Upload
valerij-stelmakov
View
653
Download
19
Embed Size (px)
Citation preview
LabVIEW:
Elektronikos
praktiniai darbai
S. Borodinas, V. Batovrin, A. Bessonov, V. Moshkin, A. Romanov
Vilniaus Pedagoginis
Universitetas
Lab
VIE
W: E
elektro
nik
os p
raktin
iai darb
ai
2
PRATARMĖ
Mokslo priemonėje pateiktas LabVIEW analoginės ir skaitme-
ninės elektronikos praktiniai laboratoriniai darbai, atliekami virtua-
lių prietaisų pagrindu. Knyga skirta studentams, besimokantiems
pagal bakalaurų ruošimo programą, diplomuotiems elektroninių
prietaisų gamybos specialistams ir magistrantams, studijuojantiems
discipliną „Elektronika ir mikroprocesorinė technika“. Knyga gali
būti panaudota ir kaip gretutinių disciplinų vadovėlis kitų paruo-
šimo krypčių ir specialybių studentams, todėl visi laboratoriniai
darbai pradedami trumpu teoriniu įvadu.
Šis vadovėlis - bendras VPU FTF doc. S. Borodino ir Maskvos
Radiotechnikos, Elektronikos ir Automatikos institutų - MIREA
katedros vedėjo prof. V. Batovrino bei doc. A. Bessonovo ir V. Mos-
hkino leidinys. Autoriai dėkoja „National Instruments“ Rusijos cen-
tro vadovui P. Sepojanui, „National Instruments“ atstovui Lietuvo-
je, PĮ „J. ir A. Romanovai“ už informacinę bei techninę pagalbą,
VPU FTF darbuotojui A. Stasiukynui už vertingas pastabas termini-
jos klausimais.
ĮŽANGA
Šiuolaikinės informacinės technologijos duoda geras galimybes
sukurti naujas mokymo priemones ir naujus metodus. Vienas iš
svarbiausių ir sunkiai išsprendžiamų uždavinių yra kompiuterinės
laboratorinės praktikos sukūrimas.
Bet kurios disciplinos laboratorinės praktikos pagrindą sudaro
matavimo priemonių kompleksas, sujungtas su laboratoriniais ma-
ketais, kurių pagalba atkuriami nagrinėjami reiškiniai ir procesai.
Iki šiol mokymo laboratorijose dažniausiai buvo naudojami tradici-
niai matavimo prietaisai. Šiuolaikiška tendencija tampa panaudoji-
mas mokymo tikslams kompiuterinių matavimo priemonių, sukur-
tų panaudojant virtualių prietaisų technologiją. Virtualus prietaisas
(VP) mokymo laboratorijoje - tai matavimo priemonė, dažniausiai
personalinis kompiuteris, aprūpintas papildomomis specialiomis
3
programomis ir įvairiais matavimo moduliais, pavyzdžiui, daugia-
funkcine įvedimo - išvedimo plokšte. VP leidžia automatizuoti ma-
tavimo informacijos surinkimo, apdorojimo ir pateikimo operacijas,
turi patogų vartotojo aplanką, o jo programinės ir aparatinės prie-
monės realizuoja funkcijas, būdingas tradicinėms matavimo prie-
monėms, ir leidžia pateikti rezultatus vaizduoklio ekrane patogia
naudotojui forma. VP schema, naudojama laboratorinėje praktikoje,
parodyta 1 pav.
Programinis VP aprūpinimas gali būti atliekamas ir standarti-
nėmis priemonėmis, tokiomis kaip Visual C ++, Visual Basic ir pan.,
ir pasitelkiant programines priemones, specialiai skirtas matavimo
informacijos surinkimo, pertvarkymo ir apdorojimo užduočių
sprendimui. Šiandien tarp tokių specializuotų programinių prie-
monių labiausiai tinkamu galima laikyti kompanijos National In-
strument programinį paketą LabVIEW.
1 pav. Virtualaus prietaiso struktūra
4
Rinkoje pateikiami prietaisai, skirti matavimo procesų ir proce-
dūrų automatizavimui, beveik visada komplektuojami LabVIEW
programine aplinka. Programinės įrangos kūrimas šioje programi-
nėje aplinkoje vyksta vizualiomis priemonėmis. Tai nereikalauja iš
kuriančiojo gilių programavimo žinių.
Laboratorinių darbų atlikimui bus reikalingas bazinis laborato-
rinis stendas, turįs šiuolaikinį asmeninį kompiuterį (AK), aprūpintą
operacine sistema Windows 9x ar naujesne versija ir specializuotu
prietaisų komplektu, o taip pat originalia programine įranga.
Specializuotų prietaisų pasirinkta laboratorinė stotis NI ELVIS
II. Stendas komplektuojamas laboratorinių modulių rinkiniu, ku-
riuose surinktos tiriamosios schemos. Atliekant laboratorinius dar-
bus, atitinkami moduliai įstatomi į laboratorinės stoties NI ELVIS II
pereinamosios plokštės lizdus. Laboratorinio stendo vaizdas paro-
dytas 2 pav.
Laboratorinio darbo stoties paruošimo tvarka ir darbo su Lab-
VIEW programine įranga instrukcija pateiktos priede bei prie kny-
gos pridedamame kompaktiniame diske.
Pagrindinis valdymo langas vaizduoklyje apsprendžia išorinį
VP vaizdą ir patogų valdymą. Valdymo lange išdėstyti įvairūs VP
valdymo elementai (jungikliai, mygtukai, įvedimo langai ir t.t.) ir
matavimo rezultatų atvaizdavimo elementai (skaitmeniniai indika-
2 pav. Laboratorinio stendo vaizdas
5
toriai, grafiniai ekranai ir t.t.). Pateiktas naudotojo valdymo langas
yra gana paprastas, todėl užduočių atlikimui reikalingi tik įprasti-
niai darbo su personaliniu kompiuteriu įgūdžiai. Sėkmingam darbo
atlikimui reikalingas laboratoriniame darbe keliamų tikslų ir už-
duočių supratimas.
Ruošiantis atlikti darbą, reikia atkreipti dėmesį į klausimus iš
skyriaus “TEORINĖ DALIS“, esančio kiekviename darbe. Be šio
teorinio įvado, būtina dar išnagrinėti nurodytus užduotyje pagrin-
dinės literatūros skyrius, o, reikalui esant, naudinga pasinaudoti ir
papildoma literatūra. Pagrindinės ir papildomos literatūros sąrašai
pateikti vadovėlio gale.
Atliekant laboratorinį darbą, įjungus kompiuterį, visais atvejais
reikia atidaryti programinės įrangos aplanką ir įkrauti laboratorinio
darbo programą (dvigubas spragtelėjimas ant failo Lab-n.vi, kur n -
darbo numeris). Vaizduoklio ekrane atsidarys langas, kurio vaizdas
parodytas 3 pav.
Programa paleidžiama, nuspaudus mygtuką RUN su pavaiz-
duota strėle .
Laboratorinio darbo atlikimo procese būtina susipažinti su sky-
riumi „LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS“ ir nuosekliai
atlikti visus nurodymus, duotus skyriuje „DARBO UŽDUOTIS“.
Atliekant užduotį, vaizduoklio ekrane gali pasirodyti papildomos
nuorodos. Matavimo ir stebėjimo rezultatus galima įvesti į ataskaitą
iškart juos gavus. Tam tikslui patogu naudotis tekstiniu redakto-
riumi MS Word. Numatoma, kad studentai moka pagrindinius teks-
to sudarymo ir apdorojimo, lentelių sudarymo ir formatavimo me-
todus.
3 pav. LabVIEW programos atidaryto lango vaizdas
6
Atliekant užduotį, rekomenduojama orientuotis į tekste nuro-
dytas elektrinių parametrų vertes. Galimi ir nežymūs (±10% ribose)
nukrypimai nuo rekomenduojamų reikšmių. Reikia pažymėti, kad
su naudojamais maketais, pakeitus programinę įrangą, galima atlik-
ti ir papildomus tyrimus. Tokių darbų tikslus ir tvarką turi nustatyti
dėstytojas, įvertindamas NI ELVIS II įvedimo - išvedimo laborato-
rinės stoties galimybes.
Atlikto darbo ataskaitos sudarymo patogumui aprašyme patei-
kiami rekomenduojami lentelių tipai ir nurodymai, kaip išsaugoti
eksperimentinius duomenis elektronine forma.
Darbo ataskaita pateikiama rekomenduojama forma, kurią gali
koreguoti dėstytojas arba laboratorinio darbo vadovas.
7
TURINYS
PRATARMĖ .................................................................................................... 2
ĮŽANGA .......................................................................................................... 2
LABORATORINIS MODULIS NR. 1
PUSLAIDININKIŲ DIODŲ IR STABILITRONŲ TYRIMAS
1. DARBO TIKSLAS.............................................................................. 11
2. TEORINĖ DALIS .............................................................................. 11
3. LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS ................................. 18
4. DARBO UŽDUOTIS ........................................................................ 18
1 užduotis. Lygintuvinio diodo voltamperinės charakteristikos tyrimas ... 19
2 užduotis. Stabilitrono voltamperinės charakteristikos tyrimas ................. 21
3 užduotis. Vieno pusperiodžio puslaidininkinio lygintuvo tyrimas .......... 22
5. KONTROLINIAI KLAUSIMAI ........................................................ 23
LABORATORINIS MODULIS NR. 2
TIRISTORIAUS IR VALDOMO LYGINTUVO CHARAKTERISTIKŲ
TYRIMAS
1. DARBO TIKSLAS.............................................................................. 24
2. TEORINĖ DALIS .............................................................................. 24
3. LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS ................................. 31
4. DARBO UŽDUOTIS ........................................................................ 31
1 užduotis. Tiristoriaus VACh tyrimas ............................................................ 32
2 užduotis. Tiristoriaus statinių charakteristikų šeimos gavymas ............... 34
3 užduotis. Valdomo vieno pusperiodžio lygintuvo tyrimas ....................... 35
5. KONTROLINIAI KLAUSIMAI ........................................................ 36
LABORATORINIS MODULIS NR. 3
TUNELINIO DIODO VOLTAMPERINĖS CHARAKTERISTIKOS
TYRIMAS
1. DARBO TIKSLAS.............................................................................. 37
2. TEORINĖ DALIS .............................................................................. 37
3. LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS ................................. 42
8
4. DARBO UŽDUOTIS ........................................................................ 42
1 užduotis. Tunelinio diodo VACh stebėjimas ............................................... 42
2 užduotis. Tunelinio diodo VACh matematinio modelio sudarymas ....... 44
3 užduotis. Rezultatų išsaugojimas .................................................................. 46
4 užduotis. Tunelinio diodo elektrinių parametrų nustatymas .................... 47
5. KONTROLINIAI KLAUSIMAI ........................................................ 47
LABORATORINIS MODULIS NR. 4
DVIPOLIO TRANZISTORIAUS CHARAKTERISTIKŲ TYRIMAS
1. DARBO TIKSLAS.............................................................................. 48
2. TEORINĖ DALIS .............................................................................. 48
3. LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS ................................. 57
4. DARBO UŽDUOTIS ........................................................................ 57
1 užduotis. Dvipolio tranzistoriaus nuolatinės srovės perdavimo
koeficiento nustatymas ..................................................................................... 58
2 užduotis. Dvipolio tranzistoriaus įėjimo charakteristikos nustatymas
schemoje su bendru emiteriu ........................................................................... 59
3 užduotis. Dvipolio tranzistoriaus išėjimo charakteristikų šeimos
nustatymas schemoje su bendru emiteriu .................................................... 60
4 užduotis. Tranzistorinio kaskado su bendru emiteriu darbinio taško
nustatymas ......................................................................................................... 62
5. KONTROLINIAI KLAUSIMAI ........................................................ 64
LABORATORINIS MODULIS NR. 5
LAUKO TRANZISTORIAUS CHARAKTERISTIKŲ TYRIMAS
1. DARBO TIKSLAS.............................................................................. 64
2. TEORINĖ DALIS .............................................................................. 65
3. LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS ................................. 72
4. DARBO UŽDUOTIS ........................................................................ 72
1 užduotis. Lauko tranzistoriaus perdavimo charakteristikos gavimas
schemoje su bendra ištaka ................................................................................ 73
2 užduotis. Lauko tranzistoriaus kanalo varžos priklausomybės nuo
užtūros - ištakos įtampos grafiko gavimas .................................................... 74
3 užduotis. Lauko tranzistoriaus išėjimo charakteristikų šeimos matavimas
schemoje su bendra ištaka ................................................................................ 75
9
4 užduotis. Tranzistorinio kaskado su bendra ištaka darbo tyrimas ........... 77
5. KONTROLINIAI KLAUSIMAI ........................................................ 79
LABORATORINIS MODULIS NR. 6
SCHEMŲ SU OPERACINIAIS STIPRINTUVAIS TYRIMAS
1. DARBO TIKSLAS.............................................................................. 80
2. TEORINĖ DALIS .............................................................................. 80
3. LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS ................................. 90
4. DARBO UŽDUOTIS ........................................................................ 90
1 užduotis. Invertuojančio stiprintuvo perdavimo charakteristikos gavimas ........ 91
2 užduotis. Invertuojančio stiprintuvo darbo tyrimas ................................... 93
3 užduotis. Neinvertuojančio stiprintuvo perdavimo charakteristikos gavimas .... 95
4 užduotis. Neinvertuojančio stiprintuvo darbo tyrimas .............................. 96
5 užduotis. Įtampos integratoriaus darbo tyrimas ......................................... 97
6 užduotis. Įtampos diferencijatoriaus darbo tyrimas ................................... 99
5. KONTROLINIAI KLAUSIMAI ...................................................... 100
LABORATORINIS MODULIS NR. 7
ANALOGINIŲ ĮTAMPOS KOMPARATORIŲ CHARAKTERISTIKŲ
TYRIMAS
1. DARBO TIKSLAS............................................................................ 102
2. TEORINĖ DALIS ............................................................................ 102
3. LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS ............................... 109
4. DARBO UŽDUOTIS ...................................................................... 110
1 užduotis. Vienaslenksčio komparatoriaus perdavimo charakteristikos
gavimas............................................................................................................. 111
2 užduoties. Vienaslenksčio komparatoriaus darbo tyrimas ...................... 112
3 užduotis. Histerezinio komparatoriaus perdavimo charakteristikos
gavimas............................................................................................................. 113
4 užduotis. Histerezinio komparatoriaus darbo tyrimas............................. 115
5. KONTROLINIAI KLAUSIMAI ...................................................... 116
LABORATORINIS MODULIS NR. 8
SKAITMENINIŲ SCHEMŲ TYRIMAS
1. DARBO TIKSLAS............................................................................ 117
10
2. TEORINĖ DALIS ............................................................................ 117
3. LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS ............................... 127
4. DARBO UŽDUOTIS ...................................................................... 127
1 užduotis. Skaitmeninių loginių elementų tyrimas .................................... 127
2 užduotis. Dešifratoriaus 2x4 darbo tyrimas ............................................... 128
3 užduotis. Multipleksoriaus 4x1 darbo tyrimas .......................................... 129
4 užduotis. Asinchroninio RS - trigerio darbo tyrimas ................................ 131
5 užduotis. Dviejų pakopų JK- trigerio darbo tyrimas ................................ 132
6 užduotis. Dviejų pakopų D - trigerio darbo tyrimas................................. 134
7 užduotis. Skaičiuojančio T- trigerio darbo tyrimas .................................. 135
8 užduotis. Asinchroninio dvejetainio skaitiklio darbo tyrimas ................ 137
9 užduotis. Asinchroninio skaitiklio su perskaičiavimo koeficientu 10 darbo
tyrimas .............................................................................................................. 138
5. KONTROLINIAI KLAUSIMAI ...................................................... 139
PRIEDAS ..................................................................................................... 140
LITERATŪRA ............................................................................................. 144
11
LABORATORINIS MODULIS Nr. 1
PUSLAIDININKIŲ DIODŲ IR STABILITRONŲ TYRIMAS
1. DARBO TIKSLAS
lygintuvinio puslaidininkinio diodo voltamperinės charakteris-
tikos (VACh) tyrimas;
stabilitrono VACh tyrimas;
lygintuvinio puslaidininkio darbo tyrimas.
2. TEORINĖ DALIS
lygintuvinių ir specialių puslaidininkinių diodų sandara, pa-
skirtis ir pagrindinės charakteristikos *1, 2, 3];
puslaidininkinių prietaisų VACh *1, 2, 3];
puslaidininkinių diodų įjungimo schemos *1, 3];
lygintuvinių diodų schemų principai ir veikimo ypatumai
[1].
Puslaidininkinis diodas yra dviejų elektrodų puslaidininkinis
prietaisas, turintis vieną p-n sandūrą.
Visus puslaidininkinius diodus galima suskirstyti į dvi grupes:
lygintuvinius ir specialiuosius. Lygintuviniai diodai skirti kintama-
jai srovei lyginti. Priklausomai nuo lyginamosios srovės dažnio ir
formos jie skirstomi į žemo dažnio, aukšto dažnio ir impulsinius.
Specialieji puslaidininkiniai diodai naudoja įvairias p-n sandūrų
savybes, pvz. pramušimo reiškinį, fotoefektą, VACh sričių su nei-
giama varža egzistavimą ir kt. Specialieji diodai naudojami nuolati-
nei įtampai stabilizuoti, optiniam spinduliavimui registruoti, for-
muoti elektrinius signalus ir t.t.
Lygintuviniai diodai
Lygintuviniai puslaidininkiniai diodai dažniausiai gaminami iš
silicio, germanio ar galio arsenido. Klasifikuoti šiuos diodus galima
pagal konstrukciją ir gamybos technologiją. Pagal konstrukciją ly-
12
gintuviniai diodai skirstomi į plokštinius ir taškinius, o pagal ga-
mybos technologiją į lydytinius, difuzinius ir epitaksinius.
Plokštiniai diodai pasižymi dideliu p-n sandūros plotu ir nau-
dojami didelių srovių (iki 30A) lyginimui. Taškiniai diodai, turintys
mažą p-n sandūros plotą, skirti lyginti mažoms srovėms (iki 30mA).
Paprastai lygintuvinis puslaidininkinis diodas normaliai dirba
iki 1000V įtampos. Prireikus padidinti lyginamąją įtampą, naudo-
jami lyginimo stulpai, susidedantys iš eilės nuosekliai sujungtų pus-
laidininkinių diodų, kas leidžia įtampą padidinti iki 15000V.
Didelių srovių lyginimui skirti lygintuviniai didelio galingumo
diodai vadinami jėginiais. Jie leidžia lyginti sroves iki 30A. Tokie
diodai dažniausiai gaminami iš silicio ar galio arsenido, nes germa-
niui būdinga didesnė atbulinės srovės per p-n sandūrą priklauso-
mybė nuo temperatūros.
Lydinių diodai dažniausiai naudojami lyginti kintamai srovei
iki 5kHz dažnio. Difuziniai silicio diodai gali dirbti ir padidinto
dažnio, iki 100kHz, zonoje. Epitaksiniai silicio diodai su metalo
sluoksniu (su Šotkio barjeru) naudojami kaip aukšto dažnio (iki
500kHz) diodai. Geriausiomis dažnio charakteristikomis pasižymi
galio arsenido lygintuviniai diodai, dirbantys dažnio diapazone iki
kelių megahercų.
Pagrindines puslaidininkinių diodų charakteristikas gauname
analizuodami jų VACh. Analizuojant VACh reikia atkreipti dėmesį
į tai, kad srovės 𝐼 per p-n sandūrą priklausomybė nuo įtampos 𝑈
kritimo sandūroje išreiškiama Eberso-Molo lygtimi:
𝐼 = 𝐼𝑆 𝑒𝑈 𝜑𝑇 − 1 , (1.1)
kur 𝐼𝑆 - atbulinė diodo prisotinimo srovė, o 𝜑𝑇 - šilumos poten-
cialas.
Kadangi puslaidininkiams prie 𝑇 = 300K šilumos potencialas
𝜑𝑇 = 25mV, jau esant įtampai 𝑈 = 0,1V galima naudotis supapras-
tinta formule:
𝐼 = 𝐼𝑆𝑒𝑈 𝜑𝑇 . (1.2)
13
Svarbus diodo charakteristikos parametras yra diferencialinė p-
n sandūros varža, lygi įtampos kritimo ant diodo pokyčio santykiui
su srovės per diodą pokyčiu:
𝑟𝑑𝑖𝑓 =𝑑𝑈
𝑑𝐼. (1.3)
Naudojant (1.2) ir (1.3), diferencinę varžą galima apskaičiuoti
tiksliau: 1
𝑟𝑑𝑖𝑓=
𝑑𝐼
𝑑𝑈=
1
𝜑𝑇 𝐼 + 𝐼𝑆 . (1.4)
Tekant srovei (priklausomai nuo diodo tipo srovė gali būti nuo
vienetų miliamperų iki dešimčių amperų) per p-n sandūrą, puslai-
dininkio tūryje krenta įtampa, kurios negalime ignoruoti. Šiuo atve-
ju Eberso - Molo lygtis atrodo taip:
𝐼 = 𝐼𝑆𝑒 𝑈−𝐼𝑆𝑅 𝜑𝑇 , (1.5)
Kur 𝑅 - viso puslaidininkio kristalo varža, vadinamoji nuosek-
lioji varža.
1.1a pav. parodytas grafinis puslaidininkinio diodo žymėjimas
elektrinėse schemose, 1.1b pav. - jo struktūra. Diodo elektrodas, pri-
jungtas prie p srities, vadinamas anodu, o elektrodas, prijungtas
prie n srities, vadinamas katodu. Statinė VACh parodyta 1.1c pav.
1.1 pav. Puslaidininkinio diodo grafinis žymėjimas (a), struktūra
(b) ir statinė voltamperinė charakteristika (c)
14
Stabilitronas
Stabilitronas - tai puslaidininkinis diodas, kurio p-n sandūra
dirba griūtinio pramušimo režimu. Toks režimas gaunamas prijun-
gus p-n sandūrą atbuline kryptimi. Griūtinio pramušimo režime,
srovei kintant plačiame diapazone, įtampos kritimas ant diodo lieka
praktiškai nepakitęs. 1.2a,b pav. parodyta stabilitrono grafinis žymė-
jimas, o 1.2c pav. - tipinė VACh.
Tipinio mažo galingumo silicio stabilitrono griūtinė srovė lygi
maždaug 10mA, todėl srovės per stabilitroną apribojimui nuosekliai
su juo įjungiama ribojamoji varža 𝑅𝑟 (1.3a pav.). Jei griūtinė srovė
tokia, kad galingumas, išsklaidomas stabilitrone, neviršija leistino
dydžio, tai tokiame režime prietaisas gali dirbti neribotai ilgai.
Daugumai stabilitronų ribinė leistina išsklaidomo galingumo nor-
ma yra nuo 100mW iki 10W.
1.2 pav. Stabilitrono grafinis žymėjimas (a - vienpusio, b - dvipu-
sio) ir VACh (c): UST - stabilizacijos įtampa
1.3 pav. Stabilitrono (a) ir stabistorio (b) jungimo schema:
Rr - ribojamoji varža, Uįė - įėjimo įtampa, Ra -
apkrovos varža
a) b)
Uįė Uįė Ust Ust
15
Kai kada įtampos stabilizacijai naudojamas reiškinys, kad tie-
sioginis įtampos kritimas diode nedaug priklauso nuo tekančios per
p-n sandūrą srovės stiprio. Prietaisai, kuriuose naudojamos šis efek-
tas, vadinami stabistoriais. Įtampos kritimas p-n sandūroje tiesiogi-
ne kryptimi dažniausiai sudaro nuo 0,7 iki 2V, todėl stabistoriai lei-
džia stabilizuoti tik mažas įtampas (ne daugiau 2V).
Srovės apribojimui per stabistorių nuosekliai su juo įjungiama
varža 𝑅𝑟 (1.3b pav.).
Diferencinė stabilitrono varža - tai parametras, charakterizuo-
jantis jo VACh nuolydį pramušimo zonoje:
𝑟𝑑𝑖𝑓 =∆𝑈𝑠𝑡
∆𝐼𝑠𝑡 (1.6)
1.4 pav. parodyta tiesinė stabilitrono VACh atkarpa, nustatanti
prietaiso diferencinę varžą.
Puslaidininkiniai lygintuvai
Lygintuvu vadinamas įtaisas, skirtas kintamai srovei paversti
nuolatine. Pagrindinė lygintuvų paskirtis - išlaikyti apkrovimo sro-
vės kryptį kintant įtampos poliškumui. Sukurta daug puslaidinin-
kinių lygintuvų schemų, besiskiriančių diodų kiekiu ir jų jungimu.
Toliau išnagrinėtos kai kurios iš tų schemų.
1.5 pav. parodyta vienfazio vieno pusperiodžio lygintuvo schema.
Kur T - yra transformatorius, 𝑅𝑎𝑝 - apkrovos varža, 𝑢1 ir 𝑢2 - pirmi-
1.4 pav. Linearizuota stabilitrono charakteristika
16
nės ir antrinės transformatoriaus apvijos įtampos amplitudė ir 𝑈𝑖š -
išėjimo įtampa.
Vienfazis vieno pusperiodžio lygintuvas praleidžia tik vieną
maitinančiosios įtampos pusperiodį (1.6 pav.). Išlygintos įtampos
vidutinė vertė lygintuvo išėjime skaičiuojama pagal formulę:
𝑈𝑖š =1
𝑇 𝑈𝑚
𝑇
0𝑠𝑖𝑛𝜔𝑡𝑑𝑡 =
𝑈𝑚
𝜋, (1.7)
kur 𝑈𝑚 - antrinės transformatoriaus apvijos įtampos amplitudė; 𝑇 -
įėjimo įtampos periodas; 𝜔 - kampinis signalo dažnis, 𝜔 = 2𝜋 𝑇 .
Lygintuvo išėjimo įtampos pulsacijų periodas yra lygus įėjimo
įtampos periodui. Maksimali atbulinė diodo įtampa yra lygi di-
džiausiai įėjimo įtampai:
𝑈𝑚𝑎𝑥 = 𝑈𝑚 (1.8)
1.6 pav. Įtampos formos vienfazių pusperiodžių lygintuvo
įėjime (a) ir išėjime (b)
1.5 pav. Vienfazio vieno pusperiodžio lygintuvo schema
u1 u2 Rap Uiš
17
1.7 pav. parodyta dvifazio dviejų pusperiodžių lygintuvo schema.
Iš esmės mes čia turime du lygiagrečiai sujungtus vienfazius
lygintuvus, kurie maitinami nuo dviejų antrinės transformatoriaus
apvijos pusių. Tokiu būdu sukuriami du priešingų fazių maitinimo
lygintuvai, turintys vieną tą pačią apkrovą. Įtampos forma tokio
lygintuvo išėjime parodyta 1.8 pav.
Dvifazis dviejų pusperiodžių (dvipusis) lygintuvas pasižymi
geru transformatoriaus išnaudojimu. Išlygintos įtampos vidutinė
vertė lygintuvo išėjime skaičiuojama pagal formulę:
𝑈𝑖š =2𝑈𝑚
𝜋 (1.9)
Dvipusio lygintuvo išėjimo signalo periodas du kartus trum-
pesnis negu vienpusio. Maksimali atbulinė kiekvieno diodo įtampa
lygi didžiausios įtampos antrinėje apvijoje (įtampų dvejose apvijos
pusėse sumai 𝑢2 = 𝑢2 ′ + 𝑢2
′′) ir tiesioginio įtampos kritimo diode 𝑈𝑘𝑟
skirtumui:
𝑈𝑚𝑎𝑥 = 𝑈𝑚 − 𝑈𝑘𝑟 (1.10)
1.7 pav. Dvifazio dviejų pusperiodžių lygintuvo schema
1.8 pav. Įtampos formos dvifazio dviejų pusperiodžių lygintuvo įėjime ir išėjime
Uiš Rap
𝑢2 ′
𝑢2 ′′
𝑢1
18
Praktiškai plačiausiai naudojamas vienfazis dviejų pusperio-
džių tiltinis lygintuvas, kurio schema parodyta 1.9 pav.
Įtampos forma tiltinio lygintuvo įėjime ir išėjime, taip pat vidu-
tinis išėjimo įtampos dydis 𝑈𝑖š tokie pat kaip dvifazio dviejų puspe-
riodžių lygintuvo. Didžiausia atbulinė įtampa 𝑈𝑚𝑎𝑥 tiltiniame ly-
gintuve lygi transformatoriaus antrinės apvijos įtampai.
Tiltinis lygintuvas, skirtingai nei dvifazis dviejų pusperiodžių
lygintuvas, gali dirbti be transformatoriaus. Tiltinės schemos trū-
kumas - reikalingas dvigubas lygintuvinių diodų kiekis.
3. LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS
Laboratorinį stendą sudaro:
bazinis laboratorinis stendas;
laboratorinis modulis Lab1A lygintuvinio diodo 1N4148
VACh ir stabilitrono 1N4736A tyrinėjimui.
4. DARBO UŽDUOTIS
Redaktoriumi MS Word paruoškite ataskaitos šabloną. Sumon-
tuokite modulį Lab1A ant maketinės laboratorinės stoties NI ELVIS
II plokštės. Išorinis modulio vaizdas parodytas 1.10 pav.
Paleiskite programą Lab-1.vi.
Susipažinę su darbo tikslu nuspauskite mygtuką „Pradėti
darbą“. Ekrane pasirodys 1 užduoties Virtualaus Prietaiso (VP)
vaizdas (1.12 pav.).
Pastaba: Čia ir toliau elektrinėse jungimo schemose naudojami
tokie žymėjimai:
1.9 pav. Vienfazio dviejų pusperiodžio tiltinio lygintuvo schema
19
1. DAC0 - analoginis išėjimas 0;
2. ACH3+ - Analog Channel 3+ - analoginis įėjimas 3, polišku-
mas +;
3. AIGND - Analog Input Ground - analoginė žemė;
4. DI2 – Digital Input 2 - skaitmeninis įėjimas - išvadas 2;
5. GROUND - skaitmeninė žemė;
6. +5V, +15V, -15V – maitinimo šaltinių įjungimas.
1 užduotis. Lygintuvinio diodo voltamperinės charakteristikos ty-
rimas
VACh tyrinėjimui naudojama elektrinė jungimo schema, paro-
dyta 1.11 pav.
4.1.1. Sukurkite lygintuvinio diodo VACh tiesiąją atšaką. Tam
tikslui VP valdymo elementais 𝐸𝑚𝑖𝑛 ir 𝐸𝑚𝑎𝑥 nustatykite įtampos
kitimo diapazoną šaltinio 𝐸 išėjime (rekomenduojamos ribos nuo 0
iki +2V), po to VP valdymo lange nuspauskite mygtuką „Matavi-
mas“. Grafiniame indikatoriuje VP pasirodys lygintuvinio puslaidi-
ninkinio diodo VACh.
4.1.2. Nukopijuokite gautą VACh į keitimo buferį, tam tikslui pa-
spauskite dešinį pelės mygtuką indikatoriaus vaizde ir išrinkite iš
kontekstinio meniu komandą „Copy Data“. Pereikite į redaktorių
MS Word, įterpkite indikatoriaus vaizdą iš keitimo buferio į ataskai-
tos puslapį.
4.1.3. Panaudodami VACh, nustatykite statinę ir diferencinę pus-
laidininkinio diodo varžą. Tam tikslui, keisdami įtampą šaltinio 𝐸
1.10 pav. Išorinis diodo ir stabilitrono
charakteristikų tyrimo modulio
Lab1A vaizdas
1.11 pav. Elektrinė jungimo sche-
ma, lygintuvinio diodo
VACh tyrimui
20
išėjime slankiojančio reguliatoriaus pagalba, nustatykime iš pradžių
srovę per diodą apie 5mA, o po to maždaug 6mA. Ataskaitoje užra-
šykite ampermetro 𝐼𝑑 ir voltmetro 𝑈𝑑 parodymus tiems diodo
VACh taškams.
Remiantis gautais duomenimis išskaičiuokite statinę diodo var-
žą nurodytuose taškuose pagal formulę 𝑅𝑠𝑡 = 𝑈𝑘𝑟 𝐼𝑘𝑟 ir diferencinę
varžą pagal formulę 𝑟𝑑𝑖𝑓 = ∆𝑈 ∆𝐼 . Palyginkite gautus duomenis su
žinyno duomenimis. Rezultatus užrašykite į ataskaitą.
