Definiciones y términos precisos de metrologíaClaridad en los conceptos para realizar medidas analíticas
Referencia común para realización de mediciones químicasArmonización global de la terminología
VIM:2008
Comité conjunto de guías en metrología (JCGM)
Oficina Internacional de Pesos y Medidas
Comisión Electrotécnica Internacional
Federación Internacional de Química Clínica
Cooperación Internacional de Acreditación de
Laboratorios
Organización Internacional de Normalización
Unión Internacional de Química Pura y Aplicada
Unión Internacional de Física Pura y Aplicada
Organización Internacional de Metrología Legal
1. Magnitudes y unidades
2. Mediciones
3. Dispositivos de medición
4. Propiedades de los dispositivos de medida
5. Patrones de medición
VIM : 2008
VIM 2008: 2. Mediciones, generalidades
2.1 Medición:Proceso experimental
2.3 Mensurando: Propiedad cuantitativa que se desea medir
2.4 Principio de medida: Fenómeno base
2.5 Método de medida: Descripción genérica de la secuencia
(Obtener un valor)
(Concentración)
(Cromatografía)
(Alcance)
2.6 Procedimiento de medida: Descripción detallada que incluyecálculos necesarios para obtener un resultado de medida
2.9 Resultado de medida: Conjunto de valores de una magnitudatribuidos a un mensurando,acompañados de cualquier otrainformación relevante disponible
(Validación)
(Incertidumbre de análisis)
VIM 2008: 2. Mediciones, generalidades
2.10 Valor medido de una magnitud:
Valor de una magnitud que representa un resultado de medida
2.12 Valor convencional de una magnitud:Valor asignado a una magnitud, mediante un acuerdo, para undeterminado propósito
(Valor obtenido por procedimiento)
(Valor por acuerdo)
VIM 2008: 2. Mediciones, generalidades
2.13 Exactitud de medida:
Proximidad entre un valor medido y un valor verdadero de un mensurando
2.16 Error de medida: Diferencia entre un valor medido y unodereferencia
2.17 Error sistemático de medida: Constante o predecible
2.19 Error aleatorio de medida: Varía de manera impredecible
VIM 2008: 2. Mediciones, generalidades
2.15 Precisión de medida:
Proximidad entre los valores medidos obtenidos en medicionesrepetidas de un mismo objeto, o de objetos similares, bajo condicionesespecificadas
NOTA 1: La precisión de una medida se expresa numéricamentemediante medidas de dispersión tales como la desviación típica, lavarianza o el coeficiente de variación bajo las condiciones especificadas
VIM 2008: 2. Mediciones, Precisión
2.20 Condición de repetibilidad de una medición:
Condición de medición,dentro de un conjunto de condiciones que incluyeel mismo procedimiento de medida, el mismo operador, el mismosistema de medida, las mismas condiciones de operación y el mismolugar, así como mediciones repetidas del mismo objeto o de un objetosimilar en un periodo corto de tiempo
2.21 Repetibilidad de medida: precisión bajo condiciones de repetibilidad
VIM 2008: 2. Mediciones, Precisión
2.22 Condición de precisión intermedia de una medición:
Condición de medición, dentro de un conjunto de condiciones que incluyeel mismo procedimiento de medición, el mismo lugar y medicionesrepetidas del mismo objeto u objetos similares durante un periodo ampliode tiempo, pero que puede incluir otras condiciones que involucrenvariaciones
2.23 Precisión intermedia de medida: precisión bajo condiciones deprecisión intermedia
VIM 2008: 2. