注 1), CB ≤ 100 pF
Input filter spike suppression(SDA and SCL pins)
TSP — 50 ns ( 注 1)
Write cycle time TWC — 41.5
ms 24XX0024C01C, 24C02C
Endurance 1,000,000 — cycles ( 注 3)注 1: テストは全数テストではありません。CB は 1 本のバス ラインの総容量を単位 pF で表したもの。
2: トランスミッタとして、デバイスは SCL の立ち下がりエッジの未定義領域をカバーし、予期せぬ開始や停止の発生を回避するため、 小限の内部遅延時間 (300 ns 以上 ) が必要です。
3: このパラメータはテストされていませんが、特性解析に基づいて保証されています。特定のアプリケーションにおけるデータ書き換え耐久性の概算については、マイクロチップ社のウェブ サイトwww.microchip.com の Total Endurance™ Model をご覧ください。
©2007 Microchip Technology Inc. DS21930C_JP - ページ 3-7
24AAXX/24LCXX/24FCXX
図 2-1: バス タイミング例
(unprotected)(protected)
SCL
SDAIN
SDAOUT
WP
5
7
6
16
3
2
8 9
13
D4 4
10
11 12
14
DS21930C_JP - ページ 3-8 ©2007 Microchip Technology Inc.
24AAXX/24LCXX/24FCXX製品ファミリ
データシート
3
3.0 ピン説明
各ピンの説明を表 3-1 に示します。
表 3-1: ピン機能表
3.1 チップ アドレス入力ピン A0、A1、A2
24XX01 ~ 24XX16 のデバイスでは、A0、A1、および A2 ピンは使用しません。
24C01C、24C02C、24XX014、24XX024、24XX025、および 24XX32 ~ 24XX1025 では、A0、A1、および A2 入力ピンを使用して複数のデバイスを操作します。これらの入力レベルは、スレーブ アドレスの対応するビットと比較され、比較の結果が真(True) であれば、そのデバイスが選択されます。
MSOP パッケージの 24XX128 および 24XX256 デバイスの場合、A0 および A1 ピンは接続されません。
チップ セレクト ビットをさまざまに組み合わせることによって、 大 8 つのデバイス (MSOP パッケージの 24XX128 および 24XX256では 2 つのデバイス ) を同一バスに接続できます。
アプリケーションの多くは、チップ アドレス入力ピン A0、A1、および A2 は、ロジック「0」またはロジック「1」にハードワイヤ配線されています。マイクロコントローラやその他のプログラム可能なデバイスによってこれらのピンが制御されているアプリケーションの場合、デバイスの通常の動作を開始する前に、チップ アドレス ピンをロジック「0」またはロジック「1」に設定する必要があります。
3.2 シリアル データ (SDA)アドレスおよびデータのデバイスへの入力、デバイスからの出力を行うための双方向ピンであり、オープン ドレイン端子です。このため、SDA バスは VCCへのプルアップ抵抗を必要とします ( 通常、100 kHzでは 10 kΩ、400 kHz と 1 MHz では 2 kΩ)。通常のデータ転送では、SDA は SCL が Low の場合にのみ変更できます。SCL が High 時の変更は、開始条件と停止条件の指示用に予約されています。
3.3 シリアル クロック (SCL)このピンは、デバイスとのデータ転送の同期をとるため使用します。
3.4 書き込み保護 (WP)このピンは、VSS または VCC に接続する必要があります。VSS に接続すると、書き込みが可能になります。VCC に接続した場合は、書き込みは禁止されますが、読み出しには影響しません。各デバイスの書き込み保護方法については、表 1-1 を参照してください。
3.5 電源 (VCC)VCC しきい値検出回路により、VCC が公称条件 1.5V以下の場合内部消去 / 書き込みロジックが無効になります。24C00、24C01C、および 24C02C デバイスについては、公称条件 3.8V 以下になると消去 / 書き込みロジックが無効になります。
Pin Name 8-Pin PDIP and SOIC
8-Pin TSSOP and
MSOP
5-Pin SOT-23 24XX00
5-Pin SOT-23 All except
24XX00
8-Pin 5x6 DFN and
2x3 DFNFunction
A0 1 1(1) — — 1 User configurable Chip Select(3)(4)
A1 2 2(1) — — 2 User configurable Chip Select(3)(4)
A2 3 3 — — 3 User configurable Chip Select(3)(4)
VSS 4 4 2 2 4 GroundSDA 5 5 3 3 5 Serial DataSCL 6 6 1 1 6 Serial Clock(NC) — — 4 — — Not ConnectedWP 7(2) 7(2) — 5 7 Write-Protect InputVCC 8 8 5 4 8 Power Supply
注 1: 24XX128 および 24XX256 の MSOP パッケージでは、ピン 1 およびピン 2 は接続されません。
2: 24XX00、24XX025、および 24C01C デバイスでは、ピン 7 は使用しません。
3: A0、A1、および A2 ピンを使用しないデバイスもあります ( 内部接続なし )。詳細は表 1-1 をご覧ください。
4: 適切な動作を確保するため、24XX1025 デバイスでは A2 ピンを論理 High に固定する必要があります。
注 : 24XX1025 では A2 ピンは設定不可能で、デバイスが正常に動作するよう必ず VCCに接続してください。
©2007 Microchip Technology Inc. DS21930C_JP - ページ 3-9
24AAXX/24LCXX/24FCXX
4.0 機能の説明
24XX デバイスは、2 線式バスの双方向データ伝送プロトコルをサポートしています。バス上にデータを送信するデバイスはトランスミッタとなり、データを受信するデバイスはレシーバとなります。マスター デバイスは、シリアル クロック (SCL) を生成し、バス アクセスを制御します。一方、24XX はスレーブ デバイスとして動作します。マスター デバイスとスレーブ デバイスはいずれも、トランスミッタにもレシーバにもなり、いずれのモードをアクティブにするかはマスターが決定します。
ブロック図
HV Generator
EEPROM Array
Page Latches*
YDEC
XDEC
Sense Amp.R/W Control
MemoryControl
Logic
I/OControlLogic
I/O
A0*A1*A2*
SDA
SCL
VCC
VSS
WP*
* A0, A1, A2, WP and page latches are not used by somedevices.See Table 1-1, Device Selection Table, for details.
DS21930C_JP - ページ 3-10 ©2007 Microchip Technology Inc.
24AAXX/24LCXX/24FCXX製品ファミリ
データシート
3
5.0 バスの特性
以下のバス プロトコルが定義されています。
• データ転送はバスがビジーでない場合にのみ開始できます。
• データ転送時、クロック ラインが High の間データ ラインは安定状態でなければなりません。クロック ラインが High の間のデータ ラインの変更は、開始条件または停止条件とみなされます。
以上から、次のようなバス状態が定義されます( 図 5-1)。
5.1 Bus Not Busy (A)
データ ラインとクロック ラインの両方がHighです。
5.2 Start Data Transfer (B)
クロック (SCL) が High のときに SDA が High からLow へ遷移すると開始条件となり、すべてのコマンドの先頭となる必要があります。
5.3 Stop Data Transfer (C)
クロック (SCL) が High のときに SDA ラインが Lowから High へ遷移すると、停止条件となります。停止条件は、すべての操作終了後となる必要があります。
5.4 Data Valid (D)
開始条件が生成された後、クロック信号が High の期間中データ ラインが安定すると、データ ラインは有効データを示します。
ライン上のデータは、クロック信号が Low の間に変更しなければなりません。データ 1 ビットあたり1 クロック パルスが発生します。
データ転送は開始条件で開始し、停止条件で終了します。開始条件と停止条件の間に転送されるデータのバイト数は、マスター デバイスに依存します。
©2007 Microchip Technology Inc. DS21930C_JP - ページ 3-11
24AAXX/24LCXX/24FCXX
5.5 確認応答
アドレス指定を受けたレシーバ デバイスは、1 バイトのデータを受信するたびに確認応答 (ACK) を生成します。マスター デバイスは、この ACK ビットと共に余剰的にクロック パルスを生成します。
確認応答するデバイスは、ACK に対応するクロック パルスが High の間 SDA が Low で安定するように、ACK クロック パルス時に SDA をプル ダウンする必要があります。また、セットアップ時間とホールド時間を考慮する必要があります。読み出し時には、マスター デバイスはスレーブ デバイスからクロックに同期して出力された 後のバイトに対して ACK ビットを生成しないことで、データの終わりをスレーブ デバイスに知らせます。この場合、スレーブ (24XX) はデータ ラインを High のままにして、マスターが停止条件を生成できるようにします ( 図 5-2)。
図 5-1: シリアル バスのデータ転送シーケンス
図 5-2: 確認応答 (ACK) タイミング
注 : 書き込みサイクルの間、24XX はコマンドに対して確認応答を返しません。
SCL
SDA
(A) (B) (D) (D) (A)(C)
StartCondition
Address orAcknowledge
Valid
DataAllowed
to Change
StopCondition
SCL 987654321 1 2 3
Transmitter must release the SDA line at this point,allowing the Receiver to pull the SDA line low toacknowledge the previous eight bits of data.
Receiver must release the SDA lineat this point so the Transmitter cancontinue sending data.
Data from transmitterSDA
Acknowledgebit
Data from transmitter
DS21930C_JP - ページ 3-12 ©2007 Microchip Technology Inc.
24AAXX/24LCXX/24FCXX製品ファミリ
データシート
3
5.6 機能アドレス ピンを備えていないデバイスへのアドレッシング
制御バイトは、開始条件に続いてマスター デバイスから受け取る 初のバイトです ( 図 5-3)。制御バイトは、4 ビットの制御コードで始まります。24XXの場合、読み書きのための制御コードは、バイナリの 「1010」に設定されています。制御コードに続く 3 ビットは、一括選択ビット (B2、B1、B0) です。マスター デバイスは、これらのビットを使用してメモリの256ワード ブロックのうちいずれのブロックにアクセスするかを選択します。これらのビットは、実質上、ワード アドレスの上位 3 ビットです。24XX00、24XX01、24XX02 の B2、B1、B0 は「ド
ントケア」ビットです。24XX04 では B2 と B1 が、24XX08 では B2 が、それぞれ「ドントケア」ビットです。
制御バイトの 終ビットは、実行すべき動作を定義します。このビットが「1」に設定されている場合、読み出しが選択され、「0」に設定されている場合、書き込みが選択されます。開始条件に続き、24XXは SDA バスを監視します。「1010」コード、ブロックセレクト ビット、そして R/W ビットを受信すると、スレーブ デバイスは SDA ライン上に ACK 信号を出力します。ACK に続いてアドレス バイトが出力されます。
図 5-3: アドレス ピンのないデバイスでの制御バイトとアドレス バイトの指定
S 1 0 1 0 x x x R/W ACKS 1 0 1 0 x x x R/W ACKS 1 0 1 0 x x x R/W ACKS 1 0 1 0 x x B0 R/W ACKS 1 0 1 0 x B1 B0 R/W ACKS 1 0 1 0 B2 B1 B0 R/W ACK
24XX01
24XX0224XX04
24XX0824XX016
x = “don’t care” bit
AcknowledgeControl CodeStart bit
Control Byte
Block Select bits
Address Byte
24XX00
Read/Write bit (Read = 1, Write = 0)
x x x x A3 . . A0x A6 . . . . . A0A7 . . . . . . A0A7 . . . . . . A0A7 . . . . . . A0A7 . . . . . . A0
bit
©2007 Microchip Technology Inc. DS21930C_JP - ページ 3-13
24AAXX/24LCXX/24FCXX
5.7 機能アドレス ピンを備えたデバイスへのアドレッシング
制御バイトは、開始条件に続いてマスター デバイスから受け取る 初のバイトです ( 図 5-4)。制御バイトは、4 ビットの制御コードで始まります。24XXの場合、読み書きのための制御コードは、‘1010’ バイナリに設定されています。制御コードに続く 3ビットは、チップ セレクト ビット (A2、A1、A0) です。チップ セレクト ビットにより、 大 8 つの24XX デバイスを同一バス上で使用でき、いずれのデバイスにアクセスするかの選択にこのビットを使用します。制御バイトのチップ セレクト ビットは、応答するデバイスの A2、A1、および A0 ピンの論理レベルに対応する必要があります。これらのビットは、実質上、ワード アドレスの上位 3 ビットです。
MSOP パッケージの 24XX128 および 24XX256 デバイスの場合、A0 および A1 ピンは接続されません。デバイスのアドレッシングの際、A0 と A1 のチップセレクト ビット ( 図 5-4) を「0」に設定しておく必要があります。同一バスに接続できるのは、24XX128か 24XX256 の 2 つの MSOP パッケージだけです。
制御バイトの 終ビットは、実行すべき動作を定義します。このビットが「1」に設定されている場合、読み出しが選択され、「0」に設定されている場合、書き込みが選択されます。 より高集積度デバイス (24XX32~ 24XX1025)では、制御バイトに続く 2 つのバイトが 初のデータ バイトのアドレスを指定します。製品の集積度によっては、高位アドレス バイトのすべてのビットが使用されるわけではありません。24XX32 では、A15、A14、A13、A12 が「ドントケア」ビットです。24XX64では、A15、A14、A13 が「ドントケア」ビットです。24XX128 では A15 と A14 が、24XX256 ではA15 がそれぞれ「ドントケア」ビットです。24XX512および 24XX1025 については、すべてのアドレスビットが使われます。まず上位アドレス ビットが送信され、続いて下位ビットが送信されます。
開始条件に続き、24XX は SDA バスを監視します。‘1010’ コード、適切なデバイス セレクト ビット、そして R/W ビットを受信すると、スレーブ デバイスは SDA ライン上に ACK 信号を出力します。ACKに続いてアドレス バイトが出力されます。
24XX1025 には内部アドレス境界制限があるため、512Kビットごとに 2つのセグメントに分割されます。一括選択ビット「0」を使用して各セグメントへのアクセスを制御します。この境界をまたがる連続的な書き込みはできません。
図 5-4: アドレス ピンを備えたデバイスでの制御バイト とアドレス バイトの指定
S 1 0 1 0 A2 A1 A0 R/W ACK
S 1 0 1 0 A2 A1 A0 R/W ACK
S 1 0 1 0 A2 A1 A0 R/W ACK
S 1 0 1 0 A2 A1 A0 R/W ACK
S 1 0 1 0 A2 A1 A0 R/W ACK
S 1 0 1 0 B0 A1 A0 R/W ACK
24XX64
24XX128
24XX256
24XX512
x = “don’t care” bit
AcknowledgeControl CodeStart bit
Control Byte
Chip Select bits*
Address High Byte
24XX32
Read/Write bit
x x x x A11 A10 A9 A8
x x x A12 A11 A10 A9 A8
x x A13 A12 A11 A10 A9 A8
x A14 A13 A12 A11 A10 A9 A8
A15 A14 A13 A12 A11 A10 A9 A8
A15 A14 A13 A12 A11 A10 A9 A8
bit
S 1 0 1 0 A2 A1 A0 R/W ACK
S 1 0 1 0 A2 A1 A0 R/W ACK
S 1 0 1 0 A2 A1 A0 R/W ACK
x A6 . . . . . A0
A7 . . . . . . A0
A7 . . . . . . A024XX024/025
24C02C
24C01C
Address Byte
A7 . . . . . . A0
A7 . . . . . . A0
A7 . . . . . . A0
A7 . . . . . . A0
A7 . . . . . . A0
A7 . . . . . . A0
Address Low Byte
* Chip Select bits A1 and A0 must be set to ‘0’ for 24XX128/256 devices in the MSOP package.
Control Byte
(Read = 1, Write = 0)
24XX1025
DS21930C_JP - ページ 3-14 ©2007 Microchip Technology Inc.
24AAXX/24LCXX/24FCXX製品ファミリ
データシート
3
5.7.1 複数のデバイスに対する連続アドレッシング
チップ セレクト ビット A2、A1、および A0 を使用して、同一バス上に 大 8 つの 24XX を組み合わせて、隣接アドレス空間を拡張できます。ソフトウェアは制御バイトの 3 つのアドレス ビットをアドレス バイトの上位 3 ビットとして使用できます。例えば、24XX32 デバイスではソフトウェアは制御バイトの A0 をアドレス ビット A12 として、A1 をアドレス ビット A13 として、A2 をアドレス ビット A14として使用できます ( 表 5-1)。複数のデバイス境界を越えてデータを連続して読み出すことはできません。
表 5-1: 制御バイトのアドレス ビット
Maximum Devices
Maximum Contiguous
Address Space
Chip Select Bit A2
Chip Select Bit A1
Chip Select Bit A0
1K (24C01C) 8 8 Kb A10 A9 A81K (24XX014) 8 8 Kb A10 A9 A82K (24C02C) 8 16 Kb A10 A9 A82K (24XX024/025) 8 16 Kb A10 A9 A832K (24XX32) 8 256 Kb A14 A13 A1264K (24XX64) 8 512 Kb A15 A14 A13128K (24XX128) 8(1) 1 Mb A16* A15* A14256K (24XX256) 8(1) 2 Mb A17* A16* A15512K (24XX512) 8 4 Mb A18 A17 A161024K (24XX1025) 4(2) 4 Mb B0(3) A17 A16
注 1: MSOP パッケージの 大 2 つの 24XX128 デバイスまたは 24XX256 デバイスを組み合わせて、256 Kb または 512 Kb のアドレス空間を実現できます。A0 および A1 ビットは「0」に設定しなければなりません。
2: 一括選択ビット「0」を使用して、 大 4 つの 24XX1025 デバイスをカスケード接続できます。
3: 24XX1025 では、A2 ピンを論理 High に固定しないと正常に動作しません。ソフトウェアによるアドレッシングでは、B0 を使用してメモリの上位 512K ビットと下位 512K ビットを選択します。
©2007 Microchip Technology Inc. DS21930C_JP - ページ 3-15
24AAXX/24LCXX/24FCXX
6.0 書き込み
6.1 バイト書き込み
バイト書き込みは、マスター デバイスから開始条件に続いて4ビットの制御コードを受け取ることで開始します ( 図 6-1 および図 6-2 を参照 )。次の 3ビットはブロック アドレス ビット ( アドレス ピンを備えていないデバイスの場合 )またはチップ セレクト ビット ( アドレス ピンを備えているデバイスの場合 ) のいずれかです。続いてマスター トランスミッタは R/W ビット ( 論理 Low) をバス上に出力します。スレーブは9クロック サイクル目にACKビットを生成します。
続いてマスターが送信するバイトは、アドレス バイト (128 ビット~ 16K ビットのデバイス ) であるか、上位アドレス バイト (32K ~ 1024K ビットのデバイス ) です。32K ビットから 1024K ビットのデバイスの場合、上位アドレス バイトの後に下位アドレスバイトが続きます。いずれの場合も、各アドレス バイトを24XXは確認応答し、アドレス ビットは24XXの内部アドレス カウンタにラッチされます。
24XX00 デバイスでは、下位の 4 つのアドレス ビットだけが使用されます。上位 4 つのアドレス ビットは「ドントケア」ビットです。
終アドレス バイトの確認応答 (ACK) を 24XX から受け取ると、マスター デバイスは書き込むべきデータ ワードをアドレス指定したメモリ位置に送信します。24XX が再度確認応答し、マスターが停止条件を生成すると、内部書き込みサイクルが開始します。
WP ピンが High になっているときにアレイへの書き込みが試みられた場合、デバイスはコマンドの確認応答を出しますが、書き込みサイクルは発生せず、データは書き込まれず、デバイスはただちに新しいコマンドを受け取ります。バイト書き込みコマンドの後、内部アドレス カウンタは次のアドレス位置に進みます。書き込みサイクルの間、24XX はコマンドに対して確認応答を出しません。
図 6-1: バイト書き込み : 128 ビット~ 16K ビットのデバイス
図 6-2: バイト書き込み : 32 ~ 1024K ビットのデバイス
S P
Bus ActivityMaster
SDA Line
Bus Activity
START
STOP
ControlByte
AddressByte
Data
ACK
ACK
ACK
Byte
Bus ActivityMaster
SDA Line
Bus Activity
START
ControlByte
High OrderAddress Byte
Low OrderAddress Byte
Data STOP
ACK
ACK
ACK
ACK
S P
Byte
DS21930C_JP - ページ 3-16 ©2007 Microchip Technology Inc.
24AAXX/24LCXX/24FCXX製品ファミリ
データシート
3
6.2 ページ書き込み
バイト書き込み同様、書き込み制御バイト、ワードアドレス バイト、および 初のバイト データが24XX に送信されます ( 図 6-3 および図 6-4 参照 )。ただし、マスターは停止条件を生成する代わりに、大 1 ページのデータ (1) を送信します。このデー
タは、チップ上のページ バッファに一時的に格納されます。このデータは、マスターが停止条件を送信した場合にメモリに書き込まれます。データを受け取るたびに、内部アドレス カウンタが 1 ずつ増えます。マスターが停止条件を生成する前に 1 ページ以上のデータを送信した場合、アドレス カウンタが一巡し、以前に受信したデータが上書きされます。バイト書き込み同様、停止条件を受信すると内部書き込みサイクルが開始します。書き込みサイクルの間、24XX はコマンドに対して確認応答しません。
ページ書き込みは任意のアドレスから開始でき、ページ内で ( ページ サイズを上限とする ) 任意のバイト数を書き込むことができます。ページ内で変更されるのは、アドレス指定されたデータ バイトのみです。
WP ピンが High になっているときにアレイへの書き込みを試みると、デバイスはコマンドの確認応答をしますが、書き込みサイクルは発生せず、データは書き込まれず、デバイスはただちに次のコマンドを受け取ります。
6.3 書き込み保護
WP ピンが VCC に接続されている場合、アレイへの書き込みが禁止されます。各デバイスの書き込み保護機能については、表 1-1 ( デバイス選択表 ) を参照してください。VSS に接続すると、書き込み保護は無効になります。詳細は製品データ シートを参照してください。
図 6-3: ページ書き込み : 1K ビット~ 16K ビットのデバイス
図 6-4: ページ書き込み : 32 ~ 1024K ビットのデバイス
*1 ページ内の 大データ バイト数については、表 1-1 を参照。
注 1: 各デバイスのページ サイズについては、表 1-1 ( デバイス選択表 ) を参照してください。
注 : ページ書き込みでは、書き込むバイト数に関係なく、1 物理ページ内でのバイト書き込みに限られます。物理的なページ境界は、ページ バッファ サイズ ( または「ページ サイズ」)の整数倍であるアドレスから、ページ サイズ -1 の整数倍であるアドレスまでです。ページ書き込みコマンドが物理的なページ境界をまたいで書き込もうとすると、当然データは次のページに書き込まれず、現在のページの先頭に折り返されます (以前に同位置に保存されたデータを上書きします )。したがって、アプリケーション ソフトウェアはページ境界をまたがるようなページ書き込みをしないようにします。
S P
Bus ActivityMaster
SDA Line
Bus Activity
START
ControlByte
AddressByte
Initial Final STOP
ACK
ACK
ACK
ACK
ACK
SecondData Byte Data Byte Data Byte*
Bus ActivityMaster
SDA Line
Bus Activity
START
ControlByte
High OrderAddress Byte
Low OrderAddress Byte
Initial STOP
ACK
ACK
ACK
ACK
Final
ACK
S P
Data Byte Data Byte*
©2007 Microchip Technology Inc. DS21930C_JP - ページ 3-17
24AAXX/24LCXX/24FCXX
7.0 確認応答 (ACK) のポーリング
書き込みサイクル中はデバイスはコマンドに対して確認応答しないため、サイクルが完了したか否かの確認に ACK を使用できます ( この機能によってバスのスループットが向上します )。書き込みコマンドに対する停止条件がマスターから送信されると、デバイスは内部的に定められたタイミングで書き込みサイクルを開始し、ただちに ACK ポーリングが開始できる状態になります。この状態になるには、マスターがまず開始条件を送信して、続いて書き込みコマンドの制御バイト (R/W = 0) を送信する必要があります。デバイスがまだ書き込みサイクル中の場合、ACK は返ってきません。ACK がない場合は、スタート ビットと制御バイトを再度送信する必要があります。サイクルが完了すると、デバイスは ACK を返し、マスターは次の読み出しまたは書き込みコマンドの実行が開始できます。図 7-1 はこの流れを示しています。
図 7-1: ACK ポーリングの流れ
SendWrite Command
Send StopCondition to
Initiate Write Cycle
Send Start
Send Control Bytewith R/W = 0
Did DeviceAcknowledge
(ACK = 0)?
NextOperation
No
Yes
DS21930C_JP - ページ 3-18 ©2007 Microchip Technology Inc.
24AAXX/24LCXX/24FCXX製品ファミリ
データシート
3
8.0 読み出し
一部を除き、読み出しは書き込みとほぼ同様に開始しますが、書き込みと異なるのは、制御バイトのR/W ビットは「1」に設定されていることです。読み出しには「現在のアドレスの読み出し」、「任意の読み出し」、「連続読み出し」という 3 つの基本タイプがあります。
8.1 アドレスの読み出し
24XX には、 後にアクセスしたバイトのアドレスを記憶し、内部的に 1 ずつ数を増やすアドレス カウンタが付いています。したがって、直前の読み出しまたは書き込みがアドレス「n」(n は任意の許容アドレス ) であった場合、次の現在のアドレス読み出しでは、アドレス n + 1のデータにアクセスすることになります。 R/W ビットを「1」に設定した制御バイトを受け取ると、24XX は確認応答を発行し、8 ビットのデータ バイトを送信します。マスターはデータ転送の確認応答はしませんが、停止条件を生成するため、24XX はデータ転送を停止します ( 図 8-1)。
図 8-1: 現在のアドレスの読み出し
8.2 任意の読み出し
任意の読み出しでは、マスターはメモリの任意の場所にランダムにアクセスします。このタイプの読み出しを実行するには、バイト アドレスをまず設定しなければなりません。書き込みの一部として (R/Wビットを「0」に設定して ) バイト アドレスを 24XXに送信することによって、設定できます。バイト アドレスが送信された後、マスターは確認応答に続いて開始条件を生成します。これにより書き込みは終了しますが、内部アドレス カウンタが設定されます。その後マスターは再度制御バイトを送信します。このときの R/W ビットは「1」に設定されています。24XX はこれに対して確認応答を出し、8 ビットのデータ バイトを送信します。マスターはデータ転送の確認応答はしませんが、停止条件を生成するため、24XX はデータ転送を停止します ( 図 8-2 および図 8-3)。任意の読み出しコマンドの後、内部アドレス カウンタは次のアドレス位置に進みます。
図 8-2: 任意の読み出し : 128 ビット~ 16K ビットのデバイス
図 8-3: 任意の読み出し : 32 ~ 1024K ビットのデバイス
Bus ActivityMaster
SDA Line
Bus Activity
PS
STOP
ControlByte
START
Data
ACK
NOACK
Byte
S PS
Bus ActivityMaster
SDA Line
Bus Activity
START
STOP
ControlByte
ACK
AddressByte (n)
ControlByte
START
Data
ACK
ACK
NO
ACK
Byte
Bus ActivityMaster
SDA Line
Bus ActivityACK
NOACK
ACK
ACK
ACK
STOP
START
ControlByte
High OrderAddress Byte
Low OrderAddress Byte
ControlByte
DataByte
START
S S P
©2007 Microchip Technology Inc. DS21930C_JP - ページ 3-19
24AAXX/24LCXX/24FCXX
8.3 連続読み出し
連続読み出しは任意の読み出しと同様に開始しますが、任意の読み出しと異なるのは、24XX が 初のデータ バイトを送信した後で、マスターは停止条件を生成する代わりに確認応答を生成することです。この確認応答は、24XX に対して連続してアドレス指定された次のデータ バイトを送信するよう指示します ( 図 8-4)。 後のバイトがマスターに送信されたら、マスターは確認応答を生成せず、停止条件を生成します。連続読み出しを可能にするため、24XX は各動作が終了すると 1 ずつ増える内部アドレス ポインタを備えています。このアドレスポインタにより、一回の動作でメモリの全内容を連続して読み出すことが可能になります。アレイ内の
終アドレス バイトが確認応答されると、アドレス ポインタはアドレス 0x00 に戻ります。
図 8-4: 連続読み出し
Bus ActivityMaster
SDA Line
Bus Activity
ControlByte Data Byte Data Byte Data Byte Data Byte
NOACK
ACK
ACK
ACK
ACK
STOP
P
Initial Second Third Final
DS21930C_JP - ページ 3-20 ©2007 Microchip Technology Inc.
24AAXX/24LCXX/24FCXX製品ファミリ
データシート
3
付録 A: 改版履歴
リビジョン A本文書の初版。シリアル EEPROM 24XXX デバイスの統合データ シート。
リビジョン B (2007 年 2 月 )1.8V から 1.7V に変更、14 ピン TSSOP パッケージを削除、パッケージ図を変更、製品 ID セクションを改訂。全面改訂。
リビジョン C (2007 年 7 月 )24AA1025/LC1025/FC1025 製品を追加、完全改訂、パッケージ図を変更 (Rev. AP)。
©2007 Microchip Technology Inc. DS21930C_JP - ページ 3-21
24AAXX/24LCXX/24FCXX
9.0 パッケージ情報
9.1 パッケージ マーキング情報
XXXXXNNNXXXXXXXX
YYWW
8-Lead PDIP
I/P 1L724LC01B
0528
Example:
3e
8-Lead PDIP Package Marking
Device Line 1 Marking Device Line 1
Marking Device Line 1 Marking Device Line 1
Marking
24AA00 24AA00 24LC00 24LC00 24C00 24C0024AA01 24AA01 24LC01B 24LC01B24AA014 24AA014 24LC014 24LC014
24C01C 24C01C24AA02 24AA02 24LC02B 24LC02B24AA024 24AA024 24LC024 24LC02424AA025 24AA025 24LC025 24LC025
24C02C 24C02C24AA04 24AA04 24LC04B 24LC04B24AA08 24AA08 24LC08B 24LC08B24AA16 24AA16 24LC16B 24LC16B24AA32A 24AA32A 24LC32A 24LC32A24AA64 24AA64 24LC64 24LC64 24FC64 24FC6424AA128 24AA128 24LC128 24LC128 24FC128 24FC12824AA256 24AA256 24LC256 24LC256 24FC256 24FC25624AA512 24AA512 24LC512 24LC512 24FC512 24FC51224AA1025 24AA1025 24LC1025 24LC1025 24FC1025 24FC1025
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
注 : 最新の鉛フリー加工への移行情報については、www.microchip.com/Pbfree をご覧ください。
DS21930C_JP - ページ 3-22 ©2007 Microchip Technology Inc.
24AAXX/24LCXX/24FCXX製品ファミリ
データシート
3
注 : T = 温度範囲 : I = 工業用、E = 拡張。
8-Lead SOIC
SN 052824LC01BI
1L7
Example:
3eXXXXXYYWWXXXXXXXX
NNN
8-Lead SOIC Package Marking
Device Line 1 Marking Device Line 1
Marking Device Line 1 Marking Device Line 1
Marking
24AA00 24AA00T 24LC00 24LC00T 24C00 24C00T24AA01 24AA01T 24LC01B 24LC01BT24AA014 24AA014T 24LC014 24LC014T
24C01C 24C01CT24AA02 24AA02T 24LC02B 24LC02BT24AA024 24AA024T 24LC024 24LC024T24AA025 24AA025T 24LC025 24LC025T
24C02C 24C02CT24AA04 24AA04T 24LC04B 24LC04BT24AA08 24AA08T 24LC08B 24LC08BT24AA16 24AA16T 24LC16B 24LC16BT24AA32A 24AA32AT 24LC32A 24LC32AT24AA64 24AA64T 24LC64 24LC64T 24FC64 24FC64T24AA128 24AA128T 24LC128 24LC128T 24FC128 24FC128T24AA256 24AA256T 24LC256 24LC256T 24FC256 24FC256T24AA512 24AA512T 24LC512 24LC512T 24FC512 24FC512T24AA1025 24AA1025 24LC1025 24LC1025 24FC1025 24FC1025
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
注 : 最新の鉛フリー加工への移行情報については、www.microchip.com/Pbfree をご覧ください。
©2007 Microchip Technology Inc. DS21930C_JP - ページ 3-23
24AAXX/24LCXX/24FCXX
8-Lead 2x3 DFN Example:
244506L7
XXXYWWNN
8-Lead 2x3mm DFN Package Marking
DeviceIndustrial
Line 1 Marking
DeviceIndustrial
Line 1 Marking
E-Temp Line 1
MarkingDevice
Industrial Line 1
Marking
E-Temp Line 1
Marking
24AA00 201 24LC00 204 205 24C00 207 20824AA01 211 24LC01B 214 21524AA014 2N1 24LC014 2N4 2N5
24C01C 2N7 2N824AA02 221 24LC02B 224 22524AA024 2P1 24LC024 2P4 2P524AA025 2R1 24LC025 2R4 2R5
24C02C 2P7 2P824AA04 231 24LC04B 234 23524AA08 241 24LC08B 244 24524AA16 251 24LC16B 254 25524AA32A 261 24LC32A 264 26524AA64 271 24LC64 274 275 24FC64 27A 27B
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
DS21930C_JP - ページ 3-24 ©2007 Microchip Technology Inc.