4.1.4. Pakartokite tyrinėjimus, nurodytus 4.1.3 p. VACh taškams,
atitinkamiems srovei per diodą 0,5mA ir 1mA.
4.1.5. Pagal diodo VACh nustatykite lanksto įtampą. Lanksto
įtampa nustatoma pagal tiesią charakteristikos atkarpą taškui, kur
charakteristika staigiai pereina į laužtinę. Palyginkite gautą dydį su
žinyno duomenimis. Rezultatus įrašykite į ataskaitą.
4.1.6. Nuspauskite priekiniame valdymo lange mygtuką „Pereiti
prie 2 užduoties“, ekrane pasirodys 2 užduoties VP valdymo lan-
gas (1.13 pav.).
1.12 pav. 1 užduoties VP vaizdas
21
2 užduotis. Stabilitrono voltamperinės charakteristikos tyrimas
Stabilitrono VACh tyrinėjimui naudojama elektrinė schema, pa-
rodyta 1.14 pav.
4.2.1. Sudarykite stabilitrono VACh. Tam tikslui (1.13 pav.) val-
dymo elementų VP Emin ir Emax pagalba pasirinkite įtampos kitimo
diapazono šaltinio E išėjime (rekomenduojamos ribos nuo -10V iki
+2V) ir nuspauskite VP valdymo lange mygtuką „Matavimas“. VP
atliks eilę matavimų ir jo grafiniame indikatoriuje pasirodys stabi-
litrono VACh grafikas.
4.2.2. Nukopijuokite gautą VACh į keitimo buferį, o po to įterpkite
indikatoriaus vaizdą iš keitimo buferio į ataskaitos puslapį.
4.2.3. Pagal gautą VACh nustatykite stabilizacijos įtampą, kuri ati-
tinka srovę per stabilitroną Ist = −10mA. Palyginkite gautą rezulta-
tą su žinyno duomenimis. Rezultatus užrašykite ataskaitoje.
4.2.4. Pagal stabilitrono VACh nustatykite jo diferencinę varžą.
Tam tikslui, slankiojančiu reguliatoriumi keisdami įtampą šaltinio E
išėjime, nustatykite srovę per stabilitroną apie -5mA, o po to apie -
15mA. Užrašykite ataskaitoje ampermetro Id ir voltmetro Ud paro-
dymus šioms srovės reikšmėms, nustatykite įtampą šaltinio E išėji-
1.13 pav. 2 užduoties VP vaizdas
22
me ir įtampos kritimą stabilitrone Ust . Apskaičiuokite diferencinę
stabilitrono varžą rdif = ∆U ∆I ir stabilizacijos koeficientą kst =
∆Uįė ∆Ust . Gautus rezultatus palyginkite su žinyno duomenimis.
Skaičiavimų rezultatus įrašykite į ataskaitą.
4.2.5. Priekiniame VP valdymo lange nuspauskite mygtuką „Per-
eiti prie 3 užduoties“, ekrane pasirodys 3 užduoties VP valdymo
langas (1.15 pav.).
3 užduotis. Vieno pusperiodžio puslaidininkinio lygintuvo tyrimas
Vieno pusperiodžio puslaidininkinio lygintuvo darbo tyrimui
naudojama elektrinė schema, parodyta 1.12 pav. Skirtumą sudaro
1.14 pav. Elektrinė jungimo schema, stabilitrono VACh tyrimui
1.15 pav. 3 užduoties VP vaizdas
23
tai, kad VP paduoda į schemos įėjimą ne nuolatinę, bet harmoninę
virpesį (1.15 pav.).
4.3.1. Nuimkite įtampos oscilogramas lygintuvo įėjime ir išėjime.
Tam tikslui, panaudodami valdymo elementą 𝑈įė,𝑚 , nustatykite
įėjimo signalo amplitudę 𝑈įė, apytikriai lygią 2V, po to nuspauskite
priekinio VP valdymo lango mygtuką „Matavimas“. Grafiniai VP
indikatoriai parodys lygintuvo schemos įėjimo ir išėjimo signalų
oscilogramas.
4.3.2. Nukopijuokite gautas oscilogramas į ataskaitos puslapį.
4.3.3. Išmatuokite ir užrašykite ataskaitoje maksimalią įtampą ly-
gintuvo išėjime 𝑈𝑖š𝑚𝑎𝑥 . Išmatavimui panaudokite vizyro liniją, ku-
rios padėtis keičiama slankiojančiu reguliatoriumi, esančiu prieki-
niame VP valdymo lange, ir skaitmeninį indikatorių, rodantį įtam-
pos lygį (1.15 pav.).
4.3.4. Paskaičiuokite ir įrašykite į ataskaitą vidutinį išlygintos
įtampos dydį lygintuvo išėjime. Skaičiuokite pagal formulę
𝑈𝑣𝑖𝑑 .𝑙𝑦𝑔 . = 𝑈𝑖š𝑚𝑎𝑥 𝜋 .
4.3.5. Panaudodami gautas oscilogramas, palyginkite signalų ki-
timo periodus lygintuvo įėjime ir išėjime ir išmatuokite didžiausią
atbulinę diodo įtampą. Išvadas ir rezultatus užrašykite ataskaitoje.
4.3.6. Išjunkite VP, paspausdami priekiniame valdymo lange
mygtuką „Darbo pabaiga“.
5. KONTROLINIAI KLAUSIMAI
Koks elektroninis prietaisas vadinamas puslaidininkiniu
diodu?
Palyginkite sroves per lygintuvinį puslaidininkinį diodą,
esant tiesioginiam ir atbuliniam dydžių priešįtampiai. Pa-
aiškinkite skirtumą.
Kas yra diodo srovės prisotinimas?
Kam naudojami stabilitronai?
Kuri stabilitrono VACh atšaka yra darbinė?
Kaip nustatomas stabilizacijos koeficientas?
24
Ar galima panaudoti stabilitroną kintamos srovės lygintuvų
schemose?
Ar stabilitronus galima įjungti nuosekliai? Lygiagrečiai? Ko-
kias tokiu būdu galime gauti papildomas savybes?
Kokie yra stabilitrono parametrų terminės kompensacijos
būdai?
Kuo skiriasi išėjimo įtampa vieno pusperiodžio ir dviejų
pusperiodžių lygintuvuose?
Palyginkite didžiausią atbulinę įtampą vieno pusperiodžių ir
dviejų pusperiodžių dioduose?
Ar vienodi dviejų pusperiodžių lygintuvo įėjimo ir išėjimo
įtampos dažniai?
Kokia lygintuvo schema pasižymi mažiausia pulsacijos am-
plitude išėjime?
Kaip tiksliai darbo eigoje nustatomi puslaidininkinių prietai-
sų parametrai? Nuo ko šiuo atveju gali priklausyti gautų re-
zultatų kokybė?
LABORATORINIS MODULIS Nr. 2
TIRISTORIAUS IR VALDOMO LYGINTUVO
CHARAKTERISTIKŲ TYRIMAS
1. DARBO TIKSLAS
tiristoriaus voltamperinės charakteristikos tyrimas ir jo pa-
rametrų nustatymas;
tiristoriaus statinių charakteristikų šeimos nustatymas;
reguliuojamo vieno pusperiodžio lygintuvo darbo tyrimas.
2. TEORINĖ DALIS
dinistoriaus sandara, veikimo principas ir pagrindinės cha-
rakteristikos [1, 2, 4];
tiristorių konstrukcijos ypatybės ir VACh *1, 2, 3, 4];
dinistoriaus ir tiristoriaus jungimo schemos [1];
25
simistoriaus konstrukcijos ypatybės ir VACh *1, 2];
valdomų lygintuvų, sukurtų tiristoriaus pagrindu, schemų
sudarymo principai [1, 4].
Tiristorius yra puslaidininkinis prietaisas su dviem pastoviomis
laidumo būsenomis, turintis dvi ar tris lyginimo sandūras, ir kurį
galima perjungti iš uždaros padėties į atvirą ir atvirkščiai. Skiriami
diodiniai (nevaldomi) ir triodiniai (valdomi) tiristoriai. Diodinis
tiristorius dar vadinamas dinistoriumi. Kintamos srovės grandinių
komutacijai skirti specialūs simetriniai tiristoriai - simistoriai.
Dinistorius - tai dviejų elektrodų diodinis prietaisas, turintis tris
p-n sandūras. Kraštinė p sritis vadinama anodu, o kita kraštinė sritis
n - katodu. Dinistoriaus struktūra parodyta 2.1a pav. Trys dinisto-
riaus p-n sandūros žymimos J1, J2 ir J3. Grafinis dinistoriaus žymėji-
mas parodytas 2.1b pav.
Dinistorių galima nagrinėti kaip dvi triodines struktūras, su-
jungtas tarpusavyje. Dinistoriaus dalijimas į jo sudėtinius tranzisto-
rius ir pakeitimo schema parodyti 2.2 pav. Esant tokiam sujungimui,
pirmojo tranzistoriaus kolektoriaus srovė yra antrojo bazės srove, o
antrojo tranzistoriaus kolektoriaus srovė yra pirmojo bazės srove.
Dėl tokio sujungimo prietaiso viduje susikuria teigiamas grįžtama-
sis ryšys.
Jeigu į anodą paduodama teigiama (katodo atžvilgiu) įtampa,
tai sandūros J1 ir J3 bus įjungtos tiesiogine kryptimi, o sandūra J2 -
atbuline, todėl visa šaltinio E įtampa bus sandūroje J2. Tranzisto-
2.1 pav. Dinistoriaus struktūra (a) ir grafinis žymėjimas (b)
26
riaus T1 ir T2 emiterio srovės perdavimo koeficientai tegu turi
reikšmes ∝1 ir ∝2 atitinkamai.
Pagal pakeitimo schemą (2.2b pav.) srovė per dinistorių lygi
abiejų tranzistorių kolektorių srovių ir nuotėkio srovės 𝐼𝑘0 sumai
𝐼 =∝1 𝐼𝑒1 +∝2 𝐼𝑒2 + 𝐼𝑘0 (2.1)
Srovė išorinėje grandinėje lygi 𝐼𝑒1 = 𝐼𝑒2 = 𝐼, todėl, įstačius 𝐼 į
(2.1), galima užrašyti: 𝐼 1 −∝1−∝2 = 𝐼𝑘0. Gauname išorinę srovę 𝐼,
lygią:
𝐼 =𝐼𝑘0
1− ∝1+∝2 (2.2)
2.2 pav. Dinistoriaus dalijimas į sudėtinius tranzistorius (a) ir jo
pakeitimo schema (b)
2.3 pav. Dinistoriaus voltamperinė charakteristika (a) ir jungimo schema (b):
𝑈į𝑗𝑢𝑛 - įjungimo įtampa; 𝑈𝑙𝑖𝑘 - likusios įtampos kritimas; 𝐼𝑎𝑝𝑘 - apkro-
vos srovė; 𝐼𝑖š𝑗𝑢𝑛 - išjungimo srovė; 𝐷1- diodas; 𝐷2-dinistorius; 𝑅𝑎𝑝𝑘 -
apkrovos varža; 𝑅- balastinė varža; 𝐶- kondensatorius; 𝑈𝑣𝑎𝑙𝑑 - valdy-
mo impulsas
27
Kol tenkinama sąlyga ∝1+∝2 ≪ 1, srovė dinistoriuje bus lygi
𝐼𝑘0. Kai ∝1+∝2 > 1, dinistorius įsijungia ir juo teka srovė. Tai ir
yra dinistoriaus įsijungimo sąlyga.
Vienintelis būdas padidinti srovės ∝1 ar ∝2 perdavimo koefi-
cientus yra anodo įtampos padidinimas. Įtampai pasiekus 𝑈 =
𝑈į𝑗𝑢𝑛 , vienas iš tranzistorių pereis į įsotinimo režimą. Šio tranzisto-
riaus kolektoriaus srovė, tekėdama antrojo tranzistoriaus bazės
grandine, atidarys jį, tuo padidindama pirmojo tranzistoriaus bazės
srovę. To pasekoje tranzistorių kolektorių srovės didės, kol abu
tranzistoriai pasieks įsotinimo režimą.
Įsijungus tranzistoriams, dinistorius atsidaro ir srovė 𝐼 bus ribo-
jama tik išorinės grandinės varža. Įtampos kritimas ant atviro dinis-
toriaus mažesnis nei 2V. Dinistoriaus VACh parodyta 2.3a pav., o
įjungimo valdymo impulsu schema 2.3b pav.
Dinistorių galima išjungti, sumažinus jo srovę iki 𝐼𝑖š𝑗𝑢𝑛 arba pa-
keitus anodo įtampos poliškumą. Įvairūs dinistoriaus išjungimo
būdai parodyti 2.4 pav. Pirmoje schemoje nutraukiama srovė dinis-
toriaus grandinėje. Antroje schemoje dinistoriaus įtampos kritimas
sumažinamas iki nulio. Trečioje schemoje dinistoriaus srovė suma-
žinama iki 𝐼𝑖š𝑗𝑢𝑛 , įjungus papildomą rezistorių 𝑅𝑝𝑎𝑝 . Ketvirtoje
schemoje, sujungus raktą 𝑆, dinistoriaus anodui kondensatoriumi 𝐶
pagalba paduodama priešingo poliškumo įtampa.
2.4 pav. Dinistoriaus jungimo schemos: nutraukiama grandinė (a), dinisto-
riaus šuntavimas (b), anodinės srovės sumažinimas (c), priešingo po-
liškumo įtampa (d): 𝑅𝑎𝑝𝑘 - apkrovos varža; 𝑅- papildoma varža; 𝐶-
kondensatorius; 𝑆- jungiklis
28
Tiristoriaus struktūra panaši į dinistoriaus, tik viena iš bazės sri-
čių padaryta valdoma. Jeigu į vieną iš bazių paduotume valdymo
srovę, tai atitinkamo tranzistoriaus perdavimo koeficientas padidės
ir tiristorius įsijungs.
Priklausomai nuo valdančiojo elektrodo (VE), tiristoriai skirs-
tomi į katodinio valdymo ir anodinio valdymo tiristorius. Šių VE
išdėstymas ir sąlyginiai tiristorių žymėjimai parodyti 2.5 pav.
Egzistuoja ir uždaromieji (užrakinamieji) tiristoriai, pasižymin-
tys tuo, kad, pajungus įtampą prie valdantįjį tiristoriaus elektrodą,
tiristorius užsidaro. Tokių tiristorių panaudojimas ribotas dėl to,
kad valdančiojo elektrodo srovė išjungimo metu artima pagrindinei
komutuojamai srovei.
Tiristoriaus jungimo schema ir voltamperinė charakteristika pa-
rodyta 2.6 pav. Skirtingai nuo dinistoriaus, tiristoriaus įsijungimo
įtampa keičiama reguliuojant valdančiojo elektrodo srovę. Didėjant
valdymo srovei, mažėja įsijungimo įtampa.
2.5 pav. Tiristorių su katodiniu (a) ir anodiniu (b) valdymu struktūra
ir grafiniai žymėjimai
2.6 pav. Tiristoriaus voltamperinė charakteristika (a) ir jungimo schema (b)
29
Tokiu būdu, tiristorius tolygus dinistoriui su valdoma įsijungi-
mo įtampa.
Po įsijungimo valdantysis elektrodas praranda valdymo savy-
bes, todėl juo išjungti tiristorių nebegalima. Tiristoriaus išjungimo
būdai tokie pat, kaip ir dinistoriaus.
Pagrindiniai statiniai dinistorių ir tiristorių parametrai:
leistina atbulinė įtampa 𝑈𝑎𝑡𝑏 ;
įtampos kritimas įjungtame prietaise 𝑈𝑘𝑟 , esant užduotai tie-
sioginei srovei;
leistina tiesioginė srovė 𝐼𝑡𝑠𝑔 .
Dinistoriai ir tiristoriai naudojami kaip elektroniniai raktai tiek
nuolatinių, tiek kintamų srovių elektrinių grandinių perjungimo
schemose.
Simistorius - tai simetrinis tiristorius, skirtas kintamosios srovės
grandinių komutavimui. Jis gali būti panaudojamas ir reversinių
lygintuvų sukūrimui ar kintamos srovės reguliatoriams. Simetrinio
tiristoriaus struktūra parodyta 2.7a pav., o jo grafinis žymėjimas -
2.7b pav. Puslaidininkinė simistoriaus struktūra turi penkis sluoks-
nius puslaidininkių su skirtingais laidumo tipais ir yra žymiai sudė-
tingesnė nei tiristoriaus. Simistoriaus VACh parodyta 2.7c pav.
Kaip matyti iš simistoriaus VACh, prietaisas įsijungia bet kuria
kryptimi, paduodant į valdantįjį elektrodą teigiamą valdymo im-
pulsą. Reikalavimai simistoriaus valdymo impulsui tokie pat kaip ir
tiristoriaus. Pagrindinės simistoriaus charakteristikos tokios pat
2.7 pav. Simistoriaus struktūra (a) ir grafinis žymėjimas
(b) ir voltamperinė charakteristika (c)
30
kaip ir tiristoriaus. Simistorių galima pakeisti dviem priešpriešiais -
lygiagrečiai sujungtais tiristoriais su bendru valdymo elektrodu.
Reguliuojami lygintuvai. Dėka galimybės valdyti įjungimo mo-
mentą, tiristoriai naudojami valdomų lygintuvų schemose.
Paprasčiausia reguliuojamo lygintuvo schema su vienu tiristo-
riumi parodyta 2.8a pav.
Tiristoriaus įjungimui būtina įvykdyti dvi sąlygas: tiristoriaus
anodo įtampa turi būti teigiama ir valdančiajam elektrodui turi būti
paduota teigiama įtampa, sukurianti atidarymo srovę. Pirmoji sąly-
ga taikoma įėjimo įtampos teigiamoms pusbangėms 𝑈įė (2.8b pav.), o
antros sąlygos įvykdymui tiristoriaus valdančiajam elektrodui pa-
duodamas valdantysis impulsas 𝑈𝑣𝑎𝑙 (2.8c pav.). Įjungus tiristorių,
valdantysis elektrodas praranda valdymo savybes, todėl tiristorius
išsijungs, kai momentinė anodo įtampa sumažės iki nulio.
Impulsų forma apkrovoje 𝑅𝑎𝑝𝑘 (be filtro) parodyta 2.8d pav. Ti-
ristoriaus įjungimo momentą galima keisti įėjimo įtampos teigiamo
pusperiodžio ribose, t.y. 0 <∝< 𝜋, kur ∝ - valdančiojo impulso
kampinis postūmis teigiamo pusperiodžio pradžios atžvilgiu, vadi-
2.8 pav. Reguliuojamo tiristorinio lygintuvo schema (a) ir įtampos diagrama
įėjime (b), valdymo elektrode (c) bei išėjime (d).
31
namas įjungimo kampu. Tokiu būdu, tiristoriaus įjungtos būsenos
trukmės išraiška yra:
𝑡į𝑗𝑢𝑛 =
𝑇
2 1 −
∝
𝜋 , (2.3)
kur T - įėjimo įtampos 𝑈įė virpesių periodas.
Tada vidutinė išlyginta įtampa 𝑈𝑎𝑝𝑘 .𝑣𝑖𝑑 apkrovoje lygi:
𝑈𝑎𝑝𝑘 .𝑣𝑖𝑑 =
1
2𝜋 𝑈įė
𝜋
𝛼𝑑 𝜔𝑡 =
𝑈𝑚
2𝜋 1 + 𝑐𝑜𝑠𝛼 . (2.4)
Jei tiristorius įsijungia, esant ∝= 0, tai vidutinė išlyginta įtampa
𝑈𝑎𝑝𝑘 .𝑣𝑖𝑑 apkrovoje bus maksimali, o jeigu ∝= 𝜋, tai įtampa
𝑈𝑎𝑝𝑘 .𝑣𝑖𝑑 = 0. Toks tiristoriaus valdymo būdas vadinamas faziniu.
3. LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS
Laboratorinį stendą sudaro:
bazinis laboratorinis stendas;
laboratorinis modulis Lab2A tyrimui charakteristikų tiristo-
riaus KU112A ir valdomo lygintuvo, sukurto jo pagrindu.
4. DARBO UŽDUOTIS
Redaktoriumi MS Word paruoškite ataskaitos šabloną.
Pastatykite laboratorinį modulį Lab2A ant laboratorinės stoties
NI ELVIS II maketinės plokštės. Modulio išorinis vaizdas parody-
tas 2.9 pav.
Tiristoriaus ir valdomo lygintuvo charakteristikų tyrinėjimui
naudojama schema pavaizduota 2.10 pav.
2.9 pav. Tiristoriaus charakteristikų tyrimo modulio Lab2A išorinis vaizdas
32
Įkraukite ir paleiskite programą Lab-2.vi.
Susipažinę su darbo tikslu nuspauskite mygtuką „Pradėti
darbą“. Ekrane pasirodys 1 užduoties Virtualaus Prietaiso (VP)
vaizdas (2.11 pav.).
1 užduotis. Tiristoriaus VACh tyrimas
4.1.1. Nustatykite slankiojančio reguliatoriaus, esančio VP prieki-
niame valdymo lange, maitinimo šaltinio įtampą valdančio elektro-
do grandinėje 𝐸𝑣𝑎𝑙 apie 0,5V. Nuspauskite valdymo lange VP myg-
tuką „Matavimas“. Grafiniame VP indikatoriuje pasirodys tiristo-
2.11 pav. 1 užduoties VP vaizdas
2.10 pav. Elektrinė jungimo schema, tiristoriaus VACh tyrimui
33
riaus anodinės srovės 𝐼𝑎 priklausomybės nuo anodo įtampos 𝑈𝑎
grafikas. Raudonos spalvos linijos rodo anodinės įtampos 𝑈𝑎 nuo
0V iki 10V monotoninio didėjimo režimą, o mėlynos spalvos linijos
- anodinės įtampos nuo 10V iki 0V monotoninio mažėjimo režimą,
esant pastoviai valdymo įtampai 𝐸𝑣𝑎𝑙 . Punktyrinių linijų atkarpos
atitinka šiuo VP nematuojamus VACh trūkius tiristoriaus
perjungimo momentais.
4.1.2. Palaipsniui mažindami valdančiojo elektrodo įtampą, kas-
kart nuspausdami mygtuką „Matavimas“ VACh sudarymui, nusta-
tykite ir užrašykite ataskaitoje mažiausią šaltinio 𝐸𝑣𝑎𝑙 .𝑚𝑖𝑛 valdymo
įtampą, prie kurios šio eksperimento sąlygomis įsijungia tiristorius.
Orientuodamiesi pagal skaitmeninių indikatorių priekiniame VP
valdymo lange parodymus, nustatykite ir užrašykite ataskaitoje
valdymo srovės 𝐼𝑣𝑎𝑙 matavimo rezultatus ir valdančiojo elektrodo
įtampas 𝑈𝑣𝑎𝑙 , atitinkančias duotą tiristoriaus darbo režimą.
Nukopijuokite grafiniame indikatoriuje gautą vaizdą į ataskai-
tos puslapį.
4.1.3. Nustatykite anodinės srovės 𝐼𝑎 ir anodo įtampos 𝑈𝑎 dydžius
tiristoriaus įjungimo momentu. Tam tikslui, slankiojančio reguliato-
riaus pagalba valdydami rodyklę VACh grafike, pastatykite ją nuo-
2.12 pav. 2 užduoties VP vaizdas
34
laidžioje kylančios VACh atkarpos dalyje prie įjungimo taško. Už-
rašykite ataskaitoje ampermetro 𝐼𝑎 .į𝑗𝑢𝑛 ir voltmetro 𝑈𝑎 .į𝑗𝑢𝑛 parody-
mus.
4.1.4. Nustatykite likutinę įtampą tiristoriuje. Tam tikslui slankio-
jančiu reguliatoriumi 𝐸𝑎 pastatykite rodyklę stačioje VACh atkar-
pos taške, atitinkančiame anodinei srovei 𝐼𝑎 = 10mA. Užrašykite
ataskaitoje voltmetro 𝑈𝑎 parodymus, atitinkančius likutinę įtampą
𝑈𝑎 .𝑙𝑖𝑘 .
4.1.5. Nustatykite tiristoriaus išjungimo srovę ir įtampą. Tam tiks-
lui slankiojančiu reguliatoriumi 𝐸𝑎 nustatykite rodyklę stačioje krin-
tančios VACh atkarpos dalyje prie išjungimo taško. Į ataskaitą įra-
šykite ampermetro 𝐼𝑎 parodymus, atitinkančius išjungimo srovę
𝐼𝑎 .𝑖š𝑗𝑢𝑛 , ir voltmetro 𝑈𝑎 parodymus, atitinkančius išjungimo įtampą
𝑈𝑎 .𝑖š𝑗𝑢𝑛 .
4.1.6. Palaipsniui didindami valdančiojo elektrodo įtampą ir,
spausdami mygtuką „Matavimas“ VACh sudarymui, nustatykite ir
užrašykite ataskaitoje įtampą valdymo šaltinio 𝐸𝑣𝑎𝑙 .𝑚𝑎𝑥 išėjime,
pradedant kuria tiristoriaus VACh nebelieka nuolaidžios atkarpos.
Taip pat nustatykite ir užrašykite ataskaitoje atitinkančius šį režimą
valdymo srovę 𝐼𝑣𝑎𝑙 ir valdančio elektrodo įtampą 𝑈𝑣𝑎𝑙 .
4.1.7. Nuspauskite priekiniame VP valdymo lange mygtuką „Per-
eiti prie 2 užduoties“, ekrane pasirodys 2 užduoties VP valdymo
langas (2.12 pav.).
2 užduotis. Tiristoriaus statinių charakteristikų šeimos gavymas
4.2.1. Skaitmeniniais valdymo elementais, esančiais priekiniame
VP valdymo lange pagalba, valdymo šaltinio išėjime nustatykite
gautas užduotyje 1 mažiausią 𝐸𝑣𝑎𝑙 .𝑚𝑖𝑛 ir didžiausią 𝐸𝑣𝑎𝑙 .𝑚𝑎𝑥 įtam-
pos reikšmes. Nuspauskite mygtuką „Matavimas“. Grafiniame VP
indikatoriuje pasirodys tiristoriaus statinių charakteristikų šeimos
vaizdas, kurį sudaro anodinės srovės priklausomybė nuo anodo
įtampos, esant fiksuotiems valdančiojo elektrodo srovės dydžiams
𝐼𝑣𝑎𝑙 . Nustatyti dydžiai 𝐼𝑣𝑎𝑙 parodomi grafike lentelės pavidalu.
4.2.2. Nukopijuokite statinių charakteristikų šeimos vaizdą iš gra-
finio indikatoriaus į ataskaitos puslapį. MS Word priemonėmis
35
kiekvienoje kreivėje pažymėkite atitinkamas valdymo srovės
reikšmes 𝐼𝑣𝑎𝑙 .
4.2.3. Kiekvienai gautai charakteristikai tiristoriaus įjungimo mo-
mentu nustatykite anodo srovę 𝐼𝑎 .į𝑗𝑢𝑛 ir įtampą 𝑈𝑎 .į𝑗𝑢𝑛 . Tam tikslui
panaudokite horizontalią ir vertikalią vizirio linijas, perkeliamas
atitinkamais slankiojančiais reguliatoriais „Y“ ir „X“. Gautus rezul-
tatus užrašykite ataskaitoje.
4.2.4. Nuspauskite priekiniame valdymo lange VP mygtuką „Per-
eiti prie 3 užduoties“, ekrane pasirodys 3 užduoties VP valdymo
langas (2.13 pav.).
3 užduotis. Valdomo vieno pusperiodžio lygintuvo tyrimas
4.3.1. Šios užduoties įvykdymui naudojamas harmoninis įėjimo
signalas. Valdymo elementais nustatykite įėjimo signalo paramet-
rus: dažnis maždaug 200Hz, amplitudė apie 9V. Valdymo schemos
slankiojančiu reguliatoriumi, nustatykite valdymo impulsų sulai-
kymą įėjimo signalo atžvilgiu, atitinkantį tiristoriaus įjungimo
kampą, lygų apie 90 laipsnių. Viršutiniame grafiniame indikatoriuje
galima matyti įėjimo signalo vaizdus (mėlyna spalva) ir valdymo
impulsų (raudona spalva), apatiniame - išėjimo įtampą prie apkro-
2.13 pav. 3 užduoties VP vaizdas
36
vos 𝑈𝑎𝑝𝑘 (mėlyna spalva) ir vidutinį tos įtampos lygį 𝑈𝑣𝑎𝑙 .𝑣𝑖𝑑 (rau-
dona spalva).
Nukopijuokite abiejų grafinių indikatorių parodymus į
ataskaitą.
4.3.2. Nustatykite tiristoriaus įjungimo kampo (∝𝑚𝑖𝑛 , ∝𝑚𝑎𝑥 ) kitimo
diapazoną, kai vidutinis apkrovimo įtampos dydis keičiamas nuo
maksimalaus iki minimalaus dydžio. Tam tikslui, slankiojančiu re-
guliatoriumi valdymo schemoje, tolygiai keiskite įjungimo kampą
nuo 0 iki 180 laipsnių, kontroliuodami apkrovos įtampos formą in-
dikatoriumi, o vidutinį įtampos dydį - pagal skaitmeninį indikato-
rių 𝑈𝑣𝑎𝑙 .𝑣𝑖𝑑 . Gautus įjungimo kampo ir vidutinius apkrovos įtampos
dydžius įrašykite į ataskaitą.
4.3.3. Nustatykite valdymo schemos reguliatoriumi paskutiniame
punkte gautą įjungimo kampą ∝𝑚𝑖𝑛 , prie kurio tiristorius visiškai
atidarytas esant teigiamoms įėjimo įtampos pusbangėms. Grafinio
indikatoriaus „Y“ vizyrinės linijos pagalba nustatykite momenti-
nius apkrovos įtampos dydžius, atitinkančius tiristoriaus įjungimo
𝑈𝑎𝑝𝑘 .į𝑗𝑢𝑛 ir išjungimo 𝑈𝑎𝑝𝑘 .𝑖š𝑗𝑢𝑛 momentus ir didžiausią momentinę
įtampą, esant apkrovai 𝑈𝑎𝑝𝑘 .𝑚𝑎𝑥 . Gautus duomenis surašykite į ata-
skaitą.
4.3.4. Palyginkite įtampą 𝑈𝑎𝑝𝑘 .į𝑗𝑢𝑛 su įtampa 𝑈𝑎 .į𝑗𝑢𝑛 , gauta 4.1.3 p.,
o įtampą 𝑈𝑎𝑝𝑘 .𝑖š𝑗𝑢 𝑛 su įtampa 𝑈𝑎 .𝑖š𝑗𝑢𝑛 , gauta 4.1.5 p.
4.3.5. Išskaičiuokite skirtumą tarp įėjimo signalo amplitudės ir di-
džiausios momentinės įtampos prie apkrovos ∆𝑈 = 𝑈įė.𝑚 −
𝑈𝑎𝑝𝑘 .𝑚𝑎𝑥 . Palyginkite įtampą ∆𝑈 su įtampa 𝑈𝑎 .𝑙𝑖𝑘 , gauta 4.1.4 p.
4.3.6. Išjunkite VP, paspausdami priekiniame valdymo lange
mygtuką „Darbo pabaiga“.
5. KONTROLINIAI KLAUSIMAI
Kokie puslaidininkiniai prietaisai vadinami tiristoriais?
Pavaizduokite dinistoriaus struktūrą.
Nupieškite tranzistorinę dinistoriaus pakeitimo schemą.
Kokia dinistoriaus įjungimo sąlyga?
Kokiais būdais galima išjungti dinistorių?
37
Kuo skiriasi tiristoriaus ir dinistoriaus konstrukcijos?
Kokios yra tiristorių rūšys?
Kokios tiristoriaus VACh ypatybės, lyginant su dinistoriu-
mi?
Ar skiriasi tiristorių ir dinistorių įjungimo būdai?
Kokios simistoriaus konstrukcijos ir veikimo principo ypaty-
bės?
Kaip atrodo simistoriaus VACh?
Koks valdomo lygintuvo darbo principas?
Kokiu tikslumu nustatyti tiristoriaus parametrai? Nuo ko ga-
li priklausyti gautų rezultatų kokybė?
LABORATORINIS MODULIS Nr. 3
TUNELINIO DIODO VOLTAMPERINĖS CHARAKTERISTI-
KOS TYRIMAS
1. DARBO TIKSLAS
tunelinio diodo voltamperinės charakteristikos (VACh) ga-
vimas;
tunelinio diodo VACh matematinio modelio sudarymas;
tunelinio diodo elektrinių parametrų nustatymas.
2. TEORINĖ DALIS
tunelinio diodo [1] sandara ir darbo ypatybės;
tunelinio diodo [1] VACh rūšys;
daugianarių regresinių modelių sukūrimo metodai *11];
regresinių modelių kokybės tikrinimo metodai.
Tunelinis diodas (TD) - tai p-n sandūra, tarp labai stipriai prie-
maišomis legiruotų p ir n sričių. Didelė priemaišų koncentracija su-
teikia tuneliniam diodui ypatingų savybių, pasireiškiančių neigia-
mos varžos atkarpa tunelinio diodo VACh. Ši atkarpa gerai matoma
(nuo taško 1 iki taško 2) tipinėje TD VACh, pavaizduotoje 3.1 pav.
38
TD savybių apibūdinimui naudojama eilė nuolatinės srovės
charakteristikų. Svarbiausios jų yra: viršūnės įtampa (𝑈𝑣), viršūnės
srovė (𝐼𝑣), įdubos įtampa (𝑈į), įdubos srovė (𝐼į), parametras
𝐵 = 𝐼𝑣 𝐼į (viršūnės srovės santykis su įdubos srove) ir įtampa,
prie kurios srovė standartinėje charakteristikos atkarpoje sutampa
su viršūnės srove (𝑈𝑓 ).
Šios charakteristikos priklauso nuo medžiagos, iš kurios paga-
mintas diodas (3.1 lentelė).
3.1 lentelė
Tunelinių diodų tipinės charakteristikos
Medžiaga 𝑰𝒗, 𝐦𝐀 𝑰į , 𝐦𝐀 𝑼𝒗 , 𝐦𝐕 𝑼į , 𝐦𝐕 𝑼𝒇 , 𝐦𝐕 𝑩
Ge 1-30 0,1-5 50-100 270-380 450-550 5-8
GaAs 1-50 0,2-5 100-200 450-600 1000-1100 5-15
GaSb 1-50 0,06-5 30-80 220-350 550-650 5-10
VACh gavimui naudojama elektrinė TD jungimo schema, pa-
rodyta 3.2 pav. Įtampa, tiesiškai kintanti maždaug nuo −0,15V iki
+1,4V, paduodama iš VP išėjimo į tyrinėjamą schemą, tuo pačiu VP
matuojamas įtampos kritimas matuojamoje varžoje ir TD p-n san-
dūroje. Toliau gauti duomenys pateikiami grafiniam VP indikato-
riui ir apdorojami.
Įtampos 𝑈𝑅 kritimas matuojamoje varžoje 𝑅 tiesiogiai propor-
cingas srovei per TD, todėl, atidėdami grafinio indikatoriaus verti-
kalėje įtampą 𝑈𝑅 𝑅 , o horizontalėje - įtampą 𝑈𝑅 , ekrane matome
3.1 pav. Tunelinio diodo voltamperinė charakteristika (VACh)
39
VACh vaizdą. Darbe naudojamas VP turi jautrumo charakteristi-
kos apie 0,003mV slenkstį, todėl būtina pasirinkti tokią 𝑅 varžą, kad
tekant viršūnės srovei, įtampos kritimas ant jos būtų apie 1mV. La-
boratoriniame stende sumontuotas GaAs TD, kurio viršūnės srovė
yra tarp 1mA ir 10mA, todėl 𝑅 parinkta lygi 1Ω.
Elektrinių TD nuolatinės srovės charakteristikų apskaičiavimui
galima panaudoti matematinį VACh modelį, o taip pat grafinį arba
lentelinį VACh pateikimą.
Matematinio santykio tarp srovės ir įtampos nustatymui stačia-
kampėje koordinačių sistemoje reikia gauti duomenų
𝑥1 , 𝑦1 , 𝑥2 , 𝑦2 , … , 𝑥𝑛 , 𝑦𝑛 rinkinį. Tokio komplekto gavimui labo-
ratoriniame darbe naudojamas LabView VP. Sujungus gautus taškus
kreive, galima akivaizdžiai pamatyti VACh. Esminis dalykas yra
tokios kreivės gavimas, kuri geriausiai atitiktų gautus duomenis.
Kadangi eksperimento metu galima laisvai keisti įtampą 𝑈𝐷 , tai ji
bus nepriklausomas kintamasis (𝑥). Atitinkamai srovė 𝐼𝐷 tampa
priklausomu kintamuoju (𝑦). Matematinės priklausomybės sura-
dimas plačiam užduočių ratui ir tiksliausios eksperimentą atitin-
kančios kreivės, suvedamo į daugianario 𝑘 laipsnio suradimą:
𝑦 = 𝑏 0 + 𝑏 1 𝑥 + 𝑏 2 𝑥2 + ⋯ + 𝑏 𝑘 𝑥𝑘 , (3.1)
kur 𝑏 𝑗 pastovūs koeficientai.
Pritaikant nagrinėjamai užduočiai, šią lygtį vadina daugianare
(polinomine) regresija, o koeficientus 𝑏 𝑗 - regresijos koeficientais.
Regresijos koeficientų nustatymui laboratoriniame darbe nau-
dojama speciali procedūra, vykdoma LabView aplinkoje. Skaičiavi-
3.2 pav. Tunelinio diodo jungimo su VP schema
40
mai pradedami pačios paprasčiausios struktūros modeliui, ir, eks-
perimentatoriaus nuomone, gali suderinti priklausomos kintamo-
sios 𝑦 𝑖 , išmatuotos eksperimento metu, reikšmes su išskaičiuoto-
mis pagal regresijos lygtį 𝑖 . Modelio kokybės įvertinimui naudo-
jama speciali statistinė procedūra, vadinama modelio adekvatumo pa-
tikrinimu. Modelis adekvatus, jeigu dispersijos įvertinimas regresijos
𝑆𝑆 𝑙𝑖𝑘 atžvilgiu ir nepriklausomas nuo jos dispersijos įvertinimas
atsitiktinių trikdžių 𝑆𝑆 𝑎 , darančių poveikį matavimo rezultatams,
statistiškai neatskiriami vienas nuo kito. Reikšmės 𝑆𝑆 𝑙𝑖𝑘 įvertini-
mas vykdomas sudarant regresinį modelį pagal formulę:
𝑆𝑆 𝑙𝑖𝑘 = 𝑦 𝑖 − 𝑖
2𝑁𝑖=1
𝜈(𝑙𝑖𝑘 ), (3.2)
kur 𝑁 – bendras stebėjimų skaičius;
𝜈 𝑙𝑖𝑘 = 𝑁 − 𝑘 − 1 - likutinės kvadratų sumos laisvės laipsnių skai-
čius;
𝑦 𝑖 - 𝑖-o stebėjimo rezultatas;
𝑖 - atgarsio reikšmė, paskaičiuota pagal regresijos formulę. Reikšmės 𝑆𝑆 𝑎 vertinimas vykdomas pagal specialios nepri-
klausomų stebėjimų serijos rezultatus pagal formulę:
𝑆𝑆 𝑎 = 𝑦 𝑀 −𝑦 𝑗
2𝑛𝑗 =1
𝑛−1, (3.3)
kur 𝑦 𝑗 - 𝑗-o stebėjimo rezultatas;
𝑦 𝑀 =1
𝑁 𝑦(𝑗)𝑛
𝑗=1 - vidutinė stebėjimo rezultatų reikšmė;
𝑛 - bendras nepriklausomų stebėjimų skaičius. Ši stebėjimų serija vykdoma nekeičiant sąlygų ir esant fiksuotai
nepriklausomos kintamosios 𝑥 reikšmei, todėl matavimo rezultatus
𝑦 𝑗 veikia tik atsitiktiniai trikdžiai. Atliekant nepriklausomų stebė-
jimų seriją, bandymų skaičių 𝑛 ir kintamosios 𝑥 reikšmę parenka
eksperimentatorius. Jeigu dydžio 𝑦 𝑗 pasiskirstymo dėsnis numa-
tomas normalus, tai užtenka dažniausiai 10 - 15 bandymų.
41
Iš tikrųjų, adekvatumo patikrinimo procedūra apima dispersi-
nio santykio 𝐹 = 𝑆𝑆 𝑙𝑖𝑘 𝑆𝑆 𝑎 skaičiavimą ir gauto rezultato pa-
lyginimą su 𝐹𝑡 reikšme Fišerio paskirstymo funkcijos lentelėje.
Dydis 𝐹 turi Fišerio paskirstymą su 𝜈 𝑙𝑖𝑘 = 𝑁 − 𝑘 − 1 ir
𝜈 𝑎 = 𝑛 − 1 laisvės laipsniais. Užduoto lygio reikšmingumo 𝛼 iš
Fišerio paskirstymo lentelės su 𝜈 𝑙𝑖𝑘 ir 𝜈 𝑎 laisvės laipsniais ran-
damas dydis 𝐹𝑡 = 𝐹 𝛼, 𝜈 𝑙𝑖𝑘 , 𝜈 𝑎 . Jeigu 𝐹 < 𝐹𝑡 , tai hipotezė apie
statistinę lygybę 𝑆𝑆 𝑙𝑖𝑘 ir 𝑆𝑆 𝑎 neatmetama ir modelis pripažįs-
tamas adekvačiu. Jeigu 𝐹 ≥ 𝐹𝑡 modelis laikomas neadvekačiu.
Ši procedūra gali būti atlikta, jeigu 𝑆𝑆 𝑙𝑖𝑘 > 𝑆𝑆 𝑎 , priešingu
atveju išskaičiuojamas atbulinis dispersinis santykis :
𝐹 = 𝑆𝑆 𝑎 𝑆𝑆 𝑙𝑖𝑘 , (3.4)
o 𝐹𝑡 suradimui naudojama Fišerio paskirstymo lentelė su 𝜈 𝑙𝑖𝑘 =
𝑁 − 𝑘 − 1 ir 𝜈 𝑎 = 𝑛 − 1 laisvės laipsniais. Tokiu atveju išvados pa-
daromos, analogiškos ankstesnėms.
Paprastai, technikoje eksperimentinių tyrinėjimų reikšmingumo
lygis 𝛼 priimamas lygus 0,05.
Jeigu pirmasis pasirinktas modelis pasirodytų neadekvatus,
modelio struktūra daroma sudėtingesnė, daugianario laipsnį padi-
dinant vienetu. Duomenys iš naujo apdorojami, gaunami nauji re-
gresijos koeficientų vertinimai ir vėl tikrinama hipotezė apie adek-
vatumą. Ši procedūra kartojama iki tol, kol nebus gautas patenki-
namas suderinamumas tarp eksperimento duomenų ir skaičiavimo
pagal modelį rezultatų.
Vietinių ekstremumų (taškai 1 ir 2, 3.1 pav.) koordinačių gavi-
mui adekvatus modelis analizuojamas standartiniais matematiniais
metodais.
Reikšmė 𝑈 3 randama iš lygties:
𝐼 1 − 𝑏 0 − 𝑏 1 𝑈 − … − 𝑏 𝑘 𝑈𝑘 = 0, (3.5)
42
kuri duotame dydžio 𝑈 kitimo diapazone turi 2 tikrąsias šaknis
(taškai 1 ir 3, 3.1 pav.). Šias operacijas patogu atlikti kompiuteriu,
pasinaudojant vienu iš standartinių paketų duomenų matemati-
niam apdorojimui.
3. LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS
Laboratorinį stendą sudaro:
bazinis laboratorinis stendas;
laboratorinis modulis Lab3A, skirtas tunelinio diodo AI101
tipo VACh tyrimui.
4. DARBO UŽDUOTIS
Redaktoriumi MS Word paruoškite ataskaitos šabloną.
Pastatykite laboratorinį modulį Lab3A ant laboratorinės stoties
NI ELVIS II maketinės plokštės. Išorinis modulio vaizdas parody-
tas 3.3 pav.
Tunelinio diodo VACh tyrinėjimui naudojama schema, parody-
ta 3.4 pav.
Įkraukite ir paleiskite programą Lab-3.vi.
Susipažinę su darbo tikslu nuspauskite mygtuką „Pradėti
darbą“. Ekrane pasirodys 1 užduoties Virtualaus Prietaiso (VP)
vaizdas (3.5 pav.).
1 užduotis. Tunelinio diodo VACh stebėjimas
VP leidžia gauti visą eilę priklausomybių tarp TD įtampos ir
srovės per jį. Gautus duomenis VP leidžia įrašyti į individualų nau-
3.3 pav. Modulio Lab3A, skirto tune-
linio diodo charakteristikų
tyrinėjimui, išorinis vaizdas
3.4 pav. Tunelinio diodo elektrinė
jungimo schema charak-
teristikų tyrimui
43
dotojo failą. Kiekvienas studentas gali gauti savo individualų eks-
perimentinių duomenų rinkinį, parinkdami įtampos kitimo diapa-
zoną ir eksperimentinių VACh taškų skaičių.
Paruoškite VP matavimams, tam tikslui nustatydami atitinka-
muose langeliuose VP priekiniame valdymo lange įtampos kitimo
diapazoną ir eksperimentinių taškų skaičių. Pasirinkdami paramet-
rus, atkreipkite dėmesį į tai, kad apatinė nustatomos įtampos riba
neturi būti mažesnė −0,1V, o viršutinė - daugiau +1,4V. Rekomen-
duojamas eksperimentinių taškų skaičius yra tarp 80 ir 120.
4.1.1. Atlikite matavimus, nuspausdami mygtuką „Sudaryti
VACh“. VP ekrane pasirodys eksperimentinių taškų rinkinys.
Nukopijuokite gautą grafiką į ataskaitos puslapį.
Atidžiai išnagrinėkite gautą ekrane vaizdą, kad įsitikintumėte,
jog eksperimentinė medžiaga tinka tolimesniam apdorojimui.
Duomenys turi duoti galimybę išskirti du charakteringus taškus
(3.1 pav.) tunelinio diodo voltamperinėje charakteristikoje. Jeigu
eksperimentiniai duomenys neduoda tokios galimybės, pakartokite
3.5 pav. 1 užduoties VP vaizdas
44
matavimus, pasirinkdami kitą įtampos kitimo sritį ir/arba kitą taš-
kų skaičių.
Jeigu surinkti eksperimentiniai duomenys leidžia gauti tuneli-
nio diodo VACh, panašią į tipinę, išsaugokite duomenis. Tam tiks-
lui priekinio VP valdymo lange įvedimo langelyje nurodykite iš-
saugomo failo pilną pavadinimą ir nuspauskite mygtuką „Išsaugo-
ti“.
4.1.2. Nuspauskite priekiniame VP valdymo lange mygtuką „Per-
eiti prie 2 užduoties“, ekrane pasirodys 2 užduoties VP valdymo
langas (3.6 pav.).
2 užduotis. Tunelinio diodo VACh matematinio modelio sudarymas
Šiame skyriuje atliekamas daugianario regresinio modelio su-
darymas, panaudojant standartinę linijinės regresijos koeficientų
skaičiavimo procedūrą ir gauto modelio kokybės statistinį vertini-
mą.
Priekinio VP valdymo lange nurodykite daugianario laipsnį,
reikalingą modelio sudarymui (tam, kad daugianaris turėtų du vie-
3.6 pav. 2 užduoties VP vaizdas
45
tinius maksimumus, reikia pradėti nuo laipsnio, ne žemesnio kaip
trečias).
Pasirinkite nepriklausomų tyrimų, skirtų triukšmų savybių
įvertinimui, skaičių. Tyrimų skaičius turėtų būti ne mažesnis už 10.
Užfiksuokite įtampą diodo VACh kritimo srityje (nuo 0,2V iki 0,4V).
Užduokite reikšmingumo lygį ir laisvės laipsnių skaičių Fišerio
paskirstymo parametro 𝐹 išskaičiavimui.
4.2.1. Nuspauskite mygtuką „Sukurti modelį“ priekiniame val-
dymo lange. Atitinkamas grafikas pasirodys ekrane ištisinės raudo-
nos linijos pavidalu. „Vizualiai“ įvertinkite eksperimentinių duo-
menų ir gauto VACh matematinio modelio atitikimą. Vaizdą iš gra-
finio VP indikatoriaus nukopijuokite į buferį ir po to patalpinkite į
ataskaitos puslapį. Apskaičiuota ir lentelinė parametro 𝐹 reikšmės
nustatomos ir parodomos VP ekrane automatiškai.
Patikrinkite hipotezę apie gauto modelio adekvatumą. Tam
tikslui palyginkite apskaičiuotą (𝑓) ir lentelinę (𝐹) Fišerio paskirs-
tymo parametro reikšmes, kurios pasirodo atitinkamuose pagrindi-
nio VP valdymo lange langeliuose.
3.7 pav. 3 užduoties VP vaizdas
46
Tuo atveju, jei hipotezė apie adekvatumą nepasitvirtina, dau-
gianario laipsnį padidinkite vienetu ir pakartokite 4.2.1 punktą.
Kartokite šią procedūrą tol, kol nepasieksite reikiamų rezultatų
(kaip taisyklė, modelis adekvatus esant 𝑘 = 5 ÷ 6).
4.2.2. Nuspauskite priekiniame VP valdymo lange mygtuką „Per-
eiti prie 3 užduoties“, ekrane pasirodys 3 užduoties VP valdymo
langas (3.7 pav.).
3 užduotis. Rezultatų išsaugojimas
Pagrindiniame VP valdymo lange parodyti eksperimentinių
duomenų apdorojimo ir matematinės modelio analizės rezultatai.
Įvertinkite savarankiškai arba su dėstytojo pagalba gautus
duomenis. Jei jie patenkinami, išsaugokite darbo rezultatus.
Įveskite originalius failų pavadinimus paskaičiuotų modelio
koeficientų reikšmių ir statistinių parametrų išsaugojimui.
4.3.1. Nuspauskite priekiniame VP valdymo lange mygtuką „Iš-
saugoti“.
3.8 pav. 4 užduoties VP vaizdas
47
4.3.2. Nuspauskite priekiniame VP valdymo lange mygtuką „Per-
eiti prie 4 užduoties“, ekrane pasirodys 4 užduoties VP valdymo
langas (3.8 pav.).
4 užduotis. Tunelinio diodo elektrinių parametrų nustatymas
Elektriniai tunelinio diodo parametrai VP nustatomi automatiš-
kai kaip matematinės modelio analizės rezultatas.
Grafikas parodo eksperimentinę priklausomybę ir matematinį
modelį. Punktyrinės vizyro linijos pažymi charakteringus VACh
taškus, atitinkančius 3.1 pav. Nukopijuokite VACh vaizdą iš grafi-
nio indikatoriaus į keitimo buferį, o po to patalpinkite jį ataskaitos
puslapyje.
Ekrano dešinėje parodomi šie tunelinio diodo elektriniai para-
metrai:
viršūnės įtampa 𝑈𝑣 ;
viršūnės srovė 𝐼𝑣;
įdubos įtampa 𝑈į;
įdubos srovė 𝐼į;
viršūnės/įdubos srovių santykis (𝐼𝑣 𝐼į );
įtampa, kuriai esant antros atšakos srovė lygi viršūnės srovei
𝑈𝑓𝑣 ;
įtampų skirtumas 𝑈𝑓𝑣 -𝑈𝑣 .
Surašykite minėtų parametrų reikšmes į ataskaitą.
Išjunkite VP, nuspausdami mygtuką „Darbo pabaiga“.
5. KONTROLINIAI KLAUSIMAI
Kas yra tunelinis efektas?
Kokios tunelinio diodo struktūros ypatybės, palyginus su
lygintuviniu diodu?
Kuo skiriasi tunelinio ir lygintuvinio diodų voltamperinės
charakteristikos?
Kuri TD VACh atkarpa yra darbinė?
Išvardinkite pagrindinius TD elektrinius parametrus.
Kokius elektroninius prietaisus galima sukurti tunelinio
diodo pagrindu?
48
Kaip teisingai parinkti regresijos parametrus?
Kaip įvertinti gautos VACh kokybę?
Paaiškinkite, kokių pagrindu parenkami TD įjungimo elek-
trinės schemos parametrai?
Kokiu tikslumu darbe nustatyti tunelinio diodo parametrai?
Nuo ko gali priklausyti gautų rezultatų kokybė?
LABORATORINIS MODULIS Nr. 4
DVIPOLIO TRANZISTORIAUS CHARAKTERISTIKŲ TYRI-
MAS
1. DARBO TIKSLAS
nuolatinės srovės tranzistoriaus perdavimo koeficiento ma-
tavimas;
tranzistoriaus įėjimo charakteristikos nustatymas schemoje
su bendru emiteriu;
tranzistoriaus išėjimo charakteristikų šeimos matavimas
schemoje su bendru emiteriu;
tranzistorinio laipsnio su bendru emiteriu darbo taško nusta-
tymas.
2. TEORINĖ DALIS
dvipolio tranzistoriaus sandara ir veikimo principas [1, 2, 3];
pagrindinės dvipolio tranzistoriaus charakteristikos *1, 3];
dvipolio tranzistoriaus įjungimo schemos ir jo darbo režimai
[1, 3];
tranzistoriaus darbo ypatybės mažo signalo režime [1, 3].
Puslaidininkinis prietaisas, turintis tris elektrodus ir dvi tarpu-
savy surištas p-n sandūras, vadinamas dvipoliu tranzistoriumi. Pri-
klausomai nuo p-n įvairių tipų sandūrų nuoseklumo kaitos skiriami
49
p-n-p tranzistoriai ir n-p-n tranzistoriai. Jų sąlyginiai žymėjimai ir
sandara parodyta 4.1 pav.
Dvipoliai tranzistoriai dažniausiai gaminami iš silicio, germa-
nio ar galio arsenido. Pagal gamybos technologiją jie skirstomi į ly-
dytinius, difuzinius ir epitaksinius.
Dvipoliai tranzistoriai dažniausiai naudojami stiprintuvų, ge-
neratorių ir elektrinių signalų keitiklių schemose plačiame dažnių
diapazone (nuo nuolatinės srovės iki dešimties gigahercų) ir nuo
dešimčių milivatų iki šimtų vatų galingumo diapazone. Pagal tai
dvipoliai tranzistoriai skirstomi į grupes pagal dažnį (žemo dažnio -
iki 3MHz; vidutinio dažnio - nuo 3MHz iki 30MHz; aukšto dažnio -
nuo 30MHz iki 300MHz; superaukšto dažnio - virš 300MHz) ir pa-
gal galingumą (mažo galingumo - iki 0,3W; vidutinio galingumo -
nuo 0,3W iki 1,5W; didelio galingumo - daugiau 1,5W).
Lavininiai tranzistoriai yra dvipolių tranzistorių rūšis, skirta
sudaryti galingiems nanosekundiniams impulsams.
Kita dvipolių tranzistorių rūšis yra dviejų emiterių moduliato-
riniai tranzistoriai, kuriuose konstruktyviai sujungtos dvi tranzisto-
rinės struktūros.
Plačiai paplito sudėtiniai dvipoliai tranzistoriai (Darlingtono
tranzistoriai), pasižymintys labai dideliu srovės perdavimo koefi-
cientu.
4.1 pav. p-n-p (a, b) ir n-p-n (c, d) tipų tranzistorių sandara ir jų
sutartiniai žymėjimai
50
Priklausomai nuo įtampos, paduodamos į tranzistoriaus elek-
trodus, poliaus, skiriami šie jo darbo režimai: tiesinis (stiprinimo),
įsotinimo, nukirtimo ir inversinis.
Tiesiname režime prie dvipolio tranzistoriaus emiterio sandū-
ros įtampa prijungiama tiesiogine kryptimi, o kolektoriaus - atbuli-
ne. Įsotinimo režime abi sandūros įtampa prijungiama tiesioginia-
me kryptimi, o nukirtimo režime - abi sandūros įtampa prijungiama
atbuline kryptimi. Ir, pagaliau, inversiniame režime kolektoriaus
sandūros įtampa prijungiama tiesioginiame kryptimi, o emiterio -
atbuline. Be išvardintų režimų galimas dar vienas režimas, avarinis,
tai pramušimo režimas.
Dvipolio tranzistoriaus darbo principas pagrįstas galimybe val-
dyti elektrodų sroves keičiant įtampas, prijungtos prie elektronines
- skylines sandūras. Tiesiname režime, kai sandūra bazė - emiteris
atidaryta dėl prijungtos prie ją įtampos 𝑈𝐵𝐸 , per ją prateka bazės
srovė 𝐼𝐵. Bazės srovės pratekėjimas sukelia krūvių injekciją iš kolek-
toriaus srities į bazės sritį, o kolektoriaus srovė išreiškiama formule:
𝐼𝐾 = 𝛽𝐷𝐶𝐼𝐵 , (4.1)
kur 𝛽𝐷𝐶1 - statinis bazės srovės perdavimo koeficientas.
1 AC – kintamoji srovė (Alternating Current);
DC – pastovioji srovė (Direct Current).
4.2 pav. Dvipolio tranzistoriaus įėjimo (a) ir išėjimo (b) VACh
51
Tiesioginis įtampos kritimas 𝑈𝐵𝐸 emiterio sandūroje susietas su
kolektoriaus srove Eberso - Molo lygtimi:
𝐼𝐾 = 𝐼𝐾𝐵.𝑎 𝑒𝑈𝐵𝐸 𝜑𝑇 − 1 , (4.2)
kur 𝐼𝐾𝐵 .𝑎 - kolektoriaus sandūros atbulinė srovė, o 𝜑𝑇 - temperatū-
rinis potencialas, kuris prie temperatūros 𝑇 = 300K siliciui lygus
maždaug 25mV.
Iš formulės (4.2) matyti, kad, prie emiterio sandūros prijungus
įtampą tiesiogine kryptimi, ir kai 𝑈𝐵𝐸 > 𝜑𝑇 , kolektoriaus srovė, au-
gant įtampai 𝑈𝐵𝐸 , didėja eksponentiniu dėsniu:
𝐼𝐾 ≈ 𝐼𝐾𝐵.𝑎𝑒𝑈𝐵𝐸 𝜑𝑇 , (4.3)
kur 𝑈𝐵𝐸 < 𝜓𝑘 - kontaktinis potencialų skirtumas.
Svarbiausios tranzistoriaus charakteristikos yra jo įėjimo ir iš-
ėjimo voltamperinės charakteristikos. Dvipolio tranzistoriaus tipi-
nės VACh parodytos 4.2 pav.
Be VACh, dar nagrinėjami statinis srovės perdavimo koeficien-
tas, srovės perdavimo koeficientas, diferencialinė įėjimo varža. Šių
charakteristikų reikšmė priklauso nuo tranzistoriaus įjungimo
schemos.
4.3 pav. parodyta dvipolio tranzistoriaus įjungimo schema su n-
p-n tipo laidumu, naudojant bendrą emiterį. Šiai schemai galioja
toks srovių sąryšis:
4.3 pav. Dvipolio tranzistoriaus bendro emiterio įjungimo schema
52
𝐼𝐸 = 𝐼𝐵 + 𝐼𝐾 , (4.4)
kur 𝐼𝐸 , 𝐼𝐵 , 𝐼𝐾 - srovės stiprumas atitinkamai emiterio, bazės ir kolek-
toriaus grandinėse.
Išnagrinėkime pagrindines dvipolio tranzistoriaus charakteris-
tikas.
Statinis srovės perdavimo koeficientas 𝛽𝐷𝐶 išreiškiamas kaip kolek-
toriaus srovės 𝐼𝐾 santykis su bazės srove 𝐼𝐵:
𝛽𝐷𝐶 =𝐼𝐾
𝐼𝐵, (4.5)
Srovės perdavimo koeficientas 𝛽𝐴𝐶 nustatomas kolektoriaus srovės
pokyčio ∆𝐼𝐾 santykiu su jį iššaukusiu bazės srovės pokyčiu ∆𝐼𝐵:
𝛽𝐴𝐶 =∆𝐼𝐾
∆𝐼𝐵, (4.6)
Diferencialinė tranzistoriaus įėjimo varža 𝑟𝑖 schemoje su bendru
emiteriu nustatoma esant fiksuotai kolektoriaus - emiterio įtampai.
Ji surandama kaip bazės - emiterio įtampos pokyčio ir jo iššaukto
bazės srovės pokyčio santykis:
𝑟𝑖 =∆𝑈𝐵𝐸
∆𝐼𝐵=
𝑈𝐵𝐸 2−𝑈𝐵𝐸 1
𝐼𝐵2−𝐼𝐵1, (4.7)
Panaudojant anksčiau gautus tranzistoriaus parametrus, dife-
rencialinę įėjimo varžą 𝑟𝑖 galima paskaičiuoti pagal formulę:
𝑟𝑖 = 𝑟𝐵 + 𝛽𝐴𝐶𝑟𝐸 , (4.8)
kur 𝑟𝐵 - bazės srities tūrinė varža, 𝑟𝐸 - sandūros bazė - emiteris dife-
rencialinė varža, nustatyta pagal lygtį: 𝑟𝐸 = 25 𝐼𝐸 , čia 𝐼𝐸 - nuolati-
nė emiterio srovė miliamperais.
Pirmasis dėmuo lygtyje (4.8) žymiai mažesnis už antrąjį, todėl
jo galima nepaisyti. Tada:
53
𝑟𝑖 ≈ 𝛽𝐴𝐶𝑟𝐸 . (4.9)
Dvipoliai tranzistoriai dažniausiai panaudojami stiprinimo
laipsniuose. 4.4 pav. parodytas tipinis tranzistorinis bendro emiterio
laipsnis. Dvipolio tranzistoriaus darbo režimas tokiuose laipsniuose
apibrėžiamas bazės srovės dydžiu. Kad bazės srovė būtų stabili,
bazė sujungiama su įtampos šaltiniu 𝐸𝐵 per didelę varžą 𝑅𝐵 .
Tranzistorinio laipsnio darbo režimo nustatymui patariama nu-
brėžti apkrovos liniją tranzistoriaus išėjimo charakteristikoje. Šis
metodas leidžia apibūdinti tranzistoriaus veikimą visuose pagrin-
diniuose darbo režimuose: įsotinimo, stiprinimo ir nukirtimo.
Įsotinimo režime bazės srovė nevaldo kolektoriaus srovės. To-
kia situacija susidaro kai 𝛽𝐷𝐶𝐼𝐵 > 𝐼𝐾𝑝 , kur 𝐼𝐾𝑝 - kolektoriaus įsoti-
nimo srovė. Šios srovės stiprį apsprendžia varža 𝑅𝐾 kolektoriaus
grandinėje ir maitinimo šaltinio įtampa 𝐸𝐾 :
𝐼𝐾𝑝 ≈𝐸𝐾
𝑅𝐾. (4.10)
Įsotinimo režimas charakterizuojamas mažu kolektoriaus - emi-
terio įtampos kritimu (apie 0,1V). Tranzistorius įsotinimo režime
dirbs, jeigu per tranzistoriaus bazę tekės srovė, didesnė už bazės
įsotinimo srovę 𝐼𝐵𝑝 :
𝐼𝐵𝑝 =𝐼𝐾𝑝
𝛽𝐷𝐶. (4.11)
4.4 pav. Darbo taško nustatymas parenkant bazės srovę
54
Tam, kad bazės srovė būtų lygi įsotinimo srovei, rezistoriaus
𝑅𝐵 varžą reikia parinkti, lygią
𝑅𝐵 = 𝑅𝐵𝑝 =𝐸𝐵
𝐼𝐵𝑝. (4.12)
Stiprinimo režime kolektoriaus srovė yra mažesnė už įsotinimo
srovę, ir jai apskaičiuoti galima pasinaudoti kolektoriaus apkrovos
linijos lygtimi:
𝐼𝐾 =𝐸𝐾−𝑈𝐾𝐸
𝑅𝐾. (4.13)
Tranzistorinio laipsnio darbo taškas
Tranzistorinio laipsnio darbo taškas statiniame režime nusta-
tomas bazės srove ir kolektoriaus įtampa.
