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Universidade Tecnológica Federal do Paraná
Desenvolvimento de um software para métricas em rastreabilidade de
artefatos de software
Jorge Roberto Rosa PereiraOrientador Profº Dr. Elias Canhadas Genvigir
Cornélio Procópio, 22 de Junho de 2011
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RoteiroIntrodução;Métricas para Rastreabilidade de Artefatos;
◦Modelo de Hull Et Al (2002);◦Modelo de Costello; Liu (1995);◦Um Modelo de Métrica para Rastreabilidade de
Artefatos;Justificativas;Tecnologias Utilizadas;Modelo Arquitetural do Projeto;
◦Metodologia de Desenvolvimento;◦Requisitos Funcionais do Projeto;
Demonstração da Solução;Cronograma;Referências;
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Introdução
Oriundo de um Projeto de Iniciação Científica;
Desenvolvimento de uma Ferramenta para Rastreabilidade de Artefatos;
Composto de dez módulos que se complementam;◦Participação de alunos de graduação da UTFPR;
◦Projeto trabalhado desde 2010;
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Introdução
Controle de Acesso
Gerenciador de Projetos
Segurança
Criação e Recuperação de
Projetos
Registro de Design
Rationale
Controle de Matrizes
Controle de Artefatos
Gerenciador de
Documentos
Análise de Impacto
Controle de Métricas
Ferramenta para Rastreabilidade de Artefatos
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Métricas para Rastreabilidade de Artefatos de Software
Melhoria na qualidade dos artefatos rastreados;
Melhoria na qualidade da rastreabilidade;
Estudo de duas abordagens;◦ Hull Et Al (2002);◦ Costello; Liu (1995);
Definição de um modelo baseado nos padrões existentes;
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Modelo de Hull et al. (2002)
Modelo de HULL et al. (2002), define cinco padrões de métricas;
Crescimento ProfundidadeLargura
Mudança Latente
Balanço
Modelo de Métrica por Hull et al. (2002)
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O modelo de métricas definido por Costello; Liu (1995) apresenta cinco padrões de métricas:
Modelo de Costello; Liu (1995)
Profundidade Plena e Alta Cobertura
Estatística de Vinculação
Cobertura de Próximo Nível
Rastreabilidade Indefinida
Rastreabilidade Inconsistente
Modelo de Métrica por Costello; Liu (1995)
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Junção dos padrões definidos por HULL ET AL (2002) e COSTELLO; LIU (1995);
Um Modelo de Métrica para Rastreabilidade de Artefatos
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Análise de Cobertura;◦ Indicar quantitativamente a cobertura total dos
artefatos rastreados para com a especificação;
◦ Por exemplo: 100 Artefatos Especificados / 80 Artefatos
Rastreados; Nível Cobertura da Rastreabilidade: 80% ;
Um Modelo de Métrica para Rastreabilidade de Artefatos
100
80
20
Artefatos Especificados
Artefatos Rastreados
Artefatos Não Rastreados
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Análise de Profundidade;◦ A partir de um artefato, determina-se a
quantidade de camadas que a rastreabilidade se estende;
Um Modelo de Métrica para Rastreabilidade de Artefatos
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Análise de Crescimento ou Elos;◦Avalia o nível de crescimento de cada Artefato da Matriz;
Um Modelo de Métrica para Rastreabilidade de Artefatos
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Análise de Inconsistência;◦Identificação dos elos ou artefatos
inconsistentes em relação a especificação;
Um Modelo de Métrica para Rastreabilidade de Artefatos
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Análise de Indefinição;◦ Identificação dos artefatos que não
possuem elos em uma determinada matriz;
Um Modelo de Métrica para Rastreabilidade de Artefatos
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JustificativasMelhoria da qualidade da rastreabilidade e
dos artefatos rastreados;
Mensuração da rastreabilidade de artefatos;
Auxilio nas tomadas de decisões da equipe;
Adaptação e junção de modelos de métricas;◦Criação e implementação de um novo modelo
de métrica para rastreabilidade de artefatos;
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Tecnologias UtilizadasAtividades Tecnologias Utilizadas
Modelagem de Dados UML IDE ASTAH (Versão Gratuita)Modelagem do Banco de Dados DBDesignerAmbiente de Desenvolvimento IDE NetBeans
Tecnologias de Desenvolvimento
Java
Plataforma Web Java Server Pages (JSP)API Java Servlet
Linguagem de Marcação HTMLSistema de Banco de Dados PostgreSQLComunicação com Banco de Dados API Java JDBC
Manipulação e Geração de Gráficos API JFreeChartCeWolf
Manipulação e Geração de Relatórios API JasperReports
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Modelo Arquitetural do ProjetoModelo de arquitetura em três
camadas;
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Metodologia de Desenvolvimento
Uso de um processo adaptativo;◦Ciclo de Vida Iterativo e Incremental;
Composto de quatro fases;
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Metodologia de Desenvolvimento
Desenvolvimento executado em quatro iterações;
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Requisitos Funcionais do Projeto
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Demonstração da Solução
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Cronograma Executado
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Referências COSTELLO, R.; LIU, D. Metrics for requirements
engineering. Journal of Systems and Software, 1995.
FENTON, N, PFLEEGER, S. Software Metrics: A Rigorous and Practical Approach. 2ed. Boston, MA: PWS Publishing, 1998.
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HULL, E.; JAKSON, K.; DICK, J. Requirements engineering. London: Spring Verlag, 2002.
INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS – IEEE.
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Referências MENDES, A. Arquitetura de Software: Desenvolvimento
orientado para arquitetura. 1ed. Rio de Janeira, RJ: Editora Campus, 2002.
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PRESSMAN, R.S. Engenharia de Software. 1ed. Rio de Janeiro, RJ: Makron Books, 1995.
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SOMMERVILLE, I. Engenharia de Software. 6ed. Nacional: Addison Wesley Editor, 2003.
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