©2007 Microchip Technology Inc. DS21930C_JP - ページ 3-25
24AAXX/24LCXX/24FCXX製品ファミリ
データシート
3
注 : 温度範囲 (T) は、2 行目に記載。I = 工業用、E = 拡張。
8-Lead DFN Example:
XXXXXXXT/XXXXXYYWW
24AA128I/MF
05281L7NNN
3e
8-Lead 5x6mm DFN Package Marking
Device Line 1 Marking Device Line 1
Marking Device Line 1 Marking
24AA128 24AA128 24LC128 24LC128 24FC128 24FC12824AA256 24AA256 24LC256 24LC256 24FC256 24FC25624AA512 24AA512 24LC512 24LC512 24FC512 24FC512
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
24AAXX/24LCXX/24FCXX
Example:5-Lead SOT-23
XXNN 5EL7
5-Lead SOT-23 Package Marking
Device Comm. Marking
Indust. Marking Device Comm.
MarkingIndust. Marking
E-Temp Marking Device Comm.
MarkingIndust. Marking
E-Temp Marking
24AA00 A0NN B0NN 24LC00 L0NN M0NN N0NN 24C00 C0NN D0NN E0NN24AA01 A1NN B1NN 24LC01B L1NN M1NN N1NN24AA02 A2NN B2NN 24LC02B L2NN M2NN N2NN24AA04 A3NN B3NN 24LC04B L3NN M3NN N3NN24AA08 A4NN B4NN 24LC08B L4NN M4NN N4NN24AA16 A5NN B5NN 24LC16B L5NN M5NN N5NN
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
DS21930C_JP - ページ 3-26 ©2007 Microchip Technology Inc.
24AAXX/24LCXX/24FCXX製品ファミリ
データシート
3
注 : T = 温度範囲 : I = 工業用、E = 拡張。
8-Lead MSOP (150 mil) Example:
XXXXXXTYWWNNN
4L8BI 2281L7
8-Lead MSOP Package Marking
Device Line 1 Marking Device Line 1
Marking Device Line 1 Marking Device Line 1
Marking
24AA01 4A01T 24LC01B 4L1BT24AA014 4A14T 24LC014 4L14T
24C01C 4C1CT24AA02 4A02T 24LC02B 4L2BT24AA024 4A24T 24LC024 4L24T24AA025 4A25T 24LC025 4L25T
24C02C 4C2CT24AA04 4A04T 24LC04B 4L4BT24AA08 4A08T 24LC08B 4L8BT24AA16 4A16T 24LC16B 4L16T24AA32A 4A32AT 24LC32A 4L32AT24AA64 4A64T 24LC64 4L64T 24FC64 4F64T24AA128 4A128T 24LC128 4L128T 24FC128 4F128T24AA256 4A256T 24LC256 4L256T 24FC256 4F256T
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
©2007 Microchip Technology Inc. DS21930C_JP - ページ 3-27
24AAXX/24LCXX/24FCXX
注 : T = 温度範囲 : I = 工業用、E = 拡張。
NNN
XXXXTYWW
8-Lead TSSOP
1L7
4L08I228
Example:
8-Lead TSSOP Package Marking
Device Line 1 Marking Device Line 1
Marking Device Line 1 Marking Device Line 1
Marking
24AA00 4A00 24LC00 4L00 24C00 4C0024AA01 4A01 24LC01B 4L1B24AA014 4A14 24LC014 4L14
24C01C 4C1C24AA02 4A02 24LC02B 4L0224AA024 4A24 24LC024 4L2424AA025 4A25 24LC025 4L25
24C02C 4C2C24AA04 4A04 24LC04B 4L0424AA08 4A08 24LC08B 4L0824AA16 4A16 24LC16B 4L1624AA32A 4AA 24LC32A 4LA24AA64 4AB 24LC64 4LB 24FC64 4FB24AA128 4AC 24LC128 4LC 24FC128 4FC24AA256 4AD 24LC256 4LD 24FC256 4FD
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
DS21930C_JP - ページ 3-28 ©2007 Microchip Technology Inc.
24AAXX/24LCXX/24FCXX製品ファミリ
データシート
3
製品識別システム 注文や資料請求、または価格や納期などの情報については、弊社工場または一覧に記載されている営業所にお問い合わせください。
PART NO. X /XX
PackageTemperatureRange
Device PartExamples:a) 24AA014-I/SN: 1 Kbit, Industrial
Temperature, 1.7V, SOIC packageb) 24AA02T-I/OT: 2 Kbit, Industrial
Temperature, 1.7V, SOT-23 package, Tape and Reel
c) 24LC16B-I/P: 16 Kbit, Industrial Temperature, 2.5V, PDIP package
d) 24LC32A-E/MS: 32 Kbit, Extended Temperature, 2.5V, MSOP package
e) 24LC64T-I/MC: 64 Kbit, Industrial Temperature, 2.5V 2x3 mm DFN package, Tape and Reel
f) 24FC512T-I/SM: 512 Kbit, Industrial Temperature, 1 MHz, SOIC package, Tape and Reel
Device: See Table 1-1
TemperatureRange:
I = -40°C to +85°CE = -40°C to +125°C
Packaging Medium:
T = Tape and ReelBlank = Tube
Package: P = Plastic DIP (300 mil body), 8-leadSN = Plastic SOIC (3.90 mm body), 8-leadSM = Plastic SOIC (208 mil body), 8-leadST = Plastic TSSOP (4.4 mm), 8-leadMS = MSOP (3.0 mm), 8-leadOT = SOT-23, 5-lead (Tape and Reel only)MC = 2x3 mm DFN, 8-lead (Tape and Reel only)MF = 5x6 mm DFN, 8-lead
Number(Table 1-1)
X
PackagingMedium
©2007 Microchip Technology Inc. DS21930C_JP - ページ 3-29
24AAXX/24LCXX/24FCXX
メモ :DS21930C_JP - ページ 3-30 ©2007 Microchip Technology Inc.
Microw
ire互換
3
製品ファミリ
データシート
3
93AA46A/B/C, 93LC46A/B/C, 93C46A/B/C93AA56A/B/C, 93LC56A/B/C, 93C56A/B/C93AA66A/B/C, 93LC66A/B/C, 93C66A/B/C93AA76A/B/C, 93LC76A/B/C, 93C76A/B/C93AA86A/B/C, 93LC86A/B/C, 93C86A/B/C
1K ~ 16K Microwire 互換シリアル EEPROM
特徴 :• 1K ビット~ 16K ビットの容量
• 低消費電力 CMOS 技術
• ORG 機能付きと ORG 機能なしの両方で提供 :ORG 機能付き :- ORG ピンを論理 Low に設定 : 8 ビット ワード
- ORG ピンを論理 High に設定 : 16 ビット ワード
ORG 機能なし :- バージョン「A」: 8 ビット ワード
- バージョン「B」: 16 ビット ワード
• プログラム イネーブル ピン :- アレイ全体への書き込み保護機能
(93XX76C および 93XX86C のみ )• セルフタイミングの消去 / 書き込みサイクル
( 自動消去を含む )• WRAL 前の自動 ERAL• 電源オン / オフ データ保護回路
• 業界標準の 3 線式シリアル I/O• デバイス ステータス信号 ( レディ / ビジー )• 連続読み出し機能
• 100 万回の E/W サイクル
• データ保存 >200 年
• 鉛フリーおよび RoHS 準拠
• サポートされている温度範囲 :
ピン機能表
概要 :マイクロチップ テクノロジー社は、1K ビットから16K ビットまでの容量を持つ低電圧シリアルEEPROM (Electrically Erasable PROM)を備えた 3 線式 Microwire バスをサポートしています。どの容量の製品も、ORG 機能付きと ORG 機能なしの両方のタイプが用意されており、発注時に製品番号で指定できます。先進的な CMOS 技術を採用したこれらのデバイスは、低電力の不揮発性メモリ アプリケーションに 適です。Microwire デバイスの全シリーズが、標準の 8 ピン PDIP および SOIC パッケージに加え、8 ピン MSOP、8 ピン TSSOP、6 ピンSOT-23、8 ピン DFN (2x3) などのより高度なパッケージで提供されています。これらのパッケージはすべて鉛フリーです。
ピン配置図 ( 原寸大ではありません )
- 工業用 (I) -40°C ~ +85°C- 自動車用 (E) -40°C ~ +125°C
Name Function
CS Chip SelectCLK Serial Data ClockDI Serial Data InputDO Serial Data OutputVSS GroundPE Program Enable
ORG Memory ConfigurationVCC Power Supply
注 : すべての製品に ORG および PE 機能が実装されているわけではありません。表 1-1デバイス選択表を参照してください。
PDIP/SOIC(P, SN)
CS
CLK DI
DO
1
2
3
4
8
7
6
5
VCC
NC ORG
VSS
ROTATED SOIC(ex: 93LC46BX)
TSSOP/MSOP
CSCLK
DIDO
1234
8765
VCC
PE(2,3)
ORG(1,3)
VSS
(ST, MS)SOT-23
DO
VSS
DI
1
2
3
6
5
4
VCC
CS
CLK
(OT)
注 1: ORGピン : 93XX46C/56C/66C/76C/86Cに
のみ搭載
2: PE ピン : 93XX76C/86C にのみ搭載
3: ORG/PE: 93XXA/B では内部接続なし
DI
DO VSS
ORG
1
2
3
4
8
7
6
5
CLK
CS VCC
PE
(1,3)
(1,3)
(2,3)
DFN (MC)
1234 5
678CS
CLKDI
DO
VCC
PE(2,3)
ORG(1,3)
VSS
©2007 Microchip Technology Inc. DS21929D_JP - ページ 3-31
93XX46X/56X/66X/76X/86X
表 1-1: デバイス選択表
Part Number Density(Kbits)
VCC Range ORG Pin Organization
(Words) PE Pin Temp Range Packages
93XX46A/B/C93AA46A 1 1.8-5.5 No 128 x 8 bits No I P, SN, ST, MS, OT, MC93AA46B 1 1.8-5.5 No 64 x 16 bits No I P, SN, ST, MS, OT, MC93AA46C 1 1.8-5.5 Yes Selectable x8 or x16 No I P, SN, ST, MS, MC93LC46A 1 2.5-5.5 No 128 x 8 bits No I, E P, SN, ST, MS, OT, MC93LC46B 1 2.5-5.5 No 64 x 16 bits No I, E P, SN, ST, MS, OT, MC93LC46C 1 2.5-5.5 Yes Selectable x8 or x16 No I, E P, SN, ST, MS, MC93C46A 1 4.5-5.5 No 128 x 8 bits No I, E P, SN, ST, MS, OT, MC93C46B 1 4.5-5.5 No 64 x 16 bits No I, E P, SN, ST, MS, OT, MC93C46C 1 4.5-5.5 Yes Selectable x8 or x16 No I, E P, SN, ST, MS, MC93AA46AX/BX/CX, 93LC46AX/BX/CX, 93C46AX/BX/CX (Alternate pinout with die rotated 90°)93AA46AX 1 1.8-5.5 No 128 x 8 bits No I P, SN, ST, MS, OT, MC93AA46BX 1 1.8-5.5 No 64 x 16 bits No I P, SN, ST, MS, OT, MC93AA46CX 1 1.8-5.5 Yes Selectable x8 or x16 No I P, SN, ST, MS, MC93LC46AX 1 2.5-5.5 No 128 x 8 bits No I, E P, SN, ST, MS, OT, MC93LC46BX 1 2.5-5.5 No 64 x 16 bits No I, E P, SN, ST, MS, OT, MC93LC46CX 1 2.5-5.5 Yes Selectable x8 or x16 No I, E P, SN, ST, MS, MC93C46AX 1 4.5-5.5 No 128 x 8 bits No I, E P, SN, ST, MS, OT, MC93C46BX 1 4.5-5.5 No 64 x 16 bits No I, E P, SN, ST, MS, OT, MC93C46CX 1 4.5-5.5 Yes Selectable x8 or x16 No I, E P, SN, ST, MS, MC93XX56A/B/C93AA56A 2 1.8-5.5 No 256 x 8 bits No I P, SN, ST, MS, OT, MC93AA56B 2 1.8-5.5 No 128 x 16 bits No I P, SN, ST, MS, OT, MC93AA56C 2 1.8-5.5 Yes Selectable x8 or x16 No I P, SN, ST, MS, MC93LC56A 2 2.5-5.5 No 256 x 8 bits No I, E P, SN, ST, MS, OT, MC93LC56B 2 2.5-5.5 No 128 x 16 bits No I, E P, SN, ST, MS, OT, MC93LC56C 2 2.5-5.5 Yes Selectable x8 or x16 No I, E P, SN, ST, MS, MC93C56A 2 4.5-5.5 No 256 x 8 bits No I, E P, SN, ST, MS, OT, MC93C56B 2 4.5-5.5 No 128 x 16 bits No I, E P, SN, ST, MS, OT, MC93C56C 2 4.5-5.5 Yes Selectable x8 or x16 No I, E P, SN, ST, MS, MC93XX66A/B/C93AA66A 4 1.8-5.5 No 512 x 8 bits No I P, SN, ST, MS, OT, MC93AA66B 4 1.8-5.5 No 256 x 16 bits No I P, SN, ST, MS, OT, MC93AA66C 4 1.8-5.5 Yes Selectable x8 or x16 No I P, SN, ST, MS, MC93LC66A 4 2.5-5.5 No 512 x 8 bits No I, E P, SN, ST, MS, OT, MC93LC66B 4 2.5-5.5 No 256 x 16 bits No I, E P, SN, ST, MS, OT, MC93LC66C 4 2.5-5.5 Yes Selectable x8 or x16 No I, E P, SN, ST, MS, MC93C66A 4 4.5-5.5 No 512 x 8 bits No I, E P, SN, ST, MS, OT, MC93C66B 4 4.5-5.5 No 256 x 16 bits No I, E P, SN, ST, MS, OT, MC93C66C 4 4.5-5.5 Yes Selectable x8 or x16 No I, E P, SN, ST, MS, MC
DS21929D_JP - ページ 3-32 ©2007 Microchip Technology Inc.
93XX46X/56X/66X/76X/86X製品ファミリ
データシート
3
93XX76A/B/C93AA76A 8 1.8-5.5 No 1024 x 8 bits No I OT93AA76B 8 1.8-5.5 No 512 x 16 bits No I OT93AA76C 8 1.8-5.5 Yes Selectable x8 or x16 Yes I P, SN, ST, MS, MC93LC76A 8 2.5-5.5 No 1024 x 8 bits No I, E OT93LC76B 8 2.5-5.5 No 512 x 16 bits No I, E OT93LC76C 8 2.5-5.5 Yes Selectable x8 or x16 Yes I, E P, SN, ST, MS, MC93C76A 8 4.5-5.5 No 1024 x 8 bits No I, E OT93C76B 8 4.5-5.5 No 512 x 16 bits No I, E OT93C76C 8 4.5-5.5 Yes Selectable x8 or x16 Yes I, E P, SN, ST, MS, MC93XX86A/B/C93AA86A 16 1.8-5.5 No 2048 x 8 bits No I OT93AA86B 16 1.8-5.5 No 1024 x 16 bits No I OT93AA86C 16 1.8-5.5 Yes Selectable x8 or x16 Yes I P, SN, ST, MS, MC93LC86A 16 2.5-5.5 No 2048 x 8 bits No I, E OT93LC86B 16 2.5-5.5 No 1024 x 16 bits No I, E OT93LC86C 16 2.5-5.5 Yes Selectable x8 or x16 Yes I, E P, SN, ST, MS, MC93C86A 16 4.5-5.5 No 2048 x 8 bits No I, E OT93C86B 16 4.5-5.5 No 1024 x 16 bits No I, E OT93C86C 16 4.5-5.5 Yes Selectable x8 or x16 Yes I, E P, SN, ST, MS, MC
表 1-1: デバイス選択表 ( 続き )
Part Number Density(Kbits)
VCC Range ORG Pin Organization
(Words) PE Pin Temp Range Packages
©2007 Microchip Technology Inc. DS21929D_JP - ページ 3-33
93XX46X/56X/66X/76X/86X
2.0 電気的特性
絶対最大定格 (†)
VCC..................................................................................................................................................................................... 7.0V
VSS を基準にしたすべての入出力 ........................................................................................................-0.6V ~ VCC+1.0V保存温度 ........................................................................................................................................................ -65°C ~ +150°C通電時の周囲温度 ........................................................................................................................................ -40°C ~ +125°C全ピンに対する静電気保護 ......................................................................................................................................... ≥ 4 kV
† 注意 : 上記の「絶対 大定格」を超えるストレスを加えると、デバイスに恒久的な損傷を与えることがあります。この規定はストレス定格のみを規定するものであり、この条件、あるいはこの仕様の動作条件に記載する規定値以上の他の条件でのデバイス動作を定めたものではありません。デバイスを長時間 大定格状態にすると、デバイスの信頼性に影響を与えることがあります。
表 2-1: DC 特性
All parameters apply over the specified ranges unless otherwise noted.
VCC = 1.8V to 5.5VIndustrial (I): TA = -40°C to +85°CAutomotive (E): TA = -40°C to +125°C
Param. No. Symbol Parameter Min. Typ. Max. Units Conditions
D1 VIH1VIH2
High-level input voltage 2.00.7 VCC
——
VCC +1VCC +1
VV
VCC ≥ 2.7VVCC < 2.7V
D2 VIL1VIL2
Low-level input voltage -0.3-0.3
——
0.80.2 VCC
VV
VCC ≥ 2.7VVCC < 2.7V
D3 VOL1VOL2
Low-level output voltage ——
——
0.40.2
VV
IOL = 2.1 mA, VCC = 4.5VIOL = 100 µA, VCC = 2.5V
D4 VOH1VOH2
High-level output voltage 2.4VCC-0.2
——
——
VV
IOH = -400 µA, VCC = 4.5VIOH = -100 µA, VCC = 2.5V
D5 ILI Input leakage current — — ±1 µA VIN = VSS to VCC
D6 ILO Output leakage current — — ±1 µA VOUT = VSS to VCC
D7 CIN, COUT
Pin capacitance (all inputs/outputs)
— — 7 pF VIN/VOUT = 0V ( 注 1)TA = 25°C, FCLK = 1 MHz
D8 ICC write Write current — — 2 mA FCLK = 3 MHz, VCC = 5.5V (93XX46X/56X/66X)
—
—
—
500
3
—
mA
µA
FCLK = 3 MHz, VCC = 5.5V (93XX76X/86X)FCLK = 2 MHz, VCC = 2.5V
D9 ICC read Read current ———
——100
1500—
mAµAµA
FCLK = 3 MHz, VCC = 5.5VFCLK = 2 MHz, VCC = 3.0VFCLK = 2 MHz, VCC = 2.5V
D10 ICCS Standby current ——
——
15
µAµA
I-Temp ( 注 2、3)E-TempCLK = Cs = 0VORG = DI = VSS or VCC
D11 VPOR VCC voltage detect ——
1.5V3.8V
——
VV
93AAX6A/B/C, 93LCX6A/B/C, 93CX6A/B/C ( 注 1)
注 1: このパラメータは無作為に抽出された一部のデバイスを対象に定期的にテストされるもので、テストは全数テストではありません。
2: ORG および PE ピンはバージョン「A」またはバージョン「B」には装備されていません。
3: レディ / ビジーのステータスは DO からクリアする必要があります。セクション 4.4「データ出力 (DO)」を参照してください。
DS21929D_JP - ページ 3-34 ©2007 Microchip Technology Inc.
93XX46X/56X/66X/76X/86X製品ファミリ
データシート
3
表 2-2: AC 特性
All parameters apply over the specified ranges unless otherwise noted.
VCC = 1.8V to 5.5VIndustrial (I): TA = -40°C to +85°CAutomotive (E): TA = -40°C to +125°C
Param. No. Symbol Parameter Min. Max. Units Conditions
A1 FCLK Clock frequency — 321
MHzMHzMHz
4.5V ≤ VCC < 5.5V2.5V ≤ VCC < 4.5V1.8V ≤ VCC < 2.5V
A2 TCKH Clock high time 200250450
— nsnsns
4.5V ≤ VCC < 5.5V2.5V ≤ VCC < 4.5V1.8V ≤ VCC < 2.5V
A3 TCKL Clock low time 100200450
— nsnsns
4.5V ≤ VCC < 5.5V2.5V ≤ VCC < 4.5V1.8V ≤ VCC < 2.5V
A4 TCSS Chip Select setup time 50100250
— nsnsns
4.5V ≤ VCC < 5.5V2.5V ≤ VCC < 4.5V1.8V ≤ VCC < 2.5V
A5 TCSH Chip Select hold time 0 — ns 1.8V ≤ VCC < 5.5VA6 TCSL Chip Select low time 250 — ns 1.8V ≤ VCC < 5.5VA7 TDIS Data input setup time 50
100250
— nsnsns
4.5V ≤ VCC < 5.5V2.5V ≤ VCC < 4.5V1.8V ≤ VCC < 2.5V
A8 TDIH Data input hold time 50100250
— nsnsns
4.5V ≤ VCC < 5.5V2.5V ≤ VCC < 4.5V1.8V ≤ VCC < 2.5V
A9 TPD Data output delay time — 100 ns 4.5V ≤ VCC < 5.5V, CL = 100 pF (93C76X/86X)
— 200250400
nsnsns
4.5V ≤ VCC < 5.5V, CL = 100 pF2.5V ≤ VCC < 4.5V, CL = 100 pF1.8V ≤ VCC < 2.5V, CL = 100 pF
A10 TCZ Data output disable time — 100200
nsns
4.5V ≤ VCC < 5.5V, ( 注 1)1.8V ≤ VCC < 4.5V, ( 注 1)
A11 TSV Status valid time — 200300500
nsnsns
4.5V ≤ VCC < 5.5V, CL = 100 pF2.5V ≤ VCC < 4.5V, CL = 100 pF1.8V ≤ VCC < 2.5V, CL = 100 pF
A12 TWC Program cycle time — 5 ms Erase/Write mode93XX76X/86X (AA and LC versions)
— 6 ms 93XX46X/56X/66X (AA and LC versions)
A13 TWC — 2 ms 93C46X/56X/66X/76X/86XA14 TEC Program cycle time — 6 ms ERAL mode, 4.5V ≤ VCC ≤ 5.5V A15 TWL — 15 ms WRAL mode, 4.5V ≤ VCC ≤ 5.5V A16 — Endurance 1M — cycles 25°C, VCC = 5.0V, ( 注 2)注 1: このパラメータは無作為に抽出された一部のデバイスを対象に定期的にテストされるもので、テストは
全数テストではありません。
2: このアプリケーションはテストされていませんが、特性に基づいて保証されています。特定のアプリケーションにおけるデータ書き換え耐久性の概算については、マイクロチップ社のウェブ サイトwww.microchip.com からダウンロードできる Total Endurance™ Model をご覧ください。
©2007 Microchip Technology Inc. DS21929D_JP - ページ 3-35
93XX46X/56X/66X/76X/86X
図 2-1: 同期データ タイミング
CS VIH
VIL
VIH
VIL
VIH
VIL
VOH
VOL
VOH
VOL
CLK
DI
DO(Read)
DO(Program)
TCSS
TDIS
TCKH TCKL
TDIH
TPD
TCSH
TPD
TCZ
Status Valid
TSV
TCZ
注 : TSV ( ステータス バリッド タイム ) は CS を基準にしています。
DS21929D_JP - ページ 3-36 ©2007 Microchip Technology Inc.
93XX46X/56X/66X/76X/86X製品ファミリ
データシート
3
表 2-4: 93XX56A/B/C の命令セット
表 2-3: 93XX46A/B/C の命令セット
Instruction SB Opcode Address Data In Data OutReq. CLK
Cycles
93XX46B OR 93XX46C WITH ORG = 1 (16-BIT WORD ORGANIZATION)ERASE 1 11 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — (RDY/BSY) 9
ERAL 1 00 1 0 x x x x — (RDY/BSY) 9
EWDS 1 00 0 0 x x x x — High-Z 9
EWEN 1 00 1 1 x x x x — High-Z 9
READ 1 10 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — D15-D0 25
WRITE 1 01 A5 A4 A3 A2 A1 A0 D15-D0 (RDY/BSY) 25
WRAL 1 00 0 1 x x x x D15-D0 (RDY/BSY) 25
93XX46A OR 93XX46C WITH ORG = 0 (8-BIT WORD ORGANIZATION)ERASE 1 11 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — (RDY/BSY) 10
ERAL 1 00 1 0 x x x x x — (RDY/BSY) 10
EWDS 1 00 0 0 x x x x x — High-Z 10
EWEN 1 00 1 1 x x x x x — High-Z 10
READ 1 10 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — D7-D0 18
WRITE 1 01 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 D7-D0 (RDY/BSY) 18
WRAL 1 00 0 1 x x x x x D7-D0 (RDY/BSY) 18
Instruction SB Opcode Address Data In Data OutReq. CLK
Cycles
93XX56B OR 93XX56C WITH ORG = 1 (16-BIT WORD ORGANIZATION)ERASE 1 11 x A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — (RDY/BSY) 11
ERAL 1 00 1 0 x x x x x x — (RDY/BSY) 11
EWDS 1 00 0 0 x x x x x x — High-Z 11
EWEN 1 00 1 1 x x x x x x — High-Z 11
READ 1 10 x A6 A5 A4 A3 S2 A1 A0 — D15-D0 27
WRITE 1 01 x A6 A5 A4 A3 S2 A1 A0 D15-D0 (RDY/BSY) 27
WRAL 1 00 0 1 x x x x x x D15-D0 (RDY/BSY) 27
93XX56A OR 93XX56C WITH ORG = 0 (8-BIT WORD ORGANIZATION)ERASE 1 11 x A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — (RDY/BSY) 12
ERAL 1 00 1 0 x x x x x x x — (RDY/BSY) 12
EWDS 1 00 0 0 x x x x x x x — High-Z 12
EWEN 1 00 1 1 x x x x x x x — High-Z 12
READ 1 10 x A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — D7-D0 20
WRITE 1 01 x A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 D7-D0 (RDY/BSY) 20
WRAL 1 00 0 1 x x x x x x x D7-D0 (RDY/BSY) 20
©2007 Microchip Technology Inc. DS21929D_JP - ページ 3-37
93XX46X/56X/66X/76X/86X
表 2-5: 93XX66A/B/C の命令セット
表 2-6: 93XX76A/B/C の命令セット
Instruction SB Opcode Address Data In Data OutReq. CLK
Cycles
93XX66B OR 93XX66C WITH ORG = 1 (16-BIT WORD ORGANIZATION)
ERASE 1 11 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — (RDY/BSY) 11
ERAL 1 00 1 0 x x x x x x — (RDY/BSY) 11
EWDS 1 00 0 0 x x x x x x — High-Z 11
EWEN 1 00 1 1 x x x x x x — High-Z 11
READ 1 10 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — D15-D0 27
WRITE 1 01 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 D15-D0 (RDY/BSY) 27
WRAL 1 00 0 1 x x x x x x D15-D0 (RDY/BSY) 27
93XX66A OR 93XX66C WITH ORG = 0 (8-BIT WORD ORGANIZATION)
ERASE 1 11 A8 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — (RDY/BSY) 12
ERAL 1 00 1 0 x x x x x x x — (RDY/BSY) 12
EWDS 1 00 0 0 x x x x x x x — High-Z 12
EWEN 1 00 1 1 x x x x x x x — High-Z 12
READ 1 10 A8 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — D7-D0 20
WRITE 1 01 A8 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 D7-D0 (RDY/BSY) 20
WRAL 1 00 0 1 x x x x x x x D7-D0 (RDY/BSY) 20
Instruction SB Opcode Address Data In Data OutReq. CLK
Cycles
93XX76B OR 93XX76C WITH ORG = 1 (16-BIT WORD ORGANIZATION)
ERASE 1 11 x A8 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — (RDY/BSY) 13
ERAL 1 00 1 0 x x x x x x x x — (RDY/BSY) 13
EWDS 1 00 0 0 x x x x x x x x — High-Z 13
EWEN 1 00 1 1 x x x x x x x x — High-Z 13
READ 1 10 x A8 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — D15-D0 29
WRITE 1 01 x A8 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 D15-D0 (RDY/BSY) 29
WRAL 1 00 0 1 x x x x x x x x D15-D0 (RDY/BSY) 29
93XX76A OR 93XX76C WITH ORG = 0 (8-BIT WORD ORGANIZATION)
ERASE 1 11 x A9 A8 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — (RDY/BSY) 14
ERAL 1 00 1 0 x x x x x x x x x — (RDY/BSY) 14
EWDS 1 00 0 0 x x x x x x x x x — High-Z 14
EWEN 1 00 1 1 x x x x x x x x x — High-Z 14
READ 1 10 x A9 A8 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — D7-D0 22
WRITE 1 01 x A9 A8 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 D7-D0 (RDY/BSY) 22
WRAL 1 00 0 1 x x x x x x x x x D7-D0 (RDY/BSY) 22
DS21929D_JP - ページ 3-38 ©2007 Microchip Technology Inc.
93XX46X/56X/66X/76X/86X製品ファミリ
データシート
3
表 2-7: 93XX86A/B/C の命令セット
Instruction SB Opcode Address Data In Data OutReq. CLK
Cycles
93XX86B OR 93XX86C WITH ORG = 1 (16-BIT WORD ORGANIZATION)
ERASE 1 11 A9 A8 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — (RDY/BSY) 13
ERAL 1 00 1 0 x x x x x x x x — (RDY/BSY) 13
EWDS 1 00 0 0 x x x x x x x x — High-Z 13
EWEN 1 00 1 1 x x x x x x x x — High-Z 13
READ 1 10 A9 A8 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — D15-D0 29
WRITE 1 01 A9 A8 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 D15-D0 (RDY/BSY) 29
WRAL 1 00 0 1 x x x x x x x x D15-D0 (RDY/BSY) 29
93XX86A OR 93XX86C WITH ORG = 0 (8-BIT WORD ORGANIZATION)
ERASE 1 11 A10
A9 A8 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — (RDY/BSY) 14
ERAL 1 00 1 0 x x x x x x x x x — (RDY/BSY) 14
EWDS 1 00 0 0 x x x x x x x x x — High-Z 14
EWEN 1 00 1 1 x x x x x x x x x — High-Z 14
READ 1 10 A10
A9 A8 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 — D7-D0 22
WRITE 1 01 A10
A9 A8 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 D7-D0 (RDY/BSY) 22
WRAL 1 00 0 1 x x x x x x x x x D7-D0 (RDY/BSY) 22
©2007 Microchip Technology Inc. DS21929D_JP - ページ 3-39
93XX46X/56X/66X/76X/86X
3.0 機能の説明
ORG ピンが VCC に接続されていれば、(x16) 構成が、ORG ピンがグランドに接続されている場合は、(x8) 構成が選択されます。命令、アドレス、および書き込みデータは、クロック (CLK) の立ち上がりエッジで DI ピンに取り込まれます。DO ピンは、デバイスからデータを読み取る場合やプログラミング操作の際にレディ / ビジーのステータスをチェックしている場合を除き、通常ハイ インピーダンス状態になります。レディ / ビジーのステータスは、消去 / 書き込み中に DO ピンをポーリングすることによって確認できます。DO Low はプログラミングがまだ進行中であることを意味し、DO Highはデバイスがレディ状態であることを意味します。DO は CS の立ち下がりエッジでハイ インピーダンス状態になります。
3.1 開始条件
CS と DI がどちらも CLK のポジティブ エッジに対して初めて High の状態になると、デバイスが開始ビットを検出します。
開始条件が検出される前は、CS、CLK、および DIは変更可能で ( 開始条件への変更は除く )、デバイスは読み出し、書き込み、消去、EWEN、EWDS、ERAL、WRAL などの動作を実行しません。CS がHigh になると、デバイスはスタンバイ モードではなくなります。
開始条件に続く命令は、該当の命令に必要なオペコード、アドレス、データ ビットがクロック インされた場合にのみ実行されます。
3.2 データ入力 / データ出力 (DI/DO)データ入力ピンとデータ出力ピンは一緒に接続できます。ただし、この場合、A0 が論理 High レベルの場合、読み出しに先行する「ダミー ゼロ」で「バスの競合」が発生する可能性があります。この状態では、データ出力ピンに現れる電圧レベルが安定せず、データ出力ピンの相対インピーダンスおよびA0を駆動する信号ソースに依存することになります。ドライバ側の電流が大きくなると、データ出力ピンの電圧は高くなります。この電流を制限するには、DI と DO の間に抵抗器が必要です。
3.3 データ保護
‘93AAXX’および‘93AAXX’デバイスの場合、VCCが通常電圧である 1.5V、‘93CXX’デバイスの場合 3.8Vを下回ると、すべての動作モードは禁止されます。
EWEN および EWDS コマンドは、通常動作中に不用意なプログラミングをした場合の保護機能を強化します。
電源投入後、デバイスは自動的に EWDS モードになります。したがって、 初の消去命令または書き込み命令を実行するには、あらかじめ EWEN命令を実行する必要があります。
ブロック図
注 : 命令の送信準備時に CS を正論理に切り換えるとき、CLK または DI の信号レベルは論理 Low でなければなりません。
注 : 保護機能を強化するには、書き込みの後に必ずEWDSコマンドを実行し、CSピンには10 kΩ の外部プルダウン保護抵抗器を取り付けなければなりません。
注 : 93XX76C/86C デバイスで、アレイへの不用意な書き込みを防止するためには、PEピンを論理 Low に設定します。
VCCVSS
HV Generator
EEPROMArrayI/O Control
Logic
MemoryControlLogic
X
DecByte Latches
Y Decoder
Sense Amp.R/W Control
DIDOCS
CLKORG(1)
PE(2)
注 1: ORG ピン : 93XX46C/56C/66C/76C/86C に
のみ搭載
2: PE ピン : 93XX76C/86C にのみ搭載
DS21929D_JP - ページ 3-40 ©2007 Microchip Technology Inc.