Tranzistoriaus bazės srovė schemoje (4.4 pav.) nustatoma kaip
srovė per bazės varžą grandinėje 𝑅𝐵 :
𝐼𝐵 =𝐸𝐵−𝑈𝐵𝐸
𝑅𝐵. (4.14)
Ji gali būti nustatoma grafiškai kaip tranzistoriaus įėjimo VACh
ir bazės apkrovos linijos susikirtimo taškas (taškas 1 4.5a pav.).
Kolektoriaus srovė grafiškai nustatoma kaip kolektoriaus ap-
krovos linijos ir tranzistoriaus išėjimo charakteristikos susikirtimas
(taškas 1 4.5b pav.).
Kolektoriaus srovę galima apskaičiuoti pagal formulę:
4.5 pav. Tranzistoriaus darbo taško nustatymas pagal įėjimo (a) ir
išėjimo (b) VACh
55
𝐼𝐾 = 𝛽𝐷𝐶𝐼𝐵 . (4.15)
Įtampa kolektorius - emiteris nustatoma iš kolektoriaus apkro-
vos linijos lygtimi:
𝑈𝐾𝐸 = 𝐸𝐾 − 𝐼𝐾𝑅𝐾 . (4.16)
Nukirtimo režime kolektoriaus srovė lygi nuliui ir neiššaukia
rezistoriuje 𝑅𝐾 įtampos kritimo. Vadinasi, įtampa 𝑈𝐾𝐸 maksimali ir
lygi maitinimo šaltinio įtampai 𝐸𝐾 . Šis režimas atitinka tašką 2 4.5b
pav.
Tranzistorinio laipsnio veikimas mažo signalo režime
Tranzistorinio laipsnio darbas mažo signalo režime užtikrina
didžiausią įėjimo signalo sustiprinimą, esant mažiausiems iškrai-
pymams. Šis režimas charakterizuojamas tuo, kad prie bet kokių
įėjimo signalo reikšmių tranzistoriaus darbo taškas neišeina iš tesi-
nės srities.
Tranzistoriniame laipsnyje, dirbančiame mažo signalo režime,
apskaičiuojamos nuolatinės ir kintamosios srovių ir įtampų sudėti-
nės dalys. Nuolatinių sudedamųjų dalių apskaičiavimas apspren-
džia tranzistorinio kaskado darbo tašką (statinis režimas). Kintamų
sudėtinių dalių apskaičiavimas - tai tranzistorinio laipsnio stiprini-
mo savybės darbo taške.
Įtampos stiprinimo koeficientas yra išėjimo ir įėjimo harmoninių
įtampų amplitudžių santykis:
𝐾𝑠 =𝑈𝑖š.𝑚
𝑈įė.𝑚. (4.17)
Įtampos stiprinimo koeficientas schemoje su bendru emiteriu
apytikriai lygus kolektoriaus grandinės varžos 𝑟𝐾 santykis su varža
𝑟𝐸 emiterio grandinėje:
𝐾𝑠 =𝑟𝐾
𝑟𝐸. (4.18)
56
Kur varža 𝑟𝐾 yra lygiagrečiai sujungtų kolektoriaus varžos 𝑅𝐾
ir apkrovos varžos 𝑅𝑎𝑝𝑘 atstojamoji. Apkrovos varža gali būti, pa-
vyzdžiui, kito laipsnio įėjimo varža:
𝑟𝐾 =𝑅𝐾𝑅𝑎𝑝𝑘
𝑅𝐾 +𝑅𝑎𝑝𝑘. (4.19)
Emiterio grandinės varža 𝑟𝐸 - tai bazės - emiterio sandūros dife-
rencialinė varža, lygi 𝑟𝐸 = 25mV 𝐼𝐸 , be to, esant bazės srovei labai
mažai, galima laikyti 𝐼𝐸 ≈ 𝐼𝐾. Jei emiterio grandinėje įjungtas rezis-
torius su varža 𝑅𝐸 , tai stiprinimo koeficientą reikia skaičiuoti pagal
formulę:
𝐾𝑠 =𝑟𝐾
𝑟𝐸+𝑅𝐸. (4.20)
Svarbūs tranzistorinio laipsnio parametrai yra įėjimo ir išėjimo
varžos.
Kintamosios srovės stiprintuvo įėjimo varža nustatoma kaip
harmoninės įėjimo įtampos amplitudės 𝑈įė.𝑚 santykis su įėjimo sro-
vės amplitude 𝐼įė.𝑚 :
𝑟įė =𝑈įė.𝑚
𝐼įė.𝑚. (4.21)
Kintamosios srovės stiprintuvo įėjimo varža skaičiuojama kaip
tranzistoriaus įėjimo varžos 𝑟𝑖 = 𝛽𝐴𝐶𝑟𝐸 ir bazės priešįtampio gran-
dinės rezistorių lygiagretus sujungimas. Schemoje 4.4 pav. naudo-
jamas vienas rezistorius 𝑅𝐵 , todėl laipsnio įėjimo varža lygi:
1
𝑟įė=
1
𝑟𝑖+
1
𝑅𝐵. (4.22)
Schemos diferencialinė išėjimo varža 𝑟𝑖š nustatoma pagal tuščios
eigos įtampą 𝑈𝑡𝑒 .𝑚 stiprintuvo išėjime ir pagal įtampą 𝑈𝑖š.𝑚 , išma-
tuotą ant apkrovos varžos 𝑅𝑎𝑝𝑘 , iš lygties:
57
𝑈𝑖š.𝑚
𝑈𝑡𝑒.𝑚=
𝑅𝑎𝑝𝑘
𝑅𝑎𝑝𝑘 +𝑟𝑖š. (4.23)
Tranzistorinio laipsnio darbo taškas apsprendžia jo darbo savi-
tumą. Didžiausią neiškraipytą kintamosios išėjimo įtampos dydį
gausime, kai statiniame režime nuolatinė kolektoriaus įtampa lygi
pusei kolektoriaus maitinimo šaltinio įtampos 𝑈𝐾 = 𝐸𝐾 2 .
Jei netinkamai parenkami įėjimo signalo amplitudė ir bazės
priešįtampio dydis, pasireiškia iškraipymai: išėjimo įtampa praran-
da harmoninę formą. Iškraipymų pašalinimui reikia pakoreguoti
darbo tašką ar sumažinti įėjimo signalo amplitudę.
3. LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS
Laboratorinio stendo sudėtis:
bazinis laboratorinis stendas;
laboratorinis modulis Lab4A dvipolio tranzistoriaus 2N2222
tipo charakteristikų tyrimas.
4. DARBO UŽDUOTIS
Redaktoriuje MS Word paruoškite ataskaitos šabloną.
Pastatykite laboratorinį modulį Lab4A ant laboratorinės stoties
NI ELVIS II maketinės plokštės. Modulio išorinis vaizdas parody-
tas 4.6 pav.
Dvipolio tranzistoriaus charakteristikų tyrinėjimui naudojama
schema, parodyta 4.7 pav.
Įkraukite ir paleiskite programą Lab-4.vi.
4.6 pav. Modulio Lab4A, skirto dvipolio tranzistoriaus
charakteristikų tyrinėjimui, išorinis vaizdas
58
Susipažinę su darbo tikslu nuspauskite mygtuką „Pradėti
darbą“. Ekrane pasirodys 1 užduoties Virtualaus Prietaiso (VP)
vaizdas (4.8 pav.).
1 užduotis. Dvipolio tranzistoriaus nuolatinės srovės perdavimo
koeficiento nustatymas
4.1.1. Slankiojančiais reguliatoriais priekiniame VP valdymo lange
nustatykite maitinimo šaltinių 𝐸𝑏 ir 𝐸𝑘 įtampas, apytikriai lygias
4.8 pav. 1 užduoties VP vaizdas
4.7 pav. Elektrinė jungimo schema dvipolio
tranzistoriaus charakteristikų tyrimui
59
nurodytoms 4.1 lentelėje, ir išmatuokite VP atitinkamas kolektoriaus
srovės 𝐼𝐾, bazės srovės 𝐼𝐵 ir kolektoriaus - emiterio įtampos reikš-
mes 𝑈𝐾𝐸 .
4.1.2. Pagal formulę (4.5) išskaičiuokite ir įrašykite į 4.1 lentelę
tranzistoriaus stiprinimo statinio koeficiento reikšmes 𝛽𝐷𝐶 . Padary-
kite išvadas apie kolektoriaus - emiterio įtampos 𝑈𝐾𝐸 poveikį tran-
zistoriaus stiprinimo koeficientui.
4.1 lentelė
𝑬𝑩 , V 𝑬𝑲 , 𝐕 𝑰𝑲 , 𝐦𝐀 𝑰𝑩 , 𝛍𝐀 𝑼𝑲𝑬 , 𝐕 𝜷𝑫𝑪
0,7 2
0,8 2
0,9 2
0,7 4
0,8 4
0,9 4
4.1.3. Nuspauskite priekiniame VP valdymo lange mygtuką „Per-
eiti prie 2 užduoties“, ekrane pasirodys 2 užduoties VP valdymo
langas (4.9 pav.).
2 užduotis. Dvipolio tranzistoriaus įėjimo charakteristikos
nustatymas schemoje su bendru emiteriu
4.2.1. Skaitmeniniu valdymo elementu, esančiu priekiniame VP
valdymo lange, nustatykite kolektoriaus 𝐸𝐾 maitinimo šaltinio
įtampą, lygią 3V. Nuspauskite mygtuką „Matavimas“. Grafiniame
VP indikatoriuje pasirodys įėjimo srovės 𝐼𝐵 priklausomybės nuo
įėjimo įtampos 𝑈𝐵𝐸 grafikas.
Nukopijuokite vaizdą iš grafinio indikatoriaus į ataskaitos
puslapį.
4.2.2. Keisdami bazės 𝐸𝐵 šaltinio įtampą slankiojančiu reguliato-
riumi, esančiu VP valdymo lange, nustatykite bazės srovės reikšmę
iš pradžių apie 10µA, o po to apie 40µA. Užrašykite į ataskaitą ba-
zės srovės 𝐼𝐵 ir bazės - emiterio įtampos 𝑈𝐵𝐸 reikšmes šiems įėjimo
charakteristikos taškams.
60
4.2.3. Paskaičiuokite tranzistoriaus diferencialinę įtampos varžą,
keičiant bazinę srovę nuo 10µA iki 40µA, pagal formulę 𝑟įė =
∆𝑈𝐵𝐸 ∆𝐼𝐵 . Gautus rezultatus užrašykite ataskaitoje.
4.2.4. Nuspauskite priekiniame VP valdymo lange mygtuką „Per-
eiti prie 3 užduoties“, ekrane pasirodys 3 užduoties VP valdymo
langas (4.10 pav.).
3 užduotis. Dvipolio tranzistoriaus išėjimo charakteristikų šeimos
nustatymas schemoje su bendru emiteriu
4.3.1. VP valdymo lange nuspauskite mygtuką „Matavimas“.
Grafiniame indikatoriuje pasirodys kolektoriaus srovės 𝐼𝐾
priklausomybės nuo kolektoriaus - emiterio įtampos 𝑈𝐾𝐸 grafikai,
gauti nuosekliai keičiant tranzistoriaus kolektoriaus įtampas nuo 0
iki 10V ir esant fiksuotoms bazės šaltinio įtampoms 𝐸𝐵=0,6V; 0,74V;
0,88V; 1,02V ir 1,16V. Nustatytos bazės srovės 𝐼𝐵 parodomos
grafike.
4.3.2. Nukopijuokite vaizdą iš grafinio indikatoriaus į ataskaitos
puslapį. Kiekvienai kreivei MS Word priemonėmis pažymėkite
atitinkamas bazės srovės reikšmes.
4.9 pav. 2 užduoties VP vaizdas
61
4.3.3. Esant fiksuotai kolektoriaus įtampai 𝑈𝐾𝐸=3V, nustatykite
kolektoriaus srovę 𝐼𝐾, atitinkančią tas bazės srovės reikšmes,
kurioms buvo matuotos išėjimo charakteristikos.
Tam tikslui slankiojančiu reguliatoriumi “X”, esančiu VP
valdymo lange, nustatykite vertikalią vizyro liniją prieš padalą
“3V” horizontalios išėjimo charakteristikų grafiko ašies. Po to,
slankiojančiu reguliatoriumi “Y” perstumdami horizontalią vizyro
liniją, gaukite kolektoriaus srovės reikšmes išėjimo charakteristikų
susikirtimo su vertikaliu vizyru taškuose. Gautus rezultatus užra-
šykite ataskaitoje.
4.3.4. Nustatykite srovės perdavimo koeficientą 𝛽𝐴𝐶 , keičiant
bazės sroves ruože nuo 10µA iki 40µA, pagal formulę 𝛽𝐴𝐶 =∆𝐼𝐾 ∆𝐼𝐵 . Gautą reikšmę įrašykite į ataskaitą.
4.3.5. Parinkite kolektoriaus varžą lygią 𝑅𝐾 = 300Ω, o kolektoriaus
maitinimo šaltinio 𝐸𝐾 = 3V, ir MS Word priemonėmis nubrėžkite
tranzistoriaus išėjimo charakteristikų grafike apkrovos liniją dviems
taškams: taškui 𝐸𝐾 = 3V abscisių ašyje ir taškui 𝐼𝐾 = 𝐸𝐾 𝑅𝐾
ordinačių ašyje.
4.10 pav. 3 užduoties VP vaizdas
62
4.3.6. Pagal išėjimo charakteristikas ir apkrovos liniją įvertinkite
kolektoriaus srovės 𝐼𝐾∗ ir bazės srovės 𝐼𝐵
∗ reikšmes darbiniame taške,
kuriam 𝑈𝐾 = 𝐸𝐾 2 . Gautas reikšmes įrašykite į ataskaitą.
4.3.7. Nuspauskite priekiniame VP valdymo lange mygtuką
„Pereiti prie 4 užduoties“, ekrane pasirodys 4 užduoties VP
valdymo langas (4.11 pav.).
4 užduotis. Tranzistorinio laipsnio su bendru emiteriu darbinio
taško nustatymas
4.4.1. VP valdymo languose nustatykite harmoninės įėjimo
įtampos šaltinio įtampos amplitudę 𝑈įė.𝑚 = 0 ir kolektoriaus šaltinio
įtampos dydį 𝐸𝐾 = 3V. Nuspauskite mygtuką „Matavimas“.
Tranzistoriaus išėjimo charakteristikų grafike pasirodys
apkrovos linijos vaizdas. Palyginkite jį su vaizdu, gautu atliekant
4.3.5 p.
4.4.2. Reguliuodami bazės šaltinio 𝐸𝐵 , nustatykite bazės srovės 𝐼𝐵∗
reikšmę, lygią reikšmei, gautai 4.3.6 p. Išmatuokite ir įrašykite į 4.2
lentelę tranzistorinio stiprintuvo su bendru emiteriu statinio režimo
parametrus.
4.11 pav. 4 užduoties VP vaizdas
63
4.2 lentelė
𝑰𝑩 , 𝛍𝐀 𝑼𝑩𝑬 , 𝐕 𝑰𝑲 , 𝐦𝐀 𝑼𝑲 , 𝐕
4.4.3. Palaipsniui didindami įėjimo įtampos 𝑈įė.𝑚 amplitudę,
gaukite grafiniame VP indikatoriuje didžiausią neiškreiptą išėjimo
signalą. Nukopijuokite išėjimo signalo vaizdą į ataskaitą.
Palyginkite oscilogramas ir padarykite išvadas apie tranzistorinės
laipsnės su bendru emiteriu įėjimo ir išėjimo signalų fazių santykį.
4.4.4. VP pagalba išmatuokite įėjimo 𝑈įė ir išėjimo 𝑈𝑖š įtampų
amplitudžių reikšmes. Tam tikslui, pasinaudodami grafinių
indikatorių vizyrų linijomis, nustatykite pagal įėjimo ir išėjimo
signalų oscilogramas didžiausias ir mažiausias momentines duotų
įtampų reikšmes. Įtampų reikšmių nustatymui panaudokite
skaitmeninius indikatorius, sutapatindami juos su slankiojančiais
VP reguliatoriais. Įtampų amplitudes paskaičiuokite pagal formulę
𝑈𝑚 = 𝑢𝑚𝑎𝑥 − 𝑢𝑚𝑖𝑛 2 . Gautus rezultatus įrašykite į ataskaitą.
4.4.5. Pasinaudodami gautomis įėjimo ir išėjimo signalų
reikšmėmis, pagal formulę (4.17) nustatykite tranzistorinės laipsnės
stiprinimo koeficientą. Rezultatą įrašykite į ataskaitą.
4.4.6. Paskaičiuokite tranzistorinės kaskados stiprinimo
koeficientą pagal formulę (4.18). Rezultatą įrašykite į ataskaitą.
Palyginkite išmatuotą ir paskaičiuotą koeficientus. Paaiškinkite
gautą rezultatą.
4.4.7. Ištirkite, kokį poveikį daro darbo taško padėtis
tranzistorinės laipsnės su bendru emiteriu darbui. Tam tikslui,
reguliuodami bazės šaltinio įtampą 𝐸𝐵 , pakeiskite bazės srovės
reikšmę maždaug 30% nuo dydžio 𝐼𝐵∗ , gauto 4.3.6 skyriuje, iš
pradžių didėjimo, po to mažėjimo kryptimi. Stebėkite išėjimo
signalo iškraipymo pobūdį. Nukopijuokite į ataskaitą vaizdą, gautą
grafiniame VP indikatoriuje abiem atvejais. Paaiškinkite stebimų
išėjimo signalo iškraipymų priežastis.
4.4.8. Išjunkite VP, paspausdami valdymo lange mygtuką „Darbo
pabaiga“.
64
5. KONTROLINIAI KLAUSIMAI
Kokios galimos dvipolio tranzistoriaus jungimo schemos?
Nurodykite faktorius, nusakančius srovės, tekančios per
dvipolio tranzistoriaus kolektorių stiprį.
Ar koeficientas 𝛽𝐷𝐶 priklauso nuo kolektoriaus srovės? Jei
taip, tai ar žymiai? Pagrįskite atsakymą.
Ką pagal išėjimo charakteristikas galima pasakyti apie kolek-
toriaus srovės priklausomybę nuo bazės srovės ir kolekto-
riaus - emiterio įtampos?
Ar priklauso dvipolio tranzistoriaus diferencinė įėjimo varža
nuo emiterio srovės?
Kas apsprendžia dvipolio tranzistoriaus darbo taško padėtį?
Kokiomis sąlygomis dvipolis tranzistorius bus nukirtimo re-
žime?
Kas apsprendžia įtampos tarp kolektoriaus ir emiterio kriti-
mą įsotinimo režime?
Koks fazių skirtumas tarp įėjimo ir išėjimo signalų stiprintu-
vo laipsne su bendru emiteriu?
Kaip nustatomas įtampos stiprinimo koeficientas bendro
emiterio tranzistoriniame laipsne?
Paaiškinkite kaip dirba VP, vykdant laboratorinio darbo už-
duotis.
Kokiu tikslumu laboratoriniame darbe nustatyti dvipolio
tranzistoriaus parametrai? Nuo ko gali priklausyti gautų re-
zultatų kokybė?
LABORATORINIS MODULIS Nr. 5
LAUKO TRANZISTORIAUS CHARAKTERISTIKŲ TYRIMAS
1. DARBO TIKSLAS
lauko tranzistoriaus perdavimo charakteristikos gavimas
schemoje su bendra ištaka;
65
lauko tranzistoriaus kanalo varžos priklausomybės nuo už-
tūros - ištakos įtampos gavimas;
lauko tranzistoriaus išėjimo charakteristikų šeimos gavimas
schemoje su bendra ištaka;
tranzistorinio laipsnio su bendra ištaka darbo tyrimas.
2. TEORINĖ DALIS
lauko tranzistorių sandara ir darbo principas *1, 2, 3];
pagrindinės lauko tranzistorių charakteristikos [1, 3];
lauko tranzistorių įjungimo schemos ir jų darbo režimai [1].
Unipoliniais arba lauko tranzistoriais vadinami puslaidininki-
niai prietaisai, kuriuose srovės valdymas vyksta keičiant kanalo
laidumą elektriniu lauku, statmenu srovės krypčiai. Abu šių tran-
zistorių pavadinimai aiškiai nusako jų pagrindines ypatybes: srovės
tekėjimą kanale sąlygoja tik vienas krūvininkų tipas ir kanalo srovė
valdoma elektriniu lauku.
Kanale įjungti elektrodai vadinami santaka (𝑆) ir ištaka (𝐼), o
valdantysis elektrodas - užtūra (𝑈). Valdymo įtampa, kuri sukuria
kanalo lauką, paduodama tarp užtūros ir ištakos. Priklausomai nuo
užtūros sandaros, unipoliniai tranzistoriai skirstomi į dvi grupes: su
valdoma p-n sandūra ir su izoliuota užtūra.
Lauko tranzistoriaus su izoliuota užtūra (LTIU) sandara parodyta
5.1 pav.
Užtūros elektrodas lauko tranzistoriuje su izoliuota užtūra at-
skirtas nuo puslaidininkinio kanalo dielektriko iš silicio dioksido
5.1 pav. Lauko tranzistoriaus su izoliuota užtūra sandara
66
SiO2 sluoksniu. Tokios struktūros lauko tranzistorius vadinamas
MOP - tranzistorium (Metalas - Oksidas - Puslaidininkis). Santakos
ir ištakos elektrodai išdėstyti abipus užtūros ir kontaktuoja su pus-
laidininkiniu kanalu. Užtūros srovės nuotėkiai nepaisomai maži
netgi esant padidintoms temperatūroms. Puslaidininkinis kanalas
gali būti nuskurdintas arba praturtintas krūvių nešėjais. Esant nu-
skurdintam kanalui, užtūros elektrinis laukas padidina jo laidumą,
todėl kanalas vadinamas indukuotu. Jeigu kanalas praturtintas krū-
vininkais, tai jis vadinamas įterptu. Užtūros elektrinis laukas šiuo
atveju nuskurdina kanalą krūvininkais.
Kanalo laidumas gali būti elektroninis arba skylinis. Jei kanalo
laidumas elektroninis, jis vadinasi n - kanalu. Kanalai su skyliniu
laidumu vadinasi p - kanalais. Taigi, lauko tranzistoriai su izoliuota
užtūra gali būti keturių tipų: su kanalais n - arba p - tipo, kiekvienas
iš kurių gali turėti indukuotą arba įterptą kanalą.
Šių tipų tranzistoriai sąlyginai grafiškai pavaizduoti 5.2 pav.
Grafinis tranzistorių žymėjimas informuoja apie jų sandarą.
Brūkšninė linija reiškia indukuotą kanalą, o ištisinė - įterptą. Pa-
grindas vaizduojamas kaip elektrodas su rodykle, kurios kryptis
rodo kanalo laidumo tipą. Jei tranzistoriaus korpusas pagamintas iš
metalo, tai pagrindas turi su juo elektrinį kontaktą. Elektrinėse
schemose pagrindas paprastai sujungtas su bendru laidu. Užtūra
vaizduojama vertikalia linija, lygiagrečia kanalui. Užtūros išvadas
nukreiptas į ištakos elektrodą.
Lauko tranzistoriaus su valdančia p-n sandūra (LTVS) sandara pa-
rodyta 5.3a pav. Atbulinės įtampos keitimas užtūroje leidžia regu-
5.2 pav. Sąlyginis grafinis lauko tranzistorių su izoliuota užtūra pavaizdavimas
67
liuoti srovę kanale. 5.3a pav. parodytas lauko tranzistorius su p -
tipo kanalu ir n - tipo užtūra. Lauko tranzistorius su valdančia p-n
sandūra sąlyginai grafiškai pavaizduotas 5.3b pav. Atbulinės įtam-
pos didėjimas užtūroje sukelia kanalo laidumo mažėjimą, todėl lau-
ko tranzistoriai su valdančia p-n sandūra dirba tik kanalo nuskur-
dinimo krūvininkais. Įterptas kanalas parodytas šiame paveiksle
ištisine linija, turinčia kontaktus su santakos ir ištakos elektrodais.
Lauko tranzistorių įėjimo varža siekia dešimtis - šimtus MΩ.
Įėjimo srovė labai maža ir praktiškai nepriklauso nuo įtampos 𝑈𝑈𝐼
tarp užtūros ir ištakos, todėl lauko tranzistorių įėjimo charakteristi-
ka, t.y. priklausomybė 𝐼𝑈 nuo 𝑈𝑈𝐼 , esant fiksuotai reikšmei 𝑈𝑆𝐼 ,
praktiškai neturi reikšmės ir skaičiavimuose naudojamos tik perda-
vimo ir išėjimo VACh.
Lauko tranzistorių su n - kanalu tipinės perdavimo charakteristi-
kos parodytos 5.4 pav. Kaip matyti, tranzistorių su n kanalu santakos
srovė yra teigiama, kas atitinka teigiamą santakos įtampą.
LTVS, esant nulinei užtūros įtampai, turi maksimalią srovės
reikšmę, kuri vadinama pradine 𝐼𝑝 . Didėjant uždaromajai įtampai,
5.3 pav. Lauko tranzistoriaus sandara su valdančia p-n sandūra
5.4 pav. Lauko tranzistorių su n kanalu tipinės perdavimo charakteristikos
68
santakos srovė mažėja ir, pasiekus nukirtimo įtampą 𝑈𝑛𝑢𝑘 , priartėja
prie nulio.
Jeigu LTIU su indukuotu kanalu užtūros įtampa lygi nuliui, tai
santakos srovė neteka. Tokiuose tranzistoriuose santakos srovė te-
ka, jei užtūros įtampa didesnė už slenkstinę reikšmę 𝑈𝑠𝑙 . Užtūros
įtampos didėjimas sukelia santakos srovės didėjimą.
LTIU su įterptu kanalu charakteristikos prie nulinės užtūros
įtampos turi pradinę srovės reikšmę 𝐼𝑆.𝑝𝑟 . Tokie tranzistoriai gali
dirbti ir praturtinimo, ir nuskurdinimo režime. Didinant užtūros
įtampą, kanalas praturtinamas, ir santakos srovė auga, o mažėjant
užtūros įtampai, kanalas nuskurdinamas ir santakos srovė mažėja.
Lauko tranzistorių su p - kanalu perdavimo charakteristikos at-
rodo taip pat, tik išsidėsto apatinėje grafiko pusėje ir turi neigiamą
srovės reikšmę ir neigiamą įtampą santakoje.
Tipinės lauko tranzistorių su valdančia p-n sandūra ir n - tipo
kanalu išėjimo charakteristikos parodytos 5.5 pav. Kitų tipų tranzisto-
rių charakteristikos atrodo analogiškai. Šiose VACh galima išskirti
dvi sritis: tiesinė ir įsotinimo. Tiesinėje srityje VACh iki perlinkimo
taško išreiškiamos tiesiomis linijomis, kurių nuolydis priklauso nuo
užtūros įtampos. Įsotinimo srityje VACh praktiškai horizontalios,
kas leidžia daryti išvadą, kad santakos srovė 𝐼𝑆 nepriklauso nuo
santakos įtampos 𝑈𝑆𝐼 . Šių charakteristikų ypatybės apsprendžia
lauko tranzistorių pritaikymo sritis.
5.5 pav. Lauko tranzistoriaus su valdančia p-n sandūra išėjimo charakteristikos
69
Tiesinėje srityje lauko tranzistorius naudojamas kaip varža,
valdoma užtūros įtampa, o įsotinimo srityje - kaip stiprinimo ele-
mentas.
Tiesinė sritis. Tiesinėje srityje lauko tranzistoriaus santakos sro-
vė nustatoma lygtimi:
𝐼𝑆 = 2𝑘 𝑈𝑠𝑙 − 𝑈𝑈𝐼 𝑈𝑆𝐼 −𝑈𝑆𝐼
2
2 , (5.1)
kur 𝑘 - pastovus koeficientas, priklausantis nuo tranzistoriaus kon-
strukcijos, 𝑈𝑠𝑙 - slenkstinė įtampa (arba nukirtimo įtampa), 𝑈𝑈𝐼 -
įtampa tarp užtūros ir ištakos, 𝑈𝑆𝐼 - įtampa tarp santakos ir ištakos.
Pradinėje tiesinės srities atkarpoje, įvertinant mažą santakos
įtampos 𝑈𝑆𝐼 ≈ 0 reikšmę, galima naudotis supaprastinta formule:
𝐼𝑆 ≈ 2𝑘 𝑈𝑠𝑙 − 𝑈𝑈𝐼 𝑈𝑆𝐼 , (5.2)
Formulė (5.2) leidžia nustatyti kanalo varžą tiesinėje srityje:
𝑅𝐾 =𝑈𝑆𝐼
𝐼𝑆=
1
2𝑘 𝑈𝑠𝑙−𝑈𝑈𝐼 . (5.3)
Iš formulės (5.3) seka, kad prie 𝑈𝑈𝐼 = 0 kanalo varža bus mini-
mali 𝑅𝐾.𝑚𝑖𝑛 = 1 2𝑘𝑈𝑠𝑙 . Jeigu užtūros įtampa artėja prie slenkstinės
reikšmės 𝑈𝑈𝐼 → 𝑈𝑠𝑙 , kanalo varža išauga iki begalybės: 𝑅𝐾 → ∞. Ka-
nalo varžos priklausomybės nuo valdančios įtampos užtūroje grafi-
kas parodytas 5.6 pav.
5.6 pav. Lauko tranzistoriaus kanalo varžos priklausomybė nuo įtampos užtūroje
70
Lauko tranzistoriaus pagrindinis pritaikymas tiesinėje srityje
apsprendžiamas jo savybe keisti varžą keičiant užtūros įtampą. Ga-
linguose lauko tranzistoriuose su izoliuota užtūra mažiausia kanalo
varža siekia 0,05 - 2Ω, o įtampą užtūroje nustačius lygią slenkstinei
reikšmei (arba didesnę), tranzistoriaus kanalo varža padidėja iki
šimtų kiloomų. Tokiu būdu, lauko tranzistorių galima panaudoti
kaip raktą, valdomą užtūros įtampa.
Įsotinimo sritis. Įsotinimo srityje lauko tranzistoriaus santakos
srovė nustatoma lygtimi:
𝐼𝑆 = 𝑘 𝑈𝑠𝑙 − 𝑈𝑈𝐼 2 , (5.4)
kuri parodo jos nepriklausomumą nuo santakos įtampos. Praktiškai
tokia priklausomybė egzistuoja, bet dažniausiai ji labai silpnai iš-
reikšta. Iš lygties (5.4) galima rasti pradinę santakos srovę, kai
𝑈𝑈𝐼 = 0:
𝐼𝑆.𝑝𝑟 = 𝑘𝑈𝑠𝑙2 . (5.5)
Iš formulės (5.5) matyti, kad koeficiento 𝑘 reikšmę galima nu-
statyti eksperimento būdu, išmatavus pradinę santakos srovę 𝐼𝑝𝑟 ir
slenkstinę įtampą 𝑈𝑠𝑙 (arba nukirtimo įtampą 𝑈𝑛𝑢𝑘 ).
Lauko tranzistoriai prisotinimo srityje naudojami dažniausiai
kaip stiprintuviniai prietaisai, o jų stiprinimo savybes nusako vol-
tamperinės charakteristikos statumas:
5.7 pav. Stiprintuvo su lauko tranzis-
toriumi tipinė schema
5.8 pav. Rimties režimo nustatymas
stiprintuve su lauko tranzisto-
riumi su valdančia p-n sandū-
ra
71
𝑆 = 𝑑𝐼𝑆
𝑑𝑈𝑈𝐼 = 2𝑘 𝑈𝑠𝑙 − 𝑈𝑆𝐼 . (5.6)
Iš lygties (5.6) matyti, kad statumas būna maksimalus prie
𝑈𝑈𝐼 = 0. Didėjant užtūros įtampai statumas mažėja ir prie 𝑈𝑠𝑙 = 𝑈𝑈𝐼
tampa lygi nuliui.
Panaudojant maksimalų statumo dydį 𝑆𝑚𝑎𝑥 = 2𝑘𝑈𝑠𝑙 , lygtį (5.6)
galima užrašyti tokiu pavidalu:
𝑆 = 𝑆𝑚𝑎𝑥 1 −𝑈𝑈𝐼
𝑈𝑠𝑙 . (5.7)
Stiprintuvas su lauko tranzistoriumi. Labiausiai paplitusi yra ben-
drosios ištakos schema. Joje naudojami lauko tranzistoriai su val-
dančia p-n - sandūra, arba MOP - tranzistoriai su įterptu kanalu.