93XX46X/56X/66X/76X/86X製品ファミリ
データシート
3
3.4 消去
消去命令は、指定したアドレスのデータ ビットをすべてロジック「1」の状態にします。アドレスの終ビットのロードに続き、CS を Low にします。
CS ピンの立ち下がりエッジで、セルフタイミングのプログラミング サイクルを開始します。ただし、‘93CXX’ デバイスは例外で、アドレスの 終ビットの前の CLK の立ち上がりエッジで書き込みサイクルを開始します。
DO ピンは、CS を 低 250 ns 時間 Low (TCSL) にした後 High にすると、デバイスのレディ / ビジー ステータスを示します。DO がロジック「0」の場合は、プログラミングがまだ進行中であることを示します。DO がロジック「1」の場合は、指定したアドレスのレジスタが消去され、デバイスが別の命令を受け入れる状態になっていることを示します。
図 3-1: 93AAXX および 93LCXX デバイスの消去タイミング
図 3-2: 93CXX デバイスの消去タイミング
注 : 消去サイクルが完了した後で、開始ビットを発行してから CS を Low にすると、DOからレディ/ビジー ステータスがクリアされます。
CS
CLK
DI
DO
TCSL
Check Status
1 1 1 AN AN-1 AN-2 ••• A0
TSV TCZ
BUSY ReadyHigh-Z
TWC
High-Z
CS
CLK
DI
DO
TCSL
Check Status
1 1 1 AN AN-1 AN-2 ••• A0
TSV TCZ
Busy ReadyHigh-Z
TWC
High-Z
©2007 Microchip Technology Inc. DS21929D_JP - ページ 3-41
93XX46X/56X/66X/76X/86X
3.5 全消去 (ERAL)全消去 (ERAL) 命令は、メモリ アレイ全体を消去して、ロジック「1」の状態にします。オペコードが異なる以外、ERAL サイクルは消去サイクルと同じです。ERALサイクルは完全にセルフタイミングで、CS の立ち下がりエッジで開始します。ただし、‘93CXX’ デバイスは例外でデータの 終ビットの前の CLK の立ち上がりエッジで書き込みサイクルを開始します。CLK ピンのクロックは、デバイスが ERAL サイクルに入った後は必要ありません。 DO ピンは、CS を 低 250 ns 時間 Low (TCSL) にした後 High に遷移させると、デバイスのレディ / ビジー ステータスを示します。
ERAL を正確に実行するには、VCC を 4.5V 以上に維持する必要があります。
図 3-3: 93AAXX および 93LCXX デバイスの ERAL タイミング
図 3-4: 93CXX デバイスの ERAL タイミング
注 : ERAL コマンドが完了した後で、開始ビットを発行してからCSをLowにすると、DOのレディ/ビジー ステータスがクリアされます。
CS
CLK
DI
DO
TCSL
Check Status
1 0 0 1 0 X ••• X
TSV TCZ
Busy ReadyHigh-Z
TEC
High-Z
Vcc must be ≥ 4.5V for proper operation of ERAL.
CS
CLK
DI
DO
TCSL
Check Status
1 0 0 1 0 X ••• X
TSV TCZ
Busy ReadyHigh-Z
TEC
High-Z
DS21929D_JP - ページ 3-42 ©2007 Microchip Technology Inc.
93XX46X/56X/66X/76X/86X製品ファミリ
データシート
3
3.6 消去 / 書き込みディスエーブル (EWDS) および消去 / 書き込みイネーブル (EWEN)
93XX シリーズのデバイスは、消去 / 書き込みディスエーブル (EWDS) の状態で起動します。プログラミング モードに入るには、消去 / 書き込みイネーブル (EWEN) 命令を実行する必要があります。いったん EWEN 命令を実行すると、EWDS 命令を実行するか、デバイスから VCC を取り外すまで、プログラミングは有効です。 データが不適切に変更されないよう、EWDS 命令を使用して消去 / 書き込み機能をすべて無効にできます。そのためには、すべてのプログラミング動作に続いてこの命令を生成する必要があります。読み出し命令の実行は、EWEN命令やEWDS命令のいずれにも関係しません。
図 3-5: EWDS のタイミング
図 3-6: EWEN のタイミング
CS
CLK
DI 1 0 0 0 0 x ••• x
TCSL
1 x
CS
CLK
DI 0 0 1 1 x
TCSL
•••
©2007 Microchip Technology Inc. DS21929D_JP - ページ 3-43
93XX46X/56X/66X/76X/86X
3.7 読み出し
読み出し命令は、アドレス指定したメモリ場所のデータを DO ピン上にシリアル出力します。まずダミーのゼロ ビットが出力された後、8 ビット (ORGピンが Low またはバージョン A のデバイスの場合 )または 16 ビット (ORG ピンが High またはバージョン B のデバイスの場合 ) の出力ストリングが表れます。出力データ ビットは CLK の立ち上がりエッジで切り替わり、指定した遅延時間 (TPD) が経過する
と安定します。CS が High を維持している間は、連続読み出しが可能です。メモリ データが自動的に次のレジスタに移動し、データを連続して出力します。
図 3-7: 読み出しのタイミング
CS
CLK
DI
DO
1 1 0 An ••• A0
High-Z 0 Dx ••• D0 Dx ••• D0 •••Dx D0
DS21929D_JP - ページ 3-44 ©2007 Microchip Technology Inc.
93XX46X/56X/66X/76X/86X製品ファミリ
データシート
3
3.8 書き込み
書き込み命令を実行すると、8 ビット (ORG ピンがLowまたはバージョンAデバイスの場合 )または 16ビット (ORG ピンが High またはバージョン B デバイスの場合 ) のデータが指定したアドレスに書き込まれます。93AAXX および 93LCXX デバイスでは、終データ ビットが DI にクロック同期してから、
CS の立ち下がりエッジでセルフタイミングの自動消去とプログラミング サイクルを開始します。93CXX デバイスでは、データの 終ビットの CLKの立ち上がりエッジで、セルフタイミングの自動消去とプログラミング サイクルが開始されます。
DO ピンは、CS を 低 250 ns 時間 Low (TCSL) にした後 High にすると、デバイスのレディ / ビジー ステータスを示します。DO がロジック「0」の場合は、プログラミングがまだ進行中であることを示します。DO がロジック「1」の場合は、指定したアドレスのレジスタに指定したデータが書き込まれ、デバイスは別の命令を受け入れる状態であることを示します。
図 3-8: 93AAXX および 93LCXX デバイスの書き込みタイミング
図 3-9: 93CXX デバイスの書き込みタイミング
注 : 93XX76C や 93XX86C などのように PE 機能を装備しているデバイスでは、書き込みシーケンスで 終データ ビットのクロック立ち上がりエッジの前に、PE ピン上に論理 High 信号が必要になります。
注 : 書き込みサイクルが完了した後で、開始ビットを発行してから CS を Low にすると、DO からレディ / ビジー ステータスがクリアされます。
CS
CLK
DI
DO
1 0 1 An ••• A0 Dx ••• D0
Busy Ready High-ZHigh-Z
Twc
TCSL
TCZTSV
CS
CLK
DI
DO
1 0 1 An ••• A0 Dx ••• D0
Busy Ready High-ZHigh-Z
Twc
TCSL
TCZTSV
©2007 Microchip Technology Inc. DS21929D_JP - ページ 3-45
93XX46X/56X/66X/76X/86X
3.9 全書き込み (WRAL)全書き込み(WRAL)命令は、コマンドで指定したデータをメモリ アレイ全体に書き込みます。93AAXXおよび 93LCXX デバイスでは、 終データ ビットが DI にクロック同期してから、CS の立ち下がりエッジでセルフタイミングの自動消去とプログラミング サイクルを開始します。93CXX デバイスでは、 終データ ビット時の CLK 立ち上がりエッジによって、セルフタイミングの自動消去とプログラミング サイクルを開始します。CLK ピンのクロックは、デバイスが WRAL サイクルに入った後は必要ありません。WRAL コマンドに、デバイスの自動ERAL サイクルが含まれます。したがって、WRAL命令は ERAL 命令を必要としませんが、チップはEWEN ステータスである必要があります。
DO ピンは、CS を 低 250 ns 時間 Low (TCSL) にした後 High にすると、デバイスのレディ / ビジー ステータスを示します。
WRAL を正確に実行するには、VCC が 4.5V 以上である必要があります。
図 3-10: 93AAXX および 93LCXX デバイスの WRAL タイミング
図 3-11: 93CXX デバイスの WRAL タイミング
注 : 93XX76C や 93XX86C などのように PE 機能を装備しているデバイスでは、書き込みシーケンスで 終データ ビットのクロック立ち上がりエッジの前に、PE ピン上に論理 High 信号が必要になります。
注 : 全書き込みサイクルが完了した後で、開始ビットを発行してから CS を Low にすると、DO からレディ / ビジー ステータスがクリアされます。
CS
CLK
DI
DOHIGH-Z
1 0 0 0 1 X ••• x Dx ••• D0
High-Z BusyReady
TWL
VCC must be ≥ 4.5V for proper operation of WRAL.
TCSL
TSV TCZ
CS
CLK
DI
DOHIGH-Z
1 0 0 0 1 X ••• x Dx ••• D0
High-Z Busy Ready
TWL
TCSL
TSV TCZ
DS21929D_JP - ページ 3-46 ©2007 Microchip Technology Inc.
93XX46X/56X/66X/76X/86X製品ファミリ
データシート
3
4.0 ピン説明
表 4-1: ピン説明
4.1 チップ セレクト (CS)このピンのレベルを High にするとデバイスの選択ができ、Low にするとデバイスの選択が解除され、スタンバイ モードに切り換わります。ただし、チップ セレクト (CS) 入力信号の状態に関わらず、すでに進行中のプログラミング サイクルは 後まで実行されます。プログラミング サイクルの途中で CSを Low にすると、プログラミング サイクルの完了次第すぐに、デバイスはスタンバイ モードになります。
CS は、連続する命令の間に少なくとも 250 ns 時間Low (TCSL) である必要があります。CS が Low であれば、内部制御ロジックはリセットの状態に保たれます。
4.2 シリアル クロック (CLK)シリアル クロックピンは、マスター デバイスと93XXシリーズ デバイス間の通信を同期するのに使用します。オペコード、アドレス、およびデータビットは、CLK のポジティブ エッジに同期して取り込まれます。データ ビットも CLK のポジティブエッジに同期して出力されます。
CLK は、伝送シーケンスの途中のどの時点でも(High または Low レベルのいずれでも ) 停止でき、クロック High 時間 (TCKH) とクロック Low 時間(TCKL) に対していつでも継続できます。このため、制御マスターは自由にオペコード、アドレス、およびデータの準備ができます。
CS が Low の場合 ( デバイスは選択されていない )、CLK は「ドントケア」になります。CS は High であるが、開始条件が検出されていない (DI = 0) 場合、
デバイスはステータスを維持したまま ( 開始条件を待つなどして )、何クロック サイクルでも受信できます。
セルフタイミングの書き込み ( つまり自動消去 / 書き込み ) サイクル中は、CLK は必要ありません。
開始条件を検出した後は、特定のクロック数 (CLKの Low から High への各移行 ) を提供する必要があります。これらのクロック サイクルは、命令を実行するのに必要なオペコード、アドレス、データビットすべてをクロックに同期して取り込むのに必要です。その後、CLK と DI は「ドントケア」入力になり、新しい開始条件の検出を待ちます。
4.3 データ入力 (DI)データ入力 (DI) ピンは、CLK 入力に同期して開始ビット、オペコード、アドレス、およびデータの取り込みに使用します。
4.4 データ出力 (DO)データ出力 (DO) ピンは、読み出しモードで CLK 入力に同期しデータの出力に使用されます (CLK のポジティブエッジ後の TPD)。またこのピンは、消去 / 書き込みサイクル中にレディ / ビジー ステータスを提示します。レディ / ビジー ステータスは、CS が 短チップ セレクト Low時間 (TCSL) だけ Low 状態を保った後 High になり、かつ消去または書き込みが開始している場合、DOピンに示されます。
Name SOIC/PDIP/MSOP/TSSOP/DFN SOT-23 Function
CS 1 5 Chip Select
CLK 2 4 Serial Clock
DI 3 3 Data In
DO 4 1 Data Out
VSS 5 2 Ground
ORG6 N/A
Organization (93XX46C/56C/66C/76C/86C)
NC(1) No connect on 93XXA/B devices
PE7 N/A
Program Enable (93XX76C/86C)
NC(1) No connect on 93XXA/B devices
VCC 8 6 Power Supply
注 1: 内部接続がない場合、NC ピンの論理レベルは「ドントケア」です。
©2007 Microchip Technology Inc. DS21929D_JP - ページ 3-47
93XX46X/56X/66X/76X/86X
消去または書き込み中、CS が Low に保持されたままの場合には、DO にステータス信号は示されません。この場合、DO はハイ インピーダンス モードになります。消去 / 書き込みサイクル終了後ステータスが確認されると、データ ラインは High になり、デバイスの準備ができたことを示します。4.5 構成 (ORG)ORGピンがVCCまたは論理Highに接続されていれば、(x16) メモリ構成が選択されます。ORG ピンがVSS または論理 Low に接続されていれば、(x8) メモリ構成が選択されます。正常に動作させるには、ORG ピンは有効な論理レベルに接続されている必要があります。
ORG 機能を備えていないデバイスでは、ORG ピンへの内部接続はありません。これらのデバイスでは、ORG 機能はシングル ワード サイズをサポートするよう工場出荷時に設定されています。
「A」シリーズデバイス – x8 構成
「B」シリーズデバイス – x16 構成
4.6 プログラム イネーブル (PE)8 ピンの 93XX76C および 93XX86C デバイスのみ、PE ピンの論理レベルにより、メモリ アレイへのデータの書き込みを有効または無効にできます。その他のデバイスには PE 機能はなく、PE ピンは接続されていません。PE ピンを論理 High に接続すると、デバイスはプログラミング可能になり、PE ピンを論理 Low に接続すると、プログラミングは禁止されます。このピンは、表 4-2 に示すように EWEN/EWDS ラッチと併用することによって、メモリ アレイへの不用意な書き込みを回避できます。
93XX76C または 93XX86C デバイスでは、PE ピンをいずれかの論理レベルに接続しなければならず、フロート状態にしておくことはできません。PE 機能を備えていないデバイスでは、PE ピンは内部接続を持たず、プログラミングは常に有効です。
注 : 読み出しサイクル完了後、開始ビットを立ててから CS を Low にすると、DO からレディ / ビジー ステータスがクリアされます。
表 4-2: 書き込み保護機能
EWEN/EWDS Latch PE Pin* Array WRITE
Enabled 1 YesDisabled 1 NoEnabled 0 NoDisabled 0 No
* PE ピンのレベルを変更しても、EWEN/EWDS ラッチの状態は変わりません。
注 : 93XX76C や 93XX86C などのように PE 機能を備えたデバイスでは、書き込みシーケンスで 終データ ビットのクロック立ち上がりエッジの前に、PE ピン上に論理 High 信号が必要になります。
DS21929D_JP - ページ 3-48 ©2007 Microchip Technology Inc.
93XX46X/56X/66X/76X/86X製品ファミリ
データシート
3
付録 A: 改版履歴
リビジョン A本文書の初版。93 シリーズの Microwire シリアルEEPROM デバイスのデータ シートを統合。
リビジョン B2x3 (MC) DFN パッケージの図を改訂。
リビジョン C表 2-6、93XX76A (EWDS) を修正。
リビジョン D (2007 年 3 月 )説明文書の改訂、鉛フリーの注意書きを削除、パッケージ図を差し替え、製品識別システムを改訂。
©2007 Microchip Technology Inc. DS21929D_JP - ページ 3-49
93XX46X/56X/66X/76X/86X
5.0 パッケージ情報
5.1 パッケージ マーキング情報
TXXXXNNNXXXXXXXX
YYWW
8-Lead PDIP
I/P IL793LC46A
0528
Example: Pb-free
3-Wire 8-Lead PDIP Package Marking
Part Line 1 Marking Part Line 1 Marking Part Line 1 Marking
93AA46A 93AA46A 93LC46A 93LC46A 93C46A 93C46A93AA46B 93AA46B 93LC46B 93LC46B 93C46B 93C46B93AA46C 93AA46C 93LC46C 93LC46C 93C46C 93C46C93AA56A 93AA56A 93LC56A 93LC56A 93C56A 93C56A93AA56B 93AA56B 93LC56B 93LC56B 93C56B 93C56B93AA56C 93AA56C 93LC56C 93LC56C 93C56C 93C56C93AA66A 93AA66A 93LC66A 93LC66A 93C66A 93C66A93AA66B 93AA66B 93LC66B 93LC66B 93C66B 93C66B93AA66C 93AA66C 93LC66C 93LC66C 93C66C 93C66C93AA76A 93AA76A 93LC76A 93LC76A 93C76A 93C76A93AA76B 93AA76B 93LC76B 93LC76B 93C76B 93C76B93AA76C 93AA76C 93LC76C 93LC76C 93C76C 93C76C93AA86A 93AA86A 93LC86A 93LC86A 93C86A 93C86A93AA86B 93AA86B 93LC86B 93LC86B 93C86B 93C86B93AA86C 93AA86C 93LC86C 93LC86C 93C86C 93C86C
注 : 温度範囲は 2 行目に記載。
3e
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
DS21929D_JP - ページ 3-50 ©2007 Microchip Technology Inc.
93XX46X/56X/66X/76X/86X製品ファミリ
データシート
3
8-Lead SOIC
XXXXYYWWXXXXXXXT
NNN
Example: Pb-free
SN 052893LC46AI
1L7
3-Wire 8-Lead SOIC (SN) Package Marking
Part Line 1 Marking Part Line 1 Marking Part Line 1 Marking
93AA46A 93AA46AT 93LC46A 93LC46AT 93C46A 93C46AT93AA46B 93AA46BT 93LC46B 93LC46BT 93C46B 93C46BT93AA46C 93AA46CT 93LC46C 93LC46CT 93C46C 93C46CT93AA56A 93AA56AT 93LC56A 93LC56AT 93C56A 93C56AT93AA56B 93AA56BT 93LC56B 93LC56BT 93C56B 93C56BT93AA56C 93AA56CT 93LC56C 93LC56CT 93C56C 93C56CT93AA66A 93AA66AT 93LC66A 93LC66AT 93C66A 93C66AT93AA66B 93AA66BT 93LC66B 93LC66BT 93C66B 93C66BT93AA66C 93AA66CT 93LC66C 93LC66CT 93C66C 93C66CT93AA76A 93AA76AT 93LC76A 93LC76AT 93C76A 93C76AT93AA76B 93AA76BT 93LC76B 93LC76BT 93C76B 93C76BT93AA76C 93AA76CT 93LC76C 93LC76CT 93C76C 93C76CT93AA86A 93AA86AT 93LC86A 93LC86AT 93C86A 93C86AT93AA86B 93AA86BT 93LC86B 93LC86BT 93C86B 93C86BT93AA86C 93AA86CT 93LC86C 93LC86CT 93C86C 93C86CT
注 : T = 温度範囲 : I = 工業用、E = 拡張用。
3e
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
©2007 Microchip Technology Inc. DS21929D_JP - ページ 3-51
93XX46X/56X/66X/76X/86X
3-Wire 2x3 DFN Package Marking
PartIndustrial
Line 1 Marking
E-Temp Line 1
MarkingPart
Industrial Line 1
Marking
E-Temp Line 1
MarkingPart
Industrial Line 1
Marking
E-Temp Line 1
Marking
93AA46A 301 302 93LC46A 304 305 93C46A 307 30893AA46B 311 312 93LC46B 314 315 93C46B 317 31893AA46C 321 322 93LC46C 324 325 93C46C 327 328
93AA56A 331 332 93LC56A 334 335 93C56A 337 33893AA56B 341 342 93LC56B 344 345 93C56B 347 34893AA56C 351 352 93LC56C 354 355 93C56C 357 358
93AA66A 361 362 93LC66A 364 365 93C66A 367 36893AA66B 371 372 93LC66B 374 375 93C66B 377 37893AA66C 381 382 93LC66C 384 385 93C66C 387 388
93AA76C 3B1 3B2 93LC76C 3B4 3B5 93C76C 3B7 3B8
93AA86C 3E1 3E2 93LC86C 3E4 3E5 93C86C 3E7 3E8
8-Lead 2x3 DFN Example:
304506L7
XXXYWWNN
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
DS21929D_JP - ページ 3-52 ©2007 Microchip Technology Inc.
93XX46X/56X/66X/76X/86X製品ファミリ
データシート
3
Example:6-Lead SOT-23
XXNN 1EL7
3-Wire 6-Lead SOT-23 Package Marking
PartIndustrial
Line 1 Marking
E-Temp Line 1
MarkingPart
Industrial Line 1
Marking
E-Temp Line 1
MarkingPart
Industrial Line 1
Marking
E-Temp Line 1
Marking
93AA46A 1BNN 1CNN 93LC46A 1ENN 1FNN 93C46A 1HNN 1JNN93AA46B 1LNN 1MNN 93LC46B 1PNN 1RNN 93C46B 1TNN 1UNN
93AA56A 2BNN 2CNN 93LC56A 2ENN 2FNN 93C56A 2HNN 2JNN93AA56B 2LNN 2MNN 93LC56B 2PNN 2RNN 93C56B 2TNN 2UNN
93AA66A 3BNN 3CNN 93LC66A 3ENN 3FNN 93C66A 3HNN 3JNN93AA66B 3LNN 3MNN 93LC66B 3PNN 3RNN 93C66B 3TNN 3UNN
93AA76A 4BNN 4CNN 93LC76A 4ENN 4FNN 93C76A 4HNN 4JNN93AA76B 4LNN 4MNN 93LC76B 4PNN 4RNN 93C76B 4TNN 4UNN
93AA86A 5BNN 5CNN 93LC86A 5ENN 5FNN 93C86A 5HNN 5JNN93AA86B 5LNN 5MNN 93LC86B 5PNN 5RNN 93C86B 5TNN 5UNN
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
©2007 Microchip Technology Inc. DS21929D_JP - ページ 3-53
93XX46X/56X/66X/76X/86X
3-Wire 8-Lead MSOP Package Marking
Part Line 1 Marking Part Line 1 Marking Part Line 1 Marking
93AA46A 3A46AT 93LC46A 3L46AT 93C46A 3C46AT93AA46B 3A46BT 93LC46B 3L46BT 93C46B 3C46BT93AA46C 3A46CT 93LC46C 3L46CT 93C46C 3C46CT93AA56A 3A56AT 93LC56A 3L56AT 93C56A 3C56AT93AA56B 3A56BT 93LC56B 3L56BT 93C56B 3C56BT93AA56C 3A56CT 93LC56C 3L56CT 93C56C 3C56CT93AA66A 3A66AT 93LC66A 3L66AT 93C66A 3C66AT93AA66B 3A66BT 93LC66B 3L66BT 93C66B 3C66BT93AA66C 3A66CT 93LC66C 3L66CT 93C66C 3C66CT93AA76A 3A76AT 93LC76A 3L76AT 93C76A 3C76AT93AA76B 3A76BT 93LC76B 3L76BT 93C76B 3C76BT93AA76C 3A76CT 93LC76C 3L76CT 93C76C 3C76CT93AA86A 3A86AT 93LC86A 3L86AT 93C86A 3C86AT93AA86B 3A86BT 93LC86B 3L86BT 93C86B 3C86BT93AA86C 3A86CT 93LC86C 3L86CT 93C86C 3C86CT
注 : T = 温度範囲 : I = 工業用、E = 拡張用。
8-Lead MSOP (150 mil) Example:
XXXXXXTYWWNNN
3L46AI 5281L7
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
DS21929D_JP - ページ 3-54 ©2007 Microchip Technology Inc.
93XX46X/56X/66X/76X/86X製品ファミリ
データシート
3
NNN
XXXXTYWW
8-Lead TSSOP
1L7
L46AI528
Example:
3-Wire 8-Lead TSSOP Package Marking
Part Line 1 Marking Part Line 1 Marking Part Line 1 Marking
93AA46A A46A 93LC46A L46A 93C46A C46A93AA46B A46B 93LC46B L46B 93C46B C46B93AA46C A46C 93LC46C L46C 93C46C C46C93AA56A A56A 93LC56A L56A 93C56A C56A93AA56B A56B 93LC56B L56B 93C56B C56B93AA56C A56C 93LC56C L56C 93C56C C56C93AA66A A66A 93LC66A L66A 93C66A C66A93AA66B A66B 93LC66B L66B 93C66B C66B93AA66C A66C 93LC66C L66C 93C66C C66C93AA76A A76A 93LC76A L76A 93C76A C76A93AA76B A76B 93LC76B L76B 93C76B C76B93AA76C A76C 93LC76C L76C 93C76C C76C93AA86A A86A 93LC86A L86A 93C86A C86A93AA86B A86B 93LC86B L86B 93C86B C86B93AA86C A86C 93LC86C L86C 93C86C C86C
注 : 温度範囲は 2 行目に記載。
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
©2007 Microchip Technology Inc. DS21929D_JP - ページ 3-55
93XX46X/56X/66X/76X/86X
製品識別システム
注文や資料請求、または価格や納期などの情報は、弊社工場または一覧に記載されている営業所にお問い合わせください。
Examples:a) 93AA46A-I/MS: 1K, 128x8 Serial EEPROM,
Industrial Temperature, MSOP package, 1.8Vb) 93AA46BT-I/OT: 1K, 64x16 Serial EEPROM,
SOT-23 package, tape and reel, 1.8Vc) 93AA46CT-I/MS: 1K, 128x8 or 64x16 Serial
EEPROM, MSOP package, tape and reel, 1.8Vd) 93AA46BX-I/SN: 1K, 128x8 Serial EEPROM,
Industrial temperature, SOIC package(alternate pinout), tape and reel package, 1.8V
e) 93LC66A-I/MS: 4K, 512x8 Serial EEPROM,MSOP package, 2.5V
f) 93LC66BT-I/OT: 4K, 256x16 Serial EEPROM,SOT-23 package, tape and reel, 2.5V
g) 93C86AT-I/OT: 16K, 2048x8 Serial EEPROM,SOT-23 package, tape and reel, 5.0V
h) 93C86BT-I/OT: 16K, 1024x16 Serial EEPROM,SOT-23 package, tape and reel, 5.0V
i) 93C86CT-I/MC: 16K, 2048x8 or 1024x16Serial EEPROM, DFN Industrial temperature,tape and reel package, 5.0V
EEPROMPackage
Tape &ReelSeries Voltage
93
Density SizeWord Temp
Range
AA = 1.8V-5.5VLC = 2.5V-5.5VC = 4.5V-5.5V
46 = 1 Kbit56 = 2 Kbit66 = 4 Kbit76 = 8 Kbit86 = 16 Kbit
A = x8 bitB = x16 bitC = Selectable
Blank = Std PkgT = Tape & Reel
I = -40°C to +85°CE = -40°C to +125°C
P = 8-Lead PDIPSN = 8-Lead SOIC (3.90 mm)MC = 8-Lead 2x3 DFN
CH or OT = 6-Lead SOT-23MS = 8-Lead MSOPST = 8-Lead TSSOP
DS21929D_JP - ページ 3-56 ©2007 Microchip Technology Inc.
製品ファミリ
データシート
3
25AA010A/25LC010A 25AA320A/25LC320A25AA020A/25LC020A 25AA640A/25LC640A25AA040A/25LC040A 25AA128/25LC12825AA080A/25LC080A 25AA256/25LC25625AA080B/25LC080B 25AA512/25LC51225AA160A/25LC160A 25AA1024/25LC102425AA160B/25LC160B
SPI シリアル EEPROM ファミリ データシート
特徴 :• 大クロック速度
- 10 MHz (1K ~ 256K)- 20 MHz (512K ~ 1M)
• バイトおよびページ書き込み
• 低消費電力 CMOS 技術
- 標準書き込み電流 : 5 mA - 標準読み出し電流 : 10 MHz 動作時 5 mA
20 MHz 動作時 7 mA- 標準スタンバイ電流 : 1 µA
• 書き込みサイクル時間 : 大 5 ms大 6 ms (25XX1024)
• セルフタイムの消去および書き込みサイクル
• 消去機能 (25XX512 および 25XX1024))- ページ消去 : 大 6 ms- セクタ消去 : 大 15 ms- チップ消去 : 大 15 ms
• 内蔵書き込み保護機能
- 電源オン / オフ データ保護回路
- ライト イネーブル ラッチ
- 書き込み保護ピン
• ブロック / セクタ書き込み保護機能
- アレイを保護しない、1/4、1/2、またはアレイすべてを保護する、から選択
• 連続読み出し
• 高い信頼性
- データ保持時間 : 200 年超- 静電気保護 : 4000V 超- データ書き換え耐久性 : 100 万回の消去 / 書き込みサイクルを超える
• 標準 8 ピンおよび 6 ピンパッケージで提供
• サポートされている温度範囲 :- 工業用 (I): -40°C ~ +85°C- 自動車用 (E): -40°C ~ +125°C
ピン機能表
概要 :マイクロチップ テクノロジー社は、シリアル ペリフェラル インターフェース (SPI)互換のシリアル バス アーキテクチャを採用し、1Kビットから1Mビットまで幅広いメモリ容量の製品を取り揃えた低電圧シリアルの電気的に消去可能なPROM (EEPROM)を備えています。バイトレベルおよびページレベルの機能を備え、さらに高メモリ容量 512K ビットおよび 1M ビット品種においては、通常フラッシュベースの製品に付属するセクタおよびチップ消去機能も備えています。
必要なバス信号は、クロック入力 (SCK) ラインに加え、それぞれデータ入力 (SI) ラインとデータ出力(SO) ラインです。デバイスへのアクセスは、チップセレクト (CS) 入力ピンで制御されます。
デバイスへの通信は、保持ピン (HOLD) で一時停止できます。デバイスが一時停止している間、入力の信号変化は無視されますが、チップ セレクトはこの限りではなく、ホストはより優先順位の高い割り込みを実行します。
この SPI 互換デバイスの全てのシリーズは、標準の 8 ピンの PDIP および SOIC パッケージ、さらに、より進歩した 8 ピンの TSSOP、MSOP、2x3 DFN、5x6 DFN パッケージおよび 6 ピンの SOT-23 パッケージで提供されます。いずれのパッケージもRoHS に準拠しており、鉛フリー ( つや消しタイプの錫メッキ ) 加工が施されています。 ピン配置図 ( 原寸大ではありません )
Name Function
CS Chip Select
SO Serial Data OutputWP Write-ProtectVSS GroundSI Serial Data InputSCK Serial Clock InputHOLD Hold InputVCC Supply Voltage
DFN
CS
SO
WP
VSS
HOLD
SCK
SI5
6
7
8
4
3
2
1 VCC
(MF)
CSSOWPVSS
1234
8765
VCC
HOLDSCKSI
(P, SN, SM)
CSSOWPVSS
1234
8765
VCCHOLDSCKSI
PDIP/SOIC
VSS
1
2
3 4
6
5
VDD
CS
SO
(OT)SOT-23
SCK
SI
CSSO
WPVSS
1234
8765
VCC
HOLDSCKSI
(MC)DFN
TSSOP/MSOP(ST, MS)
© 2007 Microchip Technology Inc. DS22040C_JP - ページ 3-57
25AAXXXX/25LCXXXX
デバイス選択表
Part Number
Density(bits) Organization VCC
RangeMax Speed
(MHz)Page Size
(Bytes)Temp. Range Packages
25LC010A 1K 128 x 8 2.5-5.5V 10 16 I, E P, MS, SN, ST, MC, OT25AA010A 1K 128 x 8 1.8-5.5V 10 16 I P, MS, SN, ST, MC, OT25LC020A 2K 256 x 8 2.5-5.5V 10 16 I, E P, MS, SN, ST, MC, OT25AA020A 2K 256 x 8 1.8-5.5V 10 16 I P, MS, SN, ST, MC, OT25LC040A 4K 512 x 8 2.5-5.5V 10 16 I, E P, MS, SN, ST, MC, OT25AA040A 4K 512 x 8 1.8-5.5V 10 16 I P, MS, SN, ST, MC, OT25LC080A 8K 1024 x 8 2.5-5.5V 10 16 I, E P, MS, SN, ST25AA080A 8K 1024 x 8 1.8-5.5V 10 16 I P, MS, SN, ST25LC080B 8K 1024 x 8 2.5-5.5V 10 32 I, E P, MS, SN, ST25AA080B 8K 1024 x 8 1.8-5.5V 10 32 I P, MS, SN, ST25LC160A 16K 2048 x 8 2.5-5.5V 10 16 I, E P, MS, SN, ST25AA160A 16K 2048 x 8 1.8-5.5V 10 16 I P, MS, SN, ST25LC160B 16K 2048 x 8 2.5-5.5V 10 32 I, E P, MS, SN, ST25AA160B 16K 2048 x 8 1.8-5.5V 10 32 I P, MS, SN, ST25LC320A 32K 4096 x 8 2.5-5.5V 10 32 I, E P, MS, SN, ST25AA320A 32K 4096 x 8 1.8-5.5V 10 32 I P, MS, SN, ST25LC640A 64K 8192 x 8 2.5-5.5V 10 32 I, E P, MS, SN, ST25AA640A 64K 8192 x 8 1.8-5.5V 10 32 I P, MS, SN, ST25LC128 128K 16,384 x 8 2.5-5.5V 10 64 I, E P, SN, SM, ST, MF25AA128 128K 16,384 x 8 1.8-5.5V 10 64 I P, SN, SM, ST, MF25LC256 256K 32,768 x 8 2.5-5.5V 10 64 I, E P, SN, SM, ST, MF25AA256 256K 32,768 x 8 1.8-5.5V 10 64 I P, SN, SM, ST, MF25LC512 512K 65,536 x 8 2.5-5.5V 20 128 I, E P, SM, MF25AA512 512K 65,536 x 8 1.8-5.5V 20 128 I P, SM, MF25LC1024 1024K 131,072 x 8 2.5-5.5V 20 256 I, E P, SM, MF25AA1024 1024K 131,072 x 8 1.8-5.5V 20 256 I P, SM, MF
DS22040C_JP - ページ 3-58 © 2007 Microchip Technology Inc.
25AAXXXX/25LCXXXX製品ファミリ
データシート
3
1.0 電気的特性
絶対最大定格 (†)
VCC ..................................................................................................................................................................................... 6.5V
VSS を基準にしたすべての入出力 ........................................................................................................ -0.6V ~ VCC+1.0V保存温度 ........................................................................................................................................................-65°C ~ +150°Cバイアス付加時周囲温度 ............................................................................................................................-40°C ~ +125°C全ピンに対する静電気保護 ............................................................................................................................................ 4 kV
表 1-1: DC 特性
† 注意 : 上記の「絶対 大定格」を超えるストレスを加えると、デバイスに恒久的な損傷を与えることがあります。この規定はストレス定格のみを規定するものであり、この条件、あるいはこの仕様の動作条件に記載する規定値以上の他の条件でのデバイス動作を定めたものではありません。デバイスを長時間大定格状態にすると、デバイスの信頼性に影響を与えることがあります。
注 : これは AC および DC 特性の概略です。製品仕様については、デバイスのデータシートを参照してください。
DC CHARACTERISTICSElectrical Characteristics:Industrial (I): VCC = +1.8V to 5.5V TA = -40°C to +85°CAutomotive (E): VCC = +2.5V to 5.5V TA = -40°C to 125°C
Param.No. Sym. Characteristic Min. Max. Units Test Conditions Densities
D001 VIH High-level input voltage .7 VCC VCC + 1 V AllD002 VIL Low-level input voltage -0.3 0.3 VCC V VCC ≥ 2.7V ( 注 1) AllD003 VIL -0.3 0.2 VCC V VCC ≥ 2.7V ( 注 1) AllD004 VOL Low-level output voltage — 0.4 V IOL = 2.1 mA, VCC = 4.5V AllD005 VOL — 0.2 V IOL = 1.0 mA, VCC = 2.5V AllD006 VOH High-level output voltage VCC -0.5 — V IOH = -400 µA AllD007 ILI Input leakage current — ±1 µA CS = VCC, VIN = VSS or VCC AllD008 ILO Output leakage current — ±1 µA CS = VCC, VOUT = VSS or VCC AllD009 CINT Internal capacitance (all inputs
and outputs)— 7 pF TA = 25°C, CLK = 1.0 MHZ,
VCC = 5.0V ( 注 1)All
D010 ICCRead
Operating current
— 105
mA VCC = 5.5V; FCLK = 20.0 MHz; Vcc = 2.5V; FCLK = 10.0 MHz
512K and 1M
2.50.5
62.5
mA VCC = 5.5V; FCLK = 10.0 MHz;Vcc = 2.5V; FCLK = 5.0 MHz
1K-256K
D011 ICCWRITE
— 75
mA VCC = 5.5VVcc = 2.5V
512K and 1M
0.160.15
53
mA VCC = 5.5VVCC = 2.5V
1K-256K
D012 ICCS Standby current — 2012
µA CS = VCC = 5.5V, 125°C CS = VCC = 5.5V, 85°C(Inputs tied to VCC or VSS)
512K and 1M
— 51
µA CS = VCC = 5.5V, 125°CCS = VCC = 5.5V, 85°C(Inputs tied to VCC or VSS)
1K-256K
D13 ICCSPD Deep power-down current — 1 µA CS = VCC = 5.5V(Inputs tied to VCC or VSS)
512K and 1M
注 1: このパラメータは無作為に抽出された一部のデバイスを対象に定期的にテストされるもので、テス
トは全数テストではありません。
© 2007 Microchip Technology Inc. DS22040C_JP - ページ 3-59
25AAXXXX/25LCXXXX
表 1-2: AC 特性
AC CHARACTERISTICSElectrical Characteristics:Industrial (I): VCC = +1.8V to 5.5V TA = -40°C to +85°CAutomotive (E): VCC = +2.5V to 5.5V TA = -40°C to 125°C
Param.No. Sym. Characteristic Min. Max. Units Conditions Densities
1 FCLK Clock frequency ———
20102
MHz 4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.51.8 ≤ VCC < 2.5
512K and 1M
———
1053
MHz 4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.51.8 ≤ VCC < 2.5
1K-256K
2 TCSS CS setup time 2550
250—
nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
512K and 1M
50100150
—nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.51.8 ≤ VCC < 2.5
1K-256K
3 TCSH CS hold time ( 注 3)
50100150
—nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
512K and 1M
100200250
—nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
1K-256K
4 TCSD CS disable time 50 — ns 1K-256K5 TSU Data setup time 5
1050
— nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
512K and 1M
102030
— nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.51.8 ≤ VCC < 2.5
1K-256K
6 THD Data hold time 1020
100—
nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.51.8 ≤ VCC < 2.5
512K and 1M
204050
—nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
1K-256K
7 TR CLK rise time ( 注 1)
— 20 ns 512K and 1M— 100 ns 128K and 256K— 500 ns 8K and 16K— 2000 ns 1K-4K, 32K-64K
8 TF CLK fall time ( 注 1)
— 20 ns 512K and 1M— 100 ns 128K and 256K— 500 ns 8K and 16K— 2000 ns 1K-4K, 32K-64K
注 1: このパラメータは無作為に抽出された一部のデバイスを対象に定期的にテストされる
もので、テストは全数テストではありません。
2: このパラメータはテストを行ったものではなく、特性評価と適性評価により確定した
ものです。特定のアプリケーションにおけるデータ書き換えの耐久性の概算について
は、マイクロチップ社のウェブサイト www.microchip.com の Total Endurance™ Model をご覧ください。
3: THI 時間が含まれます。
DS22040C_JP - ページ 3-60 © 2007 Microchip Technology Inc.
25AAXXXX/25LCXXXX製品ファミリ
データシート
3
9 THI Clock high time 2550
250—
nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.51.8 ≤ VCC < 2.5
512K and 1M
50100150
—nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
1K-256K
10 TLO Clock low time 2550
250—
nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.51.8 ≤ VCC < 2.5
512K and 1M
50100150
—nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.51.8 ≤ VCC < 2.5
1K-256K
11 TCLD Clock delay time 50 — ns All12 TCLE Clock enable time 50 — ns All13 TV Output valid from
clock low— 25
50250
nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
512K and 1M
— 50100160
nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
1K-256K
14 THO Output hold time ( 注 1)
0 — ns
15 TDIS Output disable time ( 注 1)
— 2550
250
nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.5 2.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
512K and 1M
— 4080
160
nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.5 2.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
1K-256K
16 THS HOLD setup time 1020
100—
nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.5 2.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
512K and 1M
204080
—nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
1K-256K
17 THH HOLD Hold time 1020
100—
nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.5 2.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
512K and 1M
204080
—nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
1K-256K
表 1-2: AC 特性 ( 続き )
AC CHARACTERISTICSElectrical Characteristics:Industrial (I): VCC = +1.8V to 5.5V TA = -40°C to +85°CAutomotive (E): VCC = +2.5V to 5.5V TA = -40°C to 125°C
Param.No. Sym. Characteristic Min. Max. Units Conditions Densities
注 1: このパラメータは無作為に抽出された一部のデバイスを対象に定期的にテストされる
もので、テストは全数テストではありません。
2: このパラメータはテストを行ったものではなく、特性評価と適性評価により確定した
ものです。特定のアプリケーションにおけるデータ書き換えの耐久性の概算について
は、マイクロチップ社のウェブサイト www.microchip.com の Total Endurance™ Model をご覧ください。
3: THI 時間が含まれます。
© 2007 Microchip Technology Inc. DS22040C_JP - ページ 3-61
25AAXXXX/25LCXXXX
18 THZ HOLD low to output High-Z ( 注 1)
1530
150—
nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.5 2.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
512K and 1M
3060
160—
nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.52.5 ≤ VCC < 4.51.8 ≤ VCC < 2.5
1K-256K
19 THV HOLD high to output valid
1530
150—
nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.5 2.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
512K and 1M
3060
160—
nsnsns
4.5 ≤ VCC ≤ 5.5 2.5 ≤ VCC < 4.5 1.8 ≤ VCC < 2.5
1K-256K
20 TREL CS high to Standby mode
— 100 µs 1.8V ≤ VCC ≥ 5.5V 512K and 1M
21 TPD CS high to Deep power-down
— 100 µs 1.8V ≤ VCC ≥ 5.5V 512K and 1M
22 TCE Chip erase cycle time
— 15 ms 1.8V ≤ VCC ≥ 5.5V 512K and 1M
23 TSE Sector erase cycle time
— 15 ms 1.8V ≤ VCC ≥ 5.5V 512K and 1M
24 TWC Internal write cycle time
— 6 ms Byte or Page mode and Page Erase 512K and 1M
— 5 ms Byte or Page mode 1K-256K25 — Endurance
( 注 2)> 1M — E/W
CyclesPer Page 512K and 1MPer Byte 1K-256K
表 1-2: AC 特性 ( 続き )
AC CHARACTERISTICSElectrical Characteristics:Industrial (I): VCC = +1.8V to 5.5V TA = -40°C to +85°CAutomotive (E): VCC = +2.5V to 5.5V TA = -40°C to 125°C
Param.No. Sym. Characteristic Min. Max. Units Conditions Densities
注 1: このパラメータは無作為に抽出された一部のデバイスを対象に定期的にテストされる
もので、テストは全数テストではありません。
2: このパラメータはテストを行ったものではなく、特性評価と適性評価により確定した
ものです。特定のアプリケーションにおけるデータ書き換えの耐久性の概算について
は、マイクロチップ社のウェブサイト www.microchip.com の Total Endurance™ Model をご覧ください。
3: THI 時間が含まれます。
表 1-3: AC テスト条件
AC Waveform:VLO = 0.2V —VHI = VCC - 0.2V ( 注 1)VHI = 4.0V ( 注 2)CL = 30 pF —Timing Measurement Reference LevelInputOutput
0.5 VCC0.5 VCC
注 1: VCC ≤ 4.0V の場合
2: VCC > 4.0V の場合
DS22040C_JP - ページ 3-62 © 2007 Microchip Technology Inc.
25AAXXXX/25LCXXXX製品ファミリ
データシート
3
図 1-1: ホールド (HOLD) タイミング
図 1-2: シリアル入力タイミング
図 1-3: シリアル出力タイミング
CS
SCK
SO
SI
HOLD
1716 16
17
1918
Don’t Care 5
High-Impedancen + 2 n + 1 n n - 1n
n + 2 n + 1 n n n - 1
CS
SCK
SI
SO
65
87 11
3
LSB inMSB in
High-Impedance
12
Mode 1,1
Mode 0,0
2
4
CS
SCK
SO
109
13
MSB out LSB out
3
15
Don’t CareSI
Mode 1,1
Mode 0,0
14
© 2007 Microchip Technology Inc. DS22040C_JP - ページ 3-63
25AAXXXX/25LCXXXX
2.0 機能の説明
2.1 動作原理
シリアル EEPROM の 25 製品は、マイクロチップ社の PIC® マイクロコントローラを含め、現在好評の多くのマイクロコントローラ ファミリのシリアルペリフェラル インターフェース (SPI) ポートに直接接続できるように設計されています。また、ディスクリート I/O ラインを SPI プロトコルと整合性を持つようファームウェアで適切にプログラムして使うことで、SPI ポート内蔵型でないマイクロコントローラにも接続できます。 この EEPROM ファミリは、8 ビット命令レジスタを含みます。デバイスには SI ピンからアクセスでき、データは SCK の立ち上りエッジに同期して入力されます。動作中、CS ピンは Low、HOLD ピンは High 状態でなければなりません。 表 2-1 は、デバイス動作中の命令バイトおよび形式を示します。すべての命令、アドレス、およびデータは、MSB から LSB の順に転送されます。 データ (SI) は、CS が Low になってから 初の SCKの立ち上りエッジでサンプリングされます。クロック ラインをSPIバス上の他の周辺デバイスと共用している場合、ユーザーは、HOLD 入力をオンにし、
EEPROM を「保持」モードにできます。HOLD ピンを解除すると、HOLD 入力に切り換えたときの状態から動作が再開します。
ブロック図
表 2-1: 命令セット
2.2 読み出しシーケンス
CS を Low にするとデバイスが選択されます。次に、8 ビットの READ 命令が EEPROM に転送され、アドレスが転送されます。正しい READ 命令とアドレスが送信されると、選択したアドレスのメモリに保存されているデータが SO ピンにシフト出力されます。クロック パルスを継続して送信すると、次のアドレスのメモリに保存されているデータを連続して読み出しできます。
データの各バイトがシフト出力されると、内部アドレス ポインタは自動的に次の上位アドレスに進みます。 上位アドレスまで進むと、アドレス カウンタはアドレス 00000h に戻り、読み出しサイクルが続きます。CS ピンの立ち上がりで、読み出しは終了します。バイト読み出しについては、図 2-1A/B/C を参照してください。
SISO
SCKCS
HOLDWP
STATUSRegister
I/O Control MemoryControlLogic
X
Dec
HV Generator
EEPROMArray
Page Latches
Y Decoder
Sense Amp.R/W Control
Logic
VCCVSS
Instruction Name Instruction Format Description
Instructions for all devices.READ 0000 0011 Read data from memory array beginning at selected address WRITE 0000 0010 Write data to memory array beginning at selected address WREN 0000 0110 Set the write enable latch (enable write operations) WRDI 0000 0100 Reset the write enable latch (disable write operations) RDSR 0000 0101 Read STATUS register WRSR 0000 0001 Write STATUS register
Additional Instructions for 25XX512 and 25XX1024PE 0100 0010 Page Erase – erase one page in memory arraySE 1101 1000 Sector Erase – erase one sector in memory arrayCE 1100 0111 Chip Erase – erase all sectors in memory arrayRDID 1010 1011 Release from Deep power-down and read electronic signatureDPD 1011 1001 Deep Power-Down mode
DS22040C_JP - ページ 3-64 © 2007 Microchip Technology Inc.
25AAXXXX/25LCXXXX製品ファミリ
データシート
3
表 2-2: 読み出し / 書き込みシーケンスアドレス指定
図 2-1A: 8 ビットまたは 9 ビットのアドレス指定時の読み出しシーケンス
図 2-1B: 16 ビットのアドレス指定時の読み出しシーケンス
Density Address Bits
Highest Address Page Size
1K 7 007F 16 Bytes2K 8 00FF 16 Bytes4K 9 01FF 16 Bytes8K 10 03FF 16 or 32 Bytes*16K 11 07FF 16 or 32 Bytes*32K 12 0FFF 32 Bytes64K 12 1FFF 32 Bytes128K 14 3FFF 64 Bytes256K 15 7FFF 64 Bytes512K 16 FFFF 256 Bytes1024K 17 1FFFF 256 Bytes
注 : バージョン A - 16 バイトバージョン B - 32 バイト
SO
SI
SCK
CS
0 2 3 4 5 6 7 8 9 10 111
0 1A8*0000 1 A7 A6 A5 A4 A1 A0
7 6 5 4 3 2 1 0
Data OutHigh-Impedance
A3 A2
Lower Address Byte
12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23
Instruction+Address MSb
* A8 is a don’t care for 1K and 2K upper address bit.
SO
SI
SCK
CS
0 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 311
0 100000 1 A15 A14 A13 A12 A2 A1 A0
7 6 5 4 3 2 1 0
Instruction 16-bit Address
Data OutHigh-Impedance
© 2007 Microchip Technology Inc. DS22040C_JP - ページ 3-65
25AAXXXX/25LCXXXX
図 2-1C: 24 ビットのアドレス指定時の読み出しシーケンス
2.3 書き込みシーケンス
EEPROM にデータを書き込む前に、WREN命令を発行し、ライト イネーブル ラッチを設定する必要があります ( 図 2-4 参照 )。CS を Low にし、その後適切な命令を EEPROM にクロックと同期して入力してください。8 ビットの命令をすべて送信したら、CS を High にし、ライト イネーブル ラッチを設定します。CS を High にせず、WREN 命令を発行後すぐに書き込みを始めると、ライト イネーブル ラッチが正しく設定されていないため、データをアレイに書き込みできません。 書き込みシーケンスには、自動セルフタイムの消去サイクルが含まれるため、ライト コマンドを発行する前にメモリを消去する必要はありません。 ライト イネーブル ラッチ設定後は、まず CS を Lowにし、WRITE 命令を生成し、連続して書き込むアドレス、そしてデータを生成します。書き込みサイクルを実行する前に、デバイスのメモリ容量に依存して、16 バイトから 256 バイトまでのサイズのデータ 1 ページをデバイスに送信する必要があります。このとき、全バイトが同じページであるという制限があります。ページ サイズについては、表 2-2 を参照してください。
24XX512 および 24XX1024 デバイスの場合、ページ全体を書き込むかどうかにかかわりなく、必ずページ全体を更新する必要があります。したがって、これらのデバイスのデータ書き換えの耐久性はページ単位で規定されています。
SO
SI
SCK
CS
0 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 391
0 100000 1 A23 A22 A21 A20 A2 A1 A0
7 6 5 4 3 2 1 0
Instruction 24-bit Address
Data OutHigh-Impedance
注 : ページ書き込みでは、書き込むバイト数に関係なく、1 物理ページ内のバイトにのみ書き込みできます。物理的なページ境界は、ページ バッファ サイズ ( または「ページ サイズ」)の整数倍であるアドレスから、ページ サイズ −1 の整数倍であるアドレスまでです。ページ ライト コマンドが物理的なページ境界をまたいで書き込もうとすると、ユーザーが期待するようにデータは次のページに書き込まれず、現在のページの先頭に折り返されます (以前に同位置に保存されたデータを上書きします )。したがって、アプリケーション ソフトウェアはページ境界をまたがるようなページ書き込みを回避する必要があります。
DS22040C_JP - ページ 3-66 © 2007 Microchip Technology Inc.
25AAXXXX/25LCXXXX製品ファミリ
データシート
3
実際アレイに書き込むデータ用に、n 番目のデータバイトの 下位ビット (D0) をクロックに同期して入力後は、CS を High にする必要があります。このとき以外に CS を High にすると、書き込みは完了しません。バイト書き込みシーケンスおよびページ書き込みシーケンスについての詳細は、それぞれ図 2-2A/B/C および図 2-3A/B/C を参照してください。書き込みが実行中は、ステータス レジスタを
読み出し、WIP ビットおよび WEL ビットの状態を確認します ( 図 2-6 参照 )。書き込みサイクル中、メモリアレイ位置は読み出しできません。書き込みサイクルが終了後、ライト イネーブル ラッチをリセットします。
図 2-2A: 8 ビットまたは 9 ビットのアドレス指定時のバイト書き込みシーケンス
図 2-2B: 16 ビットのアドレス指定時のバイト書き込みシーケンス
図 2-2C: 24 ビットのアドレス指定時のバイト書き込みシーケンス
SI
CS
9 10 11
0 0A8*0000 1 7 6 5 4 3 2 1 0Data Byte
SCK0 2 3 4 5 6 71 8
Instruction+Address MSb Lower Address Byte
A7 A6 A5 A4 A3 A1 A0A2
12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23Twc
SOHigh-Impedance
* Upper address bit A8 is a don’t care for 1K and 2K.
SO
SI
CS
9 10 11 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31
0 000000 1 A15 A14 A13A12 A2 A1 A0 7 6 5 4 3 2 1 0Instruction 16-bit Address Data Byte
High-Impedance
SCK0 2 3 4 5 6 71 8
Twc
SO
SI
CS
9 10 11 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39
0 000000 1 A23 A22 A21 A20 A2 A1 A0 7 6 5 4 3 2 1 0Instruction 24-bit Address Data Byte
High-Impedance
SCK0 2 3 4 5 6 71 8
Twc
© 2007 Microchip Technology Inc. DS22040C_JP - ページ 3-67
25AAXXXX/25LCXXXX
図 2-3A: 8 ビットまたは 9 ビットのアドレス指定時のページ書き込みシーケンス
図 2-3B: 16 ビットのアドレス指定時のページ書き込みシーケンス
SI
CS
9 10 11
0 0A8*0000 1 7 6 5 4 3 2 1 0Data Byte 1
SCK0 2 3 4 5 6 71 8
SI
CS
33 34 35 38 39
7 6 5 4 3 2 1 0Data Byte n (16 max)
SCK
24 26 27 28 29 30 3125 32
7 6 5 4 3 2 1 0Data Byte 3
7 6 5 4 3 2 1 0Data Byte 2
36 37
Instruction Address Byte
A7 A6 A5 A4 A3 A1 A0A2
12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23
* Upper address bit A8 is a don’t care for 1K and 2K.
SI
CS
9 10 11 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31
0 000000 1 A15 A14 A13 A12 A2 A1 A0 7 6 5 4 3 2 1 0Instruction 16-bit Address Data Byte 1
SCK0 2 3 4 5 6 71 8
SI
CS
41 42 43 46 47
7 6 5 4 3 2 1 0Data Byte n (16/32 max)
SCK32 34 35 36 37 38 3933 40
7 6 5 4 3 2 1 0Data Byte 3
7 6 5 4 3 2 1 0Data Byte 2
44 45
DS22040C_JP - ページ 3-68 © 2007 Microchip Technology Inc.
25AAXXXX/25LCXXXX製品ファミリ
データシート
3
図 2-3C: 24 ビットのアドレス指定時のページ書き込みシーケンス
2.4 ライト イネーブル (WREN) およびライト ディスエーブル (WRDI)
EEPROM には、ライト イネーブル ラッチが含まれます。書き込み保護機能マトリックスについては、表 2-4 を参照してください。内部書き込みの前に必ずこのラッチをセットする必要があります。WREN命令はこのラッチを設定し、WRDI 命令はこのラッチをリセットします。
以下は、ライト イネーブル ラッチをリセットするときの条件のリストです。
• 電源投入時
• WRDI命令が正常に実行された時
• WRSR命令が正常に実行された時
• WRITE命令が正常に実行された時
• WP ピンが Low に設定された時 (1K、2K、4Kビット品種のみ )
25XX512 および 25XX1024 向け追加命令
• PE命令が正常に実行された時
• SE命令が正常に実行された時
• CE命令が正常に実行された時
図 2-4: ライト イネーブル シーケンス (WREN)
SI
CS
9 10 11 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39
0 000000 1 A23 A22 A21 A20 A2 A1 A0 7 6 5 4 3 2 1 0Instruction 24-bit Address Data Byte 1
SCK0 2 3 4 5 6 71 8
SI
CS
49 50 51 54 55
7 6 5 4 3 2 1 0Data Byte n (256 max)
SCK
40 42 43 44 45 46 4741 48
7 6 5 4 3 2 1 0Data Byte 3
7 6 5 4 3 2 1 0Data Byte 2
52 53
SCK
0 2 3 4 5 6 71
SI
High-ImpedanceSO
CS
0 10 0 0 0 01
© 2007 Microchip Technology Inc. DS22040C_JP - ページ 3-69
25AAXXXX/25LCXXXX
図 2-5: ライト ディスエーブル シーケンス (WRDI)
2.5 リード ステータス レジスタ命令(RDSR)
リード ステータス レジスタ命令 (RDSR) は、ステータス レジスタにアクセスするために使用します。ステータス レジスタは、書き込みサイクル中を含めいつでも読み出しできます。ステータス レジスタのフォーマットは以下のとおりです。
表 2-3: ステータス レジスタ
書き込み実行中 (WIP) ビットは、EEPROM が書き込み中でビジー状態かどうかを示します。
「1」に設定されていると、書き込み実行中で、「0」に設定されていると、書き込みは行われません。このビットは読み出し専用です。
ライト イネーブル ラッチ (WEL) ビットは、ライトイネーブル ラッチの状態を示し、読み出し専用です。「1」に設定されていると、アレイへの書き込みが可能で、「0」に設定されていると、アレイへの書き込みができません。このビットの状態は、ステータス レジスタの書き込み保護の設定にかかわりなく、いつでも WREN または WRDI コマンドで更新されます。これらのコマンドを図 2-4 および図 2-5に示します。
ブロック保護 (BP0 および BP1) ビットは、どのブロックが現在書き込み保護状態にあるのかを示します。これらのビットは、ユーザーが WRSR命令を発行すると設定できます。これらのビットは不揮発性で、その内容を表 2-4 に示します。RDSR のタイミング シーケンスについては、図 2-6 を参照してください。
図 2-6: リード ステータス レジスタのタイミング シーケンス (RDSR)
SCK
0 2 3 4 5 6 71
SI
High-ImpedanceSO
CS
0 10 0 0 0 010
7 6 5 4 3 2 1 0W/R — — — W/R W/R R RWPEN X X X BP1 BP0 WEL WIP
W/R = 書き込み可 / 読み出し可 R = 読み出しのみ
注 : WPEN ビットは、24XX010A、24XX020A、および 24XX040A デバイスにはありません。
SO
SI
CS
9 10 11 12 13 14 15
1 100000 0
7 6 5 4 2 1 0
Instruction
Data from STATUS registerHigh-Impedance
SCK
0 2 3 4 5 6 71 8
3
DS22040C_JP - ページ 3-70 © 2007 Microchip Technology Inc.
25AAXXXX/25LCXXXX製品ファミリ
データシート
3
2.6 ライト ステータス レジスタ命令(WRSR)
ライト ステータス レジスタ命令 (WRSR) は、表 2-3のようにステータス レジスタの不揮発性ビットへの書き込み権限を与えます。ステータス レジスタのビットに適切に書き込むことで、アレイの保護レベル 4 つのうちの 1 つを選択できます。アレイは 4つのセグメントに分割されます。ユーザーは、アレイの 4 つのセグメントのうち 1 つも保護しないか、1 つ、2 つ、または 4 つすべてを書き込み保護するかを選択できます。この区分けは、表 2-4 のように制御されます。
メモリ容量が 8K ビット以上の EEPROM の場合、書き込み保護イネーブル (WPEN) ビットは不揮発性ビットで、WP ピンのイネーブル ビットとして機能します。書き込み保護 (WP) ピンおよびステータスレジスタの書き込み保護イネーブル (WPEN)ビットが、プログラム可能なハードウェア書き込み保護機能を制御します。WP ピンが Low で WPEN ビットが High のとき、ハードウェア書き込み保護が有効になります。WP ピンが High、あるいは WPEN ビットが Low のとき、ハードウェア書き込み保護が無効になります。ハードウェアの書き込みを保護している場合は、ステータス レジスタの不揮発性ビットへの書き込みのみが無効になります。WPEN ビットの機能マトリックスについては、表 2-6 を参照してください。WRSR のタイミング シーケンスについては、図 2-7 を参照してください。
表 2-4: アレイの保護
表 2-5: 保護されたアレイアドレス位置
BP1 BP0 Array Addresses Write-Protected Array Addresses Unprotected
0 0 none All (Sectors 0, 1, 2 and 3)0 1 Upper 1/4 (Sector 3) Lower 3/4 (Sectors 0, 1 and 2)1 0 Upper 1/2 (Sectors 2 and 3) Lower 1/2 (Sectors 0 and 1)1 1 All (Sectors 0, 1, 2 and 3) none
Density Upper 1/4(Sector 3)
Upper 1/2(Sectors 2 and 3) All Sectors
1K 60h-7Fh 40h-7Fh 00h-7Fh2K C0h-FFh 80h-FFh 00h-FFh4K 180h-1FFh 100h-1FFh 000h-1FFh8K 300h-3FFh 200h-3FFh 000h-3FFh16K 600h-7FFh 400h-7FFh 000h-7FFh32K C00h-FFFh 800h-FFFh 000h-FFFh64K 1800h-1FFFh 1000h-1FFFh 0000h-1FFFh128K 3000h-3FFFh 2000h-3FFFh 0000h-3FFFh256K 6000h-7FFFh 4000h-7FFFh 0000h-7FFFh512K C000h-FFFFh 8000h-FFFFh 0000h-FFFFh1024K 18000h-1FFFFh 10000h-1FFFFh 00000h-1FFFFh
© 2007 Microchip Technology Inc. DS22040C_JP - ページ 3-71
25AAXXXX/25LCXXXX
図 2-7: ライト ステータス レジスタのタイミング シーケンス (WRSR)
2.7 データ保護
不適切なアレイへの書き込みを回避するため、以下の保護機能が実装されています。
• 電源投入時にライト イネーブル ラッチはリセットされます。
• ライト イネーブル ラッチの設定には、ライト イネーブル命令を発行する必要があります。
• バイト書き込み、ページ書き込み、ステータス レジスタ書き込みが終了後、ライト イネーブル ラッチはリセットされます。
• 内部書き込みサイクルを開始するには、クロック サイクルを適切な回数実行後、CS を High に設定する必要があります。
• 内部書き込みサイクル中にアレイへアクセスを試みてもアクセスできず、プログラミングを続行します。
2.8 電源オン時の状態
シリアル EEPROM は、電源オン時に以下の状態になります。
• デバイスが、低消費電力のスタンバイ モードである (CS = 1)。
• ライト イネーブル ラッチがリセットされる。
• SO がハイインピーダンス状態である。
• アクティブ状態にするため、CS が High からLow に遷移する。
表 2-6: 書き込み保護機能のマトリックス
2.9 ページ消去
ページ消去は、典型的なフラッシュ機能で、512Kビットおよび 1024K ビットのシリアル EEPROM のみに実装されています。この機能は、指定したページ内部の全ビットを消去 (FFh) します。ページ消去を実行する前に、ライト イネーブル (WREN) 命令を実行する必要があります。CS を Low にし、その後適切な命令をクロックに同期させて EEPROM に入力します。8 ビットの命令をすべて送信後、CS をHigh にし、ライト イネーブルラッチを設定します。
ページ消去機能には、CS を Low にし、続けて命令コード (図 2-8A/B参照 )および 2または 3アドレスバイトを指定することで移行します。消去するページ内のすべてのアドレスが有効です。
アドレスの 終ビットの後で CS を High にします。これを実行しないと、ページ消去は実行されません。CS を High に設定すると、セルフタイムのページ消去サイクルが開始します。ステータス レジスタの WIP ビットを読み出すと、ページ消去サイクルがいつ完了したかを判断できます。
SO
SI
CS
9 10 11 12 13 14 15
0 100000 0 7 6 5 4 2 1 0
Instruction Data to STATUS register
High-Impedance
SCK
0 2 3 4 5 6 71 8
3
WEL (SR bit 1) WPEN (SR bit 7) * WP (pin 3) Protected Blocks
Unprotected Blocks STATUS Register
0 X X Protected Protected Protected1 0 X Protected Writable Writable1 1 0 (low) Protected Writable Protected1 1 1 (high) Protected Writable Writable
X = Don’t Care* = WPEN bit is not available on 24XX010A/020A/040A.