5.7 pav. parodyta tipinė stiprintuvo schema su valdančia p-n -
sandūra ir n - tipo kanalu. Šioje schemoje įtampos šaltiniu 𝐸𝑝į nusta-
tomas reikalingas tranzistoriaus darbo režimas.
Lauko tranzistorius, palyginus su dvipoliu, turi šios privalu-
mus:
didesnė lauko tranzistoriaus įėjimo varža supaprastina jos
suderinamumą su didelės varžos signalo šaltiniu;
lauko tranzistorius turi mažesnį triukšmo koeficientą, kas
teikia jam privalumą stiprinant silpnus signalus;
lauko tranzistorius turi didelį temperatūrinį stabilumą.
Iš kitos pusės, stiprintuvas lauko tranzistorių pagrindu turi ma-
žesnį įtampos stiprinimo koeficientą nei stiprintuvas su dvipoliu
tranzistoriumi.
Kaip jau buvo minėta, lauko tranzistorius su valdančia sandūra
gali veikti tik kanalo nuskurdinimo režime, t.y. jo santakos ir užtū-
ros įtampos turi būti priešingo ženklo. Todėl, nustatant nuolatinės
srovės režimą, plačiai naudojamas nuoseklaus apkrovos srovei nei-
giamo grįžtamojo ryšio (NGR) įvedimas į laipsnį. 5.8 pav. parodyta
tokio laipsnio schema.
Stiprintuve lygiagrečiai įėjimui įjungtas rezistorius 𝑅𝑝į. Šis re-
zistorius užtikrina užtūros galvaninį ryšį su bendru laidu, o taip pat
72
stabilizuoja laipsnio įėjimo varžą. Rezistoriaus varža 𝑅𝑝į parenkama
mažesnė nei nuosava tranzistoriaus įėjimo varža (paprastai
𝑅𝑝į < 1MΩ). Kadangi lauko tranzistoriaus įėjimo srovė artima nu-
liui, tai įtampos kritimas ant 𝑅𝑝į nuo šaltinio srovės pratekėjimo taip
pat artimas nuliui, ir užtūros - ištakos įtampa praktiškai lygi įtam-
pos kritimui ant ištakos grandinėje įjungto rezistoriaus 𝑅𝐼.
Nagrinėjamoje schemoje rezistorius 𝑅𝐼 atlieka dvigubą vaidme-
nį. Pirmiausia, jis užtikrina pradinį tranzistoriaus priešįtampį (dar-
bo tašką), ir užtikrina nuoseklų neigiamą grįžtamąjį ryšį, dėl to su-
mažėja laipsnio stiprinimo koeficientas bet stabilizuojamas darbo
taškas.
3. LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS
Laboratorinį stendą sudaro:
bazinis laboratorinis stendas;
laboratorinis modulis Lab5A lauko tranzistoriaus KP303B -
tipo tyrimui.
4. DARBO UŽDUOTIS
Redaktoriuje MS Word paruoškite ataskaitos šabloną.
Pastatykite laboratorinį modulį Lab5A ant laboratorinės stoties
NI ELVIS II maketinės plokštės. Modulio išorinis vaizdas parodytas
5.9 pav.
Lauko tranzistoriaus charakteristikų tyrimui naudojama
schema, parodyta 5.10 pav.
Įkraukite ir paleiskite programą Lab-5.vi.
5.9 pav. Modulio Lab5A, skirto lauko tranzistoriaus charakteristikų
tyrimui, išorinis vaizdas
73
Susipažinę su darbo tikslu nuspauskite mygtuką „Pradėti
darbą“. Ekrane pasirodys 1 užduoties Virtualaus Prietaiso (VP)
vaizdas (5.11 pav.).
1 užduotis. Lauko tranzistoriaus perdavimo charakteristikos
gavimas schemoje su bendra ištaka
4.1.1. Skaitmeniniu valdymo elementu, esančiu priekiniame VP
valdymo lange, nustatykite santakos maitinimo įtampą 𝐸𝑆 , lygią 3V.
Nuspauskite mygtuką „Matavimas“. Grafiniame VP indikatoriuje
pasirodys tranzistoriaus išėjimo srovės 𝐼𝑆 priklausomybės nuo
įėjimo įtampos 𝑈𝑈𝐼 grafikas.
Nukopijuokite vaizdą iš grafinio indikatoriaus į ataskaitos
puslapį.
4.1.2. Keisdami užtūros šaltinio įtampą 𝐸𝑈 , slankiojančiu
reguliatoriumi, esančiu VP valdymo lange, nustatykite santakos
srovės 𝐼𝑆 reikšmę apie 0,01mA. Ataskaitoje užrašykite užtūros -
ištakos nukirtimo įtampos reikšmę 𝑈𝑈𝐼 .𝑛𝑢𝑘 .
4.1.3. Keisdami užtūros šaltinio 𝐸𝑈 įtampą slankiojančiu
reguliatoriumi, esančiu VP valdymo lango, nustatykite užtūros -
ištakos įtampos reikšmę 𝑈𝑈𝐼 lygią 0V. Įrašykite į ataskaitą pradinę
santakos srovės reikšmę 𝐼𝑆.𝑝𝑟 .
4.1.4. Paskaičiuokite koeficiento 𝑘 reikšmę, įvertindami
konstrukcinius ir technologinius tranzistoriaus parametrus, pagal
formulę 𝑘 = 𝐼𝑆.𝑝𝑟 𝑈𝑈𝐼 .𝑛𝑢𝑘 2 .
5.10 pav. Elektrinė jungimo schema lauko tranzistoriaus
charakteristikų tyrimui
74
4.1.5. Keisdami užtūros šaltinio įtampą 𝐸𝑈 slankiojančiu
reguliatoriumi, esančiu VP valdymo lange, nustatykite užtūros -
ištakos įtampos 𝑈𝑈𝐼 reikšmę, iš pradžių lygią 𝑈𝑈𝐼 .1 = −0,1V, po to
lygią 𝑈𝑈𝐼 .2 = +0,1V. Įrašykite į ataskaitą santakos srovės 𝐼𝑆.1 ir 𝐼𝑆.2
reikšmes šitiems perdavimo charakteristikos taškams.
4.1.6. Paskaičiuokite ir įrašykite į ataskaitą lauko tranzistoriaus
perdavimo charakteristikos statumo reikšmę taške 𝑈𝑈𝐼 = 0 pagal
formulę 𝑆 = 𝐼𝑆.2 − 𝐼𝑆.1 𝑈𝑈𝐼 .2 − 𝑈𝑈𝐼 .1 .
4.1.7. Nuspauskite priekiniame VP valdymo lange mygtuką
„Pereiti prie 2 užduoties“, ekrane pasirodys 2 užduoties VP
valdymo langas (5.12 pav.).
2 užduotis. Lauko tranzistoriaus kanalo varžos priklausomybės
nuo užtūros - ištakos įtampos grafiko gavimas
4.2.1. Skaitmeniniu valdymo elementu, esančiu priekiniame VP
valdymo lange, nustatykite santakos maitinimo įtampos 𝐸𝑆 reikšmę,
lygią 3V. Nuspauskite VP valdymo lange mygtuką „Matavimas“.
Grafiniame VP indikatoriuje pasirodys lauko tranzistoriaus kanalo
varžos 𝑅𝐾 priklausomybės nuo užtūros - ištakos įtampos 𝑈𝑈𝐼
grafikas.
5.11 pav. 1 užduoties VP vaizdas
75
Nukopijuokite kanalo varžos priklausomybės nuo užtūros -
ištakos įtampos vaizdą į ataskaitą.
4.2.2. Keisdami užtūros šaltinio įtampą 𝐸𝑈 slankiojančiu
reguliatoriumi, esančiu VP valdymo lange, nustatykite santakos
srovės 𝐼𝑆 reikšmę, maždaug lygią 0,02 - 0,03mA. Užrašykite
ataskaitoje varžos 𝑅𝐾.𝑚𝑎𝑥 reikšmę, atitinkančią įtampą 𝑈𝑈𝐼 .𝑛𝑢𝑘
(uždara tranzistoriaus būsena).
4.2.3. Keisdami užtūros šaltinio įtampą 𝐸𝑈 slankiojančiu
reguliatoriumi, nustatykite užtūros - ištakos įtampą, lygią 0V.
Užrašykite ataskaitoje varžos 𝑅𝐾.𝑚𝑖𝑛 reikšmę, atitinkančią įtampą
𝑈𝑈𝐼 = 0 (atvira tranzistoriaus būsena).
4.2.4. Nuspauskite priekiniame VP valdymo lange mygtuką
„Pereiti prie 3 užduoties“, ekrane pasirodys 3 užduoties VP
valdymo langas (5.13 pav.).
3 užduotis. Lauko tranzistoriaus išėjimo charakteristikų šeimos
matavimas bendrosios įštakos schemoje
4.3.1. Nuspauskite VP valdymo lange mygtuką „Matavimas“.
Grafiniame VP indikatoriuje pasirodys santakos srovės 𝐼𝑆
priklausomybės nuo santakos - ištakos įtampos 𝑈𝑈𝐼 grafikai, gauti
5.12 pav. 2 užduoties VP vaizdas
76
palaipsniui keičiant tranzistoriaus santakos įtampas nuo 0 iki 10V ir
esant fiksuotoms užtūros šaltinio įtampos reikšmėms 𝑈𝑈𝐼 =
−1,5𝑉; −1,0𝑉; −0,5𝑉; 0𝑉; +0,5𝑉.
4.3.2. Nukopijuokite tranzistoriaus išėjimo charakteristikų vaizdą
į ataskaitą. MS Word redaktoriumi, nubrėžkite ataskaitoje kiek
vienam grafikui įtampą 𝑈𝑈𝐼 .
4.3.3. Esant fiksuotai santakos - ištakos įtampai, lygiai 𝑈𝑆𝐼 = 3V,
nustatykite santakos srovę 𝐼𝑆, atitinkančią užtūros įtampos
reikšmes, prie kurių buvo nustatomos išėjimo charakteristikos.
Tam tikslui slankiojančiu reguliatoriumi „X“ pastatykite
vertikalią vizyro liniją prieš išėjimo charakteristikų grafiko
horizontalios ašies padalą “3V”. Po to, horizontalias vizyro linija,
naudojant slankiojantį reguliatorių „Y“, gaukite santakos srovės
reikšmes išėjimo charakteristikų susikirtimo su vertikalia vizyro
linija taškuose. Gautus rezultatus įrašykite į ataskaitą.
4.3.4. Nustatykite tranzistoriaus perdavimo charakteristikos 𝑆
statumą, keičiant užtūros - ištakos įtampą ruože nuo -1,0V iki 0V
pagal formulę 𝑆 = ∆𝐼𝑆 ∆𝑈𝑈𝐼 . Gautą reikšmę įrašykite į ataskaitą.
4.3.5. Pasirinkite santakos grandinės varžą lygią 300Ω, o santakos
šaltinio 𝐸𝑆 įtampos dydį - 3V, ir MS Word priemonėmis ataskaitoje
5.13 pav. 3 užduoties VP vaizdas
77
nubrėžkite tranzistoriaus išėjimo charakteristikų grafike apkrovos
liniją dviem taškams: taškui 𝐸𝑆 = 3V abscisių ašyje ir taškui
𝐼𝑆 = 𝐸𝑆 𝑅𝑆 ordinačių ašyje.
4.3.6. Įvertinkite tranzistorinės laipsnės aktyvaus režimo ribas,
kurios apibrėžiamos apkrovos linijos susikirtimo su išėjimo
charakteristikomis taškų koordinatėmis 𝐼𝑆.𝑚𝑎𝑥 , 𝑈𝑆𝐼 .𝑚𝑖𝑛 ir
𝐼𝑆.𝑚𝑖𝑛 , 𝑈𝑆𝐼 .𝑚𝑎𝑥 . Šios išėjimo charakteristikos gaunamos esant
užtūros - ištakos įtampos reikšmėms -1,0V ir +0,5V. Gautas
reikšmes įrašykite į ataskaitą.
4.3.7. Paskaičiuokite santakos srovę 𝐼𝑆∗ = 𝐼𝑆.𝑚𝑎𝑥 − 𝐼𝑆.𝑚𝑖𝑛 aktyvaus
režimo vidutiniam taškui ir nustatykite iš perdavimo
charakteristikos atitinkamą užtūros - ištakos įtampos reikšmę 𝑈𝑈𝐼∗ .
4.3.8. Nuspauskite VP valdymo lange mygtuką „Pereiti prie 4
užduoties“, ekrane pasirodys 4 užduoties VP valdymo langas (5.14
pav.).
4 užduotis. Tranzistorinio laipsnio su bendra ištaka darbo tyrimas
4.4.1. Nustatykite VP valdymo languose harmoninės įėjimo
įtampos šaltinio įtampos amplitudę 𝑢įė.𝑚 = 0 ir santakos šaltinio
įtampos dydį 𝑈𝑆 = 3V. Nuspauskite mygtuką „Matavimas“.
5.14 pav. 4 užduoties VP vaizdas
78
Tranzistoriaus išėjimo charakteristikų grafike pasirodys
apkrovos linijos vaizdas. Palyginkite jį su vaizdu, gautu atliekant
4.3.5 p. užduotį.
4.4.2. Nustatykite užtūros šaltinio įtampą 𝐸𝑈 , lygią reikšmei 𝑈𝑈𝐼∗ ,
gautai p. 4.3.7. Išmatuokite ir įrašykite į 5.1 lentelę tranzistorinio
stiprintuvo su bendra ištaka statinio režimo parametrus.
5.1 lentelė
4.4.3. Tolygiai didindami įėjimo signalo 𝑢įė.𝑚 amplitudę,
grafiniame VP indikatoriuje gaukite didžiausią neiškreiptą išėjimo
signalą. Nukopijuokite išėjimo signalo vaizdą į ataskaitą.
Palyginkite oscilogramas ir padarykite išvadą apie tranzistorinės
laipsnės su bendra ištaka įėjimo ir išėjimo signalų fazių santykį.
4.4.4. VP išmatuokite įėjimo 𝑈įė ir išėjimo 𝑈𝑖š signalų amplitudžių
reikšmes. Tam tikslui, panaudodami grafinio indikatoriaus vizyro
linijas, nustatykite iš įėjimo ir išėjimo signalų oscilogramų
didžiausią ir mažiausią momentines nurodytų įtampų reikšmes.
Įtampos reikšmių atskaitymui naudokite skaitmeninius
indikatorius, suderintus su VP slankiojančiais reguliatoriais.
Signalų amplitudės nustatymui naudokite formulę 𝑈𝑚 =
𝑢𝑚𝑎𝑥 − 𝑢𝑚𝑖𝑛 2 . Gautus rezultatus įrašykite į ataskaitą.
4.4.5. Panaudodami gautas įėjimo ir išėjimo signalų amplitudžių
reikšmes, nustatykite tranzistorinės laipsnės stiprinimo koeficientą
pagal formulę 𝐾𝑠𝑡 = 𝑈𝑖š.𝑚 𝑈įė.𝑚 . Rezultatą įrašykite į ataskaitą.
4.4.6. Paskaičiuokite tranzistorinės laipsnės stiprinimo koeficientą
pagal formulę 𝐾𝑠𝑡 = 𝑆𝑅𝑆 , kur 𝑆 - statumo reikšmė, gauta 4.3.4 p.
Rezultatą įrašykite į ataskaitą. Palyginkite išmatuotą (4.4.5 p.) ir
paskaičiuotą stiprinimo koeficiento reikšmes. Paaiškinkite gautą
rezultatą.
4.4.7. Ištirkite, kokią įtaką daro darbinio taško padėtis
tranzistorinės laipsnės su bendra ištaka darbui. Tam tikslui,
reguliuodami užtūros šaltinio įtampą 𝐸𝑈 , pakeiskite užtūros -
𝑼𝑼𝑰 , V 𝑰𝑺 , 𝐦𝐀 𝑼𝑺𝑰 , 𝐕
79
ištakos įtampos reikšmę maždaug 30% nuo dydžio 𝑈𝑈𝐼∗ , gauto 4.3.7
skyriuje, pirmiausia didėjimo kryptimi, po to-mažėjimo. Sekite
išėjimo signalo iškraipymų pobūdį. Nukopijuokite į ataskaitą
vaizdą iš grafinio VP indikatoriaus abiem atvejais. Paaiškinkite
pastebėtų išėjimo signalo iškraipymų priežastį.
4.4.8. Išjunkite VP, paspausdami mygtuką „Darbo pabaiga“.
5. KONTROLINIAI KLAUSIMAI
Kokie tranzistoriai vadinami lauko arba unipoliniai? Paaiš-
kinkite šių pavadinimų kilmę.
Kaip sudarytas lauko tranzistorius su izoliuota užtūra? Ko-
dėl jis vadinamas MOP - tranzistoriumi?
Kaip sudarytas lauko tranzistorius su valdančia p-n - sandū-
ra?
Kuo skiriasi lauko tranzistorių su p-n - sandūra ir su izoliuo-
ta užtūra veikimo principas?
Kuo skiriasi MOP - tranzistoriai su įterptu ir indukuotu ka-
nalais?
Kaip atrodo Jums žinomų lauko tranzistorių tipų perdavimo
charakteristikos?
Ar įvairių tipų lauko tranzistorių išėjimo charakteristikose
yra esminių skirtumų?
Kokios charakteringos sritys išskiriamos lauko tranzistorių
išėjimo voltamperinėse charakteristikose?
Kokios lauko tranzistorių pritaikymo ypatybės, priklauso-
mai nuo jų darbo taško padėties išėjimo charakteristikose?
Kokios Jums žinomos lauko tranzistorių jungimo schemos?
Kokie lauko tranzistorių privalumai, lyginant juos su dvipo-
liais?
Kokiu tikslumu darbe nustatyti lauko tranzistoriaus para-
metrai? Nuo ko gali priklausyti gautų rezultatų kokybė?
80
LABORATORINIS MODULIS Nr. 6
SCHEMŲ SU OPERACINIAIS STIPRINTUVAIS TYRIMAS
1. DARBO TIKSLAS
susipažinimas su operacinio stiprintuvo charakteristikomis;
susipažinimas su schemų, sukurtų operacinio stiprintuvo
pagrindu ir skirtų analoginių signalų pakeitimui, sudarymo
principais;
invertuojančio ir neinvertuojančio stiprintuvų, sukurtų ope-
racinio stiprintuvo pagrindu tyrimas;
analoginių signalų integravimo ir diferencijavimo schemų
tyrimas.
2. TEORINĖ DALIS
operacinio stiprintuvo sandara ir pagrindinės charakteristi-
kos [1];
stiprintuvų sukūrimo operacinio stiprintuvo pagrindu me-
todai [1];
analoginių signalų keitiklių sukūrimo operacinių stiprintuvų
pagrindu metodai [1].
Viena iš puslaidininkinių prietaisų rūšių yra puslaidininkinės
integralinės mikroschemos - vientisi funkciniai prietaisai, kurių visi
elementai gaminami viename technologiniame cikle. Integralinės
mikroschemos atlieka įvairias operacijas ir su analoginiais, ir su
skaitmeniniais elektriniais signalais. Tarp integralinių mikrosche-
mų, skirtų analoginių elektrinių signalų apdorojimui, svarbią vietą
užima operacinis stiprintuvas (OS) - puslaidininkinis prietaisas,
skirtas įtampos stiprinimui ir įvairioms analoginių elektrinių signa-
lų keitimo operacijoms: sudėčiai, atimčiai, integravimui, diferenci-
javimui ir t.t. Atlikti šias operacijas leidžia OS teigiamo ir (arba)
neigiamo grįžtamojo ryšio grandinės, į kurių sudėtį gali įeiti varžos,
talpos, induktyvumai, diodai, stabilitronai, tranzistoriai ir dar kai
kurie elektronikos elementai.
81
Tipinis OS yra diferencinis stiprintuvas su labai dideliu stipri-
nimo koeficientu. 6.1 pav. parodytas sąlyginis OS žymėjimas princi-
pinėse schemose.
Kadangi OS naudojami kaip signalų keitikliai, jų charakteristi-
kos turi atitikti tam tikrus reikalavimus. Tų reikalavimų esmė ta,
kad charakteristikos būtų arčiausios idealaus OS charakteristikoms.
Idealaus operacinio stiprintuvo savybės yra:
OS be grįžtamojo ryšio perdavimo koeficientas lygus bega-
lybei;
įėjimo srovė lygi nuliui;
OS išėjimo įtampa ir srovė lygūs nuliui;
OS įėjimo varža lygi begalybei;
OS išėjimo varža lygi nuliui.
Idealaus OS modelį galima pritaikyti matematinių reikšmių,
apibūdinančių realių OS darbą įvairiuose režimuose, išvedimui.
OS išėjimo įtampa nustatoma iš formulės:
𝑈𝑖š = −𝐴 𝑈(−) − 𝑈(+) = −𝐴 ∆𝑈 , (6.1)
kur 𝐴 - stiprintuvo be grįžtamojo ryšio perdavimo koeficientas; 𝑈(−)
- įtampa inversiniame įėjime; 𝑈(+) - įtampa neinversiniame įėjime.
Minuso ženklas prieš perdavimo koeficientą (𝐴) rodo, kad iš-
ėjimo įtampa neigiama. Perdavimo koeficientą (𝐴) galima surasti
6.1 pav. Sutartiniai OS žymėjimai: (-) - inversinis OS įėjimas; (+) - neinversinis
OS įėjimas; 𝑈 − - inversinio įėjimo įtampa; 𝑈 + - neinversinio įėjimo
įtampa; 𝑈𝑖š - OS išėjimo įtampa; 𝐄š+ - OS maitinimo teigiama
pa; 𝐄š− - šaltinio neigiama įtampa.
82
kaip išėjimo įtampos (𝑈𝑖š) dydžio santykį su įėjimo įtampų (∆𝑈)
reikšmių skirtumu. Nuolatinės srovės OS perdavimo koeficientas
realiai svyruoja ribose nuo 10000 iki 2000000.
Dauguma OS turi dvipolį išėjimą. Tai reiškia, kad išėjimo signa-
las gali būti tiek teigiamas, tiek neigiamas. Todėl, tokios schemos
reikalauja dvejų maitinimo šaltinių.
Išėjimo įtampa niekada negali viršyti maitinimo įtampos
(𝐸š− < 𝑈𝑖š < 𝐸š+ ). Kaip taisyklė, maksimali OS išėjimo įtampa ke-
liomis dalimis volto mažesnė nei maitinimo įtampa. Šis apribojimas
žinomas kaip apribojimo įtampa (teigiama 𝑈𝑎𝑝𝑟 + ir neigiama
𝑈𝑎𝑝𝑟 −).
Grįžtamasis ryšys schemose su OS
Esant aukštai perdavimo koeficiento reikšmei, gan sunku val-
dyti stiprintuvą ir išsaugoti jį nuo įsotinimo. Tam tikrų išorinių
grandinių pagalba išėjimo signalo dalį galima nukreipti atgal į įėji-
mą, t.y., sukurti grįžtamąjį ryšį. Panaudojant neigiamą grįžtamąjį
ryšį, kai signalas iš stiprintuvo išėjimo patenka į įėjimą, būdamas
priešingos fazės nei įėjimo signalas, stiprintuvą galima padaryti
stabilesnį. Šis darinys vadinamas stiprintuvu su grįžtamuoju ryšiu
(arba su uždara grįžtamojo ryšio grandine). Grįžtamojo ryšio gran-
dinės panaudojimas sumažina perdavimo koeficientą, lyginant su
stiprintuvu be grįžtamojo ryšio (𝐴), bet schema tampa stabilia. Pa-
prastai OS įjungimo schemos su uždara grįžtamojo ryšio grandine
turi perdavimo koeficientą nuo 10 iki 1000, t.y., daugiau nei tūks-
tantį kartų mažesnį nei OS be grįžtamojo ryšio. Jeigu grįžtamas ry-
šys teigiamas, stiprintuvas pereina į virpesių generavimo režimą,
t.y., tampa autogeneratoriumi.
Invertuojantis stiprintuvas
OS jungimo schema, parodyta 6.2 pav., praktikoje naudojama
dažniausiai. Grįžtamojo ryšio grandinė šiuo atveju susideda iš vie-
nintelio rezistoriaus 𝑅𝑔𝑟 , kuris skirtas dalies išėjimo signalo grąži-
nimui atgal į įėjimą. Tai, kad rezistorius sujungtas su inversiniu įė-
jimu, rodo neigiamą grįžtamojo ryšio pobūdį. Įėjimo įtampa (𝑈1)
iššaukia įėjimo srovės 𝑖1 tekėjimą rezistoriumi 𝑅1. Atkreipkite dė-
83
mesį į tai, kad OS įėjimo įtampa (∆𝑈) yra diferencinio pobūdžio,
t.y., faktiškai ji yra skirtumas įtampų inversiniame (-) ir neinversi-
niame (+) įėjimuose. Teigiamas OS įėjimas dažniausiai įžeminamas.
Pritaikant Kirchhofo taisyklę, schemai 6.2 pav. galima sudaryti
tokias lygtis:
𝑈1 = 𝑖1𝑅1 + ∆𝑈, (6.2)
𝑈𝑖š = −𝑖𝑔𝑟𝑅𝑔𝑟 + ∆𝑈, (6.3)
𝑖1 = −𝑖𝑔𝑟 + 𝑖įė, (6.4)
𝑈𝑖š = −𝐴∆𝑈. (6.5)
Sprendžiant šias lygtis kartu, galima gauti tokią formulę:
𝑈𝑖š = 𝑖įė −𝑈1
𝑅1 𝑍, (6.6)
kur 𝑍 - grįžtamojo ryšio grandinės tariamoji varža:
1
𝑍=
1
𝑅𝑔𝑟+
1
𝐴 ∙ 𝑅1+
1
𝐴 ∙ 𝑅𝑔𝑟.
Įėjimo rezistoriaus ir grįžtamojo ryšio grandinės rezistoriaus
varžos paprastai didelės (dešimtys kΩ), o OS perdavimo koeficien-
tas labai aukštas (𝐴 > 100000), tokiu būdu, grįžtamojo ryšio gran-
6.2 pav. Invertuojančio stiprintuvo OS pagrindu jungimo schema
84
dinės tariamąją varžą galima laikyti lygia 𝑍 = 𝑅𝑔𝑟 . Be to, dydis ∆𝑈
paprastai labai mažas (keletas µV) ir, jeigu OS įėjimo varžos reikš-
mė (𝑍įė) didelė (paprastai apie 10MΩ), tada įėjimo srovė (𝑖įė =
∆𝑈 𝑍įė ) ypač maža ir jos galima nepaisyti. Įvertinant išdėstytus
duomenis, išėjimo įtampa tampa lygi:
𝑈𝑖š = − 𝑅𝑔𝑟 𝑅1 𝑈1 = −𝐾𝑈1 , (6.7)
kur 𝐾 - stiprintuvo su grįžtamuoju ryšiu perdavimo koeficientas 𝐾 = 𝑅𝑔𝑟 𝑅1 .
Minuso ženklas formulėje (6.7) reiškia, kad išėjimo signalo po-
liškumas priešingas įėjimo signalo poliškumui, t.y., inversinis jo
atžvilgiu, todėl toks stiprintuvas vadinamas invertuojančiu. Reikia
atkreipti dėmesį į tai, kad stiprintuvo su OS perdavimo koeficientą
galima reguliuoti, parenkant dviejų rezistorių 𝑅1 ir 𝑅𝑔𝑟 varžas.
Neinvertuojantis stiprintuvas
Neinvertuojantį stiprintuvą galima sukurti, įžeminus inversinio
stiprintuvo įėjimo varžą 𝑅1. Tokiu atveju įėjimo signalą reikia pa-
duoti į neinversinį įėjimą (6.3 pav.).
Grįžtamojo ryšio įtampa nuimama nuo įtampos daliklio, suda-
ryto iš grįžtamo ryšio rezistoriaus 𝑅𝑔𝑟 ir įėjimo kontūro rezistoriaus
𝑅1. Ši įtampa 𝑈(−) lygi:
𝑈(−) = 𝑅1 𝑅1 + 𝑅𝑔𝑟 𝑈𝑖š. (6.8)
6.3 pav. Neinvertuojančio stiprintuvo OS pagrindu jungimo schema
85
Idealaus OS diferencinė įėjimo įtampa ∆𝑈 lygi nuliui, taigi
𝑈įė = 𝑈(−) ir formulę (6.8) galima išreikšti taip:
𝑈𝑖š = 1 + 𝑅𝑔𝑟 𝑅1 𝑈įė. (6.9)
Šia lygtimi nusakoma stiprintuvo paskirtis - stiprinti, nekeičiant
įėjimo signalo ženklo. Stiprintuvo su grįžtamo ryšio kontūru stipri-
nimo koeficientas lygus 𝐾 = 1 + 𝑅𝑔𝑟 𝑅1 . Galima įrodyti, kad tokios
schemos įėjimo impedansas 𝑍įė labai didelis ir išreiškiamas formule:
𝑍įė ≈ 𝑍įė∗ 𝑅1 𝑅1 + 𝑅𝑔𝑟 𝐴, (6.10)
kur 𝑍įė∗ - realaus OS įėjimo impedansas (apytikriai 10MΩ eilės).
6.4 pav. Įtampos kartotuvo OS pagrindu principinė schema
6.5 pav. Diferencinio stiprintuvo OS pagrindu principinė schema
86
Taip pat lengva įrodyti, kad schemos 𝑍𝑖š išėjimo impedansas
artėja prie nulio, jei operacinio stiprintuvo su nutraukta kilpa stip-
rinimo koeficientas pasidaro labai didelis. Tokiu būdu OS, naudo-
jamas neinvertuojamoje schemoje, gali būti buferiu tarp įėjimo ir
išėjimo schemų.
Išskirtinis atvejis esti tada, kai 𝑅𝑔𝑟 = 0, o rezistoriaus 𝑅1 įėjimo
grandinėje nėra (6.4 pav.). Tada 𝑈𝑖š = 𝑈įė, 𝑍įė = 𝑍∗ ∙ 𝐴, 𝑍𝑖š = 𝑍𝑖š∗ 𝐴 .
𝑍𝑖š∗ - realaus OS išėjimo impedansas. Tokia schema vadinama
įtampos kartotuvu, kadangi jos įtampos stiprinimo koeficientas ly-
gus 1. Ši schema naudojama impedanso keitimui ir gali turėti labai
didelį galingumo stiprinimo koeficientą.
Diferencinis stiprintuvas
Diferencinė schema OS pagrindu (6.5 pav.) užtikrina signalų
sustiprinimą kiekviename iš diferencinių įėjimų 𝑅𝑔𝑟 𝑅1 kartų. To
išdavoje išėjimo įtampa tampa lygi įtampų tarp dviejų įėjimo
signalų skirtumui, padaugintam iš perdavimo koeficiento:
𝑈𝑖š = 𝑅𝑔𝑟 𝑅1 𝑈2 − 𝑈1 . (6.11)
Išvedame lygtį (6.11). Remdamiesi prielaida apie OS idealumą,
galime užrašyti tokią išraišką tiesioginio įėjimo įtampai:
𝑈(+) = 𝑅𝑔𝑟 𝑅1 + 𝑅𝑔𝑟 𝑈2 . (6.12)
Iš įėjimo kontūro 1 lygties gauname:
𝑖1 = 𝑈1 − 𝑈(+) 𝑅1 . (6.13)
Išėjimo kontūrui:
𝑖𝑖š = − 𝑈𝑖š − 𝑈(+) 𝑅𝑔𝑟 . (6.14)
Sumavimo taško lygtis:
𝑖1 = 𝑖𝑔𝑟 . (6.15)
87
Įstatydami išraiškas (6.13) ir (6.14) į lygtį (6.15) ir atmesdami
𝑈(+), po pertvarkymo gauname lygtį (6.11).
Sumavimo schema
Sumatoriaus schema, sudaryta OS pagrindu, tai modifikacija
invertuojančios schemos dviem ar daugiau įėjimo signalų.
Kiekviena įėjimo įtampa 𝑈𝑖 prijungiama prie tiesioginį įėjimą per
atitinkamą rezistorių 𝑅𝑖 (6.6 pav.).
Pagal antrąjį Kirchhofo dėsnį visų srovių, tekančių į mazgą,
suma lygi nuliui, todėl taške 𝑈(−) srovių lygtis atrodo taip:
𝑖1 + 𝑖2 + 𝑖𝑔𝑟 = 0. (6.16)
Idealiame OS įėjimo ir slinkties srovės lygios nuliui.
Užrašykime formulę srovėms:
𝑖1 = 𝑈1 𝑅1 , (6.17)
𝑖2 = 𝑈2 𝑅2 , (6.18)
𝑖𝑔𝑟 = − 𝑈𝑖š 𝑅𝑔𝑟 . (6.19)
Įstatę gautas išraiškas į (6.16), gauname:
𝑈𝑖š = −𝑅𝑔𝑟 𝑈1 𝑅1 − 𝑅𝑔𝑟 𝑈2 𝑅2 . (6.20)
6.6 pav. Sumatoriaus OS pagrindu principinė schema
88
Jeigu 𝑅1 = 𝑅2 = 𝑅, tai sumatoriaus schemos lygtis atrodys taip:
𝑈𝑖š = −𝑅𝑔𝑟 /𝑅 𝑈1 + 𝑈2 . (6.21)
Integravimo schema
Integratoriaus OS pagrindu schema gaunama grįžtamo ryšio
invertuojančioje schemoje rezistorių pakeičiant kondensatoriumi
(6.7 pav.).
Žinoma, kad kondensatoriaus krūvis 𝑄 ir srovė 𝑖𝐶 per jį
išreiškiama formulėmis:
𝑄 = 𝐶 ∙ 𝑈, (6.22)
𝑖𝐶 =𝑑𝑄
𝑑𝑡. (6.23)
Įvertinant šiuos santykius, schemai 6.7 pav. gauname:
𝑖𝑔𝑟 = 𝐶𝑔𝑟 𝑑𝑈𝑖š 𝑑𝑡 . (6.24)
Idealiam OS 𝑖𝑔𝑟 = 𝑈įė 𝑅1 ir 𝑖1 = 𝑖𝑔𝑟 , iš to seka:
𝑈įė
𝑅1 = −𝐶𝑔𝑟
𝑑𝑈𝑖š
𝑑𝑡 , (6.25)
6.7 pav. Integratoriaus OS pagrindu principinė schema
89
arba integralinėje formoje:
𝑈𝑖š = −1
𝑅1𝐶𝑔𝑟 𝑈įė𝑑𝑡
𝑇𝑖
0, (6.26)
kur 𝑇𝑖 - integravimo trukmė.
Tokiu būdu, įtampos integratoriaus išėjime reikšmė
proporcinga įėjimo įtampos integralui, o mastelio koeficientas lygus
1 𝑅1 𝐶𝑔𝑟 ir išreiškiamas sek-1.
Jeigu įėjimo įtampa pastovi, tai formulė (6.26) atrodo taip:
𝑈𝑖š = −𝑈įė
𝑅1𝐶𝑔𝑟𝑡, (6.27)
Lygtis (6.27) aprašo nuolaidžią liniją − 𝑈įė 𝑅 𝐶 . Kai 𝑈įė =
−1V, 𝐶 = 1μF, 𝑅 = 1MΩ, nuolydis lygus 1V/sek. Išėjimo įtampa
tiesiškai didės nurodytu greičiu tol, kol OS nepasieks įsotinimo
režimo.
Diferencijavimo schema
Diferencijavimo schema, sudaryta OS pagrindu, panaši į
integratorių, kuriame rezistorius ir kondensatorius sukeisti
vietomis (6.8 pav.).
Jeigu į schemos įėjimą prijungiama įtampa 𝑈įė, ji praktiškai visa
krinta ant kondensatoriaus, nes diferencinio stiprintuvo tiesioginio
6.8 pav. Diferenciatoriaus OS pagrindu principinė schema
90
ir netiesioginio įėjimo potencialai sutampa. Srovė, tekanti per
kondensatorių lygi:
𝑖1 = 𝐶1𝑑𝑈įė
𝑑𝑡. (6.28)
Kadangi OS įėjimo varža pakankamai didelė ir OS įėjimo srovę
galima laikyti lygią nuliui, visa kondensatoriaus srovė prateka per
rezistorių 𝑅𝑔𝑟 :
𝑖𝑔𝑟 = −𝑖1 = 𝐶1𝑑𝑈įė
𝑑𝑡. (6.29)
Išėjimo signalas apibrėžiamas įtampos kritimu grįžtamo ryšio
varžoje 𝑅𝑔𝑟 :
𝑈𝑖š = 𝑖𝑔𝑟 𝑅𝑔𝑟 = −𝑅𝑔𝑟𝐶1𝑑𝑈įė
𝑑𝑡. (6.30)
Tokiu būdu, išėjimo įtampa proporcinga įėjimo signalo kitimo
greičiui.
3. LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS
Laboratorinį stendą sudaro:
bazinis laboratorinis stendas;
laboratorinis modulis Lab6A operacinio stiprintuvo
LM224N - tipo tyrimui.
4. DARBO UŽDUOTIS
Redaktoriuje MS Word paruoškite ataskaitos šabloną.
6.9 pav. Modulio Lab6A, skirto operacinio stiprintuvo charakteristikų
tyrimui, išorinis vaizdas
91
Pastatykite laboratorinį modulį Lab6A ant laboratorinės stoties
NI ELVIS II maketinės plokštės. Modulio išorinis vaizdas parodytas
6.9 pav.
Įkraukite ir paleiskite programą Lab-6.vi.
Susipažinę su darbo tikslu nuspauskite mygtuką „Pradėti
darbą“. Ekrane pasirodys 1 užduoties Virtualaus Prietaiso (VP)
vaizdas (6.10 pav.).
1 užduotis. Invertuojančio stiprintuvo perdavimo charakteristikos
gavimas
Invertuojančio stiprintuvo charakteristikų tyrimui naudojama
schema, parodyta 6.11 pav.
Pastaba: Visose schemose su OS naudojami įtampos
stabilizatoriai DA1 L78L09 (išėjimo įtampa +9V) ir DA3 L79L09
(išėjimo įtampa -9V) maitinimo įtampos sumažinimui nuo ±15V
iki ±9V. Tai būtina OS išėjimo signalo kitimo diapazono
suderinimui su NI ELVIS II maketinės plokštės matavimo
ribomis (±10V).
6.10 pav. 1 užduoties VP vaizdas
92
4.1.1. VP valdymo elementais nustatykite įėjimo signalo keitimo
ruožą (rekomenduojamos reikšmės 𝑈įė.𝑚𝑖𝑛 = −1,2V, 𝑈įė.𝑚𝑎𝑥 = 1,2V)
ir išėjimo signalo keitimo ribas (rekomenduojamos reikšmės
𝑈𝑖š.𝑚𝑖𝑛 = −10V ir 𝑈𝑖š.𝑚𝑎𝑥 = 10V). Nuspauskite mygtuką
„Matavimas“. Grafiniame VP indikatoriuje pasirodys
invertuojančio stiprintuvo perdavimo charakteristikos vaizdas.
Nukopijuokite gautą grafiką į ataskaitos puslapį.
4.1.2. Iš perdavimo charakteristikos nustatykite schemos išėjime
teigiamą 𝑈𝑎𝑝𝑟 + ir neigiamą 𝑈𝑎𝑝𝑟 − signalo apribojimo įtampas,
pasinaudodami horizontalia vizyro linija, perstumdami ją
slankiojančiu VP reguliatoriumi. Rezultatą įrašykite į ataskaitą.
4.1.3. Nustatykite invertuojančio stiprintuvo stiprinimo
koeficientą. Tam tikslui minėtomis vizyro linijomis nustatykite
dviejų bet kurių taškų koordinates nuožulnioje perdavimo
charakteristikos atkarpoje ir atlikite skaičiavimus pagal formulę
𝐾𝑠𝑡 = 𝑈𝑖š2 − 𝑈𝑖š1 𝑈įė2 − 𝑈įė1 . Rezultatus įrašykite į ataskaitą.
4.1.4. Nuspauskite VP valdymo lange mygtuką „Pereiti prie 2
užduoties“, ekrane pasirodys 2 užduoties VP valdymo langas (6.12
pav.).
6.11 pav. Elektrinė jungimo schema invertuojančio
stiprintuvo charakteristikų tyrimui
93
2 užduotis. Invertuojančio stiprintuvo darbo tyrimas
4.2.1. VP valdymo elementais nustatykite tokį matavimo režimą:
signalo forma - sinusinė, signalo dažnis - 200Hz. Įėjimo signalo
amplitudė parenkama tokio dydžio, kad išėjimo signalas, matomas
grafiniame VP indikatoriuje, neturėtų iškraipymų ir būtų patogus
stebėjimui ir matavimui. Nukopijuokite gautą vaizdą į mainų
buferį, o po to į ataskaitos puslapį.
4.2.2. Pasinaudodami įėjimo ir išėjimo signalų vaizdais
grafiniuose VP indikatoriuose, horizontalia vizyro linija nustatykite
įėjimo 𝑈įė.𝑚 ir išėjimo 𝑈𝑖š.𝑚 signalų amplitudes. Iš gautų duomenų
paskaičiuokite invertuojančio stiprintuvo stiprinimo koeficientą
pagal formulę: 𝐾 = 𝑈𝑖š.𝑚 𝑈įė.𝑚 .
Pastaba: Signalo amplitudės nustatymui reikia išmatuoti jo
mažiausią 𝑢𝑚𝑖𝑛 ir didžiausią 𝑢𝑚𝑎𝑥 momentines reikšmes ir
atlikti skaičiavimus pagal formulę: 𝑈𝑚 = 𝑢𝑚𝑎𝑥 − 𝑢𝑚𝑖𝑛 2 .
Pasinaudodami grafinių VP indikatorių parodymais,
palyginkite invertuojančio stiprintuvo įėjimo ir išėjimo signalų
6.12 pav. 2 užduoties VP vaizdas
94
fazes. Padarykite išvadą apie signalo fazės pakitimą ir įrašykite ją į
ataskaitą.
4.2.3. Paskaičiuokite invertuojančio stiprintuvo stiprinimo
koeficientą. Skaičiavimuose pasinaudokite formule 𝐾 = 𝑅𝑔𝑟 𝑅1 .
Rezultatus įrašykite į ataskaitą.
6.13 pav. 3 užduoties VP vaizdas
6.14 pav. Elektrinė jungimo schema neinvertuojančio stiprintuvo
charakteristikų tyrimui
95
Palyginkite stiprinimo koeficientų reikšmes, gautas iš
perdavimo charakteristikos (4.1.3 p.), iš matavimo rezultatų (4.2.2
p.) ir paskaičiuotojo (4.2.3 p.). Padarykite išvadą ir įrašykite ją į
ataskaitą.
4.2.4. Nuspauskite priekiniame VP valdymo lange mygtuką
„Pereiti prie 3 užduoties“, ekrane pasirodys 3 užduoties VP
valdymo langas (6.13 pav.).
3 užduotis. Neinvertuojančio stiprintuvo perdavimo
charakteristikos gavimas
Neinvertuojančio stiprintuvo charakteristikų tyrimui
naudojama schema, parodyta 6.14 pav.
4.3.1. VP valdymo elementais nustatykite įėjimo signalo keitimo
ruožą (rekomenduojamos reikšmės apie 𝑈įė.𝑚𝑖𝑛 = −1,2V, 𝑈įė.𝑚𝑎𝑥 =
1,2V) ir išėjimo signalo keitimo ribas (rekomenduojamos reikšmės
apie 𝑈𝑖š.𝑚𝑖𝑛 = −10V, 𝑈𝑖š.𝑚𝑎𝑥 = 10V). Nuspauskite mygtuką
„Matavimas“. Grafiniame VP indikatoriuje pasirodys
neinvertuojančio stiprintuvo perdavimo charakteristikos vaizdas.
Nukopijuokite gautą charakteristiką į ataskaitos puslapį.
Pav.6.15. VP vaizdas, vykdant 4 užduotį
6.15 pav. 4 užduoties VP vaizdas
96
4.3.2. Iš perdavimo charakteristikos nustatykite teigiamą 𝑈𝑎𝑝𝑟 + ir
neigiamą 𝑈𝑎𝑝𝑟 − signalo apribojimo įtampas schemos išėjime, tam
tikslui pasinaudodami horizontalią vizyro liniją, stumdomą
slankiojančiu VP reguliatoriumi. Rezultatus įrašykite į ataskaitą.
Nustatykite schemos stiprinimo koeficientą pagal metodiką,
aprašytą 4.1.3 p. Gautą rezultatą įrašykite į ataskaitą.
4.3.3. Nuspauskite priekiniame VP valdymo lange mygtuką
„Pereiti prie 4 užduoties“, ekrane pasirodys 4 užduoties VP
valdymo langas (6.15 pav.).
4 užduotis. Neinvertuojančio stiprintuvo darbo tyrimas
4.4.1. VP valdymo elementų pagalba nustatykite tokį matavimo
režimą: signalo forma - sinusinė, signalo dažnis - 200Hz. Įėjimo
signalo amplitudė parenkama tokio dydžio, kad grafiniame VP
indikatoriuje stebimas išėjimo signalas nebūtų iškreiptas ir būtų
patogus stebėjimui ir matavimui. Gautą išėjimo signalo vaizdą
nukopijuokite į keitimo buferį ir po to įterpkite į ataskaitos puslapį.
Pasinaudodami grafinių VP indikatorių parodymais,
palyginkite neinvertuojančio stiprintuvo įėjimo ir išėjimo signalų
6.16 pav. 5 užduoties VP vaizdas
97
fazes. Padarykite išvadą apie signalo fazės pasikeitimo pobūdį ir
užrašykite ją į ataskaitą.
4.4.2. Paskaičiuokite neinvertuojančio stiprintuvo stiprinimo
koeficientą. Skaičiavimuose pasinaudokite formule 𝐾 = 𝑅𝑔𝑟 𝑅1 .
Rezultatus užrašykite į ataskaitą.
4.4.3. Iš oscilogramos horizontalia VP vizyro linija nustatykite
įėjimo 𝑈įė.𝑚 ir išėjimo 𝑈𝑖š.𝑚 signalų amplitudes. Paskaičiuokite
neinvertuojančio stiprintuvo stiprinimo koeficientą pagal formulę:
𝐾 = 𝑈𝑖š.𝑚 𝑈įė.𝑚 . Rezultatą įrašykite į ataskaitą.
Palyginkite stiprinimo koeficientų reikšmes, gautą iš perdavimo
charakteristikos (4.3.2 p.), gautą iš matavimo rezultatų (4.4.3 p.) ir
gautą iš schemos elementų parametrų (4.4.2 p.). Padarykite išvadą
ir įrašykite ją į ataskaitą.
4.4.4. Nuspauskite priekiniame VP valdymo lange mygtuką
„Pereiti prie 5 užduoties“, ekrane pasirodys 5 užduoties VP
valdymo langas (6.16 pav.).
5 užduotis. Įtampos integratoriaus darbo tyrimas
Įtampos integratoriaus darbo tyrimui naudojama elektrinę
schemą, parodytą 6.17 pav.
4.5.1. VP valdymo elementais nustatykite tokį matavimo režimą:
signalo forma - stačiakampė, signalo dažnis - 200Hz. Signalo
6.17 pav. Elektrinė jungimo schema įtampos integratoriaus
darbo tyrimui
98
amplitudė integratoriaus įėjime parenkama tokio dydžio, kad
išėjimo signalas nebūtų iškreiptas ir būtų patogus stebėjimui ir
matavimui.
Grafiniame VP indikatoriuje pasirodys išėjimo signalas
(integravimo rezultatas), kurio forma artima trikampei.
Nukopijuokite gautą išėjimo signalo vaizdą į keitimo buferį, o po to
įterpkite į ataskaitos puslapį.
4.5.2. Pasinaudodami išėjimo signalo vaizdu iš grafinio VP
indikatoriaus, nustatykite ir įrašykite į ataskaitą jo kitimo greitį.
Tam tikslui horizontalia vizyro linija išmatuokite maksimalią (𝑢𝑚𝑎𝑥 )
ir minimalią (𝑢𝑚𝑖𝑛 ) momentines signalo reikšmes ir paskaičiuokite
signalo amplitudės (𝑢𝑚𝑎𝑥 − 𝑢𝑚𝑖𝑛 ) santykį su jo kitimo pusperiodžiu
𝑇/2: ∆𝑈𝑖š
∆𝑡 = −
2 𝑢𝑚𝑎𝑥 − 𝑢𝑚𝑖𝑛
𝑇.
Paskaičiuokite ir įrašykite į atskaitą išėjimo signalo kitimo greitį
pagal schemos komponentų parametrų reikšmes, pasinaudodami
idealaus integratoriaus formule:
6.18 pav. 6 užduoties VP vaizdas
99
∆𝑈𝑖š
∆𝑡 = −
𝑈įė
𝑅1𝐶.
Palyginkite integratoriaus išėjimo signalo kitimo greitį su
greičiu, gautu iš matavimo rezultatų ir paskaičiuotu. Padarykite
išvadą apie integratoriaus idealumą.
4.5.3. Gaukite ir įrašykite į ataskaitą integratoriaus išėjimo signalo
oscilogramas, kai įėjimo įtampa yra harmoninė, trikampė ir
pjūklinė. Paaiškinkite gautus rezultatus. Esant harmoninės formos
įėjimo signalui, įvertinkite fazių skirtumą tarp integratoriaus įėjimo
ir išėjimo signalų. Paaiškinkite gautą rezultatą.
4.5.4. Nuspauskite priekiniame VP valdymo lange mygtuką
„Pereiti prie 6 užduoties“, ekrane pasirodys 6 užduoties VP
valdymo langas (6.18 pav.).
6 užduotis. Įtampos diferencijatoriaus darbo tyrimas
Įtampos diferencijatoriaus darbo tyrimui naudojama elektrinę
schemą, parodytą pav.6.19.
4.6.1. VP valdymo elementų pagalba nustatykite tokį matavimo
režimą: signalo forma - trikampė, signalo dažnis 200Hz. Signalo
amplitudė integratoriaus įėjime parenkama tokio dydžio, kad
išėjimo signalas nebūtų iškreiptas ir būtų patogus stebėjimui ir
matavimui.
6.19 pav. Elektrinė jungimo schema įtampos diferencija-
toriaus darbo tyrimui
100
Grafiniame VP indikatoriuje pasirodys išėjimo signalas
(diferencijavimo rezultatas), kurio forma artima stačiakampei.
Nukopijuokite gautą išėjimo signalo vaizdą į ataskaitos puslapį.
4.6.2. Pasinaudodami išėjimo signalo vaizdu iš grafinio
indikatoriaus, horizontalia VP vizyro linija nustatykite jo amplitudę
𝑈𝑖š.𝑚 nusistovėjusio signalo atkarpoje. Rezultatą įrašykite į
ataskaitą.
4.6.3. Nustatykite ir įrašykite į ataskaitą trikampės formos įėjimo
signalo kitimo greitį, skaičiavimams naudodami įėjimo signalo
padvigubintos amplitudės (2𝑈𝑚 ) santykį su išėjimo įtampos kitimo
pusperiodžiu (𝑇/2): ∆𝑈įė
∆𝑡 = −
4𝑈𝑚
𝑇.
4.6.4. Iš užduotų schemos parametrų ir rasto 4.6.3 p. įėjimo
signalo kitimo greičio paskaičiuokite išėjimo įtampos amplitudę
pagal idealaus diferencijatoriaus formulę:
𝑈𝑖š = −𝑅𝑔𝑟𝐶∆𝑈įė
∆𝑡.
4.6.5. Palyginkite matavimo (4.6.2 p.) ir skaičiavimų (4.6.4 p.)
rezultatus. Padarykite išvadą apie įtampos diferencijatoriaus
idealumo laipsnį.
4.6.6. Gaukite ir įterpkite į ataskaitą diferencijatoriaus išėjimo
signalo vaizdus, įėjimo įtampai esant sinusinės, stačiakampės ir
trikampės formos. Paaiškinkite gautus rezultatus.
4.6.7. Įvertinkite fazių skirtumą tarp diferencijatoriaus įėjimo ir
išėjimo sinusinių signalų.
4.6.8. Išjunkite VP, paspausdami priekiniame valdymo lange
mygtuką „Darbo pabaiga“.
5. KONTROLINIAI KLAUSIMAI
Kas yra operacinis stiprintuvas?
101
Išvardinkite pagrindines operacinio stiprintuvo charakteris-
tikas ir jų matavimo metodus.
Pateikite stiprintuvų OS pagrindu schemas ir perdavimo ko-
eficiento skaičiavimo formules.
Koks invertuojančio stiprintuvo OS pagrindu fazių skirtu-
mas tarp įėjimo ir išėjimo signalų? Kodėl?
Koks neinvertuojančio stiprintuvo fazių skirtumas tarp įėji-
mo ir išėjimo signalų? Kodėl?
Kas apsprendžia stiprintuvo OS pagrindu išėjimo įtampos
nuolatinę dedamąją dalį?
Pateikite analoginių signalų sumatoriaus schemą.
Pateikite įtampos integratoriaus schemą ir įėjimo bei išėjimo
signalų kitimo laike diagramas.
Kaip apskaičiuoti integratoriaus išėjimo signalo kitimo grei-
tį?
Pateikite įtampos diferencijatoriaus schemą ir išėjimo signalo
skaičiavimo lygtis.
Kaip diferencijatoriaus išėjimo įtampa priklauso nuo įėjimo
įtampos kitimo greičio?
Kokiais atvejais elektrinių schemų OS pagrindu apibūdini-
mui galima pasinaudoti formulėmis, nusakančiomis idea-
laus OS darbą?
Kokiu tikslumu darbe nustatyti operacinio stiprintuvo pa-
grindu sudarytų schemų parametrai? Nuo ko gali priklausy-
ti gautų rezultatų kokybė?
102
LABORATORINIS MODULIS Nr. 7
ANALOGINIŲ ĮTAMPOS KOMPARATORIŲ CHARAKTERIS-
TIKŲ TYRIMAS
1. DARBO TIKSLAS
susipažinimas su analoginių įtampos komparatorių charak-
teristikomis;
vienaslenksčio komparatoriaus darbo tyrimas;
histerezinio komparatoriaus darbo tyrimas.
2. TEORINĖ DALIS
analoginių komparatorių paskirtis, veikimo principas ir kla-
sifikacija [1];
operacinio stiprintuvo, naudojamo kaip analoginių signalų
palyginimo schema, darbo ypatybės [4];
vienaslenkstinių komparatorių, sukurtų OS pagrindu, suda-
rymo principai ir charakteristikos [4];
histerezinių komparatorių, sukurtų OS pagrindu, sudarymo
principai ir charakteristikos [4].
Komparatoriumi vadinamas įrenginys, naudojamas dviejų ana-
loginių signalų palyginimui, iš kurių vienas gali būti užduotas kaip
etaloninis. Įrenginio išėjime suformuojamos tik dvi signalo reikš-
mės: išėjimo įtampa bus aukšto lygio 𝑈𝑎𝑙 , jei skirtumas tarp įėjimo
signalų teigiamas, ir žemo lygio 𝑈ž𝑙 , jei šis skirtumas neigiamas.
Šios sąlygos užrašomos tokiu būdu:
𝑈𝑖š = 𝑈𝑎𝑙 𝑗𝑒𝑖𝑔𝑢 𝑈įė1 > 𝑈įė2 𝑎𝑟𝑏𝑎 ∆𝑈įė > 0
𝑈ž𝑙 𝑗𝑒𝑖𝑔𝑢 𝑈įė1 < 𝑈įė2 𝑎𝑟𝑏𝑎 ∆𝑈įė < 0 . (7.1)
Bendru atveju įtampa 𝑈𝑖š gali skirtis ir dydžiu, ir ženklu. Prak-
tikoje dažniausiai naudojami įrenginiai, formuojantys išėjime arba
priešingo poliškumo įtampas, praktiškai lygių absoliučių reikšmių,
103
arba vienodo poliškumo, bet skirtingo dydžio įtampas. Pirmas atve-
jis būdingas naudojant įrenginį kaip operacinio stiprintuvo palygi-
nimo schemą, antras - naudojant specializuotas integralines sche-
mas.
Galima pasakyti, kad komparatoriaus įėjimo signalas yra ana-
loginis, o išėjimo - skaitmeninis, todėl komparatoriai dažnai naudo-
jami ryšio elementais tarp analoginių ir skaitmeninių įrenginių.
7.1 pav. parodyta invertuojančio stiprintuvo be grįžtamojo ryšio
schema ir jo perdavimo charakteristika.
Kol įėjimo signalas tenkina sąlygą:
𝑈𝑟𝑖𝑏 −
𝐾𝑂𝑆< 𝑈įė <
𝑈𝑟𝑖𝑏 +
𝐾𝑂𝑆, (7.2)
kur 𝑈𝑟𝑖𝑏 + ir 𝑈𝑟𝑖𝑏 − - OS išėjimo signalo teigiamas ir neigiamas apri-
bojimo lygiai, o 𝐾𝑂𝑆 - OS stiprinimo koeficientas. Schema dirba tie-
siniu režimu ir išėjimo signalas kinta proporcingai įėjimo signalui.
Pažeidus sąlygą (7.2), OS pereina į apribojimo režimą ir išėjimo
įtampa gali būti lygi vienai iš dviejų reikšmių: 𝑈𝑎𝑙 = 𝑈𝑟𝑖𝑏 + arba
𝑈ž𝑙 = 𝑈𝑟𝑖𝑏 −. Tegu OS išėjimo signalo apribojimo lygių absoliučios
reikšmės yra 𝑈𝑟𝑖𝑏 + = 𝑈𝑟𝑖𝑏 − = 𝑈𝑟𝑖𝑏 , tada, naudojant OS kaip kom-
paratorių, turi būti patenkinama sąlyga:
∆𝑈įė > 𝑈𝑟𝑖𝑏
𝐾𝑂𝑆 . (7.3)
7.1 pav. Invertuojančio stiprintuvo schema (a) ir
jo perdavimo charakteristika (b)
104
Nagrinėjamoje schemoje (7.1 pav.) etaloninis įtampos lygis, su
kuriuo lyginamas įėjimo signalas, lygus nuliui, ir schema dažnai
vadinama signalo nulio detektoriumi arba įtampos perėjimo per
nulį nustatymo schema.
Įėjimo signalo reikšmių diapazonas, atitinkantis sąlygą (7.2),
yra komparatoriaus neapibrėžtumo zona ir apsprendžia jo paklai-
dą. Šios paklaidos absoliutus dydis lygus:
∆𝑢 > 𝑈𝑟𝑖𝑏
𝐾𝑂𝑆 . (7.4)
Komparatoriaus paklaidos sumažinimui reikia sumažinti įėjimo
įtampų neapibrėžtumo intervalą. Tai galima padaryti dviem būdais:
panaudojant OS su dideliu stiprinimo koeficientu;
įvedant į schemą teigiamą grįžtamą ryšį (TGR).
Iš teorijos žinoma, kad, įvedus TGR, stiprintuvo perdavimo ko-
eficientas 𝐾𝑇𝐺𝑅 nusakomas formule:
𝐾𝑇𝐺𝑅 =𝐾𝑂𝑆
1−𝐾𝑂𝑆 𝑏𝐺𝑅, (7.5)
kur 𝐾𝑂𝑆 - perdavimo koeficientas schemos be grįžtamo ryšio (GR), o
𝑏𝐺𝑅 - GR grandinės perdavimo koeficientas.
Iš (7.5) matome, kad, esant 𝑏𝐺𝑅 = 1 𝐾𝑂𝑆 , schemos stiprinimo
koeficientas lygus begalybei, o komparatoriaus paklaida - nuliui.
Praktiškai tokią sąlygą sunku įvykdyti dėl išsklaidytų parametrų ir
nestabilių OS charakteristikų, todėl komparatoriaus paklaidos ne-
įmanoma visiškai išvengti, bet galima ją žymiai sumažinti.
Vienaslenkstis komparatorius
Vienaslenksčiais vadinami palyginimo įrenginiai, kuriuose
naudojamo stiprintuvo stiprinimo koeficientas visada išlieka tei-
giamas (𝐾𝑂𝑆 > 0). Tokio įrenginio darbe visada susidaro įėjimo
įtampos neapibrėžtumo sritis, t.y., egzistuoja įėjimo įtampos lygio
nustatymo paklaida. Kaip vienaslenkstis palyginimo įrenginys gali
būti panaudotas OS be grįžtamo ryšio grandinės arba su teigiamu
105
grįžtamu ryšiu, kurio GR perdavimo koeficientas patenkina nely-
gybę:
𝑏𝐺𝑅 ≤1
𝐾𝑂𝑆. (7.6)
Analizuojant schemą, parodytą pav.7.1a, galima pasakyti, kad ji
suveikia, kai įtampa tarp OS inversinio ir neinversinio įėjimų tampa
nuline. Panaudojant šią schemos savybę, galima jos pagrindu su-
kurti įrenginį, skirtą įėjimo įtampos palyginimo su iš anksto užduo-
tu etaloniniu įtampos lygiu.
Tam pakanka inversinį OS įėjimą (7.1a pav.) įžeminti per 𝐸𝑒𝑡 šal-
tinį, kurio absoliutus dydis ir ženklas atitinka etaloninį palyginimo
lygį (7.2a pav.). Idealiu atveju (𝑅įė → ∞), kai įėjimo įtampa 𝑈įė ir po-
liškumas bus lygūs etaloninio šaltinio 𝐸𝑒𝑡 įtampai ir poliškumui,
įtampa tarp inversinio ir neinversinio įėjimų pasidaro lygi nuliui.
7.2bc pav. parodytos komparatoriaus perdavimo charakteristikos
atitinkamai atvejams 𝐸𝑒𝑡 > 0 ir 𝐸𝑒𝑡 < 0. Įtampa 𝐸𝑒𝑡 vadinama paly-
ginimo įrenginio suveikimo slenksčiu.
Jeigu schemoje 7.2a pav. vietoj etaloninės įtampos šaltinio pa-
naudotume antrą įėjimo įtampą, gautume dviejų įtampų palygini-
mo schemą. Nepaisydami paklaidos dėl įėjimo įtampos neapibrėž-
tumo srities, galima pasakyti, kad komparatoriaus perjungimas
įvyks, kai įėjimo įtampos bus lygios tiek absoliučiu dydžiu, tiek ir
7.2 pav. Vienaslenksčio komparatoriaus su perslinktu su-
veikimo slenksčiu schema (a) ir jo perdavimo
charakteristikos, kai 𝐸𝑒𝑡 > 0 (b) ir 𝐸𝑒𝑡 < 0 (c)
106
ženklu. Tokio įrenginio schema ir laikinės diagramos, pa-
aiškinančios jo darbą, parodytos 7.3 pav.
Histerezinis komparatorius
Histerezinėmis vadinamos palyginimo schemos, kurių perda-
vimo charakteristikos nevienareikšmės. Pritaikant OS, tai įmanoma
tik tuo atveju, jei stiprintuvas turi TGR , kurio perdavimo koeficien-
tas patenkina sąlygą:
𝑏𝐺𝑅 >1
𝐾𝑂𝑆. (7.7)
7.4 pav. parodyta OS perdavimo charakteristika kai 𝑏𝐺𝑅 <
1 𝐾𝑂𝑆 , 𝑏𝐺𝑅 = 1 𝐾𝑂𝑆 ir 𝑏𝐺𝑅 > 1 𝐾𝑂𝑆 .
Akivaizdu, kad TGR grandinės perdavimo koeficiento padidė-
jimas faktiškai pasuka OS galutinę charakteristiką apie koordinačių
pradžią pagal laikrodžio rodyklę. Jeigu 𝑏𝐺𝑅 = 1 𝐾𝑂𝑆 , tai perdavimo
7.3 pav. Vienaslenkstė dviejų įtampų palyginimo schema (a) ir
laiko diagramos (b), paaiškinančios jos darbą
7.4 pav. OS perdavimo charakteristika su TGR kai 𝑏𝐺𝑅 < 1 𝐾𝑂𝑆
(1), 𝑏𝐺𝑅 = 1 𝐾𝑂𝑆 (2) ir 𝑏𝐺𝑅 > 1 𝐾𝑂𝑆 (3)
107
charakteristikoje (priklausomybė 3) atsiras nevienareikšmio atitiki-
mo tarp įėjimo ir išėjimo įtampų sritis - histerezė. Tai leidžia sukurti
įrenginius, kuriuose suveikimo ir atleidimo įtampos tarpusavyje
nelygios. Tokio palyginimo įrenginio schema ir jo perdavimo cha-
rakteristika parodyti pav.7.5.