DS22040C_JP - ページ 3-72 © 2007 Microchip Technology Inc.
25AAXXXX/25LCXXXX製品ファミリ
データシート
3
ページ消去命令にブロック保護ビット (BP0、BP1)で保護されたアドレスが与えられると、シーケンスが中断し、消去は実行されません。
図 2-8A: 24 ビットのアドレス指定時のページ消去シーケンス
図 2-8B: 16 ビットのアドレス指定時のページ消去シーケンス
2.10 セクタ消去
セクタ消去は、典型的なフラッシュ機能で、512Kビットおよび 1024K ビットのシリアル EEPROM にのみ実装されています。この機能は、指定したセクタ内部の全ビットを消去 (FFh) します。セクタ消去を実行する前に、ライト イネーブル (WREN) 命令を生成する必要があります。CS を Low にし、その後適切な命令をクロックに同期させて EEPROM に出力してください。8 ビットの命令をすべて送信したら、CS を High にし、ライト イネーブル ラッチを設定します。
セクタ消去機能には、CS を Low にし、続けて命令コード (図 2-9A/B参照 )および 2または 3アドレスバイトを指定することで移行します。消去するセクタ内のすべてのアドレスは有効です。
アドレスの 終ビットの後で CS を High にします。これを実行しないと、セクタ消去は実行されません。CS を High に設定すると、セルフタイムのセクタ消去サイクルが開始します。ステータス レジスタの WIP ビットを読み出すと、セクタ消去サイクルがいつ完了したかを判断できます。
セクタ消去命令にブロック保護ビット (BP0、BP1)で保護されているアドレスが与えられると、シーケンスは中断し、消去は発生しません。
セクタのアドレス指定詳細は、表 2-2 および表 2-3を参照してください。
SO
SI
SCK
CS
0 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 29 30 311
0 000010 1 A23 A22 A21 A20 A2 A1 A0
Instruction 24-bit Address
High-Impedance
SO
SI
SCK
CS
0 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 21 22 231
0 000010 1 A15 A14 A13 A12 A2 A1 A0
Instruction 16-bit Address
High-Impedance
© 2007 Microchip Technology Inc. DS22040C_JP - ページ 3-73
25AAXXXX/25LCXXXX
図 2-9A: 24 ビットのアドレス指定時のセクタ消去シーケンス
図 2-9B: 16 ビットのアドレス指定時のセクタ消去シーケンス
2.11 チップ消去
チップ消去機能は、アレイの全ビットを消去 (FFh)します。チップ消去を実行する前に、ライト イネーブル (WREN) 命令を実行する必要があります。その場合は CS を Low にし、その後適切な命令をクロックに同期させて EEPROM に出力してください。8 ビットの命令をすべて送信したら、CS を High にし、ライト イネーブル ラッチを設定します。チップ消去機能には、CS を Low にし、続けて SI ラインに命令コード (図 2-10参照 )を指定することで移行します。
命令コードの 8 番目のビットの後で CS ピンを Highにする必要があります。これを実行しないと、チップ消去機能は実行されません。CS ピンを High に設定すると、セルフタイムのチップ消去機能が開始します。デバイスがチップ消去機能を実行している間にステータス レジスタの WIP ビットを読み出すと、チップ消去機能がいつ完了したかを判断できます。ブロック保護ビット (BP0、BP1) のいずれも「0」でない、つまりアレイの 1/4、1/2、またはすべてが保護されている場合、チップ消去機能は無視されます。
図 2-10: チップ消去シーケンス
SO
SI
SCK
CS
0 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 29 30 311
0 011011 0 A23 A22 A21 A20 A2 A1 A0
Instruction 24-bit Address
High-Impedance
SO
SI
SCK
CS
0 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 21 22 231
0 011011 0 A15 A14 A13 A12 A2 A1 A0
Instruction 16-bit Address
High-Impedance
SCK
0 2 3 4 5 6 71
SI
High-ImpedanceSO
CS
1 11 0 0 0 11
DS22040C_JP - ページ 3-74 © 2007 Microchip Technology Inc.
25AAXXXX/25LCXXXX製品ファミリ
データシート
3
2.12 ディープ パワーダウン モード
ディープ パワーダウン モードは、大容量メモリの25XX512および 25XX1024シリアルEEPROMに実装されていますが、これらのデバイスの消費電力が少です。ディープ パワーダウン モード時は、デバイスはリードまたは書き込みコマンドに応答しません。したがって、ソフトェアの書き込み保護の補助機能としても使用できます。
ディープ パワーダウン モードにするには、CS をLow にし、続いて SI ラインに命令コード ( 図 2-11参照 ) を指定し、その後 CS を High にすることで実行できます。
命令コードの 8 番目のビットが与えられた後で CSピンを High にしないと、ディープ パワーダウンは実行されません。CS ラインを High にした後、消費電力が 小に設定されるまでに遅延時間 (TDP) があります。
ディープ パワーダウン モード時に発行されたすべての命令は、電子署名リード コマンド (RDID) を除いてすべて無視されます。RDID コマンドは、ディープ パワーダウン モードを解除し、電子署名を SO ピンに出力し、遅延時間 (TREL) の後デバイスをスタンバイ モードに戻します。
ディープ パワーダウン モードは、デバイスの電源を切ると自動的に解除されます。再度デバイスの電源が投入されると、デバイスはスタンバイ モードで起動します。
図 2-11: ディープ パワーダウン シーケンス
SCK
0 2 3 4 5 6 71
SI
High-ImpedanceSO
CS
1 00 1 1 1 10
© 2007 Microchip Technology Inc. DS22040C_JP - ページ 3-75
25AAXXXX/25LCXXXX
2.13 ディープ パワーダウンの解除および電子署名の読み出し
デバイスが一度ディープ パワーダウン モードになると、ディープ パワーダウンの解除および電子署名のリード コマンド以外のすべての命令は無視されます。またこのコマンドは、デバイスがディープパワーダウン モードでない場合にも、消去、プログラム、書き込みステータス レジスタなどのコマンド実行をのぞき、電子署名の SO ピンでも読み出しに使用できます。
ディープ パワーダウンの解除および電子署名を読み出すには、CS を Low にし、続けて RDID 命令コード ( 図 2-12A/B 参照 ) を指定します。その後、25XX1024 機種では 24 ビットのダミー アドレス(A23-A0) を、25XX512 機種では 16 ビットのダミーアドレスを送信できます。ダミー アドレスの 終ビットを入力後、8 ビットの電子署名がクロックに同期して SO ピンに出力されます。署名を 1 度でも読み出すと、CS を High にしてシーケンスを終了できます。その後デバイスはスタンバイ モードに戻り、新しい命令が与えられるのを待ちます。電子署名が一度読み出された後に、追加のクロック サイクルが送信された場合、シーケンスが終了するまでSO ラインに署名を出力し続けます。
図 2-12A: ディープ パワーダウンの解除および電子署名の読み出し (24 ビット )
図 2-12B: ディープ パワーダウンの解除および電子署名の読み出し (16 ビット )
8 ビットの RDID コマンドの送信後、電子署名の出力前に CS を High にしても、デバイスのディープパワーダウン モードを解除できます。ただし図 2-13 に示すように、デバイスがスタンバイ モード(ICCS) に戻る前に遅延時間 TREL が生じます。
SO
SI
SCK
CS
0 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 391
0 110101 1 A23 A22 A21 A20 A2 A1 A0
7 6 5 4 3 2 1 0
Instruction 24-bit Address
Electronic Signature OutHigh-Impedance
0 1 0 1 0 0 10
Manufacturers ID 0x29
TREL
SO
SI
SCK
CS
0 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 21 22 23 24 25 26 27 28 28 30 311
0 110101 1 A15 A14 A13 A12 A2 A1 A0
7 6 5 4 3 2 1 0
Instruction 16-bit Address
Electronic Signature OutHigh-Impedance
0 1 0 1 0 0 10
Manufacturers ID 0x29
TREL
DS22040C_JP - ページ 3-76 © 2007 Microchip Technology Inc.
25AAXXXX/25LCXXXX製品ファミリ
データシート
3
図 2-13: ディープ パワーダウン モードの解除
SO
SI
SCK
CS
0 2 3 4 5 6 71
0 110101 1
Instruction
High-Impedance
TREL
© 2007 Microchip Technology Inc. DS22040C_JP - ページ 3-77
25AAXXXX/25LCXXXX
3.0 ピン説明
各ピンの説明を表 3-1 に示します。
表 3-1: ピン機能表
3.1 チップ セレクト (CS)このピンのレベルを Low にすると、デバイスを選択できます。High にすると、デバイスの選択を解除し、強制的にスタンバイ モードに入ります。しかし、CS 入力信号にかかわりなく、すでに開始または実行中のプログラミング サイクルは終了します。プログラミング サイクルの途中で CS を Highにすると、プログラミング サイクルの完了後すぐにデバイスはスタンバイ モードになります。デバイスの選択を解除すると、SO はハイインピーダンス状態になり、複数の部品が同じ SPI バスを共用できるようになります。有効な書き込みシーケンスの後で CS を Low から High に変更すると、内部書き込みサイクルが開始します。電源投入後は、シーケンスを始める前にCSをLowにする必要があります。
3.2 シリアル出力 (SO)SO ピンは、EEPROM から転送データの出力に使用します。読み出しサイクル中、データはシリアルクロックの立ち下がりエッジ後このピンにシフト出力されます。
3.3 書き込み保護 (WP)WP ピンは、ハードウェア書き込み保護入力ピンです。4K ビット以下の低メモリ容量品種では、このピンを論理 Low に設定すると、ライト イネーブルラッチをリセットし書き込みが禁止されます。しかし、書き込みサイクルがすでに進行中の場合、WPが Low になっても書き込みサイクルを停止することはありません。書き込み保護機能マトリックスについては、表 2-4 を参照してください。
8K ビット以上のメモリ容量の品種では、WP ピンは、ステータス レジスタの WPEN ビットとともに使用して、ステータス レジスタの不揮発性ビットの書き込みの禁止に使用します。WP ピンが Low で、WPEN が High の場合、ステータス レジスタの不揮発性ビットへの書き込みは無効になります。その他の動作はすべて正常に機能します。WP ピンが論理High に設定されると、ステータス レジスタの不揮
発性ビットへの書き込みも含め、すべての機能が正常に動作します。WPEN ビットが設定されていて、ステータス レジスタへの書き込みシーケンス中にWP ピンが論理 Low になると、ステータス レジスタへの書き込みが無効になります。内部書き込みサイクルがすでに開始している場合、WP が Low になっても進行中の書き込みには影響しません。
ステータス レジスタのWPENビットがLowのとき、WP ピン機能はブロックされます。こうすることで、ユーザーは WP ピンを接地して EEPROM をシステムにインストールしていても、ステータス レジスタに書き込めます。WPEN ビットを論理 High にすると、WP ピン機能は有効になります。
3.4 シリアル入力 (SI)Si ピンは、転送データをデバイスに入力するのに使用します。命令、アドレス、およびデータを受信します。データはシリアル クロックの立ち上がりエッジでラッチされます。
3.5 シリアル クロック (SCK)SCK は、マスターと EEPROM 間の通信を同期するために使用します。SI ピン上の命令、アドレス、またはデータは、クロック入力の立ち上がりエッジでラッチされ、SO ピンのデータは、クロック入力の立ち下がりエッジ後に更新されます。
3.6 ホールド (HOLD)HOLD ピンは、シーケンス全体を再送信せずにシリアル シーケンスの 中に EEPROM への送信を一時停止するのに使用します。このピンは、使用時以外は常に High にします。デバイスが選択され、シリアル シーケンスが進行中に、HOLD ピンを Low にしてシリアルシーケンスをリセットすることなく、さらなるシリアル通信を一時停止します。SCK がLow の間に、HOLD ピンを Low にしなければなりません。そうしないと、次に SCK が High から Lowに切り換わるまで、HOLD 機能は有効になりません。このシーケンスの 中は、EEPROM は選択されたままにしなければなりません。デバイスが一時停止している間、SI、SCK、および SO ピンはハイインピーダンス状態で、これらのピンの変化は無視されます。シリアル通信を再開するには、SCK ピンが Low の間に HOLD を High にします。これを行わないとシリアル通信は再開しません。HOLD ラインを Low にすると、いつでも SO ラインはトライステートになります。
Name Pin Number Function
CS 1 Chip Select InputSO 2 Serial Data OutputWP 3 Write-Protect PinVSS 4 GroundSI 5 Serial Data InputSCK 6 Serial Clock InputHOLD 7 Hold InputVCC 8 Supply voltage
DS22040C_JP - ページ 3-78 © 2007 Microchip Technology Inc.
25AAXXXX/25LCXXXX製品ファミリ
データシート
3
付録 A: 改版履歴
リビジョン A (2007 年 5 月 )本文書の初版( パッケージ図 Rev. AP)
リビジョン B (2007 年 6 月 )• 6 ピン SOT-23 パッケージ情報の改訂。
• 製品識別システム情報の更新。
• 文書の一部を修正。
リビジョン C (2007 年 8 月 )512、640A、および 1024 デバイスの「Preliminary ( 暫定版 )」を削除。
© 2007 Microchip Technology Inc. DS22040C_JP - ページ 3-79
25AAXXXX/25LCXXXX
4.0 パッケージ情報
4.1 パッケージ マーキング情報
XXXXXNNNXXXXXXXX
YYWW
8-Lead PDIP
I/P 1L725LC080A
0628
Example: Pb-Free
3e
8-Lead PDIP Package Marking (Pb-Free)
Device Line 1 Marking Device Line 1 Marking
25AA010A 25AA010A 25LC010A 25LC010A25AA020A 25AA020A 25LC020A 25LC020A25AA040A 25AA040A 25LC040A 25LC040A25AA080A 25AA080A 25LC080A 25LC080A25AA080B 25AA080B 25LC080B 25LC080B25AA160A 25AA160A 25LC160A 25LC160A25AA160B 25AA160B 25LC160B 25LC160B25AA320A 25AA320A 25LC320A 25LC320A25AA640A 25AA640A 25LC640A 25LC640A25AA128 25AA128 25LC128 25LC12825AA256 25AA256 25LC256 25LC25625AA512 25AA512 25LC512 25LC512
25AA1024 25AA1024 25LC1024 25LC1024
注 : T = 温度グレード (I、E)
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
DS22040C_JP - ページ 3-80 © 2007 Microchip Technology Inc.
25AAXXXX/25LCXXXX製品ファミリ
データシート
3
XXXXYYWWXXXXXXXT
NNN
8-Lead SOIC
SN 062825L080AI
1L7
Example: Pb-Free
3e
8-Lead SOIC Package Marking (Pb-Free)
Device Line 1 Marking Device Line 1 Marking
25AA010A 25AA01AT 25LC010A 25LC01AT25AA020A 25AA02AT 25LC020A 25LC02AT25AA040A 25AA04AT 25LC040A 25LC04AT25AA080A 25A080AT 25LC080A 25L080AT25AA080B 25A080BT 25LC080B 25L080BT25AA160A 25A160AT 25LC160A 25L160AT25AA160B 25A160BT 25LC160B 25L160BT25AA320A 25AA32AT 25LC320A 25LC32AT25AA640A 25AA64AT 25LC640A 25LC64AT25AA128(2) 25AA128T 25LC128 25LC128T25AA256(2) 25AA256T 25LC256 25LC256T25AA512(2) 25AA512T 25LC512 25LC512T
25AA1024(3) 25AA1024 25LC1024 25LC1024
注 1: T = 温度グレード (I、E)2: SN タイプと SM タイプのメモリ密度あり。
3: SM タイプのメモリ密度のみ。
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
© 2007 Microchip Technology Inc. DS22040C_JP - ページ 3-81
25AAXXXX/25LCXXXX
8-Lead TSSOP Package Marking (Pb-Free)
Device Line 1 Marking Device Line 1 Marking
25AA010A 5A1A 25LC010A 5L1A25AA020A 5A2A 25LC020A 5L2A25AA040A 5A4A 25LC040A 5L4A25AA080A 5A8A 25LC080A 5L8A25AA080B 5A8B 25LC080B 5L8B25AA160A 5AAA 25LC160A 5LAA25AA160B 5AAB 25LC160B 5LAB25AA320A 5ABA 25LC320A 5LBA25AA640A 5ACA 25LC640A 5LCA25AA128 5AD 25LC128 5LD25AA256 5AE 25LC256 5LE
注 : T = 温度グレード (I、E)
NNN
XXXXTYWW
8-Lead TSSOP
1L7
5L8AI628
Example: Pb-Free
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
DS22040C_JP - ページ 3-82 © 2007 Microchip Technology Inc.
25AAXXXX/25LCXXXX製品ファミリ
データシート
3
8-Lead MSOP Package Marking (Pb-Free)
Device Line 1 Marking Device Line 1 Marking
25AA010A 5A1AT 25LC010A 5L1AT25AA020A 5A2AT 25LC020A 5L2AT25AA040A 5A4AT 25LC040A 5L4AT25AA080A 5A8AT 25LC080A 5L8AT25AA080B 5A8BT 25LC080B 5L8BT25AA160A 5AAAT 25LC160A 5LAAT25AA160B 5AABT 25LC160B 5LABT25AA320A 5ABAT 25LC320A 5LBAT25AA640A 5ACAT 25LC640A 5LCAT
注 : T = 温度グレード (I、E)
8-Lead MSOP Example: Pb-Free
XXXXXXTYWWNNN
5L8AI 6281L7
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
© 2007 Microchip Technology Inc. DS22040C_JP - ページ 3-83
25AAXXXX/25LCXXXX
6-Lead SOT-23 Package Marking (Pb-Free)
Device I-Temp Marking Device I-Temp Marking E-Temp Marking
25AA010A 12NN 25LC010A 15NN 16NN25AA020A 22NN 25LC020A 25NN 26NN25AA040A 32NN 25LC040A 35NN 36NN
6-Lead SOT-23
XXNN
Example: Pb-Free
32L7
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
DS22040C_JP - ページ 3-84 © 2007 Microchip Technology Inc.
25AAXXXX/25LCXXXX製品ファミリ
データシート
3
8-Lead 2x3 DFN Package Marking (Pb-Free)
Device I-Temp Marking Device I-Temp Marking E-Temp Marking
25AA010A 401 25LC010A 404 40525AA020A 411 25LC020A 414 41525AA040A 421 25LC040A 424 425
注 : NN = 英数字のトレース用コード
8-Lead 2x3 DFN Example: Pb-Free
421627L7
XXXYWWNN
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
© 2007 Microchip Technology Inc. DS22040C_JP - ページ 3-85
25AAXXXX/25LCXXXX
8-Lead 6x5 DFN-S Package Marking (Pb-Free)
Device Line 1 Marking Device Line 1 Marking
25AA128 25AA128 25LC128 25LC12825AA256 25AA256 25LC256 25LC25625AA512 25AA512 25LC512 25LC512
25AA1024 25AA1024 25LC1024 25LC1024
注 : T = 温度グレード (I、E)
8-Lead 6x5 DFN-S Example: Pb-Free
XXXXXXXXXXXXXXXXYYWW
NNN
25AA128XXX-I/
MF0610017
記号の説明 : XX...X 製品番号または製品番号コードY 製造年コード ( 西暦の最終桁 )YY 製造年コード ( 西暦の下 2 桁 )WW 製造週コード ( 例 : 1 月の第 1 週を「01」と表示 )NNN 英数字によるトレーサビリティ コード (小型パッケージの場合は2文字 )
鉛フリーのつや消し錫 (Sn) メッキ製品を示す JEDEC 準拠マーク
注 : 鉛フリー JEDEC 準拠マーク を印字する場所のない小型パッケージの場合、このマークは外箱またはリール ラベルにのみ表示されます。
3e
注 : マイクロチップ社の製品番号全体が 1 行に収まらないときは、次の行に続きます。このためカスタマ固有情報用の文字数が制限されます。
3e
DS22040C_JP - ページ 3-86 © 2007 Microchip Technology Inc.
25AAXXXX/25LCXXXX製品ファミリ
データシート
3
製品識別システム
注文や資料請求、または価格や納期などの情報は、弊社工場または一覧に記載されている営業所にお問い合わせください。
PART NO. X /XX
PackageTemperatureRange
Device PartExamples:
a) 25AA010A-I/SN: 1Kb) 25AA040A-I/MS: 4Kc) 25LC040AT-I/OT: 4Kd) 25LC1024-I/SM: 1Me) 25LC040AT-I/MC
Device: EEPROM Series – 25Voltage – AA = 1.8V-5.5V
LC = 2.5V-5.5VDensity: 010A = 1 Kbit
020A = 2 Kbit040A = 4 Kbit080A = 8 Kbit080B = 8 Kbit160A = 16 Kbit160B = 16 Kbit320A = 32 Kbit640A = 64 Kbit128 = 128 Kbit256 = 256 Kbit512 = 512 Kbit1024 = 1024 Kbit (1Mbit)
TemperatureRange:
I = -40°C to +85°CE = -40°C to +125°C
Packaging Medium:
T = Tape and Reel (T/R)Blank = Std. Pkg.
Package: P = 8-lead Plastic DIP (300 mil body)SN = 8-lead Plastic SOIC (3.90 mm body)SM = 8-lead Plastic SOIC (5.28 mm body)ST = 8-lead Plastic TSSOP (4.4 mm)MS = 8-lead Plastic MSOP (3.0 mm)MC = 8-lead 2x3 mm DFN (T/R only)MF = 8-lead 6x5 mm DFNOT = 6-lead SOT-23 (T/R only)
Number
X
PackagingMedium
© 2007 Microchip Technology Inc. DS22040C_JP - ページ 3-87
25AAXXXX/25LCXXXX
メモ :DS22040C_JP - ページ 3-88 © 2007 Microchip Technology Inc.
Microw
ire互換
3
製品ファミリ
データシート
3
特定の製品について
汎用のシリアル EEPROM 製品ラインを幅広く展開する一方で、マイクロチップ社は以下の表に示すとおり、特定のアプリケーション用のデバイスを数種類提供しています。これらのデバイスのデータ シートは、本データ ブックには含まれておらず、マイクロチップ社の EEPROM ウェブ ページwww.microchip.com/memory で入手できます。
特定アプリケーション用デバイス
Application Part Number Data Sheet Number
DIMM serial presence detect DDR 24LCS52, 24AA52 DS21166DIMM serial presence detect DDR 24LC024, 24AA024,
24LC025, 24AA025DS21210
DIMM serial presence detect DDR2, DDR3 34LC02, 34AA02, 34LV02 DS22029VESA® “Plug and Play” 24LCS21A DS21161VESA® “Plug and Play” 24LCS22A DS21682Ultra-high endurance Smart Serial™ EEPROM 24C65, 24LC65, 24AA65 DS21073
©2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ 3-89
メモ :
DS00157E_JP - ページ 3-90 ©2007 Microchip Technology Inc.
アプリケーション
ノート
4
セクション 4アプリケーション ノート
マイクロチップ社製 I2C™ シリアル EEPROM デバイスの使用例 ....................................................................4-1マイクロチップ社製 Microwire シリアル EEPROM デバイスの使用例 ............................................................4-9マイクロチップ社製 SPI シリアル EEPROM デバイスの使用例 .....................................................................4-13
©2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ 4-i
DS00157E_JP - ページ 4-ii ©2007 Microchip Technology Inc.
アプリケーション
ノート
4
AN1028マイクロチップ社製 I2C™ シリアル EEPROM デバイスの
使用例
はじめに
組み込み制御システムの多くは、不揮発性メモリを必要とします。省スペース、バイト レベルの柔軟性、少 I/O ピン、低消費電力、低コストといった特徴によって、シリアル EEPROM は不揮発性メモリとして人気の高い選択肢となっています。マイクロチップ テクノロジー社は、このようなお客様のニーズに対応して、I2C™ (2 線式プロトコル )、Microwire(3 線式プロトコル )、SPI 通信といった業界標準のシリアル通信プロトコルに対応したシリアルEEPROM 製品の充実したラインアップを提供しています。シリアル EEPROM は、異なる集積度、動作電圧、パッケージ オプションで入手可能です。
シリアル EEPROM を利用したアプリケーションの堅牢性を高めると、設計者はデータシートの仕様以外の要素も考慮する必要があります。
結果として、さまざまな条件に左右され、規格外の動作を招く場合があります。こうした条件の具体的な内容は、使用されるシリアル プロトコルに大きく依存します。
本アプリケーション ノートでは、マイクロチップ社の I2C シリアル EEPROM を使用する際のアドバイスと指針を提供します。こちらに記載されている推奨条件は必須条件ではありませんが、採用することで回路設計全体の堅牢性が高まります。ここでは、以下のトピックについて考察します。
• チップ アドレスの入力
• 書き込み保護機能 • 電源
• 確認応答 (ACK) のチェック
• 確認応答 (ACK) のポーリング
• データ効率の向上
• バスのプルアップ抵抗
• ソフトウェア リセット シーケンス
図 1 は、マイクロチップ社の I2C シリアル EEPROMの推奨接続例を示しています。この接続例の詳細は以降のセクションで説明します。
図 1: 24XXXX シリーズ デバイスの推奨接続例
著者 : Chris ParrisMicrochip Technology Inc.
注
A0(1)
A1(1)
A2(1)
VSS
Vcc
WP
SCL
SDA
1
2
3
4
8
7
6
5
VCC
24X
XXXX
To Master(2)
2: VCC の小さなリップルを除去するには、デカップリング コンデンサ ( 通常 0.1 µF) を使用してください。A0、A1 および A2 ピンは一部のデバイスでは内部接続されていません。1:
© 2007 Microchip Technology Inc. DS01028B_JP - ページ 4-1
AN1028
チップ アドレスの入力
チップ アドレス入力ピン (A0、A1、A2) は、複数のデバイスで利用されており、複数デバイスの動作を可能にします。この機能を備えたデバイスでは、この入力レベルがスレーブ アドレスの対応するビットと比較されて、比較の結果が真 (True) であればそのデバイスが選択されます。チップ アドレス ピンは一部のデバイスでは内部接続されていませんのでご注意ください。詳細については、本製品のデータシートを参照してください。
チップ アドレス ピンが内部で接続されているデバイスでは、チップ アドレス入力をロジック「0」または「1」にハードワイヤ配線する必要があります。ハードワイヤ配線せずにフロート状態のままにしておくと、デバイスは正しく動作しません。24XX515および24XX1025デバイスを正しく動作させるには、A2 ピンは常にロジック「1」に固定する必要があります。
一部のアプリケーションでは、チップ アドレス入力はマイクロコントローラや、その他のプログラマブル デバイスによって制御されます。その場合、通常のデバイス動作を実行する前に入力をロジック「0」または「1」に駆動する必要があります。
書き込み保護機能 書き込み保護機能を備えたデバイスでは、WP ピンを使ってハードウェアによる書き込み保護機能を有効にします。WP ピンを VCC に接続することで、アレイ全体を保護することができます。VSS に接続すると、書き込み保護は無効になります。
プルアップ抵抗を WP ピンに接続すると、電源投入、電源遮断時、ピンが明示的に駆動されていない場合でも、デバイスを書き込み保護状態に保つことができます。これによって、SDA/SCL ラインのノイズなどの理由で発生する可能性がある不要な書き込みを回避できます。書き込みサイクルを開始するには、WP ピンをロジック「0」に駆動する必要があります。この条件が成立しないと、書き込みサイクルは実行されません。
WP ピンを制御せず、書き込み保護を常に無効にする場合は、WP ピンをロジック「0」にハードワイヤ配線する必要があります。チップ アドレスの入力の場合と同様に、このピンをフロート状態のままにしておくと、デバイスは正しく動作しません。
デバイスによっては書き込み保護機能をサポートしていない場合がありますのでご注意ください。
電源
マイクロチップ社のシリアル EEPROM は、電源が通常動作レベル内にある場合、意図しない書き込みやデータの破損に対して高い保護機能を発揮しま
す。しかし、電源投入および電源遮断条件でも、ある条件下で電源が通常動作レベルにない場合にも、通常と同レベルで保護されるようご留意ください。
図 1 で示すように、デカップリング コンデンサ ( 通常 0.1 µF) を使用して VCC の小さなリップルを除去する必要があります。
電源投入時
電源投入時、正しくパワーオン リセットが実行されるよう、VCC は常に 0V で始まり、直ちに立ち上がり通常動作レベルに達する必要があります。VCCが途中または 低動作電圧未満で留まらないようにしてください。
ブラウンアウト条件
マイクロチップ社のシリアル EEPROM は、追加の保護機能としてブラウンアウト リセット回路を備えています。しかし、VCC がシリアル EEPROM の低動作電圧を下回る場合は、VCC をまず 0V にまで完全に落とした後に通常動作レベルにまで戻すことを推奨します。これによって、デバイスを確実にリセットすることができます。
さらに、シリアル EEPROM よりも高いしきい値でブラウンアウト リセットするマイクロコントローラの場合は、VCC を 0V にまで下げることで両方のデバイスを同時にリセットすることができます。それ以外の場合は、通信中にマイクロコントローラがリセットされ、一方で EEPROM が現在の状態を保持する必要がある可能性があります。この場合、通信を再開するには、まずソフトウェア リセットシーケンスを実行する必要があります。
書き込みサイクル時の電源異常
書き込みサイクル時、サイクルの 初から 後まで( 通常のデバイスで 大 5 ms)、VCC は 低動作電圧よりも高いレベルを保つ必要があります。どの時点でも期間にかかわらず、VCC が 低電圧を下回ると、データは完全に保証されません。そのため、正誤の不安定なプログラム データとなってしまいます。さらに、EEPROM セルのプログラミングが不十分になるため、EEPROM の記憶保持時間はデータシートに記載されている時間よりも短くなります。
確認応答 (ACK) のチェック
I2C 通信のメリットの 1 つは、1 バイト受信ごとに送信される確認応答 (ACK) ビットを持つことです。書き込みサイクル時を除き、マイクロチップ社のシリアル EEPROM は 1 バイト受信ごとに、有効なスタート ビットと制御バイトをすでに受信したとみなして、ACK ビットを Low にして送信します。このため、マスターは動作期間中に受信するACKビットを監視することでエラーの発生を検知できます。また、通信時に ACK をロジック「1」として受信し
DS01028B_JP - ページ 4-2 © 2007 Microchip Technology Inc.