Darome prielaidą, kad kažkuriuo momentu schemos įėjimo
įtampa lygi nuliui, o jos išėjime yra teigiamo poliškumo įtampa
𝑈𝑟𝑖𝑏 +, tada į neinversinį OS įėjimą per grįžtamojo ryšio rezistorių 𝑅1
praeina teigiama įtampa:
𝑈įė.𝑛𝑖𝑛𝑣 =𝑈𝑟𝑖𝑏 𝑅2
𝑅1+𝑅2. (7.8)
Tokia schemos būsena yra stabili ir išliks tokia tol, kol kintanti
įėjimo įtampa 𝑈įė nepasieks tokio paties lygio. Tuo momentu OS
išėjimo įtampa pakis nuo 𝑈𝑟𝑖𝑏 + iki 𝑈𝑟𝑖𝑏 −, o neinversiniame OS įėji-
me įtampa pasikeis dydžiu:
𝑈įė.𝑛𝑖𝑛𝑣 = −𝑈𝑟𝑖𝑏 𝑅2
𝑅1+𝑅2. (7.9)
Tokia būsena bus stabili tol, kol įėjimo įtampa 𝑈įė nesumažės iki
šio lygio.
Taigi, suveikimo ir atleidimo įtampos nagrinėjamoje schemoje
nustatomos tokiomis formulėmis:
𝑈𝑠𝑢𝑣 = +𝑈𝑟𝑖𝑏 𝑅2
𝑅1+𝑅2, (7.10)
7.5 pav. Histerezinio komparatoriaus schema (a) ir jo perdavi-
mo charakteristika (b)
108
𝑈𝑎𝑡𝑙 = −𝑈𝑟𝑖𝑏 𝑅2
𝑅1+𝑅2. (7.11)
Iš šių formulių matyti, kad, esant lygioms apribojimo įtampų
absoliučioms reikšmėms, OS išėjime slenkstinės įtampos lygios dy-
džiu, bet yra priešingų ženklų, t.y., įrenginio perdavimo charakte-
ristika simetriška koordinačių pradžios atžvilgiu.
Įvairių suveikimo ir atleidimo įtampų OS TGR grandinėje ga-
vimui reikia panaudoti keturpolį, kurio perdavimo koeficientas pri-
klauso nuo jo įėjimo įtampos poliškumo. Tokio įrenginio pavyzdys
parodytas 7.6a pav.
Šiuo atveju TGR grandinės perdavimo koeficientas teigiamoms
OS išėjimo įtampoms praktiškai nepriklauso nuo šios įtampos lygio
ir nustatomas įtampos kritimu diode D, tiesiogine kryptimi. Esant
neigiamoms išėjimo įtampoms diodas D uždarytas ir paleidimo
įtampa nustatoma kaip ir schemoje 7.5a pav, t.y., formule (7.11). 7.6b
pav. parodyta šios palyginimo schemos perdavimo charakteristika.
Paveiksle parodyta, kad ji nesimetriška koordinačių pradžios at-
žvilgiu.
Papildomų maitinimo šaltinių pagalba palyginimo schemos
perdavimo charakteristiką galima padaryti asimetrišką (kaip ir vie-
naslenksčio įrenginio atveju). Tokio sprendimo pavyzdys parodytas
7.7a pav. Čia maitinimo šaltinis 𝐸𝑝į prijungtas prie neinversinio OS
įėjimo per rezistorių 𝑅𝑑 . Neinversinio įėjimo įtampa lygi
𝑈įė.𝑛 =𝐸𝑝 į/𝑅𝑑 +𝑈𝑖š/𝑅2
1/𝑅1+1/𝑅2+1/𝑅𝑑. (7.12)
7.6 pav. Histerezinio komparatoriaus su netiesine TGR schema
(a) ir jo perdavimo charakteristika (b)
109
Tada komparatoriaus suveikimo ir atleidimo įtampos nustato-
mos formulėmis:
𝑈𝑠𝑢𝑣 =𝐸𝑝 į/𝑅𝑑 +𝑈𝑟𝑖𝑏 /𝑅2
1/𝑅1+1/𝑅2+1/𝑅𝑑, (7.13)
𝑈𝑎𝑡𝑙 =𝐸𝑝 į/𝑅𝑑−𝑈𝑟𝑖𝑏 /𝑅2
1/𝑅1+1/𝑅2+1/𝑅𝑑. (7.14)
Histerezinių komparatorių panaudojimas leidžia žymiai page-
rinti įtampų palyginimo patikimumą esant išoriniams trikdžiams.
Pav.7.8 parodytos vienaslenksčio ir histerezinio komparatorių darbo
diagramos, kai įėjimo signale yra ir aukšto dažnio trikdžių.
Akivaizdu, kad, panaudojus vienaslenkstinę schemą, įrenginio
išėjime bus suformuoti keli išėjimo impulsai (taip vadinamas išėji-
mo įtampos „kratinys“), trukdantys gauti vienareikšmį rezultatą.
Panaudojant histerezinį komparatorių su teisingai parinktomis su-
veikimo ir paleidimo įtampomis, to pavyksta išvengti ir išėjime
gaunamas vienareikšmis palyginimo rezultatas
3. LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS
Laboratorinį stendą sudaro:
bazinis laboratorinis stendas;
laboratorinis modulis Lab7A analoginių įtampos kompara-
torių LF353P - tipo charakteristikų tyrimui.
7.7 pav. Histerezinio komparatoriaus su persislinkusia charak-
teristika schema (a) ir jo perdavimo charakteristika (b)
110
4. DARBO UŽDUOTIS
Redaktoriuje MS Word paruoškite ataskaitos šabloną.
Pastatykite laboratorinį modulį Lab7A ant laboratorinės stoties
NI ELVIS II maketinės plokštės. Modulio išorinis vaizdas parodytas
7.9 pav.
Įkraukite ir paleiskite programą Lab-7.vi.
Po susipažinimu su darbo tikslu nuspauskite mygtuką „Pradėti
darbą“. Ekrane pasirodys 1 užduoties Virtualaus Prietaiso (VP)
vaizdas (7.10 pav.).
7.9 pav. Modulio Lab7A, skirto operacinio stiprintuvo charakteristikų
tyrimui, išorinis vaizdas
7.8 pav. Komparatorių darbo diagramos: vienaslenksčio (b) ir histe-
rezinio (c) komparatorių išėjimo signalai, kai įėjime yra sig-
nalas su trikdžiais (a)
111
1 užduotis. Vienaslenksčio komparatoriaus perdavimo
charakteristikos gavimas
Vienaslenksčio komparatoriaus charakteristikų tyrimui
naudojama schema, parodyta 7.11 pav.
4.1.1. VP valdymo elementais nustatykite įėjimo signalo keitimo
ruožą (rekomenduojamos reikšmės 𝑈įė.𝑚𝑖𝑛 = −10V, 𝑈įė.𝑚𝑎𝑥 = 10V) ir
išėjimo signalo kitimo ribas (rekomenduojamos reikšmės 𝑈𝑖š.𝑚𝑖𝑛 =
−10V, 𝑈𝑖š.𝑚𝑎𝑥 = 10V).
4.1.2. Slankiojančiu reguliatoriumi nustatykite komparatoriaus
suveikimo slenkstį 𝑈𝑠.𝑠 = 0 V. Nuspauskite mygtuką “Matavimas”.
Grafiniame VP indikatoriuje pasirodys komparatoriaus perdavimo
charakteristikos vaizdas. Nukopijuokite gautą grafiką į ataskaitos
puslapį.
4.1.3. Iš perdavimo charakteristikos nustatykite komparatoriaus
teigiamos 𝑈𝑖š+ ir neigiamos 𝑈𝑖š− išėjimo charakteristikų reikšmes.
Tam pasinaudokite horizontalia vizyro linija, stumdoma
slankiojančiu reguliatoriumi "𝑌" pagalba. Rezultatus įrašykite į
ataskaitą.
7.10 pav. 1 užduoties VP vaizdas
112
4.1.4. Nustatykite įėjimo signalo dydį, prie kurio komparatorius
perjungiamas. Tam panaudokite vertikalią vizyro liniją, stumdomą
slankiojančiu reguliatoriumi "𝑋". Rezultatų tikslumo pagerinimui
reikia nustatyti įėjimo signalo (𝑈įė.𝑚𝑖𝑛 , 𝑈įė.𝑚𝑎𝑥 ) keitimo sritį, patogų
perdavimo charakteristikos stebėjimui, ir dar kartą nuspausti
mygtuką „Matavimas“. Rezultatus įrašykite į ataskaitą. Palyginkite
gautą reikšmę su nustatytu komparatoriaus suveikimo slenksčiu
𝑈𝑠.𝑠.
4.1.5. Pakartokite 4.1.2 - 4.1.4 p.p., nustačius suveikimo slenksčio
reikšmes – 2,5V ir +1,7V.
4.1.6. Nuspauskite VP valdymo lange mygtuką „Pereiti prie 2
užduoties“, ekrane pasirodys 2 užduoties VP valdymo langas (7.12
pav.).
2 užduoties. Vienaslenksčio komparatoriaus darbo tyrimas
4.2.1. VP valdymo elementais nustatykite tokį matavimo režimą:
signalo forma - sinusinė, signalo dažnis - 200Hz, įėjimo signalo
amplitudė 7V.
4.2.2. Slankiojančiu reguliatoriumi nustatykite komparatoriaus
𝑈𝑠𝑢𝑣 = 0 suveikimo slenkstį. Grafiniame indikatoriuje pasirodys
komparatoriaus įėjimo ir išėjimo signalų vaizdai.
4.2.3. Nukopijuokite šiuos signalų vaizdus į ataskaitą.
7.11 pav. Vienaslenksčio komparatoriaus charakteristikų
tyrimo elektrinė jungimo schema
113
Pasinaudodami įėjimo signalo vaizdu grafiniame VP
indikatoriuje, horizontalia vizyrio linija nustatykite įėjimo įtampos
𝑈įė.𝑠𝑢𝑣 slenksčio reikšmę. Rezultatą įrašykite į ataskaitą.
4.2.4. Pakartokite 4.2.2 - 4.2.3 p.p., nustačius suveikimo slenksčio
reikšmes – 5V ir +5V.
4.2.5. Pakartokite vienaslenksčio komparatoriaus darbo tyrimą,
esant kitoms įėjimo signalo formoms (trikampei, stačiakampei,
pjūklui).
4.2.6. Nuspauskite priekiniame VP valdymo lange mygtuką
„Pereiti prie 3 užduoties“, ekrane pasirodys 3 užduoties VP
valdymo langas (7.13 pav.).
3 užduotis. Histerezinio komparatoriaus perdavimo
charakteristikos gavimas
Histerezinio komparatoriaus charakteristikų tyrimui
naudojama schema, parodyta 7.14 pav.
4.3.1. VP valdymo elementais nustatykite įėjimo signalo keitimo
sritį (rekomenduojamos reikšmės 𝑈įė.𝑚𝑖𝑛 = −10V, 𝑈įė.𝑚𝑎𝑥 = 10V) ir
išėjimo signalo kitimo ribas (rekomenduojamos reikšmės 𝑈𝑖š.𝑚𝑖𝑛 =
−10V, 𝑈𝑖š.𝑚𝑎𝑥 = 10V).
Pav.7.12. VP vaizdas, vykdant 2 užduotį
7.12 pav. 2 užduoties VP vaizdas
114
4.3.2. Slankiojančiu reguliatoriumi nustatykite perdavimo
charakteristikos šaltinio įtampą 𝑈𝑝į = 0V. Nuspauskite mygtuką
„Matavimas“. Grafiniame VP indikatoriuje pasirodys
komparatoriaus perdavimo charakteristikos vaizdas. Skirtingai nei
vienaslenkstis komparatorius, histerezinis turi du perjungimo
lygius: suveikimo įtampą (𝑈𝑠𝑢𝑣 ), monotoniškai didinant įėjimo
signalą, ir atleidimo įtampą (𝑈𝑎𝑡𝑙 ), monotoniškai mažinant įėjimo
signalą. Nukopijuokite perdavimo charakteristikos vaizdą į
ataskaitą.
4.3.3. Iš perdavimo charakteristikos nustatykite komparatoriaus
teigiamą 𝑈𝑖š+ ir neigiamą 𝑈𝑖š− išėjimo charakteristikas, o taip pat
komparatoriaus perjungimo lygius 𝑈𝑠𝑢𝑣 ir 𝑈𝑎𝑡𝑙 . Rezultatus įrašykite
į ataskaitą.
Paskaičiuokite komparatoriaus suveikimo ir paleidimo įtampas
pagal šias formules:
𝑈𝑠𝑢𝑣 =𝑈𝑝į/𝑅2 + 𝑈𝑖š+/𝑅4
1/𝑅2 + 1/𝑅3 + 1/𝑅4,
𝑈𝑎𝑡𝑙 =𝑈𝑝į/𝑅2 + 𝑈𝑖š−/𝑅4
1/𝑅2 + 1/𝑅3 + 1/𝑅4.
7.13 pav. 3 užduoties VP vaizdas
7.13 pav. 3 užduoties VP vaizdas
115
Palyginkite paskaičiuotas reikšmes su eksperimentiniais
duomenimis.
4.3.4. Pakartokite 4.3.2 - 4.3.3 p.p., nustačius priešįtampio reikšmes
– 10V, −5V, +5V ir +10V. Nustatykite, kokia tais atvejais
komparatoriaus suveikimo lygio slinktis ir ar keičiasi histerezės
dydis.
4.3.5. Nuspauskite priekiniame VP valdymo lange mygtuką
„Pereiti prie 4 užduoties“, ekrane pasirodys 4 užduoties VP
valdymo langas (7.15 pav.).
4 užduotis. Histerezinio komparatoriaus darbo tyrimas
4.4.1. VP valdymo elementais nustatykite tokį matavimo režimą:
signalo forma - sinusinė, signalo dažnis - 200Hz, įėjimo signalo
amplitudė 7V.
4.4.2. Slankiojančiu reguliatoriumi nustatykite perdavimo
charakteristikos šaltinio įtampą 𝑈𝑝į = 0V. Grafiniame indikatoriuje
pasirodys komparatoriaus įėjimo ir išėjimo signalų vaizdai.
Nukopijuokite komparatoriaus įėjimo ir išėjimo signalų vaizdą į
ataskaitą.
7.14 pav. Histerezinio komparatoriaus charakteristikų
tyrimo elektrinė jungimo schema
116
4.4.3. Pasinaudodami įėjimo signalo vaizdu grafiniame VP
indikatoriuje, horizontalia vizyro linija nustatykite komparatoriaus
suveikimo įtampą 𝑈𝑠𝑢𝑣 ir atleidimo įtampą 𝑈𝑎𝑡𝑙 . Rezultatus
įrašykite į ataskaitą.
4.4.4. Pakartokite 4.4.2 - 4.4.3 p.p., nustačius perdavimo
charakteristikos šaltinio įtampas – 5V ir +5V.
4.4.5. Pakartokite histerezinio komparatoriaus darbo tyrimą, esant
skirtingoms įėjimo signalo formoms (trikampei, stačiakampei, pjūklui).
4.4.6. Išjunkite VP, paspausdami priekiniame valdymo lange
mygtuką „Darbo pabaiga“.
5. KONTROLINIAI KLAUSIMAI
Kuo komparatoriaus schema skiriasi nuo stiprintuvo sche-
mos?
Kokios išėjimo įtampos gali formuotis komparatoriaus išėji-
me?
Koks operacinio stiprintuvo režimas yra komparatorinis?
Kuo paaiškinama palyginimo schemos paklaida ir kokiu bū-
du ją galima sumažinti vienaslenksčiame komparatoriuje?
7.15 pav. 4 užduoties VP vaizdas
117
Kokia yra histerezinio komparatoriaus perdavimo charakte-
ristika?
Kaip galima pakeisti vienaslenksčio komparatoriaus suvei-
kimo slenkstį?
Kaip užduodama histerezinių komparatorių perdavimo cha-
rakteristikos slinktis?
Kokie histerezinio komparatoriaus privalumai, lyginant jį su
vienaslenksčiu?
Kokiu tikslumu darbe nustatyti analoginių komparatorių
parametrai? Nuo ko gali priklausyti gautų rezultatų koky-
bė?
LABORATORINIS MODULIS Nr. 8
SKAITMENINIŲ SCHEMŲ TYRIMAS
1. DARBO TIKSLAS
skaitmeninių loginių elementų darbo tyrimas;
dešifratoriaus darbo tyrimas;
multipleksoriaus darbo tyrimas;
trigerių darbo tyrimas;
skaitiklių darbo tyrimas.
2. TEORINĖ DALIS
loginių elementų klasifikacija, paskirtis ir darbo ypatybės *1];
dešifratorių ir multipleksorių sudarymo principai ir darbo
režimai *1, 3];
trigerių klasifikacija, darbo principai ir įjungimo būdai *1];
impulsų skaitiklių rūšys, jų darbo principai ir pritaikymo
ypatybės [1, 3].
Loginiai elementai
Skaitmeniniu loginiu elementu vadinamas fizinis įrenginys, at-
liekantis paprastą loginę funkciją arba vieną iš logikos algebros
118
operacijų. Schema, turinti baigtinį elementų skaičių ir sudaryta,
naudojant atitinkama taisykles, vadinama loginė schema.
Loginės funkcijos, o būtent, loginis neigimas, loginis daugini-
mas (konjunkcija) ir loginė sudėtis (disjunkcija), gali būti atliekamos
tam tikrų loginių elementų pagalba. 8.1 lentelėje parodyti loginiai
elementai, jų žymėjimas schemose ir atliekamos funkcijos.
Pastaba: Lentelėje panaudoti žymėjimai:
• 𝑥 - reikšmės neigimas 𝑥;
• ⋀ - loginis dauginimas (konjunkcija);
• ⋁ - loginė sudėtis (disjunkcija).
Loginiai elementai 8.1 lentelė
Elementas GOST ir IEC
117-15A
Milspec 806B Funkcija
NE
𝑦 = 𝑥
IR
𝑦 = 𝑥1⋀𝑥2
IR-NE
𝑦 = 𝑥1⋀𝑥2
ARBA
𝑦 = 𝑥1⋁𝑥2
ARBA-
NE
𝑦 = 𝑥1⋁𝑥2
Išskirtinė
ARBA
𝑦 = 𝑥1 ⋀𝑥2 ⋁ 𝑥1⋀𝑥2
Loginio elemento darbas aprašomas būsenų lentele. Joje nuro-
domos visos įmanomos loginio elemento įėjimo kintamųjų reikšmės
ir išėjimo būsenos, atitinkančios atliekamą loginę funkciją. Loginiai
119
kintamieji gali būti tik dviejų reikšmių - 0 arba 1. Loginio elemento
IR būsenų lentelės pavyzdys parodytas 8.2 lenteleje.
Elemento IR būsenų lentelė 8.2 lentelė
Įėjimai Išėjimas
𝒙𝟏 𝑥2 𝑦
0 0 0
0 1 0
1 0 0
1 1 1
Loginės schemos, užtikrinančios vienareikšmį įėjimo ir išėjimo
signalų reikšmių atitikimą, vadinamos kombinuotomis. Joms pri-
klauso dešifratoriai ir multipleksoriai.
Dešifratoriai
Dešifratoriumi vadinasi n-laipsnio dvejetainio kodo keitiklis į
unitarinį 2𝑛 - laipsnio kodą, kurio visi bitai, išskyrus vieną, lygūs
vienetui. Dešifratoriai būna pilnieji ir nepilnieji. Pilnajam dešifrato-
riui būtina sąlyga:
𝑁 = 2𝑛 , (8.1)
kur 𝑛 - įėjimų skaičius (paprastai 𝑛 lygus 2,3 arba 4); 𝑁 - išėjimų
skaičius.
8.1 pav. Dešifratoriaus 3x8 grafinis žemėjimas
120
Nepilni dešifratoriai turi 𝑛 įėjimų, bet realizuojami 𝑁 < 2𝑛 iš-
ėjimai. Taip, pavyzdžiui, dešifratorius, turintis 4 įėjimus ir 10 išėji-
mų, bus nepilnas, o dešifratorius, turintis 2 įėjimus ir 4 išėjimus, bus
pilnas.
8.1 pav. parodyta dešifratoriaus schema su 𝑛 = 3.
Į įėjimus 𝑥0 , 𝑥1 , 𝑥2 galima paduoti aštuonias loginių verčių
kombinacijas: 000, 001, 010,..., 111. Schema turi aštuonis išėjimus,
viename kurių formuojamas žemas potencialas (0), o kituose - aukš-
tas (1). To vienintelio nulinio lygio išėjimo numeris atitinka skaičių
𝑁, nustatomą įėjimų 𝑥0 , 𝑥1 , 𝑥2 būseną tokiu būdu: 𝑁 = 22 𝑥2 +
21 𝑥1 + 20 𝑥0.
Apibendrintą išėjimo signalo 𝑦𝑖 būseną galima aprašyti tokių
sąlygų sistema:
𝑦𝑖 =
0, jeigu 𝑖 = 𝑘; 1, jeigu 𝑖 ≠ 𝑘;
𝑘 = 22 𝑥2 + 21 𝑥1 + 20 𝑥0.
(8.2)
Be informacinių įėjimų 𝑥0 , 𝑥1 , 𝑥2 , dešifratoriai paprastai turi
papildomus valdymo įėjimus 𝐸. Signalai šiuose įėjimuose leidžia
dešifratoriui atlikti reikiamas funkcijas arba perveda jį į pasyvią
būseną, kurioje, nepriklausomai nuo signalų informaciniuose įėji-
muose, visuose išėjimuose nusistovi loginio vieneto lygis. Galima
teigti, kad egzistuoja tam tikra išskyrimo funkcija, kurios vertę ap-
sprendžia valdymo įėjimų būsena. Dešifratoriaus valdymo įėjimas gali būti tiesioginis arba inver-
sinis. Dešifratoriuose su tiesioginiu įėjimu aktyvus lygis yra loginio
vieneto lygis, o dešifratoriuose su inversiniu įėjimu - loginio nulio
lygis. Dešifratorius, parodytas 8.1 pav., turi vieną inversinį valdymo
įėjimą. Išėjimo signalo formavimo principas jame, įvertinant val-
dymo signalą, nusakomas tokia formule:
𝑦𝑖 = 1 ∙ 𝐸 , jeigu 𝑖 = 𝑘;
1, jeigu 𝑖 ≠ 𝑘;
𝑘 = 22 𝑥2 + 21 𝑥1 + 20 𝑥0.
(8.3)
121
Egzistuoja dešifratoriai su keliais valdymo įėjimais. Tokiems
dešifratoriams leidimo funkcija, kaip taisyklė, yra visų valdymo
signalų loginis darinys. Pavyzdžiui, dešifratoriui 74138 su vienu
tiesioginiu valdymo įėjimu 𝐸3 ir dviem inversiniais 𝐸1 ir 𝐸2, funk-
cija 𝐸 atrodo taip:
𝐸 = 𝐸1 ∙ 𝐸2 ∙ 𝐸3 (8.4)
Multipleksoriai
Multipleksoriumi vadinama kombinuota loginė valdomo per-
jungėjo schema, kuri vieną iš informacinių duomenų įėjimų prijun-
gia prie išėjimo. Prijungiamo įėjimo numeris yra lygus adresų įėji-
mų loginių lygių kombinacijos skaičiui. Be informacinių ir adresų
įėjimų multipleksorių schemos gali turėti valdymo įėjimą, į kurį
paduodant aktyvuojantį lygį, multipleksorius pereina į aktyvią bū-
seną. Į tą įėjimą paduodant priešingą lygį, multipleksorius pereina į
pasyvią būseną, kurioje išėjimo signalas nepriklauso nuo informa-
cinių ir adresų signalų.
Pagal informacinių įėjimų skaičiaus 𝑛 santykį su adresų įėjimo
skaičiumi 𝑚 multipleksoriai skirstomi į pilnus ir nepilnus. Jei pa-
tenkinama sąlyga 𝑛 = 2𝑚 , tai multipleksorius yra pilnas. Jei ši sąly-
ga nepatenkinama, t.y. 𝑛 < 2𝑚 , tai multipleksorius yra nepilnas.
Multipleksoriaus informacinių įėjimų skaičius paprastai būna 2,
4, 8 arba 16. 8.2 pav. parodytas multipleksorius 4x1 su inversiniu
valdymo įėjimu 𝐸 ir tiesioginiu išėjimu 𝑦, ir tai yra pusė multiplek-
soriaus 74253 mikroschemos.
8.2 pav. Multipleksoriaus 4x1 grafinis žemėjimas
122
Tokio multipleksoriaus išėjimo funkciją galima išreikšti formu-
le:
𝑦 = 𝑥0 𝐴 ∙ 𝐵 + 𝑥1 𝐴 ∙ 𝐵 + 𝑥2 𝐴 ∙ 𝐵 + 𝑥3 𝐴 ∙ 𝐵 (8.5)
kur 𝑥0 , 𝑥1 , 𝑥2 , 𝑥3 - informaciniai įėjimai; 𝐴, 𝐵 - adresų įėjimai.
Bendru atveju pilnam multipleksoriui, turinčiam 𝑛 valdančių
(adresų) įėjimus ir 2𝑛 informacinių įėjimų, galima realizuoti 2𝑛 -
loginių įėjimų funkcijų. Kadangi kiekvienai valdančių įėjimų kom-
binacijai atitinka vienintelis informacinis įėjimas, į jį ir reikia nusta-
tyti reikalingos reikšmės loginę funkciją, kuri ir bus perduodama į
multipleksoriaus išėjimą.
Trigeriai
Trigeriu vadinamas įrenginys, turintis dvi stabilias būsenas.
Dvi stabilios trigerio būsenos, kurias užtikrina teigiamas grįžtama-
sis ryšys, išėjime sukuria būsenas: 𝑄 = 1 ir 𝑄 = 0. Kokios būsenos
bus trigeris, priklauso nuo trigerio įėjimų signalų ir nuo ankstesnės
trigerio būsenos, kitaip sakant, trigeris turi atmintį. Trigerį galima
pavadinti elementaria atminties ląstele.
Pagal darbo algoritmus trigeriai skirstomi į tipus. Priklausomai
nuo darbo algoritmo, trigeris gali turėti nustatymo, informacinius ir
valdančius įėjimus. Nustatymo įėjimai nustato trigerio būseną, ne-
priklausomai nuo kitų įėjimų būsenos. Valdantys įėjimai leidžia
užrašyti duomenis, paduodamus į informacinius įėjimus. Plačiau-
siai paplitę trigeriai RS, JK, D ir T. Šių trigerių žymėjimai parodyti
8.3 pav.
RS - trigeris turi du informacinius įėjimus, S ir R. Padavus į įė-
jimą S signalą 1, o į įėjimą R signalą 0, trigerio 𝑄 išėjime gaunamas
8.3 pav. Trigerių RS, JK, D ir T - tipo grafinis žemėjimas
123
signalas 1. Atvirkščiai, esant signalams 𝑆 = 0 ir 𝑅 = 1, trigerio iš-
ėjimo signalas bus 0. RS - trigerio veikimas nusakomas lygtimi:
𝑄𝑛+1 = 𝑅𝑛
𝑆𝑛 + 𝑅𝑛 𝑄𝑛 (8.6)
kur 𝑄𝑛 ir 𝑄𝑛+1 - atitinkamai buvusi ir nauja trigerio būsena.
RS - trigeriui kombinacija 𝑆 = 1 ir 𝑅 = 1 draudžiama. Esant to-
kiai informacinių signalų kombinacijai, trigerio būsena taps neapib-
rėžta: jo išėjime 𝑄 gali būti 0 arba 1.
Egzistuoja RS - trigerių rūšys, vadinami E, R, ir S - trigeriais,
kuriems derinys 𝑆 = 𝑅 = 1 nėra draudžiamas. E - trigeris, esant
𝑆 = 𝑅 = 1, nekeičia savo būsenos (𝑄𝑛+1 = 𝑄𝑛 ), S - trigeris, esant
𝑆 = 𝑅 = 1, nusistato būsenoje 𝑄 = 1, o R - trigeris šiuo atveju atsi-
duria būsenoje 𝑄 = 0.
JK - trigeriai taip pat turi du informacinius įėjimus J ir K. Kaip ir
RS - trigeryje, JK - trigeryje J ir K - tai nustatymo įėjimai, pervedan-
tys išėjimą 𝑸 į būseną 1 arba 0. Bet, priešingai nei RS - trigeryje, JK
– trigeryje, kai 𝐽 = 𝐾 = 1, pakeičia trigerio išėjimo 𝑄 būseną į prie-
šingą. JK - trigeriai sinchronizuojami loginės būsenos pasikeitimu
įėjime 𝐶. JK - trigerio veikimo sąlyga išreiškiama:
𝑄𝑛+1 = 𝐽𝑛𝑄𝑛 + 𝐾𝑛
𝑄𝑛 (8.7)
D - trigeris, arba uždelsimo trigeris, gavęs į įėjimą 𝐶 sinchroni-
zavimo signalą, įrašo į trigerį įėjime 𝐷 buvusį loginį lygį. D - trige-
rio veikimo lygtis atrodo taip: 𝑄𝑛+1 = 𝐷𝑛 . Ši lygtis parodo, kad iš-
ėjimo signalas 𝑄𝑛+1 pakinta ne iš karto, pasikeitus įėjimo signalui 𝐷,
o tik sulaukus sinchronizavimo signalo, t. y., su vienu sinchroniza-
cijos impulsų periodo uždelsimu (Delay - uždelsimas).
D - trigeris sinchronizuojamas impulsu arba jo frontu.
T - trigeris, arba skaičiavimo trigeris, keičia išėjimo būseną pagal
impulso frontą įėjime 𝐶. Be sinchronizacijos įėjimo (𝐶) T - trigeris
gali turėti paruošiamąjį įėjimą 𝑇. Signalas šiame įėjime leidžia (kai
124
𝑇 = 1) arba neleidžia (kai 𝑇 = 0) trigerio suveikimą nuo impulsų
frontų įėjime 𝐶. T - trigerio veikimo lygtis yra:
𝑄𝑛+1 = 𝑇𝑛𝑄𝑛 + 𝑇𝑛
𝑄𝑛 (8.8)
Iš šios lygties matyti, kad, esant 𝑇 = 1, atitinkamas signalo fron-
tas įėjime 𝐶 perveda trigerį į priešingą būseną. Potencialo kitimo
dažnis T -trigerio išėjime du kartus mažesnis nei impulsų dažnis
įėjime 𝐶. Ši T - trigerių savybė leidžia jų pagrindu kurti dvejetainius
skaitiklius. Todėl šie trigeriai ir vadinami skaičiavimo trigeriais.
Skaičiavimo trigeris be įėjimo 𝑇 veikia taip pat, kaip ir T - trigeris,
esant 𝑇 = 1.
Skaitikliai
Skaitikliu vadinasi įrenginys, skirtas įėjimo impulsų skaičiavi-
mui. Su kiekvienu impulso patekimu į įėjimą 𝑪 skaitiklio būsena
pakinta vienetu. Skaitiklį galima sukurti iš kelių trigerių, tada skai-
tiklio būseną nusakys jo trigerių būsenos. Sumuojančiuose skaitik-
liuose kiekvienas įeinantis impulsas padidina išėjimo skaičių viene-
tu, o atimties skaitikliuose kiekvienas įeinantis impulsas sumažina
šį skaičių vienetu. Patys paprasčiausi skaitikliai - dvejetainiai.
Pav.8.4 parodytas sumuojantis dvejetainis skaitiklis.