AN1028アプリケーション
ノート
4
たかどうか常時検証を推奨します。受信した場合には、EEPROM が応答しなかったことを示します。この時点では、エラー処理ルーチンはデバイスが応答しなかった原因を判断し、必要に応じてソフトウェアのリセット シーケンスを実行します。
確認応答 (ACK) のポーリング
シリアル EEPROM に対して書き込みを実行するには、書き込み開始後の書き込みサイクル時間にしたがって、デバイスにデータを格納する時間を確保する必要があります。この時、通常の動作は無効になり、マスターがデバイスにアクセスを試みてもすべて無視されます。そのためマスターは、再びEEPROM にアクセスしようとする前に、まず書き込みサイクルの終了を待つことが重要です。
各デバイスには 長ケースの書き込みサイクル時間が定められており、通常 TWC として記載されています。書き込みサイクル時間内に収める方法は、定められた時間だけ遅延を発生させ、その後EEPROM に再びアクセスすることです。しかし、仕様で定められた 大時間以内に書き込みサイクルが終了することはよくあります。この場合、上述した遅延方法では、EEPROM 側は書き込みを終えたがマスター側はまだ待っているという時間が発生します。
このような無駄な時間をなくして効率的に動作させるため、確認応答 (ACK) ポーリング機能を利用することを推奨します。マイクロチップ社の I2C シリアル EEPROM は、書き込みサイクル時には応答しないため、ACK ビットを受信するまで連続してポーリングすることで ACK ビットの返送時に書き込みが完了したことがわかります。この動作は、停止条件が成立してデバイスの内部書き込みサイクル開始後に実行されます。
手順
書き込みコマンドの停止条件がマスターから送信されると、デバイスは内部的に定められたタイミングで書き込みサイクルを開始し、ただちにACKポーリング開始できる状態になります。この状態になるには、マスターがまず開始条件を送信して、続いて書き込みコマンドの制御バイト (R/W = 0) を送信する必要があります。デバイスがまだ書き込みサイクル中の場合、ACK は返ってきません。ACK が返ってこない場合は、スタート ビットと制御バイトを再度送信する必要があります。サイクルが完了すると、デバイスは ACK を返し、マスターは次の読み込みまたは書き込みコマンドの実行が開始できます。詳細は図 2 をご覧ください。
図 2: ACK ポーリングの流れ
SendWrite Command
Send StopCondition to
Initiate Write Cycle
Send Start
Send Control Bytewith R/W = 0
Did DeviceAcknowledge
(ACK = 0)?
NextOperation
NO
YES
© 2007 Microchip Technology Inc. DS01028B_JP - ページ 4-3
AN1028
データ効率の向上
ページ書き込み
マイクロチップ社の I2C シリアル EEPROM の多くは、書き込み時に使用するページ バッファを備えています。このページ バッファを使用して、1 バイトから 大ページ サイズの任意のバイト数を一度のオペレーションで書き込むことができます。バイト数の大きなデータを書き込む場合、この機能によって総書き込み時間を大幅に短縮することができます。
ページ書き込みでは、書き込むバイト数にかかわらず、1 物理ページ内のバイトにしか書き込みができません。理由は、図 3 で示すようにメモリ アレイは物理的に二次元配列として格納されているためです。書き込みの 初にワード アドレスが指定さ
れる場合には、行と列の両方のアドレス ポインタがセットされます。行アドレス ポインタはどの行 (ページ ) にアクセスするかを指定し、列アドレス ポインタは選択されたページの中でどのバイトからアクセスを開始するかを指定します。列アドレス ポインタは、データ バイトの送信が完了するたびに自動的にインクリメントします。しかし、ページ アドレス ポインタは書き込み中にインクリメントしないため、1 回のページ書き込み中にページの境界をまたがる書き込みを実行しようとすると、同じページの 初に戻ってデータが書き込まれるというループに陥ります。
物理ページの境界は、ページ サイズの倍数となるアドレスから開始されます。例えば、ページ サイズが 128 バイトの 24XX512 の場合、物理ページは0x0000、0x0080、0x0100 といったアドレスで開始することを意味します。
図 3: ページ バッファのブロック図
手順
書き込み制御バイト、ワードアドレスおよび 初のデータ バイトは、1 バイトの書き込み時と同様に送信されます。ただし、マスターは停止条件を生成する代わりに、データ バイトの送信を継続します。このデータは、デバイスの 大ページ サイズまで、チップ上のページ バッファに一時的に格納されます。バイトの書き込みと同様、停止条件を受信すると内部の書き込みサイクルが開始され、ページ バッファに格納されたバイトがすべて書き込まれます。
書き込み時間の比較
特定のデータ量をデバイスに書き込むためにかかる全時間を正確に計算するには、2 つの要素を考慮する必要があります。
• ロード時間は、すべてのバス動作を完了させるために必要な時間です。これには、開始条件と停止条件の生成や、制御バイト、アドレス バイトおよびデータ バイト (ACK を含む ) の送信に必要な時間も含まれます。この時間は、バス クロック スピード、書き込むデータ バイト数、デバイスのアドレス方式によって変わります ( デバイスには、1 バイト アドレスを使用するものと、2 バイト アドレスを使用するものがあります )。
ColumnAddressPointer
Byte 0 Byte 2 Byte 3 Byte n-2Byte 1 Byte n-3 Byte n-1 Byte n
注 : 「n」は「ページサイズ - 1」と等しくなります。
RowAddressPointer
Page Buffer
Memory Array
DS01028B_JP - ページ 4-4 © 2007 Microchip Technology Inc.
AN1028アプリケーション
ノート
4
• 書き込みサイクル時間は、デバイスが内部の書き込みサイクルを実行する時間です。ACK ポーリングのセクションで記したように、デバイスごとに書き込みサイクルの 大時間が定められています。しかし一般的に、内部の書き込みサイクルは定められた時間内に完了します。この前提で、 長のケース (5 ms) と一般的なケース(3 ms@TAMB = 25 °C) の両方の計算結果を表 1 に示します。
表 1 の計算には次の方程式が使用されています。
公式 1: 書き込み時間の計算式
表 1: 書き込み時間の比較
以上の例から、ページ書き込みと ACK ポーリングのどちらも大幅な時間の節約が明らかです。バイト書き込みを使用して 24LC512 に 128 バイトを 400kHz で書き込むには、 長のケースで 652 ms ほどかかります。ACK ポーリングに切り替えるとこれが約 396 ms にまで下がり ( 一般的な条件を仮定 )、40% 近く短縮されることになります。また、ページ書き込みに変更するとさらに延長されて 5.95 ms になり、98% 以上の短縮になります。この 2 つのテクニックを合わせて全体で 646 ms 近い時間の節約が実現されており、データ効率は 109 倍以上も向上しています。
TLOAD9 1 # address bytes # data bytes+ +( ) 1+⋅
FCLK------------------------------------------------------------------------------------------------------=
TTOTAL TLOAD TWC+( ) # write operations⋅=
Device Page Size(bytes)
# of Bytes to Write
Write Mode(1)
Clock Speed (kHz)
Load Time Per Operation (ms)
Total Time (ms)Worst-Case(2)
Total Time (ms)Typical(3)
24LC01B 8 1 Byte 100 0.28 5.28 3.288 Byte 100 0.28 42.24 26.248 Page 100 0.91 5.91 3.911 Byte 400 0.07 5.07 3.078 Byte 400 0.07 40.56 24.568 Page 400 0.23 5.23 3.23
24LC16B 16 1 Byte 100 0.28 5.28 3.2816 Byte 100 0.28 84.48 52.4816 Page 100 1.63 6.63 4.631 Byte 400 0.07 5.07 3.07
16 Byte 400 0.07 81.12 49.1216 Page 400 0.41 5.41 3.41
24LC512 128 1 Byte 100 0.37 5.37 3.37128 Byte 100 0.37 687.36 431.36128 Page 100 11.80 16.80 14.80
1 Byte 400 0.09 5.09 3.09128 Byte 400 0.09 651.84 395.84128 Page 400 2.95 7.95 5.95
注 1: バイト書き込みモードは、1 回の書き込みで 1 バイトだけ書き込まれることを意味します。ページ書き込みモードは、1 回の書き込みでページ全体が書き込まれることを意味します。
2: 長のケースの計算では、指定遅延時間が 5 ms と仮定しています。
3: 一般的なケースの計算では、ACK ポーリングと一般的な数値 TWC = 3 ms、TAMB = 25 °C を使用すると仮定しています。
© 2007 Microchip Technology Inc. DS01028B_JP - ページ 4-5
AN1028
バスのプルアップ抵抗
正確に動作させるには、SCL および SDA バスの両方にプルアップ抵抗が必要ですが、選択した抵抗値がシステムのパフォーマンスに大きな影響を与える可能性があります。特に、プルアップ抵抗 (RP) の抵抗値を選ぶ際には以下の3つの制約条件を考慮する必要があります。
• 電源電圧 (VCC)• バスの総容量 (CBUS)• High レベル入力の総電流量 (IIH)
電源電圧 (VCC)電源電圧は、 大 Low レベル出力電圧 (VOL) の仕様によって、 小 RP 値を制限する要因となります。これは、一定の VCC レベルの下でプルアップ抵抗を小さくすると、出力電圧が高くなってしまうためです。マイクロチップ社の I2C デバイスの場合、VOLの仕様は 3 mA で 高 0.4V です。つまり、0.4V のVCC で RP 全体に電圧降下が発生すると、3 mA 以上の電流を供給できないことになります。オームの法則により公式 2 が当てはまります。
公式 2: 最小 RP 値
バスの総容量 (CBUS)バス容量には、バス上のすべてのピン、接続、配線の容量が含まれます。RC 時定数により、バス容量が大きくなると、所定の立ち上がり時間、すなわちクロック スピードの条件を満たすためにプルアップ抵抗を小さくする必要があります。これは、1 つのバスに複数のデバイスを接続する回路設計では重要になる検討項目です。
公式 3 は、時間の関数として容量性負荷の充電特性を表す一般的な方程式です。この式により、一定のプルアップ抵抗およびバス容量の下でバス電圧が特定の値まで上がるまでに必要な時間を計算することができます。
公式 3: コンデンサの充電
バスの立ち上がり時間 (TR) は、電圧が VIL から VIHに上がるために必要な時間と定義されます。公式 3を使用して VIL=0.3*VCC、VIH=0.7*VCC とした場合のバスの立ち上がり時間を計算した結果を公式 4に示します。VIL および VIH は VCC の関数として指定されているため、VIL の仕様が変更されない限り、この 終方程式は VCC に依存していません。
公式 4: バスの立ち上がり時間
公式 4 はバスの立ち上がり時間の計算に非常に役立ちますが、このパラメータはバス速度に応じてすでにデータシートに記載されていますので、バスの立ち上がり時間を制約条件として RP の 大値を求めるには、この方程式を再構成する必要があります。その結果が公式 5 です。
公式 5: 最大 RP 値 立ち上がり時間を制約条件とする
High レベル入力の総電流量 (IIH)ラインの High レベル入力総電流量は、競合がなく、抵抗器でラインの電圧を引き上げることができる状態のときにプルアップ抵抗器を流れる電流の総量です。この電流は、バス上の全デバイスの入力リーク電流を合計したものと、入力ピンを通してデバイスからシンクするその他の電流で構成されます。
バスの競合がなくても、一部の電流は常にプルアップ抵抗を流れているため、ピンの実効電圧は抵抗両端の電圧降下によって VCC より低くなります。ただし、この電圧降下はピンの電圧がデバイスから見てまだ High と見なされるほどに小さいものである必要があります。つまり、ピンの電圧は VIH と Highレベル入力ノイズ マージン (VHMAR) を合わせた値よりも高い値である必要があります。ここで再度オームの法則を適用すると、公式 6 が導かれます。
RPMINVCC VOL–
IOL---------------------------
VCC 0.4V–
3 mA-----------------------------= =
V t( ) V0 1 e t– RC( )§–( )=
t–⇒ RC( ) 1 V t( )V0
-----------–⎝ ⎠⎛ ⎞ln=
T1– RC( ) 1VILVCC-----------–⎝ ⎠
⎛ ⎞ln RC( ) 1 0.3–( )ln= =
T2– RC( ) 1VIHVCC-----------–⎝ ⎠
⎛ ⎞ln RC( ) 1 0.7–( )ln= =
TR T2 T1– 0.847298 RC⋅= =
T1⇒ 0.356675= RC⋅
T2⇒ 1.20397= RC⋅
RPMAXTR
0.847298 CBUS⋅----------------------------------------=
DS01028B_JP - ページ 4-6 © 2007 Microchip Technology Inc.
AN1028アプリケーション
ノート
4
公式 6: 最大 RP 値電流を制約条件とする
抵抗値計算の例
以下に、方程式を使用して正しいプルアップ抵抗値を求める例を示します。以下のパラメータを使用します。
表 2: パラメータ例
公式 2、公式 5 および公式 6 を適用すると、以下の抵抗限界値が算出できます。
表 3: 抵抗限界値
指定の VCC レベルでは入力電流が十分小さいので50 kΩ の抵抗器でもさほど大きな電圧降下は発生しませんが、これほどの大きさの抵抗となると、指定のバス容量では速度が遅すぎることになります。したがって、許容できる抵抗値の範囲は 1.533 kΩ から 3.541 kΩ までとなります。ガード帯域をできるだけ広く取るため、この範囲の中でも中央付近の値を選択することをおすすめします。この例では、2.2kΩ のプルアップ抵抗が理想的です。
バス速度 vs. 消費電力
バス容量が大きい場合、所定のバス速度に達するには抵抗値の小さいプルアップ抵抗が必要になります。例えば、上記の例でバス容量から算出したRPMAX 値は 100 pF で 3.541 kΩ でした。しかし、バス容量が高くなって約 231 pF になると、新たな
RPMAX 値は 1.533 kΩ となります。抵抗が小さくなると、デバイスがバスをプルダウンする際に引き出す電流が大きくなります。具体的には、1.533 kΩ で高 3.26mA に対して、3.541 kΩ では 1.41 mA とな
ります。
プルアップ抵抗が小さくなって電流が大きくなると、消費電力とバッテリ寿命が大きな影響を受けます。そのため、回路設計の許容範囲内で も遅いバス速度を選択することをおすすめします。上記の例では、要求速度を 100 kHz ( 立ち上がり時間 1000 ns)に下げるだけで、231 pF で 5.109 kΩ のプルアップ抵抗の使用が可能になります。また、これによって
大電流が 0.979 mA まで下がります。
ソフトウェア リセット シーケンス
場合によって、ソフトウェア リセット シーケンスを実行してシリアル EEPROM を既知の正しい状態に置く必要があります。これは、電源投入されたEEPROMが (過度のバス ノイズなどによって )不適切な状態に陥った場合や、通信中にマイクロコントローラがリセットされた場合などに役立ちます。このような場合、以下のシーケンスを送信することでシリアル EEPROM デバイスを正しくリセットすることができます。
• スタート ビット
• 9 ビットの「1」のクロック
• スタート ビット
• ストップ ビット
図 4: ソフトウェア リセット シーケンス
初のスタート ビットによってデバイスはリセットされ、マイクロコントローラから送信されるデータを待っている状態から解放されます。このとき、デバイスは受信モードでデータ バスを監視し、内部リセットを強制実行するスタート ビットを検出できる状態になります。
次に、9 ビットの「1」を使って前回のスタート ビットでリセットできなかったデバイスを強制的にリセットします。このリセットは、デバイスがバスでACK を (Low) 駆動しているモードか、出力モードでデータビット「0」を駆動してバス出力している場合にしか実行されません。いずれの場合も、デバイスがバスを Low に固定しために前回のスタートビット (SCL が High のとき、SDA が Low と定義される ) が生成できません。
Parameter Value Units
VCC 5.0 VTR 3001 ns
CBUS 100 pFVIH 3.52 V
VHMAR 1.03 VIIH 10 µA
注 1: TR はクロック速度 400 kHz に基づく値です。
2: VIH は 0.7*VCC 仕様から導かれた値です。
3: VHMAR は、0.2*VCC 仕様から導かれた値です。
Limit Value Limiting Factor
RPMIN 1.533 kΩ Supply VoltageRPMAX 3.541 kΩ Bus CapacitanceRPMAX 50 kΩ Input Current
RPMAXVCC VIH VHMAR+( )–
IIH--------------------------------------------------------=
S P
Bus
SDA
STOP
Nine bits of ‘1’
START
S
START
Activity
© 2007 Microchip Technology Inc. DS01028B_JP - ページ 4-7
AN1028
9 ビットの「1」を送信することによって、デバイスがNACKを検出する (つまりマイクロコントローラがバスを Low に駆動せず、EEPROM から送信されるデータの確認応答をしない ) 状態になり、内部リセットが強制実行されます。2 つ目のスタート ビットは、書き込みコマンドをEEPROM に送信中にマイクロコントローラがリセットされる場合、または 初のスタート ビットが送信されたときにEEPROMがバスでACKを駆動していた場合、まれに誤った書き込みの実行を回避するよう送信されます。こうした特殊なケースでは、この 2 つ目のスタート ビットが送信されずにストップ ビットが送信されてしまうと、デバイスが書き込みサイクルを開始する可能性があります。この書き込みが誤って実行される可能性は、EEPROM に書き込みコマンドを送信している 中にマイクロコントローラがリセットされる場合しか発生しません。
後のストップ ビットでは、バス動作は終了し、EEPROM はスタンバイ モードになります。
このシーケンスは、バスに接続されているその他のI2C デバイスには影響せず、他のデバイスには単に無効なコマンドとして無視されます。
ソフトウェア リセット シーケンスが必要とされる状況では、バスの競合が発生する可能性が高くなります。MSSP モジュールを使用している場合、バス衝突割り込みフラグ (BCLIF) が立ち、以降のバスのトランザクションがブロックされます。ソフトウェア リセットを実行するには、MSSP モジュールを無効にして、ソフトウェア リセット シーケンスをビットバングで実行する必要があります。ソフトウェア リセット シーケンスが完了すれば、MSSP モジュールを再び有効にして、バス衝突割り込みフラグをクリアすることが可能になり、MSSP モジュールが通常のバス動作を実行できるようになります。
まとめ
本アプリケーション ノートでは、マイクロチップ社の I2C シリアル EEPROM を使用した回路設計の堅牢性の向上に推奨する方法を説明しました。以上の推奨事項は、マイクロチップ社によるシリアルEEPROM の設計、製造、品質保証、試験の実施方法と合致しており、データ シートに記載されているパラメータの範囲内でデバイスが十分な機能を発揮することができます。本アプリケーション ノートで詳しく説明した考え方は、I2C シリアル EEPROM を利用しているシステムであればどのシステムにも採用できます。
DS01028B_JP - ページ 4-8 © 2007 Microchip Technology Inc.
アプリケーション
ノート
4
AN1029マイクロチップ社製 Microwire シリアル EEPROM デバイスの
使用例
はじめに
組み込み制御システムの多くは、不揮発性メモリを必要とします。省スペース、バイト レベルの柔軟性、少 I/O ピン、低消費電力、低コストといった特徴によって、シリアル EEPROM は不揮発性メモリとして人気の高い選択肢となっています。マイクロチップ テクノロジー社は、このようなお客様のニーズに対応して、I2C™ (2 線式プロトコル )、Microwire(3 線式プロトコル )、SPI 通信といった業界標準のシリアル通信プロトコルに対応したシリアルEEPROM 製品の充実したラインアップを提供しています。シリアル EEPROM は、異なる集積度、動作電圧、パッケージ オプションで入手可能です。
シリアル EEPROM を利用したアプリケーションの堅牢性を高めると、設計者はデータシートの仕様以外の要素も考慮する必要があります。
結果として、さまざまな条件に左右され、規格外の動作を招く場合があります。こうした条件の具体的な内容は、使用されるシリアル プロトコルに大きく依存します。
本アプリケーション ノートでは、マイクロチップ社の Microwire シリアル EEPROM を使用する際のアドバイスと指針を提供します。こちらに記載されている推奨条件は必須条件ではありませんが、採用することで回路設計全体の堅牢性が高まります。ここでは、以下のトピックについて考察します。
• チップ セレクトおよびプログラム イネーブル入力
• 正確な書き込みシーケンス
• ステート マシンのリセット
• Microwire 通信用ハードウェア SPI ポートの使用
• DI と DO の接続
• 電源投入、電源遮断
図 1 は、マイクロチップ社の Microwire シリアルEEPROM の推奨接続例を示しています。この接続例の詳細は以降のセクションで説明します。
図 1: 93XXXX シリーズ デバイスの推奨接続例
著者 : Martin KvasnickaMicrochip Technology Inc.
注 1: PE ピンは 93XX76X および 93XX86X デバイス (8K および 16K デバイス ) にしか存在しません。
注 2: ORG は Vss に接続すると x8 設定になります。 x16 動作にするには、Vcc に接続する必要があります。
注 3: 名前の末尾に A または B が付くデバイスには ORG ピンが存在しません。
CS
CLK
DI
DO
VCC
PE(1)
ORG(2,3)
VSS
1
2
3
4
8
7
6
5
VCC
93XX
XXX
To Master
To Master
To M
aste
r
10 KΩ
10 KΩ
0.1 µF
© 2007 Microchip Technology Inc. DS01029A_JP - ページ 4-9
AN1029
チップ セレクトおよびプログラム イネーブル入力
電源投入および電源遮断ルーチンの実行時、プロセッサが完全に初期化されるまで、マイクロコントローラには、I/O ラインがフロート状態になる時間が存在します。この時間に、マイクロコントローラによって制御されている外部デバイスが、スプリアスなコマンドまたは回線ノイズを認識して反応する場合があります。そのため、CS ラインにプルダウン抵抗を使用することで、電源投入、電源遮断サイクル時や、EEPROM を非選択時に EEPROM が選択されないようにします。さらに、93XX76X および 93XX86X デバイスの PE ピンにもプルダウン抵抗を使用して、同様の電源投入、電源遮断時に不要な書き込みが実行されないようにします。
正確な書き込みシーケンス
Microwire シリアル EEPROM では、EEPROM を監視して書き込み可能な状態にあるかを確認できません。また、1K ~ 4K の Microwire デバイスには、いつ書き込みを可能にするかをハードウェアが制御できるようにするプログラム イネーブル ピンが存在しません。デバイスを書き込み可能にするタイミングの制御や書き込み完了後のデバイスの保護をどうするかは、ユーザーの判断に委ねられています。そのため、書き込みコマンドはコマンドの後にEWDS (Erase/Write Disable)コマンドが発行されてはじめて完了したと見なされます。つまり、書き込みコマンドはすべて、EWEN (Erase/Write Enable) で開始され、実行したい書き込みシーケンスが後に続き、 後に EWDS (Erase/Write Disable) で終了します。また、EWDS コマンドは書き込みサイクル中に発行できず、書き込み中に発行されたコマンドはすべて無視されます。
この仕組みには 2 つのメリットがあります。第一に、リセットやその他のシステム割り込みが発生した場合に、不要な書き込みからデバイスを保護します。第二に、EWDS (Erase/Write Disable) コマンドのはじめにスタート ビットを発行することで、DO ラインのレディ / ビジー状態がリセットされて 小限の電流量のみ消費する真のスタンバイ モードに戻ります。
ステート マシンのリセット
ステート マシンのリセットは、該当コマンドのクロック サイクルが必要数に達していない場合に限り、デバイスを選択解除して実行できます。しかし、いったん所定のクロック サイクル数が満たされると、コマンドはすぐに実行され、有効なコマンドの後にクロックが追加されたとしても無視されます。有効なコマンドの後に追加のクロックがデバイスに与えられても、「ドント ケア」として処理されます。
また、電力損失 (POR または BOR) イベントの発生が推測されるデバイスの場合、VCC が復帰すれば、CS ラインを Low ( 非アクティブ )、High ( アクティブ )、Low ( 非アクティブ ) と切り替えることを推奨します。これにより、ステート マシンは正しくリセットされ、短時間またはスプリアスな電力遮断から復帰できます。POR/BOR イベントの詳細については、電源投入、電源遮断セクションをご覧ください。
MICROWIRE 通信用ハードウェア SPIポートの使用
現在の定評あるマイクロコントローラの多くは、SPI コマンドを送信できるモジュールを搭載しています。Microwire の構造は、モジュールを正しく設定すれば Microwire プロトコルの制御にさまざまなハードウェア プロトコル ポートを使用できます。ポート設定の具体的な方法はメーカーによって異なりますので、詳細は個別のデータシートを参照してください。マイクロチップ社では、この設定をPIC® マイクロコントローラで実行する方法を記したアプリケーション ノートを提供しています。
動作原理
SPI ポート (MSSP) を使用してマイクロチップ社製Microwire シリアル EEPROM と通信するには、93XXX に出力するバイトの位置を合わせて、アドレスの LSBと出力されるバイトの第 8ビット (LSB)を一致させる必要があります。ここから、ビットを右から左に連続して並べてバイトを埋めていきます。8 ビットを上回るビット数が必要な場合、2 バイトの出力が必要になります。これと同じ方法が 93XXXシリーズ デバイスにも有効ですが、集積度やコンフィギュレーション内容によって各コマンドで送信するビット数が異なりますので、該当するデータシートを参照する必要があります。以下の例では、x16フォーマットで構成される 93LC66Cを使用しています。93LC66C の制御には 8 ビットでは足りませんので、図 2 で示すように連続した 2 バイトが必要になります。
上位バイト ( スタート ビット、オペコード ビットおよびアドレスの 上位ビットが入る )上位バイトの構成は以下の通りです。SB はスタート ビットです。OP1 はオペコードの 上位ビット、OP0 はオペコードの 下位ビットです。CS ラインはバイトの出力前に設定することができます。これは、93XXX に対する出力の先頭にある「0」によって、 初の上位ビットが送信されるまで 93XXX がスタート ビットを認識しないためです。
下位バイト ( アドレス ビットの 8 ビットが入る )下位バイトには A7 ~ A0 の値が入ります。これはx16 モードで 256 バイトにアクセスするために必要なアドレス ビットです。
図 2: コマンドの整列
High Byte Low Byte0 0 0 0 0 SB OP1 OP0 A7 A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0
DS01029A_JP - ページ 4-10 © 2007 Microchip Technology Inc.
AN1029アプリケーション
ノート
4
DI と DO の接続
DI ラインと DO ラインを接続して Microwire プロトコルを真の 3 線式にすることについて疑問を持つユーザーがたくさんおられます。しかし、マイクロコントローラが DI ピンを駆動しようとする一方でメモリが DO を駆動していれば、バスの競合が起こる可能性があります。特に、マイクロコントローラの SPI ポートを使用していて、スタート ビットの発行前にバスで駆動するダミー値の0に頼っている場合です ( 次のスタート ビットまで DO が High に駆動されてレディ状態となるため )。このようなバスの競合を回避するため、DI ラインと DO ラインを直接接続せずに、図 3 で示すように間に直列抵抗( ~ 10 kΩ) を使用する必要があります。
DI と DO を接続することで発生する可能性の高いもう一つの問題は、書き込みサイクルの開始後、CSが High に遷移し、書き込みサイクル中に CLK ラインで有効なクロック遷移が発生した場合です。この場合、書き込みサイクルが終了した (DO ラインがHighになってレディ状態になったことがわかる )場合に、開始条件が成立したとデバイスが見なす可能性があります。この原因は、デバイスの TWC が ( プロセス、電圧、温度によって ) 異なるためで、クロックと同期せずに書き込みサイクルが終了してしまうことになります。例えば、書き込みサイクルが終了して CS が High に遷移し、DO も High になる ( それに伴って DIも High に引き上げられる ) と、CLK 上の Low から High への遷移が起こると、意図していないにもかかわらず開始条件が成立したと見なされてしまいます。
図 3: DI と DO の接続
注 1: PE ピンは 93XX76X および 93XX86X デバイスにしか存在しません。
注 2: ORG は Vss に接続すると x8 設定になります。x16 動作にするには、Vcc に接続する必要があります。
注 3: 名前の末尾に A または B が付くデバイスには ORG ピンが存在しません。
CS
CLK
DI
DO
VCC
PE(1)
ORG(2,3)
VSS
1
2
3
4
8
7
6
5
VCC
93X
XXXX
To Master
To Master
To M
aste
r
.1 µF
10 KΩ
10 KΩ
10 KΩ
© 2007 Microchip Technology Inc. DS01029A_JP - ページ 4-11
AN1029
電源投入、電源遮断
マイクロチップ社のシリアル EEPROM は、電源が通常動作レベル内にある場合、意図しない書き込みやデータの破損に対して高い保護機能を発揮します。しかし、電源投入および電源遮断条件でも、ある条件下で電源が通常動作レベルにない場合にも、通常と同レベルで保護されるようにしてください。
書き込みサイクル時の電源異常
書き込みサイクル時、サイクルの 初から 後まで( 通常のデバイスで 大 5 ms)、VCC は 低動作電圧よりも高いレベルを保つ必要があります。どの時点でも期間にかかわらず、VCCが 低電圧を下回ると、データは完全に保証されません。そのため、正誤の不安定なプログラム データとなってしまいます。さらに、EEPROM セルのプログラミングが不十分になるため、EEPROM の記憶保持時間はデータシートに記載されている時間よりも短くなります。
電源投入時
電源投入時、正しくパワーオン リセットが実行されるよう、VCC は常に 0V で始まり、直ちに立ち上がり通常動作レベルに達する必要があります。VCCが途中または 低動作電圧未満で留まらないようにしてください。
ブラウンアウト条件
VCC がシリアル EEPROM の 低動作電圧を下回る場合は、VCC をまず 0V にまで完全に落とした後に通常動作レベルにまで戻すことを推奨します。これによって、デバイスを確実にリセットすることができます。
さらに、シリアル EEPROM よりも高いしきい値でブラウンアウト リセットするマイクロコントローラの場合は、VCC を 0V にまで下げることで両方のデバイスを同時にリセットすることができます。それ以外場合は、通信中にマイクロコントローラがリセットされ、一方で EEPROM が現在の状態を保持する必要がある可能性があります。この場合、通信を再開するには、まずソフトウェア リセット シーケンスを実行する必要があります。
結論
MicrowireシリアルEEPROMの回路設計に関する上記の推奨事項は、動作の必要条件ではありませんが、この内容を守ることによって回路設計全体の堅牢性が向上します。以上の推奨事項は、マイクロチップ社によるシリアル EEPROM の設計、製造、品質保証、試験の実施方法と合致しており、データシートに記載されているパラメータの範囲内でデバイスが十分な機能を発揮することができます。
Q & AQ:書き込みコマンド中に送信したクロック信号が多すぎた場合、または少なすぎた場合にはどうなるのでしょうか。
A: デバイスに送信するクロック信号が多すぎた場合、CS ラインを落として書き込みサイクルを開始すると余分なクロックは無視されますがコマンドは実行されます。デバイスに送信するクロック信号が少なすぎた場合、CS ラインを落とすとコマンドの実行が中止され、書き込みは一切行われません。
Q:作成中のアプリケーションに 93LC56C デバイスを使用していますが、正しく動作させることができません。読み出しシーケンスはうまく機能しているようですが、データをデバイスに一切書き込むことができません。
A: まず、書き込みをする前に EWEN コマンドを発行していることを確認してください。こうした問題は CS ラインを落とす前にコマンドに必要な数のビットを送信していないか、あるいはそもそも CSラインを落としていないことが原因です。CS ラインを Low に変化させるまで、書き込みコマンドは開始されません。
Q:コマンド発行とコマンド発行の間に必ず CS ラインを Low に切り替える必要があるのでしょうか。
A: はい。CS ラインはコマンドとコマンドの間に少なくとも 250 ns の時間は Low にする必要があります。書き込みコマンドを実行中に CS ラインを Lowにしてデータ ポーリング モードを有効にする場合、デバイスからレディ信号が送信された後に再度CS ラインを Low に切り替えないと、次のスタートビットを送信できません。
Q:書き込みサイクル中に VCC が降下すると、アレイ中の他のデータも壊れますか、それとも影響があるのは書き込み途中のデータだけですか。
A: 書き込みサイクル中に VCC が失われると、書き込み途中のデータだけが壊れます。他のデータ バイトは影響を受けません。
DS01029A_JP - ページ 4-12 © 2007 Microchip Technology Inc.
アプリケーション
ノート
4
AN1040マイクロチップ社製 SPI シリアル EEPROM デバイスの
使用例
はじめに
組み込み制御システムの多くは、不揮発性メモリを必要とします。省スペース、バイト レベルの柔軟性、少 I/O ピン、低消費電力、低コストといった特徴によって、シリアル EEPROM は不揮発性メモリとして人気の高い選択肢となっています。マイクロチップ テクノロジー社は、このようなお客様のニーズに対応して、I2C™ (2 線式プロトコル )、Microwire(3 線式プロトコル )、SPI 通信といった業界標準のシリアル通信プロトコルに対応したシリアルEEPROM 製品の充実したラインアップを提供しています。シリアル EEPROM は、異なる集積度、動作電圧、パッケージ オプションで入手できます。
シリアル EEPROM を利用したアプリケーションの堅牢性を高めると、設計者はデータシートの仕様以外の要素も考慮する必要があります。
結果として、さまざまな条件に左右され、規格外の動作を招く場合があります。こうした条件の具体的な内容は、使用されるシリアル プロトコルに大きく依存します。
本アプリケーション ノートでは、マイクロチップ社の SPI シリアル EEPROM を使用する際のアドバイスと指針を提供します。こちらに記載されている推奨条件は必須条件ではありませんが、採用することで回路設計全体の堅牢性が高まります。ここでは、以下のトピックについて考察します。
• 入力に関する検討事項
• 書き込み保護機能
• 電源
• ライト イネーブルおよびディスエーブル
• WIP ポーリング
• データ効率の向上
図 1 は、マイクロチップ社の SPIシリアル EEPROMの推奨接続例を示しています。この接続例の詳細は以降のセクションで説明します。
図 1: 25XXXX シリーズ デバイスの推奨接続例
著者 : Chris ParrisMicrochip Technology Inc.
注
CS
SO
WP
VSS
VCC
HOLD
SCK
SI
1
2
3
4
8
7
6
5
VCC
25X
XXXX
To Master(1)
VCC にはデカップリング コンデンサ ( 通常 0.1 µF) を使用してください。1:
To Master
VCC
© 2007 Microchip Technology Inc. DS01040A_JP - ページ 4-13
AN1040
入力に関する確認事項
入力ピンをフローティング状態のままにしておくことは推奨いたしません。この状態は、スタンバイ電流を大きくしたり、予想外の機能を実行する原因となります。フロート状態にあるピンは、Low とHigh のいずれにも遷移する可能性があります。信号がいずれの方向に向かうかは、システム中のノイズや容量結合など、さまざまな要因に依存します。このため、入力回路が受け取るレベルはランダムになる傾向があり、動作中に変化する可能性も高くなります。
つまり、入力レベルが予測できないと、デバイスの動作に破壊的な影響を与える場合があります。例えば、マイクロチップ社の SPI シリアル EEPROM には HOLD ピンが備わっており、このピンを使用してユーザーはクロックの送信を途中で一時停止させることができます。このピンが Low ( アクティブ )に遷移すると、デバイスは受信したクロック パルスに応答しなくなり、通信は中断しています。
そのため、未使用入力ピンがあれば、負論理入力では High に設定するなど、すべて適切に固定してください。さらに、マイクロコントローラに余剰トライステート I/O ピンがある場合、図 1 で示すようにプルダウン /プルアップ抵抗と共に接続しておきます。こうしておくことで、ファームウェアを修正するだけで未使用入力を後に使用することができます。
CS ピンは通常動作時にはマイクロコントローラによって常に駆動されていますが、電源遮断、電源投入時にフロート状態になる可能性があります。そのため、このピンにもプルアップ抵抗を付けて、電源遮断、電源投入時のノイズによって意図しないコマンドを回避してください。
書き込み保護機能
マイクロチップ社の SPI シリアル EEPROM ファミリ デバイスには、2 種類の書き込み保護スキームがあります。一つは小型デバイス用の 4 Kb、もう一つは大型デバイス用の 8 Kb です。
25XX040A から 25XX010A までの品種の場合、WPピンは通常のハードウェア書き込み保護ピンとして機能します。つまり、WP ピンが Low ( アクティブ ) のときにはライト イネーブル ラッチ (WEL:Write Enable Latch) がクリアされ、WP ピンが Highになるまでセットできない状態になります。これは、アレイとステータス レジスタのどちらに書き込みをしようとしても、すべてブロックされることを意味します。ここで WP ピンを High にしても、それで WEL がセットされるわけではありません。WEL をセットするには、別途 WREN コマンドが必要です。
25XX080A/B 以上の機種の場合、WP ピンはステータス レジスタ中の書き込み保護イネーブル (WPEN:Write-Protect Enable) ビットと連携して機能します。WPEN ビットがクリアされると、WP ピンは「ドント ケア」状態になります。WPEN ビットがセットされると、WP ピンを使ってステータス レジスタに対する書き込みをブロックすることが可能になり
ます。上記デバイスの場合、WPEN ビットの状態に関係なく、WP ピンがアレイの書き込みに影響することはありません。こうしたデバイスのアレイに対する書き込みをブロックできるのは、ブロック保護(BP: Block Protect ) ビットだけです。ただし、BP ビットがセットされると、WPEN ビットと共に WP ピンによって BP ビットがクリアされないようにすることになるのでアレイの書き込みを回避します。
電源
マイクロチップ社のシリアル EEPROM は、電源が通常動作レベル内にある場合、意図しない書き込みやデータの破損に対して高い保護機能を発揮します。しかし、電源投入および電源遮断条件でも、ある条件下で電源が通常動作レベルにない場合にも、通常と同レベルの保護が行われるように留意ください。
図 1 で示しているように、デカップリング コンデンサ ( 通常 0.1 µF) を使用して VCC の小さなリップルを除去する必要があります。
電源投入時
電源投入時、正しくパワーオン リセットが実行されるよう、VCC は常に 0V で始まり、直ちに立ち上がって通常動作レベルに達する必要があります。VCC が中途半端なレベル (つまり 低動作電圧未満 )で留まらないようにしてください。
ブラウンアウト条件
マイクロチップ社のシリアル EEPROM は、追加の保護機能としてブラウンアウト リセット回路を備えています。しかし、VCC がシリアル EEPROM の
低動作電圧を下回る場合は、VCC をまず 0V にまで完全に落とした後に通常動作レベルにまで戻すことを推奨します。これによって、デバイスを確実にリセットすることができます。
さらに、シリアル EEPROM よりも高いしきい値でブラウンアウト リセットするマイクロコントローラの場合は、VCC を 0V にまで下げることで両方のデバイスを同時にリセットすることができます。それ以外の場合は、通信中にマイクロコントローラがリセットされ、一方で EEPROM が現在の状態を保持する必要がある可能性があります。この場合、通信を再開するには、まずソフトウェア リセットシーケンスを実行する必要があります。
書き込みサイクル時の電源異常
書き込みサイクル時、サイクルの 初から 後まで( 通常のデバイスで 大 5 ms)、VCC は 低動作電圧よりも高いレベルを保つ必要があります。どの時点でも長さにかかわらず、VCC が 低電圧を下回ると、データは完全に保証されません。そのため、正誤の不安定なプログラム データとなってしまいます。さらに、EEPROM セルのプログラミングが不十分になるため、EEPROM の記憶保持時間はデータシートに記載されている時間よりも短くなります。
DS01040A_JP - ページ 4-14 © 2007 Microchip Technology Inc.
AN1040アプリケーション
ノート
4
ライト イネーブルおよびディスエーブル
マイクロチップ社の SPI シリアル EEPROM は、ステータス レジスタのビット 1 としてライト イネーブル ラッチ (WEL) を備えています。このラッチは、アレイまたはステータス レジスタに対する書き込みの許可に使用します。「1」にセットすると、書き込みが有効になります。「0」にセットすると、書き込みはすべてブロックされます。WEL は有効なライト イネーブル (WREN) 命令を発行することでしかセットできませんが、リセットは次の状況で実行される場合があります。
• 電源投入時
• ライト ディセーブル (WRDI) 命令が正常に実行された場合
• ライト ステータス レジスタ (WRSR) 命令が正常に実行された場合
• 書き込み命令が正常に実行された場合
25XX010A ~ 25XX040A に限り、次の状況も当てはまります。
• WP ピンが Low ( アクティブ ) になる
書き込み、WRSR および WRDI 命令の場合、命令が正常に実行された場合にのみ WEL がリセットされます。つまり、何かの理由で命令が無効になるとWEL はリセットされないことを意味します。例えば、ブロック保護 (BP) ビットで保護されているアレイの一部で書き込みが行われようとした場合、命令は実行されませんので、WEL はセットされたままになります。
書き込みおよび WRSR 命令の場合、WEL は書き込みサイクルの 後にクリアされます。
不要な書き込みが発生する可能性を 小限に抑えるために、WEL は書き込みまたは WRSR命令の直前にセットすることを推奨します。
WIP ポーリング
シリアル EEPROM に対して書き込みを実行するには、書き込み開始後の書き込みサイクル時間にしたがって、デバイスにデータを格納する時間を確保する必要があります。この時、通常の動作は無効になり、マスターがデバイスのメモリ アレイにアクセスを試みてもすべて無視されます。そのためマスターは、再び EEPROM にアクセスする前に、まず書き込みサイクルの終了を待つことが重要です。
各デバイスには 長のケースの書き込みサイクル時間が定められており、通常 TWC として記載されています。書き込みサイクル時間内に収める方法は、定められた時間だけ遅延を発生させ、それからEEPROM に再びアクセスするというものです。しかし、仕様で定められた 長時間以内に書き込みサイクルが終了することはよくあります。この場合、上述した遅延方法では、EEPROM 側は書き込みを終えたがマスター側はまだ待っているという時間が発生します。
この無駄な時間をなくして効率的に動作させるため、WIP ポーリング機能を利用することを推奨します。
マイクロチップ社製SPIシリアルEEPROMのステータス レジスタは、アレイの書き込み中とステータス レジスタの書き込み中のいずれの場合にも読み出すことができます。つまり、ユーザーが WIP(Write-In-Progress) ビットの状態を確認できます。WIP は読み出し専用のビットで、書き込みが進行中の場合にのみセットされます。書き込みが完了すると、WIP ( および WEL) はクリアされます。そのため、WIP ビットの値を監視することで書き込みサイクルの完了を確認し、ステータス レジスタは継続して読み出しできます。
手順
書き込み命令の 後に CS が High に遷移すると、デバイスは内部的に定められたタイミングで書き込みサイクルを開始し、ただちに WIP ポーリングを開始できる状態になります。 ポーリングには、リードステータス レジスタ (RDSR) 命令および WIP ビット値の確認が必要になります。High の場合、デバイスはまだ書き込み中です。Low の場合、書き込みサイクルは完了し、マスターは次の命令の実行ができる状態になっています。詳細は図 2 をご覧ください。
図 2: WIP ポーリングの流れ
PerformWrite Instruction
Bring CSHigh to Initiate
Write Cycle
Perform RDSR
Is WriteComplete(WIP = 0)?
NextOperation
NO
YES
Instruction
© 2007 Microchip Technology Inc. DS01040A_JP - ページ 4-15
AN1040
データ効率の向上
ページ書き込み
マイクロチップ社の SPI シリアル EEPROM の多くは、書き込み時に使用するページ バッファを備えています。このページ バッファを使用して、1 バイトから 大ページ サイズの任意のバイト数を一度のオペレーションで書き込むことができます。バイト数の大きなデータを書き込む場合、この機能によって総書き込み時間を大幅に短縮することができます。
ページ書き込みでは、書き込むバイト数にかかわらず、1 物理ページ内のバイトにしか書き込みができません。理由は、図 3 で示すようにメモリ アレイは物理的に二次元配列として格納されているためです。書き込みの 初にワード アドレスが指定さ
れる場合には、行と列の両方のアドレス ポインタがセットされます。行アドレス ポインタはどの行 (ページ ) にアクセスするかを指定し、列アドレス ポインタは選択されたページの中でどのバイトからアクセスを開始するかを指定します。列アドレス ポインタは、データ バイトの送信が完了するたびに自動的にインクリメントします。しかし、ページ アドレス ポインタは書き込み中にインクリメントしないため、1 回のページ書き込み中にページの境界をまたがる書き込みを実行しようとすると、同じページの 初に戻ってデータが書き込まれるというループに陥ります。
物理ページの境界は、ページ サイズの倍数となるアドレスから開始されます。例えば、ページ サイズが 64 バイトの 25XX256 の場合、物理ページは0x0000、0x0040、0x0080 といったアドレスで開始することを意味します。
図 3: ページ バッファのブロック図
手順
WREN コマンドの発行によって書き込みが有効になった後、書き込み命令、ワードアドレスおよび初のデータ バイトが 1 バイトの書き込み時と同様に送信されます。ただし、マスターは CS を High に切り替える代わりにデータ バイトの送信を続けます。このデータは、デバイスの 大ページ サイズに達するまでチップ上のページ バッファに一時的に格納されます。バイトの書き込みと同様、CS がHigh に切り替わると内部の書き込みサイクルが開始され、ページ バッファに格納されたバイトがすべて書き込まれます。
書き込み時間の比較
特定のデータ量をデバイスに書き込むためにかかる全時間を正確に計算するには、2 つの要素を考慮する必要があります。
• ロード時間は、すべてのバス動作を完了させるために必要な時間です。これには、CS 関連の全タイミング、必要な WREN命令の発行、書き込み命令やアドレス、データ バイトの送信が含まれます。この時間は、バス クロック スピード、書き込むデータ バイト数、デバイスのアドレス方式によって変わります ( デバイスには、1 バイト アドレスを使用するものと、2 バイト アドレスを使用するものがあります )。
ColumnAddressPointer
Byte 0 Byte 2 Byte 3 Byte n-2Byte 1 Byte n-3 Byte n-1 Byte n
注 : 「n」は「ページサイズ - 1」と等しくなります。
RowAddressPointer
Page Buffer
Memory Array
DS01040A_JP - ページ 4-16 © 2007 Microchip Technology Inc.
AN1040アプリケーション
ノート
4
• 書き込みサイクル時間は、デバイスが内部の書き込みサイクルを実行する時間です。WIP ポーリングのセクションで記したように、デバイスごとに書き込みサイクルの 大時間が定められています。しかし一般的に、内部の書き込みサイクルは定められた時間内に完了します。この前提で、 長のケース (5 ms) と一般的なケース(3 ms@TAMB = 25 °C) の両方の計算結果を表 1 に示します。
表 1 の計算には次の方程式が使用されています。
公式 1: 書き込み時間の計算式
表 1: 書き込み時間の比較
以上の例から、ページ書き込みと WIP ポーリングのどちらも大幅な時間の節約が明らかです。バイト書き込みを使用して 25LC256 に 64 バイトを 1 MHzで書き込む場合、 長のケースで 320 ms ほどかかります。 WIP ポーリングに切り替えるとこれが約192 ms にまで下がり ( 一般的な条件を仮定 )、40%近く短縮されることになります。また、ページ書き込みに変更するとさらに延長されて3.05 msになり、98% 以上の短縮になります。この 2 つの方法を合わせて全体で 317 ms 近い時間の節約が実現されており、データ効率は 105 倍以上も向上しています。
まとめ
本アプリケーション ノートでは、マイクロチップ社の SPI シリアル EEPROM を使用した回路設計の堅牢性の向上に推奨する方法を説明しました。以上の推奨事項は、マイクロチップ社によるシリアルEEPROM の設計、製造、品質保証、試験の実施方法と合致しており、データ シートに記載されているパラメータの範囲内でデバイスが十分な機能を発揮することができます。本アプリケーション ノートで詳しく説明した考え方は、SPI シリアルEEPROM を利用しているシステムであればどのシステムにも採用できます。
TLOAD8 2 # addr bytes # data bytes+ +( )⋅
FCLK-------------------------------------------------------------------------------------- 150 ns+=
TTOTAL TLOAD TWC+( ) # write operations⋅=
Device Page Size(bytes)
# of Bytes to Write
Write Mode(1)
Clock Speed (MHz)
Load Time Per Operation (µs)
Total Time (ms)Worst-Case(2)
Total Time (ms)Typical(3)
25LC010A 16 1 Byte 1 32.15 5.03 3.0316 Byte 1 32.15 80.51 48.5116 Page 1 152.15 5.15 3.151 Byte 10 3.35 5.00 3.00
16 Byte 10 3.35 80.05 48.0516 Page 10 15.35 5.02 3.02
25LC160B 32 1 Byte 1 40.15 5.04 3.0432 Byte 1 40.15 161.28 97.2832 Page 1 288.15 5.29 3.291 Byte 10 4.15 5.00 3.00
32 Byte 10 4.15 160.13 96.1332 Page 10 28.95 5.03 3.03
25LC256 64 1 Byte 1 40.15 5.04 3.0464 Byte 1 40.15 322.57 194.5764 Page 1 544.15 5.54 3.541 Byte 10 4.15 5.00 3.00
64 Byte 10 4.15 320.27 192.2764 Page 10 54.55 5.05 3.05
注 1: バイト書き込みモードは、1 回の書き込みで 1 バイトだけ書き込まれることを意味します。ページ書き込みモードは、1 回の書き込みでページ全体が書き込まれることを意味します。
2: 長のケースの計算では、指定遅延時間が 5 ms と仮定しています。
3: 一般的なケースの計算では、WIP ポーリングと一般的な数値 TWC = 3 ms、TAMB = 25 °C を使用すると仮定しています。
© 2007 Microchip Technology Inc. DS01040A_JP - ページ 4-17
AN1040
メモ :DS01040A_JP - ページ 4-18 © 2007 Microchip Technology Inc.
パッケージ
5
セクション 5パッケージ
パッケージ外形図 .....................................................................................................................................................5-1製品のテープ&リール仕様 ...................................................................................................................................5-11はんだリフロー工程における推奨事項 ...............................................................................................................5-19マイクロチップ社のダイ / ウェハー サポート ...................................................................................................5-23
©2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ 5-i
DS00157E_JP - ページ ページ 5-ii ©2007 Microchip Technology Inc.
パッケージ
5
パッケージ
パッケージ外形図
8 ピン プラスチック デュアル フラット、鉛フリーパッケージ (MC) – 2x3x0.9 mm ボディ[DFN]
注 :1. ピン 1 のビジュアル インデックスの特徴は変更される場
合がありますが、必ず斜線範囲内にあります。
2. パッケージの端に 1 つ以上の露出タイ バーがあります。
3. パッケージは切断され個片化されています。
4. 寸法および公差は ASME Y14.5M に準拠しています。
BSC: 基本寸法。公差を含まずに表示される理論値と同一の値。
REF: 参考寸法。通常公差を含まず、情報提供用としての値。
注 : 新のパッケージ図面については、次のウェブ サイトから「Microchip Packaging Specification ( マイクロチップ社パッケージ仕様 )」を参照してください。 http://www.microchip.com/packaging
D
N
E
NOTE 1
1 2
EXPOSED PAD
NOTE 12 1
D2
K
L
E2
N
eb
A3 A1
A
NOTE 2
BOTTOM VIEWTOP VIEW
Units MILLIMETERSDimension Limits MIN NOM MAX
Number of Pins N 8Pitch e 0.50 BSCOverall Height A 0.80 0.90 1.00Standoff A1 0.00 0.02 0.05Contact Thickness A3 0.20 REFOverall Length D 2.00 BSCOverall Width E 3.00 BSCExposed Pad Length D2 1.30 – 1.75Exposed Pad Width E2 1.50 – 1.90Contact Width b 0.18 0.25 0.30Contact Length L 0.30 0.40 0.50Contact-to-Exposed Pad K 0.20 – –
Microchip Technology Drawing C04-123B
©2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ 5-1
パッケージ
8 ピン プラスチック デュアル フラット、鉛フリーパッケージ (MF) – 6x5 mm ボディ [DFN-S] パンチングにより単一化
注 :1. ピン 1 のビジュアル インデックスの特徴は変更される場合がありますが、必ず斜線範囲内にあります。
2. パッケージの端に 1 つ以上の露出タイ バーがあります。
3. 寸法および公差は ASME Y14.5M に準拠しています。
BSC: 基本寸法。公差を含まずに表示される理論値と同一の値。
REF: 参考寸法。通常公差を含まず、情報提供用としての値。
注 : 新のパッケージ図面については、次のウェブ サイトから「Microchip Packaging Specification ( マイクロチップ社パッケージ仕様 )」を参照してください。 http://www.microchip.com/packaging
Units MILLIMETERSDimension Limits MIN NOM MAX
Number of Pins N 8Pitch e 1.27 BSCOverall Height A – 0.85 1.00Molded Package Thickness A2 – 0.65 0.80Standoff A1 0.00 0.01 0.05Base Thickness A3 0.20 REFOverall Length D 4.92 BSCMolded Package Length D1 4.67 BSCExposed Pad Length D2 3.85 4.00 4.15Overall Width E 5.99 BSCMolded Package Width E1 5.74 BSCExposed Pad Width E2 2.16 2.31 2.46Contact Width b 0.35 0.40 0.47Contact Length L 0.50 0.60 0.75Contact-to-Exposed Pad K 0.20 – –Model Draft Angle Top φ – – 12°
φ
NOTE 2
A3
A2
A1
A
NOTE 1NOTE 1
EXPOSEDPAD
BOTTOM VIEW
1 2
D2
2 1
E2
K
L
N
eb
E
E1
D
D1
N
TOP VIEW
Microchip Technology Drawing C04-113B
DS00157E_JP - ページ 5-2 ©2007 Microchip Technology Inc.
パッケージパッケージ
5
8 ピン プラスチック マイクロ スモール アウトライン パッケージ (MS) [MSOP]
注 :1. ピン 1 のビジュアル インデックスの特徴は変更される場合がありますが、必ず斜線範囲内にあります。
2. D と E1 の寸法には、モールドのはみ出しや突出部を含みません。モールドの側面からのヒゲや突起は、0.15 mm 未満とします。
3. 寸法および公差は ASME Y14.5M に準拠しています。
BSC: 基本寸法。公差を含まずに表示される理論値と同一の値。
REF: 参考寸法。通常公差を含まず、情報提供用としての値。
注 : 新のパッケージ図面については、次のウェブ サイトから「Microchip Packaging Specification ( マイクロチップ社パッケージ仕様 )」を参照してください。http://www.microchip.com/packaging
Units MILLIMETERSDimension Limits MIN NOM MAX
Number of Pins N 8Pitch e 0.65 BSCOverall Height A – – 1.10Molded Package Thickness A2 0.75 0.85 0.95Standoff A1 0.00 – 0.15Overall Width E 4.90 BSCMolded Package Width E1 3.00 BSCOverall Length D 3.00 BSCFoot Length L 0.40 0.60 0.80Footprint L1 0.95 REFFoot Angle φ 0° – 8°Lead Thickness c 0.08 – 0.23Lead Width b 0.22 – 0.40
D
N
E
E1
NOTE 1
1 2
e
b
A
A1
A2c
L1 L
φ
Microchip Technology Drawing C04-111B
©2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ 5-3
パッケージ
8 ピン プラスチック デュアル インライン (P) – 300 mil ボディ [PDIP]
注 :1. ピン 1 のビジュアル インデックスの特徴は変更される場合がありますが、必ず斜線範囲内にあります。
2. § 重要な特性。
3. D と E1 の寸法には、モールドのはみ出しや突出部を含みません。モールドの側面からのヒゲや突起は、0.010 インチ未満とします。
4. 寸法および公差は ASME Y14.5M に準拠しています。
BSC: 基本寸法。公差を含まずに表示される理論値と同一の値。
注 : 新のパッケージ図面については、次のウェブ サイトから「Microchip Packaging Specification ( マイクロチップ社パッケージ仕様 )」を参照してください。http://www.microchip.com/packaging
Units INCHESDimension Limits MIN NOM MAX
Number of Pins N 8Pitch e .100 BSCTop to Seating Plane A – – .210Molded Package Thickness A2 .115 .130 .195Base to Seating Plane A1 .015 – –Shoulder to Shoulder Width E .290 .310 .325Molded Package Width E1 .240 .250 .280Overall Length D .348 .365 .400Tip to Seating Plane L .115 .130 .150Lead Thickness c .008 .010 .015Upper Lead Width b1 .040 .060 .070Lower Lead Width b .014 .018 .022Overall Row Spacing § eB – – .430
N
E1
NOTE 1
D
1 2 3
A
A1
A2
L
b1
b
e
E
eB
c
Microchip Technology Drawing C04-018B
DS00157E_JP - ページ 5-4 ©2007 Microchip Technology Inc.
パッケージパッケージ
5
8 ピン プラスチック スモール アウトライン (SN) – 薄型、3.90 mm ボディ [SOIC]
注 :1. ピン 1 のビジュアル インデックスの特徴は変更される場合がありますが、必ず斜線範囲内にあります。
2. § 重要な特性。
3. D と E1 の寸法には、モールドのはみ出しや突出部を含みません。モールドの側面からのヒゲや突起は、0.15 mm 未満とします。
4. 寸法および公差は ASME Y14.5M に準拠しています。
BSC: 基本寸法。公差を含まずに表示される理論値と同一の値。
REF: 参考寸法。通常公差を含まず、情報提供用としての値。
注 : 新のパッケージ図面については、次のウェブ サイトから「Microchip Packaging Specification ( マイクロチップ社パッケージ仕様 )」を参照してください。http://www.microchip.com/packaging
Units MILLIMETERSDimension Limits MIN NOM MAX
Number of Pins N 8Pitch e 1.27 BSCOverall Height A – – 1.75Molded Package Thickness A2 1.25 – –Standoff § A1 0.10 – 0.25Overall Width E 6.00 BSCMolded Package Width E1 3.90 BSCOverall Length D 4.90 BSCChamfer (optional) h 0.25 – 0.50Foot Length L 0.40 – 1.27Footprint L1 1.04 REFFoot Angle φ 0° – 8°Lead Thickness c 0.17 – 0.25Lead Width b 0.31 – 0.51Mold Draft Angle Top α 5° – 15°Mold Draft Angle Bottom β 5° – 15°
D
N
e
E
E1
NOTE 1
1 2 3
b
A
A1
A2
L
L1
c
h
h
φ
β
α
Microchip Technology Drawing C04-057B
©2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ 5-5
パッケージ
8 ピン プラスチック スモール アウトライン (SN) – ミディアム、5.28 mm ボディ [SOIC]
注 :1. SOIJ (JEITA/EIAJ 標準 ) はこれまで SOIC という名称でした。
2. § 重要な特性。
3. D と E1 の寸法には、モールドのはみ出しや突出部を含みません。モールドの側面からのヒゲや突起は、0.25 mm 未満とします。
注 : 新のパッケージ図面については、次のウェブ サイトから「Microchip Packaging Specification ( マイクロチップ社パッケージ仕様 )」を参照してください。http://www.microchip.com/packaging
Units MILLIMETERSDimension Limits MIN NOM MAX
Number of Pins N 8Pitch e 1.27 BSCOverall Height A 1.77 – 2.03Molded Package Thickness A2 1.75 – 1.98Standoff § A1 0.05 – 0.25Overall Width E 7.62 – 8.26Molded Package Width E1 5.11 – 5.38Overall Length D 5.13 – 5.33Foot Length L 0.51 – 0.76Foot Angle φ 0° – 8°Lead Thickness c 0.15 – 0.25Lead Width b 0.36 – 0.51Mold Draft Angle Top α – – 15°Mold Draft Angle Bottom β – – 15°
φ
β
α
L
cA2
A1
A
b
1 2
e
E
E1
N
D
Microchip Technology Drawing C04-056B
DS00157E_JP - ページ 5-6 ©2007 Microchip Technology Inc.
パッケージパッケージ
5
5 ピン プラスチック スモール アウトライン トランジスタ (OT)[SOT-23]
注 :1. D と E1 の寸法には、モールドのはみ出しや突出部を含みません。モールドの側面からのヒゲや突起は、0.127 mm 未満としま
す。
2. 寸法および公差は ASME Y14.5M に準拠しています。
BSC: 基本寸法。公差を含まずに表示される理論値と同一の値。
注 : 新のパッケージ図面については、次のウェブ サイトから「Microchip Packaging Specification ( マイクロチップ社パッケージ仕様 )」を参照してください。http://www.microchip.com/packaging
Units MILLIMETERSDimension Limits MIN NOM MAX
Number of Pins N 5Lead Pitch e 0.95 BSCOutside Lead Pitch e1 1.90 BSCOverall Height A 0.90 – 1.45Molded Package Thickness A2 0.89 – 1.30Standoff A1 0.00 – 0.15Overall Width E 2.20 – 3.20Molded Package Width E1 1.30 – 1.80Overall Length D 2.70 – 3.10Foot Length L 0.10 – 0.60Footprint L1 0.35 – 0.80Foot Angle φ 0° – 30°Lead Thickness c 0.08 – 0.26Lead Width b 0.20 – 0.51
φ
Nb
E
E1
D
1 2 3
e
e1
A
A1
A2 c
L
L1
Microchip Technology Drawing C04-091B
©2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ 5-7
パッケージ
6 ピン プラスチック スモール アウトライン トランジスタ (OT)[SOT-23]
注 :1. D と E1 の寸法には、モールドのはみ出しや突出部を含みません。モールドの側面からのヒゲや突起は、0.127 mm 未満としま
す。
2. 寸法および公差は ASME Y14.5M に準拠しています。
BSC: 基本寸法。公差を含まずに表示される理論値と同一の値。
注 : 新のパッケージ図面については、次のウェブ サイトから「Microchip Packaging Specification ( マイクロチップ社パッケージ仕様 )」を参照してください。http://www.microchip.com/packaging
Units MILLIMETERSDimension Limits MIN NOM MAX
Number of Pins N 6Pitch e 0.95 BSCOutside Lead Pitch e1 1.90 BSCOverall Height A 0.90 – 1.45Molded Package Thickness A2 0.89 – 1.30Standoff A1 0.00 – 0.15Overall Width E 2.20 – 3.20Molded Package Width E1 1.30 – 1.80Overall Length D 2.70 – 3.10Foot Length L 0.10 – 0.60Footprint L1 0.35 – 0.80Foot Angle φ 0° – 30°Lead Thickness c 0.08 – 0.26Lead Width b 0.20 – 0.51
b
E
4N
E1
PIN 1 ID BYLASER MARK
D
1 2 3
e
e1
A
A1
A2 c
L
L1
φ
Microchip Technology Drawing C04-028B
DS00157E_JP - ページ 5-8 ©2007 Microchip Technology Inc.
パッケージパッケージ
5
8 ピン プラスチック薄型シュリンク スモール アウトライン (ST) – 4.4 mm ボディ [TSSOP]
注 :1. ピン 1 のビジュアル インデックスの特徴は変更される場合がありますが、必ず斜線範囲内にあります。
2. D と E1 の寸法には、モールドのはみ出しや突出部を含みません。モールドの側面からのヒゲや突起は、0.15 mm 未満とします。
3. 寸法および公差は ASME Y14.5M に準拠しています。
BSC: 基本寸法。公差を含まずに表示される理論値と同一の値。
REF: 参考寸法。通常公差を含まず、情報提供用としての値。
注 : 新のパッケージ図面については、次のウェブ サイトから「Microchip Packaging Specification ( マイクロチップ社パッケージ仕様 )」を参照してください。http://www.microchip.com/packaging
Units MILLIMETERSDimension Limits MIN NOM MAX
Number of Pins N 8Pitch e 0.65 BSCOverall Height A – – 1.20Molded Package Thickness A2 0.80 1.00 1.05Standoff A1 0.05 – 0.15Overall Width E 6.40 BSCMolded Package Width E1 4.30 4.40 4.50Molded Package Length D 2.90 3.00 3.10Foot Length L 0.45 0.60 0.75Footprint L1 1.00 REFFoot Angle φ 0° – 8°Lead Thickness c 0.09 – 0.20Lead Width b 0.19 – 0.30
D
N
E
E1
NOTE 1
1 2
b
e
c
A
A1
A2
L1 L
φ
Microchip Technology Drawing C04-086B
©2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ 5-9
パッケージ
メモ :
DS00157E_JP - ページ 5-10 ©2007 Microchip Technology Inc.