Skaitiklyje trigeriai sujungiami nuosekliai. Kiekvieno trigerio
išėjimas tiesiogiai veikia kito trigerio taktinį įėjimą. Norint realizuo-
ti sumuojantį skaitiklį, reikia bet kurio kito trigerio skaičiavimo įė-
jimą prijungti prie paskutiniojo trigerio inversinio išėjimo. Skaičia-
8.4 pav. Sumuojantis dvejetainis skaitiklis
125
vimo krypčiai pakeisti (sukurti atimties skaitiklį) naudojami tokie
metodai:
išėjimo signalai skaičiuojami ne tiesioginiuose, o inversi-
niuose trigerių išėjimuose;
skaitiklio ryšių struktūra pakeičiama, paduodant signalą į
trigerio skaičiavimo įėjimą ne iš inversinio, bet iš tiesioginio
paskutinio įrenginio išėjimo.
Skaitikliai charakterizuojami būsenų skaičiumi per vieną skai-
čiavimo periodą (ciklą). Būsenų skaičius nustatomas trigerių skai-
čiumi 𝑘 skaitiklio struktūroje. Kai, pvz., 𝑘 = 3, būsenų skaičius ly-
gus 𝑁 = 23 = 8 (nuo 000 iki 111).
Skaitiklio būsenų skaičius vadinamas perskaičiavimo koeficien-
tu 𝐾𝑠𝑘 . Šis koeficientas lygus impulsų skaičiaus 𝑁įė įėjime santykiui
su impulsų skaičiumi vyriausio laipsnio skaitiklio išėjime 𝑁𝑖š per
skaičiavimo periodą:
𝐾𝑠𝑘 =𝑁įė
𝑁𝑖š (8.9)
Jeigu į skaitiklio įėjimą paduotume periodinę dažnio 𝑓įė impul-
sų seką, tai vyriausio laipsnio skaitiklio išėjime dažnis 𝑓𝑖š bus 𝐾𝑠𝑘
kartų mažesnis:
𝐾𝑠𝑘 =𝑓įė
𝑓𝑖š (8.10)
Todėl skaitiklius galima naudoti kaip dažnio daliklius, dydis
𝐾𝑠𝑘 tokiu atveju bus dalijimo koeficientas. Dydžio 𝐾𝑠𝑘 padidinimui
tenka padauginti trigerių kiekį grandinėje. Kiekvienas papildomas
trigeris padvigubina skaitiklio būsenų skaičių ir skaičių 𝐾𝑠𝑘 . Koefi-
ciento 𝐾𝑠𝑘 sumažinimui galima kaip skaitiklio išėjimą naudoti tar-
pinių pokopų trigerių išėjimus. Pavyzdžiui, skaitiklyje iš trijų trige-
rių 𝐾𝑠𝑘 = 8, imant antro trigerio išėjimą, bus 𝐾𝑠𝑘 = 4. Be to, 𝐾𝑠𝑘 vi-
sada bus skaičiaus 2 laipsniu, o būtent: 2, 4, 8, 16 ir t.t.
Galima sukurti skaitiklį, kuriam 𝐾𝑠𝑘 būtų bet kuris sveikas skai-
čius. Pavyzdžiui, iš trijų trigerių 𝐾𝑠𝑘 galima sukurti skaitiklį skai-
čiuojantį nuo 2 iki 7, bet tuo pat metu vienas ar du trigeriai gali tapti
126
nereikalingais. Panaudojant visus tris trigerius, galima gauti
𝐾𝑠𝑘 = 5 … 7, t.y. 22 < 𝐾𝑠𝑘 < 23. Skaitiklis su 𝐾𝑠𝑘 = 5 gali turėti 5 bū-
senas, kurios paprasčiausiu atveju sudaro seką: {0, 1, 2, 3, 4}. Cikli-
nis šios sekos kartojimas reiškia, kad skaitiklio dalijimo koeficientas
lygus 5.
Sumavimo skaitiklio su 𝐾𝑠𝑘 = 5 sukūrimui reikia, kad, sufor-
mavus paskutinį skaičių iš sekos {0, 1, 2, 3, 4}, skaitiklis pereitų ne
prie skaičiaus 5, o prie skaičiaus 0. Dvejetainėje sistemoje tai reiš-
kia, kad nuo skaičiaus 100 reikia pereiti prie skaičiaus 000, o ne prie
101. Įprastinę skaičiavimo tvarką galima pakeisti, įvedus tarp skai-
tiklio trigerių papildomus ryšius. Galima pasinaudoti tokiu būdu:
kai tik skaitiklis atsidurs nedarbinėje būsenoje (šiuo atveju 101), šis
faktas turi būti atpažintas ir atsirastų signalas, kuris pervestų skai-
tiklį į 000 būseną.
Nedarbinė skaitiklio būsena nusakoma logine lygtimi:
𝐹 = 101 ⋁ 110 ⋁ 111 =
= 𝑄3𝑄2𝑄1⋁𝑄3𝑄2𝑄1⋁𝑄3𝑄2𝑄1 = = 𝑄3𝑄1⋁𝑄3𝑄2 (8.11)
Būsenos 110 ir 111 taip pat yra nedarbinės ir todėl įvertintos,
sudarant lygtį. Jeigu ekvivalentinės loginės schemos išėjime 𝐹 = 0,
reiškia, kad skaitiklis yra vienoje iš darbinių būsenų: 0⋁1⋁2⋁3⋁4.
Kai jis atsiduria vienoje iš nedarbinių būsenų 5⋁6⋁7, susiformuoja
signalas 𝐹 = 1. Signalo 𝐹 = 1 pasirodymas turi pervesti skaitiklį į
pradinę padėtį 000, iš to seka, kad, šiam signalui paveikus skaitiklio
8.5 pav. Skaitiklio schema su 𝐾𝑠𝑘 = 5
127
trigerių nustatymo įėjimus, jie pervestų skaitiklį į būseną 𝑄1 = 𝑄2 =
𝑄3 = 0. Vienas iš skaitiklio su 𝐾𝑠𝑘 = 5 variantų parodytas 8.5 pav.
Nuosekliai sujungus trigerį ir skaitiklį su 𝐾𝑠𝑘 = 5, sudaromas
dešimtainis skaitiklis, kurio 𝐾𝑠𝑘 = 10. Tokie skaitikliai plačiai nau-
dojami, kuriant skaitmeninius matavimo prietaisus su operatoriui
patogiu dešimtainiu atskaitymo įrenginiu.
3. LABORATORINIO STENDO APRAŠYMAS
Laboratorinį stendą sudaro:
bazinis laboratorinis stendas;
laboratoriniai moduliai Lab8A ir Lab9A, skirti trigerių ir
skaitiklių darbo tyrimui.
4. DARBO UŽDUOTIS
Redaktoriuje MS Word paruoškite ataskaitos šabloną.
Įkraukite ir paleiskite programą Lab-8.vi.
Susipažinę su darbo tikslu nuspauskite mygtuką „Pradėti
darbą“. Ekrane pasirodys 1 užduoties Virtualaus Prietaiso (VP)
vaizdas (8.6 pav.).
1 užduotis. Skaitmeninių loginių elementų tyrimas
4.1.1. VP valdymo elementais, „pasirinkimų sąrašo“ tipo,
aktyvuokite reikiamą skaitmeninio loginio elemento tipą (8.6 pav.).
4.1.2. Į pasirinkto loginio elemento įėjimus paduokite elektrinius
signalus, kurių lygiai atitinka loginius lygius, nurodytus 8.3
lentelėje. Loginis lygis keičiasi, manipuliatoriumi „pelė“ vieną kartą
nuspaudus kvadratinį mygtuką, parodytą šalia atitinkamo įėjimo.
Ant mygtuko atvaizduojama įėjimo būsena (0 arba 1).
Įrašykite į 8.3 lentelę loginio elemento išėjimo būseną. Ši būsena
parodoma priekiniame VP valdymo lange apvalios formos indika-
toriuje. Loginė išėjimo būsena taip pat parodoma ir VP indikatoriu-
je.
4.1.3. Pakartokite visų loginių elementų, nurodytų 8.3 lentelėje,
tyrimą. Gautą būsenų lentelę įtraukite į ataskaitą.
128
4.1.4. Priekiniame VP valdymo lange nuspauskite mygtuką
„Pereiti prie 2 užduoties“, ekrane pasirodys 2 užduoties VP
valdymo langas (8.7 pav.).
8.3 lentelė
Įėjimai Išėjimai y loginius funkcijos:
𝒙𝟏 𝑥2 NE IR IR-NE ARBA ARBA-NE Išskirtinė
ARBA
0 0
0 1
1 0
1 1
2 užduotis. Dešifratoriaus 2x4 darbo tyrimas
4.2.1. Pasinaudodami valdymo elementais, esančiais VP valdymo
lange, nustatykite leidžiamajame dešifratoriaus įėjime "𝐸" loginę
būseną „0“.
4.2.2. Į dešifratoriaus įėjimus "𝑥0" ir "𝑥1" paduokite loginius
signalus pagal 8.4 lentelę ir kontroliuokite išėjimų "𝑦0~𝑦3" būsenas.
Gautus duomenis įrašykite į atitinkamus 8.4 lentelės langelius.
8.6 pav. 1 užduoties VP vaizdas
129
4.2.3. Pakartokite dešifratoriaus darbo tyrimą, kai leidžiamasis
įėjimas "𝐸" yra būsenoje „1“. Tyrimo rezultatus įtraukite į ataskaitą.
Nustatykite kuri įėjimo "𝐸" loginė būsena yra aktyvi.
4.2.4. Priekiniame VP valdymo lange nuspauskite mygtuką
„Pereiti prie 3 užduoties“, ekrane pasirodys 3 užduoties VP
valdymo langas (8.8 pav.).
3 užduotis. Multipleksoriaus 4x1 darbo tyrimas
4.3.1. Valdymo elementais, esančiais priekiniame VP valdymo
lange, nustatykite multipleksoriaus leidžiamajame įėjime "𝐸" loginę
būseną „0“.
8.4 lentelė
Įėjimas
𝑬 Įėjimas
𝒙𝟏 Įėjimas
𝒙𝟎 Išėjimas
𝒚𝟎 Išėjimas
𝒚𝟏 Išėjimas
𝒚𝟐 Išėjimas
𝒚𝟑
0
0 0
0 1
1 0
1 1
1
0 0
0 1
1 0
1 1
8.7 pav. 2 užduoties VP vaizdas
130
4.3.2. Nustatykite multipleksoriaus adresų įėjimuose "𝐴" ir "𝐵"
loginių būsenų kombinaciją pagal 8.5 lentelę.
4.3.3. Nustatykite, kuris iš keturių informacinių įėjimų (𝑥0~𝑥3)
prijungtas prie išėjimo 𝑦, esant nustatytai adreso reikšmei. Tam
tikslui, paeiliui keisdami multipleksoriaus įėjimų mygtukų "𝑥0~𝑥3"
esančių VP valdymo lange, būsenas, nustatykite įėjimo numerį,
kurio lygio perjungimas keičia išėjimo indikatoriaus "𝑦" būseną. To
įėjimo žymėjimą įrašykite į 8.5 lentelę. Jeigu nepavyksta surasti
įjungto įėjimo, į lentelę įrašykite simbolį " × ".
8.5 lentelė
Įėjimas
𝑬 Įėjimas
𝑨𝟏 Įėjimas
𝑨𝟎 Išėjimas 𝒚 = 𝒙𝒊
0
0 0
0 1
1 0
1 1
1
0 0
0 1
1 0
1 1
8.8 pav. 3 užduoties VP vaizdas
131
4.3.4. Pakartokite multipleksoriaus darbo tyrimą, kai leidžiamasis
įėjimas "𝐸" yra „1“. Tyrimo rezultatus įrašykite į ataskaitą.
Nustatykite, kuri loginė įėjimo "𝐸" būsena yra aktyvi.
4.3.5. Priekiniame VP valdymo lange nuspauskite mygtuką
„Pereiti prie 4 užduoties“, ekrane pasirodys 4 užduoties VP
valdymo langas (8.9 pav.).
Trigerių darbo tyrimui įstatykite laboratorinį modulį Lab8A į
laboratorinės stoties NI ELVIS II maketinės plokštės lizdą 𝐽2.
Modulio išorinis vaizdas parodytas 8.10 pav.
4 užduotis. Asinchroninio RS - trigerio darbo tyrimas
RS - trigerio darbo tyrimui naudojama elektrinė schema,
parodyta pav.8.11.
8.10 pav. Modulio Lab8A, skirto trigerių darbo tyrimui, išorinis vaizdas
8.9 pav. 4 užduoties VP vaizdas
132
4.4.1. Valdymo elementų, esančių priekiniame VP valdymo lange,
pagalba, paeiliui nustatykite trigerio įėjimuose R ir S logines
būsenas, nurodytas 8.6 lentelėje:
𝑄𝑛 - trigerio būsena iki valdymo signalų padavimo;
𝑄𝑛+1 - trigerio būsena po valdymo signalų padavimo;
× - bet kuri įėjimo būsena.
4.4.2. Indikatoriumi "𝑄" pagalba nustatykite trigerio išėjimo
būseną, atitinkančią įėjimo signalus, ir įrašykite į būsenų 8.6 lentelę.
4.4.3. Keisdami įėjimų būsenas, užpildykite RS - trigerio būsenų
virsmų lentelę (8.7 lentelė). Pažymėkite, kurie perjungimai keičia
trigerio būseną, o kurie - ne.
4.4.4. Priekiniame VP valdymo lange nuspauskite mygtuką
„Pereiti prie 5 užduoties“, ekrane pasirodys 5 užduoties VP
valdymo langas (8.12 pav.).
5 užduotis. Dviejų pakopų JK- trigerio darbo tyrimas
JK - trigerio darbo tyrimui naudojama elektrinė schema,
parodyta 8.13 pav.
4.5.1. Valdymo elementais, esančiais priekiniame VP valdymo
lange, įjunkite taktinį generatorių, paduodantį impulsus į JK -
8.11 pav. RS - trigerio darbo tyrimo elektrinė jungimo schema
Įėjimas
𝑹
Įėjimas
𝑺
Išėjimas
𝑸𝒏+𝟏
0 0
0 1
1 0
1 1
Išėjimas
𝑸𝒏
Įėjimas
𝑹
Įėjimas
𝑺
Išėjimas
𝑸𝒏+𝟏
0 × 0
0 0 1
1 1 0
1 0 ×
8.6 lentelė 8.7 lentelė
74279, 555TP2
133
trigerio skaičiavimo įėjimą "𝐶". Grafiniame VP indikatoriuje
pasirodys trigerio įėjimų ir išėjimų signalų laikinės diagramos.
4.5.2. Keisdami logines įėjimų J ir K būsenas ir stebėdami laiko
diagramas bei indikatoriaus būseną "𝑸" išėjime, užpildykite JK -
trigerio būsenų lentelę (8.8) ir būsenų virsmų lentelę (8.9).
4.5.3. Iš laiko diagramos nustatykite, koks taktinio impulso
pakitimas iššaukia JK - trigerio perjungimą. Laiko diagramų
analizės patogumui galima sustabdyti trigerio darbą, išjungiant
taktinį generatorių.
Vaizdą, gautą grafiniame VP indikatoriuje, rodantį pagrindines
JK - trigerio perjungimo fazes, nukopijuokite į ataskaitos puslapį.
8.12 pav. 5 užduoties VP vaizdas
Įėjimas
𝑱
Įėjimas
𝑲
Įėjimas
𝑪
Išėjimas
𝑸𝒏+𝟏
0 0 0 1 1 0 1 1
Išėjimas
𝑸𝒕
Įėjimas
𝑱
Įėjimas
𝑲
Išėjimas
𝑸𝒏+𝟏
0 × 0 0 0 1 1 1 0 1 0 ×
Lentelė 8.8 Lentelė 8.9
134
4.5.4. Priekiniame VP valdymo lange nuspauskite mygtuką
„Pereiti prie 6 užduoties“, ekrane pasirodys 6 užduoties VP
valdymo langas (8.14 pav.).
6 užduotis. Dviejų pakopų D - trigerio darbo tyrimas
D - trigerio darbo tyrimui naudojama elektrinė schema,
parodyta 8.15 pav.
4.6.1. Valdymo elementais, esančiais priekiniame VP valdymo
lange, įjunkite taktinį generatorių, paduodantį impulsus į D -
trigerio skaičiavimo įėjimą "𝐶". Grafiniame VP indikatoriuje
pasirodys trigerio įėjimų ir išėjimų signalų laikinės diagramos.
8.13 pav. JK - trigerio darbo tyrimo elektrinė jungimo schema
7472, 555TB1
8.14 pav. 6 užduoties VP vaizdas
135
4.6.2. Keisdami loginę įėjimo "𝐷" būseną ir stebėdami laikines
diagramas bei indikatoriaus būseną "𝑄" išėjime, užpildykite D -
trigerio būsenų lentelę (8.10) ir būsenų virsmų lentelę (8.11).
4.6.3. Iš laikinės diagramos nustatykite, kuris taktinio impulso
pakitimas perjungia D - trigerį.
4.6.4. Į ataskaitos puslapį nukopijuokite grafinio VP indikatoriaus
laikinę diagramą su pagrindinėmis D - trigerio perjungimo fazėmis.
4.6.5. Priekiniame VP valdymo lange nuspauskite mygtuką
„Pereiti prie 7 užduoties“, ekrane pasirodys 7 užduoties VP
valdymo langas (8.16 pav.).
7 užduotis. Skaičiuojančio T- trigerio darbo tyrimas
T - trigerio darbo tyrimui naudojama elektrinė schema,
parodyta 8.17 pav.
4.7.1. Valdymo elementais, esančiais priekiniame VP valdymo
lange, įjunkite taktinį generatorių, paduodantį impulsus į
skaičiuojantį T - trigerio įėjimą "𝐶". Grafiniame VP indikatoriuje
pasirodys trigerio įėjimų ir išėjimų signalų laikinės diagramos.
8.15 pav. D - trigerio darbo tyrimo elektrinė jungimo schema
Įėjimas
𝑫
Įėjimas
𝑺
Išėjimas
𝑸𝒏+𝟏
0
1
Išėjimas
𝑸𝒕
Įėjimas
𝑫
Išėjimas
𝑸𝒏+𝟏
0 0
0 1
1 0
1 1
8.10 lentelė 8.11 lentelė
7474, 555TM2
136
4.7.2. Pasinaudodami VP valdymo migtukais, nustatykite, kokiai
įėjimo "𝑇" loginei būsenai esant, trigeris dirba skaičiavimo režime,
t.y., keičia išėjimo būseną, veikiamas taktinių impulsų įėjime "𝐶".
4.7.3. Į ataskaitos puslapį nukopijuokite T - trigerio skaičiavimo
režime laikines diagramas, gautas grafiniame VP indikatoriuje.
4.7.4. Priekiniame VP valdymo lange nuspauskite mygtuką
„Pereiti prie 8 užduoties“, ekrane pasirodys 8 užduoties VP
valdymo langas (8.18 pav.).
Skaitiklių darbo tyrimui įstatykite laboratorinį modulį Lab9A į
laboratorinės stoties NI ELVIS II maketinės plokštės lizdą. Modulio
išorinis vaizdas parodytas 8.19 pav.
8.17 pav. T - trigerio darbo tyrimo elektrinė jungimo schema
7472, 555TB1
8.16 pav. 7 užduoties VP vaizdas
137
8 užduotis. Asinchroninio dvejetainio skaitiklio darbo tyrimas
Asinchroninio dvejetainio skaitiklio darbo tyrimui naudojama
elektrinė schema, parodyta 8.20 pav.
4.8.1. Valdymo elementais, esančiais priekiniame VP valdymo
lange, įjunkite taktinį generatorių, paduodantį impulsus į skaitiklio
skaičiavimo įėjimą "𝐶". Grafiniame VP indikatoriuje pasirodys
trigerio įėjimų ir išėjimų signalų laikinės diagramos.
4.8.2. Stebėdami skaitiklio darbą pagal laiko diagramas ir išėjimo
indikatoriuje, nustatykite, kokia loginė įėjimo "𝑅" būsena iššaukia
asinchroninio skaitiklio pervedimą į nulinę būseną.
Grafiniame indikatoriuje gautas laiko diagramas,
vaizduojančias pilną dvejetainio skaitiklio darbo ciklą,
nukopijuokite į ataskaitos puslapį.
8.19 pav. Modulio Lab9A, skirto skaitiklių darbo tyrimui, išorinis vaizdas
8.18 pav. 8 užduoties VP vaizdas
138
4.8.3. Priekiniame VP valdymo lange nuspauskite mygtuką
„Pereiti prie 9 užduoties“, ekrane pasirodys 9 užduoties VP
valdymo langas (8.21 pav.).
9 užduotis. Asinchroninio skaitiklio su perskaičiavimo koeficientu
10 darbo tyrimas
Asinchroninio skaitiklio su perskaičiavimo koeficientu 10 darbo
tyrimui naudojama elektrinė schema, parodyta 8.22 pav.
4.9.1. Valdymo elementais, esančiais priekiniame VP valdymo
lange, įjunkite taktinį generatorių, paduodantį impulsus į skaitiklio
skaičiavimo įėjimą "𝐶". Grafiniame VP indikatoriuje pasirodys
trigerio įėjimų ir išėjimų signalų laikinės diagramos.
8.20 pav. Asinchroninio dvejetainio skaitiklio darbo tyrimo elektrinė
jungimo schema
7493, 555IE5
8.21 pav. 9 užduoties VP vaizdas
139
4.9.2. Stebėdami skaitiklio darbą pagal laiko diagramas ir išėjimo
indikatorius, nustatykite, kokioms įėjimų "𝑅" ir "𝑆" loginėms
būsenoms esant, įvyksta asinchroninio skaitiklio perjungimas į
nulinę būseną ir jo asinchroninis perjungimas į būseną 10.
Grafiniame VP indikatoriuje gautas laiko diagramas, rodančias
dvejetainio skaitiklio su perskaičiavimo koeficientu 10 pilną darbo
ciklą, nukopijuokite į ataskaitos puslapį.
4.9.3. Išjunkite VP, paspausdami priekiniame valdymo lange
mygtuką „Darbo pabaiga“.
5. KONTROLINIAI KLAUSIMAI
Kas yra loginis kintamasis ir loginis signalas? Kokios jų ga-
limos reikšmės?
Kas yra loginė funkcija?
Kas yra būsenų lentelė? Pateikite pavyzdį.
Kokie loginiai elementai sudaro bazinį rinkinį?
Kokias logines funkcijas vykdo dešifratorius?
Kokia dešifratorių valdymo įėjimų paskirtis? Kaip valdymo
signalas veikia dešifratoriaus išėjimo funkcijas?
Kokio elektrinio įrenginio funkciją loginiams signalams at-
lieka multipleksorius?
Kokia logine lygtimi apibūdinamas multipleksoriaus 2x1 su
valdymo įėjimu darbas?
Aprašykite RS, JK, D ir T - trigerių darbo principą.
8.22 pav. Asinchroninio skaitiklio su perskaičiavimo koeficientu 10
darbo tyrimo elektrinė jungimo schema
7490, 555IE2
140
Kaip JK ir D - trigerių pagalba sukurti skaičiuojamąjį trigerį?
Kodėl T - trigeris vadinamas skaičiuojančiu?
Iš kokių trigerių ir kaip galima sudaryti dvejetainį skaitiklį?
Ką tam reikia padaryti?
Kaip perdaryti sumavimo skaitiklį į atimties (atėmimo)?
Kas yra skaitiklio perskaičiavimo koeficientas?
Kokiais būdais galima pakeisti skaitiklio perskaičiavimo ko-
eficientą?
Kokie skaitmeninių mikroschemų TTL ir TTLS serijų pa-
grindiniai parametrai?
Nuo ko gali priklausyti gautų rezultatų kokybė?
PRIEDAS
Laboratorinio darbo paruošimas
Laboratorinis stendas - tai aparatinis - programinis komplek-
sas, į kurio sudėtį įeina šios priemonės:
personalinis kompiuteris;
laboratorinė stotis NI ELVIS II;
laboratorinių modulių komplektas;
jungiamųjų laidų komplektas.
Išnagrinėkime pagrindinius reikalavimus aparatinėms priemo-
nėms ir pasiruošimui darbui tvarką.
Personalinis kompiuteris
Laboratorinių darbų, numatytų šiose laboratorinėse pratybose,
atlikimui reikalingas tokių parametrų IBM asmeninis kompiuteris:
Pentium III klasės procesorius ne žemesnio nei 733MHz
dažnio;
operatyvioji atmintis ne mažiau 256Mb;
2Gb laisvas vietos duomenų įrašymui diske.
Asmeninis kompiuteris turi turėti tokias programines priemo-
nes:
141
operacinę sistemą Windows 9x/2k/XP/Vista;
grafinio programavimo aplinką LabVIEW 8.2 ir aukštesnę
versija;
tekstinį redaktorių Mikrosoft Office WORD 2003 ar aukštes-
ni versiją.
Laboratorinė stotis NI ELVIS II
Laboratorinė stotis NI ELVIS II - tai kompanijos National In-
strument bazinis sprendimas, skirtas laboratorinių darbų atlikimui
bei mokymo laboratorijų sukūrimui aukštosiose mokyklose ir kole-
džuose. Į jos sudėtį įeina:
1. Maketinė plokštė (2800 lizdų), skirta studentams ar dėstyto-
jams savarankiškai sudaryti elektrines grandines ir įrengimus, da-
viklių ir valdomų sistemų montažui. Maketinė plokštė leidžia pa-
duoti į sudarytas schemas signalus iš duomenų surinkimo įrengi-
nio.
2. NI ELVIS II platforma, tarnauja signalų suderinimui, pa-
duodamų iš daugiafunkcinio duomenų rinkimo įrenginio į sche-
mas, sudarytas ant maketinės plokštės, o taip pat turinti visą eilę
papildomų įrengimų, valdomų rankiniu būdu arba programiškai:
reguliuojamus nuolatinės įtampos šaltinius ±12V ribose;
stabilizuotus nuolatinės įtampos +5V, ±15V šaltinius;
įmontuotą standartinių signalų (sinusas, stačiakampis, trikam-
pis, pjūklas) generatorių;
BNC jungtis multimetrui ir oscilografui;
apsaugos schemas nuo trumpo jungimo ir aukštos įtampos.
3. Programinė įranga, realizuojanti skaitmeninio multimetro,
oscilografo, generatoriaus, laisvos formos signalų generatoriaus,
derinamo nuolatinės įtampos šaltinio, VDCh ir FDCh grandinių
analizatoriaus, spektro analizatoriaus, skaitymo įrenginio VACh
analizatoriaus, skaitmeninio signalų užrašymo funkcijas.
4. Tvarkiklių ir pavyzdžių rinkinys, skirtas LabVIEW.
142
Prieš pradedant naudotis laboratorine stotimi NI ELVIS II
reikia:
įjungti asmeninį kompiuterį;
įstatyti įeinančius į komplektą tvarkiklius ir programinę sto-
ties NI ELVIS II įrangą;
sujungti USB kabeliu kompiuterį su NI ELVIS II platformos
USB jungtimi;
prijungti maitinimo bloką prie NI ELVIS II platformos ir nu-
statyti perjungiklius ant užpakalinio, o po to ant priekinio
platformos panelio į padėtį „ON“.
J1
J2
6 pav. Prijungimo prie pereinamos plokštės kontaktų schema
4 pav. NI ELVIS II su įstatyta maketine plokšte
143
Maketinės plokštės paruošimas
Į šių laboratorinių pratybų komplektą įeina 9 laboratoriniai
moduliai, ant kurių surinktos tyrinėjamos schemos. Moduliai
Lab1A - Lab7A skirti analoginių schemų tyrimui, o Lab8A ir Lab9A
- skaitmeninių. Kiekvienas modulis turi dvieilę jungtį (2x15 kontak-
tų), skirtą pereinamosios plokštės lizdui. Pereinamoji plokštė įsta-
toma į stoties NI ELVIS II maketinės plokštės lizdus kaip parodyta 4
pav. Analoginiai moduliai įstatomi į pereinamosios plokštės jungtį
J1, o skaitmeniniai - į jungtį J2. Laboratorinių modulių jungčių kon-
taktų numeracija parodyta 5 pav.
6 pav. parodytos laboratorinės stoties NI ELVIS II signalų pri-
jungimo prie pereinamos plokštės kontaktų schema, tiriant analogi-
nes (a) ir skaitmenines (b) schemas.
Prieš laboratorinio darbo atlikimą būtina paruošti NI ELVIS II
maketinę plokštę pagal instrukcijas. Išorinis paruoštos plokštės
vaizdas parodytas 7 pav.
Elektrinės jungtys ant maketinės plokštės atliekamos montaži-
niais laidais, įeinančiais į komplektą. Laboratorinius modulius rei-
kia pastatyti ant pereinamosios plokštės pagal žymes.
Pratybų programinės įrangos paruošimas
Programinė įranga skirta naudotis aplinkoje LabVIEW 8.2 arba
naujesnės versijos ir įrašyta į CD aplanke „Lab“. Darbo pradžioje
7 pav. Maketinės plokštės NI ELVIS II paruošimo vaizdas
144
nukopijuokite šį aplanką į jūsų kompiuterio kietąjį diską (pavyz-
džiui, į diską C:\). Atlikdami laboratorinį darbą, atidarykite aplan-
ką Lab ir įkraukite programą Lab-n.vi, kur n - darbo numeris. Pro-
grama paleidžiama, nuspaudus mygtuką RUN su pavaizduota strė-
le .
LITERATŪRA
Pagrindinė:
1. Прянишников В.А. Электроника: Полный курс лекций. -
СПб.: Учитель и ученик: КОРОНА принт, 2006.
2. S. Masiokas. Elektrotechnika: Vadovelis aukštosioms mo-
kykloms, Kaunas: Candela, 1994.
3. V. Stasiūnas. Elektronikos pagrindai: Šiaulių universiteto
leidykla, 2002.
4. Пасынков В.В., Чиркин Л.К. Полупроводниковые
приборы. Учебник для вузов. - СПб.: «Лань», 2003.
5. Опадчий Ю.Ф., Глудкин О.П., Гуров А.И. Аналоговая и
цифровая электроника (полный курс): Учебник для
вузов. Под. ред. О.П. Глудкина. - М.: Горячая линия-
Телеком, 2005.
Papildoma:
6. U. Tietze, Ch. Schenk. Anvanced Electronic Circuits: Sprin-
ger-Verlag Berlin Heidelberg New York, 1978.
7. Kirvaitis, Raimundas; Martavičius, Romanas. Analoginė
elektronika: Vadovėlis. Vilnius: Technika, 2003. 336 p. ISBN
9986-05-685-3.
8. Гусев В.Г., Гусев Ю.М. Электроника: Учебное пособие
для вузов. - М.: Высшая школа, 2005.
9. LabVIEW for Everyone: Graphical Programming Made
Easy and Fun (3rd Edition) (National Instruments Virtual
145
Instrumentation Series) by Jeffrey Travis and Jim Kring
(Hardcover - Aug 6, 2006).
10. Патон Б. Основы аналоговой и цифровой электроники. -
М.: 2002.
11. Вучков И., Бояджиева Л., Солаков Е. Прикладной
линейный регрессионный анализ. - М.: «Финансы и
статистика», 1987.
12. Č. Pavasaris. Puslaidininkiniai įtaisai. Veikimo ir taikymo pa-
grindai / 1 ir 2 d. 2004 - 2005, Vilnius
(http//rfk.ff.vu.lt/elektronikos-lab.htm)(1 d.: 106 ÷ 129, 131 ÷
136, 151 ÷ 162, 255 ÷ 263 p. p.).
13. LabVIEW 8 Student Edition (book only) by Robert Bishop
(Paperback - Sep 3, 2006).
14. Быстров Ю.А. и др. Электронные приборы и устройства
на их основе: Справочная книга. - М.: ИП РадиоСофт,
2002.
15. A. Lašas, V. Bartkevičius, G. Jasinevičienė, R. Šurna. Pramo-
ninė elektronika, I dalis. Vilnius: Mokslas, 1988, 57 ÷ 69, 127
÷ 136 p. p.
16. Электротехника и электроника в экспериментах и
упражнениях: Практикум на Electronics Workbench: В 2
т. /Под общей ред. Д.И. Панфилова - Т.2: Электроника. -
М.: ДОДЭКА, 2000.
17. Тревис Дж. LabVIEW для всех. - М.: ДМК Пресс;
ПриборКомплект, 2004.
18. Пейч Л.И., Точилин Д.А., Поллак Б.П. LabVIEW для
новичков и специалистов. - М.: Горячая линия-Телеком,
2004.