パッケージ
5
パッケージ
製品のテープ&リール仕様
図 1: エンボスキャリア寸法 (8、12、16、および 24 MM テープのみ )
TopCoverTape
K0
P
W
B0
A0
表 1: キャリアテープ / キャビティ寸法
CaseOutline
Package Type
CarrierDimensions
CavityDimensions Output
QuantityUnits
ReelDiameter in
mmWmm
Pmm
A0mm
B0mm
K0mm
SN SOIC .150” 8L 12 8 6.4 5.2 2.1 3300 330SO SOIC .300” 16L 16 12 10.9 10.7 3.0 1000 330SO SOIC .300” 18L 24
241216
10.911.1
13.312.0
3.02.8
16001100
330330
SO SOIC .300” 20L 24 12 10.9 13.3 3.0 1600 330SO SOIC .300” 24L 24 12 10.9 16.0 3.0 1000 330SO SOIC .300” 28L 24
241212
10.911.1
18.318.5
3.03.0
16001600
330330
L PLCC 28L 24 16 13.0 13.0 4.9 750 330L PLCC 32L 24 16 13.1 15.5 3.9 900 330L PLCC 44L 32
322424
18.018.0
18.018.0
4.95.0
500500
330
L PLCC 68L 44 32 25.6 25.6 5.8 300 330L PLCC 84L 44 36 30.7 30.7 5.8 200 330
SM SOIC .208” 8L 16 12 8.3 5.7 2.3 2100 330SL SOIC .150” 14L 16 8 6.5 9.5 2.1 2600 330SL SOIC .150” 16L 16 8 6.5 10.3 2.1 2600 330TS TSOP 28L/32L 32 16 8.6 20.6 2.1 1500 330SS SSOP 20L 16 12 8.4 7.7 2.5 1600 330SS SSOP 28L 24 12 8.4 10.9 2.4 2100 330PQ MQFP 44L 24 24 14.2 14.2 2.8 900 330PT TQFP 44L/64L 24 16 12.4 12.4 2.2 1200 330VS VSOP 28L 24 12 8.7 13.9 2.1 2500 330
©2007 Microchip Technology Inc. DS00151D_JP - ページ 5-11
パッケージ
図 2: SOP、SOIC、MSOP、QSOP デバイス
図 3: 3 ピン SOT-23/SC-70 デバイス
ST TSSOP 8L 12 8 7.0 3.6 1.6 2500 330ST TSSOP 14L 16 8 6.8 5.4 1.6 2500 330ST TSSOP 20L 16 8 6.8 6.9 1.6 2500 330TT SOT-23 3L 8 4 3.15 2.77 1.22 3000 180OT SOT-23 5L/6L 8 4 3.2 3.2 1.4 3000 180MS MSOP 8L/10L 12 8 5.3 3.6 1.4 2500 330LT SC-70 5L 8 4 2.24 2.34 1.22 3000 180MF DFN 3x3 12 8 3.3 3.3 1.1 3300 330MF DFN 5x6 12 8 5.3 6.3 1.2 3300 330ML QFN 6x6 16 12 6.3 6.3 1.1 1600 330ML QFN 8x8 16 12 8.3 8.3 1.1 1600 330
表 1: キャリアテープ / キャビティ寸法 ( 続き )
CaseOutline
Package Type
CarrierDimensions
CavityDimensions Output
QuantityUnits
ReelDiameter in
mmWmm
Pmm
A0mm
B0mm
K0mm
User Direction of Feed
P, Pitch
Pin 1
Pin 1
Reverse Reel Component Orientation
W, Width
of Carrier
Tape
Standard Reel Component Orientation
User Direction of Feed
P, Pitch
Standard Reel Component Orientation Reverse Reel Component Orientation
W, Width
of Carrier
Tape
Pin 1
Pin 1
DeviceMarking
DeviceMarking
DS00151D_JP - ページ 5-12 ©2007 Microchip Technology Inc.
パッケージパッケージ
5
図 4: 5 ピン SOT-23/SC-70 デバイス
図 5: 6 ピン SOT-23 デバイス
User Direction of Feed
P, Pitch
Standard Reel Component Orientation Reverse Reel Component Orientation
W, Width
of Carrier
Tape
Pin 1
Pin 1
DeviceMarking
Pin 1
User Direction of Feed
Standard Reel Component Orientation Reverse Reel Component Orientation
W, Width
of Carrier
Tape
Pin 1
DeviceMarking
P, Pitch
©2007 Microchip Technology Inc. DS00151D_JP - ページ 5-13
パッケージ
図 6: 3 ピン SOT-223 デバイス
図 7: PLCC デバイス
Pin 1
User Direction of Feed
P, Pitch
Standard Reel Component Orientation Reverse Reel Component Orientation
W, Width
of CarrierTape
Pin 1
DeviceMarking
User Direction of Feed
P, Pitch
Standard Reel Component Orientation Reverse Reel Component Orientation
W, Width
of CarrierTape
Pin 1
Pin 1
DS00151D_JP - ページ 5-14 ©2007 Microchip Technology Inc.
パッケージパッケージ
5
図 8: MQFP デバイス
図 9: 4 ピン SOT-143 デバイス
User Direction of Feed
P, Pitch
Standard Reel Component Orientation Reverse Reel Component Orientation
W, Width
of Carrier
TapePin 1
Pin 1
DeviceMarking
P, Pitch
W, Width
of Carrier
Tape
User Direction of Feed
Pin 1
Standard Reel Component Orientation Reverse Reel Component Orientation
Pin 1
©2007 Microchip Technology Inc. DS00151D_JP - ページ 5-15
パッケージ
図 10: 3 ピン /5 ピン /7 ピン DDPAK および 3 ピン DPAK デバイス
図 11: SOT-89 デバイス
図 12: DFN/QFN デバイス
P, Pitch
Standard Reel Component Orientation Reverse Reel Component Orientation
Leaded
side should
be placed
toward
sprocket
hole Leaded side
should be placed
opposite to
sprocket hole
User Direction of Feed
W, Width
of Carrier
Tape
Device
Marking
Pin 1
User Direction of Feed
P, Pitch
Standard Reel Component Orientation Reverse Reel Component Orientation
W, Width
of Carrier
TapePin 1
User Direction of Feed
Pin 1
DS00151D_JP - ページ 5-16 ©2007 Microchip Technology Inc.
パッケージパッケージ
5
図 13: TO-92 デバイス
3 LEAD
TO-92
2 LEAD
TO-92
Device
Marking
Device
Marking
P, Pitch
W, Width of
Carrier Tape
W, Width of
Carrier Tape
Standard Reel
Component Orientation
Reverse Reel
Component Orientation
W6
F
P1F2
P2
F1D
H1
HH0
©2007 Microchip Technology Inc. DS00151D_JP - ページ 5-17
パッケージ
寸法および公差
部品テーピング図、寸法、および公差、また部品配置要件はすべて、EIA 規格の EIA-481 ( 現行バージョン ) に基づき規定されています。
8ピンのSOIC EIAJタイプⅡパッケージおよび16 mmキャリア テープ幅については、部品テーピング図、寸法、および公差、また部品配置要件は EIAJ 規格の RC-1009B ( 現行バージョン ) に基づき規定されています。
DS00151D_JP - ページ 5-18 ©2007 Microchip Technology Inc.
パッケージ
5
AN233はんだリフロー工程における推奨事項
はじめに
電子機器製造業界は、鉛フリーで、環境面で安全なアセンブリ工程の普及を目指しています。鉛フリー材料を使用したはんだ付けに移行する際の注意事項は次のとおりです。
• 基板の厚さ
• 複雑な製造工程
• 表面仕上げ
• アセンブリ工程の適合性
本アプリケーション ノートでは、つや消しタイプの錫メッキおよび錫 / 鉛仕上げを施したパッケージに 適なはんだリフローを提案します。
リフロー工程の基本
鉛フリーのはんだ付け技法は、しばらく前から取り入れられてきました。しかし、その接合の物理的基準は、鉛を含む合金のそれとは必ずしも同じではありません。従来、電子部品の接合にもっとも広く使われてきたのは、錫 63% と鉛 37% の合金でした。この錫と鉛の配合によって、強力な接着力ばかりか、製品の動作環境で起こる熱ストレスに耐えられる弾力性を得ることができます。電子部品製造業界が長年にわたり業界標準であった PbSn 合金の使用を中止し、錫 - 銀 - 銅 (Sn-Ag-Cu) など鉛フリーのはんだ合金技法に移行するとともに、融点や共融点も変わり、はんだリフロー プロファイルが余儀なく変更されています。
リフロー工程の基本を見直す第一歩として、典型的なリフロー工程における温度プロファイルを図 1に示します。この図に見られるように、通常工程は5 段階に分かれて遷移します。
図 1: 錫 / 鉛による典型的なリフロー プロファイル
著者 : Ravi SharmaMicrochip Technology Inc.
183°C
225
200
175
150
125
100
75
50
25
00 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200 220 240 260 280 300 320
TIME [SECONDS]
TEM
PER
ATU
RE
[°C
]
250
275
300
340 360 380 400 420
PreheatFlux Activation/
Thermal Equalization Reflow Cooling
Wetting Time
©2007 Microchip Technology Inc. DS00233D_JP - ページ 5-19
AN233
典型的なリフロー工程は、次の 5 段階の温度を遷移します。1. プリヒート – アセンブリは 25°C から 80°C ~150°C に上昇し、ソルダ ペーストから溶剤が蒸発します。
2. フラックス活性 – フラックスが接合面の酸化物や汚れに反応する温度まで、乾いたソルダペーストを上昇させます。
3. 温度補正 – リフロー温度の約 25°C ~ 50°C 以下に近づくよう、温度補正されます。実際の時間と温度は、使用量と素材によって異なります。
4. リフロー – この段階で、アセンブリははんだリフローに 適な温度に達します。表示されている「濡れ時間」とは、はんだが液状で、およそ183°C 付近の曲線を描く時間を示します。
5. クール ダウン – 工程の 終段階で、徐々に冷却が進みます。ゆっくり冷却が進むことで、はんだ接合部の粒子構造が細かくなり、その結果より耐疲労性に優れたはんだ接合が実現します。
図 2: 錫 - 鉛アセンブリと鉛フリー アセンブリの JEDEC リフロー プロファイル
表 1: 時間および温度パラメトリック
Sym. Min. Max. Units Test Conditions
Ts(1) 150 200 °C Pb-FreeTs(2) 100 150 °C Sn-Pbts(1) 60 180 Sec Pb-Freets(2) 60 120 Sec Sn-Pbtl(1) 60 150 Sec Pb-Freetl(2) 60 150 Sec Sn-Pb
Tp(1) 245 260 °C Pb-FreeTp(2) 225 240 °C Sn-Pb
参考までに、図 2 および表 1 に、IPC/JEDEC J-STD-020C のリフロー条件を示します。
225
200
175
150
125
100
75
50
25
00 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200 220 240 260 280 300 320
TIME [SECONDS]
TEM
PER
ATU
RE
[°C
]
250
275
300
340 360 380 400 420
260°C (Pb-FREE)
240°C (Sn-Pb)TP(1)
TP(2)
tS(2)
TS(2)
tL(1)
tL(2)
tS(1)
TS(1)
RAMP-UP 3°C/SEC MAX
RAMP-DOWN (6°C/SEC MAX)
DS00233D_JP - ページ 5-20 ©2007 Microchip Technology Inc.
AN233パッケージ
5
推奨するはんだリフロー工程 図 3 はマイクロチップ社が鉛フリー デバイス向けに推奨するプロファイルです。これらのデバイスはつや消しタイプの錫メッキ ( 純錫 ) 仕上げで、無鉛です。標準の錫 - 鉛 (SnPb) アプリケーションの場合、グラフの下の線以上のプロファイルを使用し、錫 - 銀 - 銅 (SnPb) のように鉛フリーのはんだではグラフの上の線以下のプロファイルを使用してください。
図 4 は、マイクロチップ社が錫 - 鉛 (Sn-Pb) を 63%/37% の配合ではんだ加工した標準デバイス向けに推奨するプロファイルです。このようなデバイスのリフロー プロファイルは、図 4 の上の曲線と下の曲線の間の範囲を使用してください。 高温度は、鉛フリー デバイスより低温です。
図 3: 推奨するリフロー プロファイル ( 鉛フリー向け )
図 4: 推奨するリフロー プロファイル ( 錫 / 鉛向け )
225
200
175
150
125
100
75
50
25
00 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200 220 240 260 280 300 320
TIME [SECONDS]
TEM
PER
ATU
RE
[°C
]
250
275
300
340 360 380 400 420
Max = 260°C
Min = 225°C
225
200
175
150
125
100
75
50
25
00 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200 220 240 260 280 300 320
TIME [SECONDS]
TEM
PER
ATU
RE
[°C
]
250
275
300
340 360 380 400 420
Max = 240°C
Min = 225°C
©2007 Microchip Technology Inc. DS00233D_JP - ページ 5-21
AN233
結論
鉛フリー合金の新成分の配合方法が各種開発されています。異なるはんだ材の成分配合をテストする場合、ユーザーは次の点を考慮する必要があります。
• 選択した材料が、製品のリード線のめっきまたは使用する基板で指定の仕上げに適合するか。
• 選択した材料が製品の性能、信頼性、または生産性に影響をもたらさないか。
• 半導体製品パッケージ、受動部品、そして基板そのものに鉛フリーのはんだ合金を使用することで、より高温度にする必要があるが、その影響はないか。
このアプリケーション ノートでは、つや消しタイプの錫および錫 / 鉛めっき仕上げの使用について取り上げ、図 3および図 4で示す制限範囲の遵守を推奨しています。しかし、基板の厚さ、サイズ、パッケージの種類、リフロー装置などの要因によって、プロファイル全体の時間に影響を与える場合があります。
DS00233D_JP - ページ 5-22 ©2007 Microchip Technology Inc.
パッケージ
5
マイクロチップ社のダイ / ウェハー サポート
はじめにパッケージ デバイス以外に、マイクロチップ テクノロジーでは、ウェハーおよびダイでも提供しています。ダイまたはウェハー形式で販売される製品はすべて、マイクロチップ テクノロジー社の規格SPI-41014「Characterization and Qualification of Integrated Circuits ( 集積回路の特性評価および適性評価 )」そして QCI-39000「Worldwide Quality Conformance Requirements (世界的な品質適合要件 )」の規定を遵守し、条件を満たしています。
製品の整合性ダイまたはウェハー製品は、完全にテストされ、特性解析されています。ダイおよびウェハーはマイクロチップ テクノロジー社の規格 QCI-30014 に基づき検査されています。
パッケージング オプションダイ / ウェハー製品は、ワッフル パック入り個別ダイ形式、ウェハー一式、またはフレーム上の切断ウェハー形式で提供されます。基本的に、ウェハーのダイはすべてテストされ、インク ドット マークを使用して不具合ダイを表します。ご要望に応じて、インクを使用せずに電子ウェハー マップ付きウェハーでも提供できます。個々の電子ウェハーマップを入手するには、Microchip FTP サイトのパスワード制御アカウントをご請求ください。ウェハー マップは FTP サイトに保存されており、簡単にダウンロードできます。
ウェハー厚を各種提供しており、未研削ウェハーについては、8 mil、11 mil、15 mil、29 mil などがあります。標準のウェハー厚は製品ごとに異なるため、詳細は、マイクロチップ社の営業所へお問い合わせください。
ご注文情報ダイをご購入の際は、まずマイクロチップ社の営業所までお問い合わせください。特定のデバイスの注文や資料請求 ( 価格や納期などの照会 ) をする場合、次の製品番号をお知らせください。
DEVICE_NUMBER がお問い合わせの際に必要なデバイスの基本製品番号で、S はワッフル パック入りダイ、Wはウェハー、WF はフレーム上の切断ウェハーを表します。NBG 表示のウェハー一式は、裏面未研削 (29 mil) のインク付き状態で出荷され、NBI 表示のウェハーは、裏面未研削でインクなし状態で出荷されます。 さらに詳細に、製造工程を製品番号の末尾に 3 桁の記号で表示した製品もあります。例えば、160K 工程で製造されたウェハーは接尾番号 16K を、150K 工程のウェハーは 15K を、121K 工程のウェハーは 12K を使用して表示します。
注意EEPROM デバイスの中には、デバイスの構成にEPROM セルを使用しているものがあるため、紫外線にさらさないようにしてください。場合により、デバイスに不具合が発生する可能性があります。
これらの製品は静電放電による損傷を受けやすいため、取り扱いおよび組み立てには 新の注意が必要です。
標準厚ダイ / ウェハー 参考 EEPROMDEVICE_NUMBER/S ワッフル パック入りダイ 24LC01B-I/SDEVICE_NUMBER/W ウェハー一式 24LC01B-I/WDEVICE_NUMBER/WF フレーム上の切断ウェハー 24LC01B-I/WF
裏面未研削ウェハー
DEVICE_NUMBER/WNBG インク付きウェハー一式 24LC01B-I/WNBGDEVICE_NUMBER/WNBI インクなしウェハー一式 24LC01B-I/WNBI
標準ダイ / ウェハー ( 製品番号末尾に製造工程を示す )DEVICE_NUMBER/SXXX ワッフル パック入りダイ 24LC01B-I/S15KDEVICE_NUMBER/WXXX ウェハー一式 24LC01B-I/W15KDEVICE_NUMBER/WFXXX フレーム上の切断ウェハー 24LC01B-I/WF15K
©2007 Microchip Technology Inc. DS00049AP_JP - ページ 5-23
パッケージ
電気的特性
ダイのマイクロチップ社デバイスの機能および電気的特性は、パッケージ デバイスと同じです。詳細は個々のデータ シートを参照してください。
ダイの機械的特性
各種データ シートを参照してください。
ボンディング パッド
ダイの図面にはボンディング パッドの位置が表示されています。ボンディング パッドは、ダイにボンディング ワイヤを接続する際に使用します。特に記載のない限り、座標の寸法はすべてマイクロメータ (µm) 単位です。図 1 に示されるとおり、座標の原点はダイの中心です。各デバイスの開口部およびピッチについては、それぞれのダイ データシートを参照してください。
図 1: ダイ座標の原点
ダイは超音波熱圧着方式の金ワイヤまたは超音波方式のワイヤ ボンディングが可能です。ダイは、「ボンド強度 ( 破壊ボンド引張強度テスト )」に関する MIL-STD 883 Method 2011 の 低条件を満たしています。 ボンド パッド メタリゼーションの成分は、シリコンにドープしたアルミニウムです。
基板ボンディング
基板のボンディングが必要な製品があります。詳細は、該当製品のダイ データ シートを参照してください。
出荷時オプション
ダイ (/S)マイクロチップ社のダイ製品は、ワッフルパック入りで出荷できます。ワッフル パックには、ダイのずれを抑え、向きを維持するキャビティが付いています。無塵紙インサートでワッフル パックを覆い、各パックをプラスチックのロッキング クリップで固定しています。ワッフルパックはグループでまとめて出荷され、ロット番号、数量、および製品番号を記載したラベルが貼付されています。
ワッフルパックはバッグに密封されています。
ウェハー (/W)製品はウェハーでも出荷できます ( 発注情報参照 )。ウェハーは裁断せずに容器で出荷されます。容器には非導電性の発泡体が詰められ、各ウェハーは無塵紙で覆われています。また、ロット番号、数量、および製品番号を記載したラベルが貼付されています。
フレーム上の切断ウェハー (/WF)製品はウェハー フレーム付きで出荷することもできます。ウェハーはプラスチックのフレームに取り付けられ、完全に切断された状態です。ウェハーはまとめて (1 つのキャリアに付き 25 個のウェハー )出荷したり、キャリアに 1 個のウェハーを入れた状態でも出荷できます。ロット番号、数量、および製品番号を記載したラベルを貼付し出荷しています。
保管方法
温度および湿度はダイの保存寿命に大きく影響します。ダイは受領後できるだけお早めにご使用ください。 受領後、密封されたバッグは冷暗かつ湿度の低い場所 (25°C で相対湿度 25%) で保管してください。この状況で、密封バッグの保存寿命は 12ヶ月です。条件を満たさない温度または湿度の場所では、保存寿命は短くなります。 ワッフルパックのバッグ開封後は、48 時間以内にデバイスを組み立て、パッケージングする必要があります。
Origin (0,0)
DIE
Bottom Left(x,y) † Top Right
(x,y) †† All dimensions in µm unless specified otherwise.
DS00049AP_JP - ページ 5-24 ©2007 Microchip Technology Inc.
開発ツール
6セクション 6開発ツール
Total Endurance™ ソフトウェア モデル .................................................................................................................6-1SEEVAL® 32 シリアル EEPROM 設計者用キット ...............................................................................................6-2
©2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ 6-i
DS00157E_JP - ページ 6-ii ©2007 Microchip Technology Inc.
©2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ 6-1
開発ツール
6
開発ツール
マイクロチップ社が提供する画期的な Total Endurance ソフトウェア モデルにより、電子システム設計者にとってシリアル EEPROM をベースにしたアプリケーション設計が非常に容易になります。新のソフトウェア モデル (使用しやすいユーザー
インターフェース ) は、ユーザーが定義したアプリケーション環境でデバイスを使用した場合の性能および信頼性を正確に予測し、シリアルEEPROMをベースにした設計にかかる時間と推測の労力を削減します。かつて何日も何週間もかかった設計トレードオフ分析が、今日では数分単位で可能になり、しかも堅牢性の高い設計を実現できる正確性にも優れています。
マイクロチップ社のTotal Enduranceソフトウェアモデルを使用して、次のアプリケーション パラメータが入力できます。
• シリアル EEPROM のデバイス タイプ
• サイクル当たりに書き込むバイト数
• サイクル モード – バイトまたはページ
• データ パターン タイプ – ランダムまたはワーストキャスト
• 温度 (°C)• 1 日当たりの消去 / 書き込みサイクル数
• アプリケーションの寿命または目的のPPMレベル
このモデルは、FIT レート、PPM レベル、アプリケーションの寿命、PPM レベルとサイクル数の関係グラフを返します。Windows® XP、Windows ME、Windows 2000、Windows NT®、および Windows 98 と互換性があります。
特徴
• 自動または手動再計算
• データのリアルタイム更新
• フルスクリーンまたはウインドウ サイズのグラフ表示
• ハイパーテキスト表示の画面上のヘルプ
• キーまたはスライドバーによるパラメータの入力
• 画面上でパラメータの編集が可能
• グラフをシングルクリックでクリップボードにコピー
• 区切り記号付きテキスト ファイルの数値エクスポート
• Excel に出力
• 内蔵更新機能
• オンディスク Endurance チュートリアル
発注時製品番号 :次のウェブサイトで入手できます。
www.microchip.com ( 無料ダウンロード )
Total Endurance™ ソフトウェア モデル
DS00157E_JP - ページ 6-2 ©2007 Microchip Technology Inc.
開発ツール
マイクロチップ社のシリアル EEPROM 評価およびプログラミング システムは、発売予定のデバイスを含め、マイクロチップ社のシリアル EEPROM 全製品をサポートし、ZIF ソケットを使用して、標準DIPパッケージを直接サポートします。8ピンSOIC、TSSOP、MSOP、DFN、および 5 ピン SOT-23 などのパッケージの場合、サードパーティ製アダプタを個別に使用できます。SEEVAL 32 システムでは、設計者やシステム インテグレータはバイト数やページ数の異なるデータ、またはアレイ全体を読み出し、書き込み、または消去したり、これらのデータをファイルとして表示、保存、またはロードしたりできます。Windows XP、Windows ME、Windows 2000、Windows NT® 4.0、そして Windows 95/98 を含め、現在の Windows® オペレーション システムをすべてサポートします。
SEEVAL 32 システムは、システムの統合およびデバッグをサポートする高度機能を提供します。まず、各システムでテスト ピンを使用することにより、オシロスコープなどのテスト装置を簡単に接続し、タイミングや電圧レベルを評価できます。また、SEEVAL ホスト ソフトウェアを使用して、テスト対象の EEPROM 中のデータを読み出したり、書き込んだりして、シリアル EEPROM の検証ができます。EEPROM の読み出し / 書き込み / 消去が繰り返し実行できる連続ループ モードを選択すれば、消去 / 書き込み耐久性も確認できます。
SEEVAL 32 キットには Total Endurance ソフトウェア モデルも付属しています。このモデルは、温度、電圧、1 日当たりのサイクル数、1 サイクル当たりのバイト数などのアプリケーション パラメータを基に、特定のシリアル EEPROM の消去 / 書き込み耐久性を予測できる強力なツールです。
ご注文の製品番号および製品名 :DV243002: SEEVAL 32シリアルEEPROM開発キット
SEEVAL 32 シリアル EEPROM設計者用キットの内容
• 総合書き換え耐久性ソフトウェア モデル
• SEEVAL 32 評価およびプログラミングシステム
• シリアル EEPROM サンプル パック
• SEEVAL 32 ソフトウェア
• RS-232 インターフェース ケーブル
• 電源
SEEVAL® 32 シリアル EEPROM 設計者用キット
システム サポート
マイクロチップ社のウェブ サイト
マイクロチップ社は、ウェブ サイト(www.microchip.com) でオンラインサポートを提供しています。このウェブ サイトを活用することで、ファイルや情報を簡単に入手できます。ウェブ サイトには、ご使用中のインターネット ブラウザでアクセスでき、以下の情報が掲載されています。
• 製品サポート – データシートと正誤表、アプリケーションノートとサンプルプログラム、設計リソース、ユーザーズガイドとハードウェアサポート文書、 新のソフトウェアと過去のソフトウェア
• テクニカルサポート – よくある質問 (FAQ)、テクニカルサポートリクエスト、オンラインディスカッショングループ、マイクロチップ社コンサルタントプログラムメンバの一覧
• マイクロチップ社の事業 – 製品選択および注文ガイド、マイクロチップ社の 新プレスリリース、セミナーおよびイベントの一覧、マイクロチップ各営業所、販売代理店、工場担当者の一覧
お客様変更通知サービス
マイクロチップ社のお客様通知サービスにて、常にお客様にマイクロチップ社製品の 新情報を提供させていただきます。この通知サービスを申し込まれたお客様には、指定された製品ファミリまたは開発ツールに関する変更、更新、改訂、あるいは正誤表情報があるときに、常に電子メールにてお知らせいたします。
登録するには、マイクロチップ社のウェブ サイトwww.microchip.com にアクセスし、[Customer ChangeNotification] をクリックして登録手順に従ってください。
お客様サポート
マイクロチップ社製品のユーザーは、以下の複数のルートでサポートが受けられます。
• 販売代理店
• 該当地域の営業所
• フィールド アプリケーション エンジニア (FAE)• テクニカルサポート
サポートが必要な場合、お客様は製品を購入した販売代理店またはフィールド アプリケーション エンジニア (FAE) にご連絡ください。該当地域の営業所でもお客様へのサポートを提供しています。各営業所と所在地の一覧は、本書の 終ページに記載されています。
テクニカルサポートはウェブ サイト (http://support.microchip.com) より提供されています。
© 2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ 6-3
システム サポート
読者アンケート
マイクロチップ社では、お客様にマイクロチップ社製品を効果的にお使いいただくために、可能な限り 良の文書を提供するように努めています。文書の構成、明瞭さ、内容に関しまして、我々の文書がお客様にとりましてより良くなるためのご意見を提供していただける場合は、ファクスにて弊社のテクニカルパブリケーションマネージャ宛にご意見をお送りください。ファクス番号は 1-480-792-4150 ( 国際電話 ) です。
以下の欄に必要事項と本書に関するご意見をご記入の上、お送りください。
送信先 :テクニカルパブリケーションマネージャ
件名 : 読者アンケート
送信枚数 ________
発信元 :お名前
会社名
ご住所
市町村 / 都道府県 / 郵便番号 / 国名
電話 : (_______) _________ - _________
用途 ( 任意の項目 ):
回答を希望しますか ? はい いいえ
デバイス : 文書番号 :
質問 :
ファクス : (______) _________ - _________
DS00157E_JPシステム サポート
1. 本書の中で も良い記事はどれですか ?
2. 本書には、お客様がハードウェアおよびソフトウェアを開発する際に必要な情報が十分に記載されていますか ?
3. 本書の構成はわかりやすいですか ? わかりにくいと感じた場合、その理由をお書きください。
4. 本書の構成や内容を改善するには、何を追加したらよいと思われますか ?
5. 全体に影響を与えず、本書から削除してもかまわないと思われる内容があれば、お書きください。
6. 不正確な情報または誤解を与えるような情報がありますか ? もしあれば、記載ページと該当箇所をお
書きください。
7. 本書を更にわかりやすくするには、どのような改善が必要だと思われますか ?
DS00157E_JP - ページ 6-4 © 2007 Microchip Technology Inc.
© 2007 Microchip Technology Inc. DS00157E_JP - ページ 6-5
システム サポート
メモ :
DS00157E_JP - ページ 6-6 © 2007 Microchip Technology Inc.
北米本社2355 West Chandler Blvd.Chandler, AZ 85224-6199Tel: 480-792-7200 Fax: 480-792-7277テクニカルサポート : http://support.microchip.comウェブアドレス : www.microchip.comアトランタDuluth, GA Tel: 678-957-9614 Fax: 678-957-1455ボストンWestborough, MATel: 774-760-0087 Fax: 774-760-0088シカゴItasca, ILTel: 630-285-0071 Fax: 630-285-0075ダラスAddison, TXTel: 972-818-7423 Fax: 972-818-2924デトロイトFarmington Hills, MITel: 248-538-2250Fax: 248-538-2260ココモKokomo, INTel: 765-864-8360Fax: 765-864-8387ロサンゼルスMission Viejo, CATel: 949-462-9523 Fax: 949-462-9608サンタクララSanta Clara, CATel: 408-961-6444Fax: 408-961-6445トロントMississauga, Ontario,CanadaTel: 905-673-0699 Fax: 905-673-6509
アジア / 太平洋アジア太平洋支社Suites 3707-14, 37th FloorTower 6, The GatewayHarbour City, KowloonHong KongTel: 852-2401-1200Fax: 852-2401-3431オーストラリア - シドニー
Tel: 61-2-9868-6733Fax: 61-2-9868-6755中国 - 北京
Tel: 86-10-8528-2100 Fax: 86-10-8528-2104中国 - 成都
Tel: 86-28-8665-5511Fax: 86-28-8665-7889中国 - 福州
Tel: 86-591-8750-3506 Fax: 86-591-8750-3521中国 - 香港 SARTel: 852-2401-1200 Fax: 852-2401-3431中国 - 南京
Tel: 86-25-8473-2460Fax: 86-25-8473-2470中国 - 青島
Tel: 86-532-8502-7355Fax: 86-532-8502-7205中国 - 上海
Tel: 86-21-5407-5533 Fax: 86-21-5407-5066中国 - 瀋陽
Tel: 86-24-2334-2829Fax: 86-24-2334-2393中国 - 深川
Tel: 86-755-8203-2660 Fax: 86-755-8203-1760中国 - 順徳
Tel: 86-757-2839-5507 Fax: 86-757-2839-5571中国 - 武漢
Tel: 86-27-5980-5300Fax: 86-27-5980-5118中国 - 西安
Tel: 86-29-8833-7252Fax: 86-29-8833-7256
アジア / 太平洋インド - バンガロール
Tel: 91-80-4182-8400 Fax: 91-80-4182-8422インド - ニューデリー
Tel: 91-11-4160-8631Fax: 91-11-4160-8632インド - プネ
Tel: 91-20-2566-1512Fax: 91-20-2566-1513日本 - 横浜
Tel: 81-45-471- 6166 Fax: 81-45-471-6122韓国 - 大邱
Tel: 82-53-744-4301Fax: 82-53-744-4302韓国 - ソウル
Tel: 82-2-554-7200Fax: 82-2-558-5932 または82-2-558-5934マレーシア - クアラルンプール
Tel: 60-3-6201-9857Fax: 60-3-6201-9859マレーシア - ペナン
Tel: 60-4-227-8870Fax: 60-4-227-4068フィリピン - マニラ
Tel: 63-2-634-9065Fax: 63-2-634-9069シンガポールTel: 65-6334-8870Fax: 65-6334-8850台湾 - 新竹
Tel: 886-3-572-9526Fax: 886-3-572-6459台湾 - 高雄
Tel: 886-7-536-4818Fax: 886-7-536-4803台湾 - 台北
Tel: 886-2-2500-6610 Fax: 886-2-2508-0102タイ - バンコク
Tel: 66-2-694-1351Fax: 66-2-694-1350
ヨーロッパオーストリア - ヴェルス
Tel: 43-7242-2244-39Fax: 43-7242-2244-393デンマーク - コペンハーゲン
Tel: 45-4450-2828 Fax: 45-4485-2829フランス - パリ
Tel: 33-1-69-53-63-20 Fax: 33-1-69-30-90-79ドイツ - ミュンヘン
Tel: 49-89-627-144-0 Fax: 49-89-627-144-44イタリア - ミラノ Tel: 39-0331-742611 Fax: 39-0331-466781オランダ - ドリューネン
Tel: 31-416-690399 Fax: 31-416-690340スペイン - マドリッド
Tel: 34-91-708-08-90Fax: 34-91-708-08-91英国 - ウォーキンガム
Tel: 44-118-921-5869Fax: 44-118-921-5820
世界各国での販売およびサービス
10/05/07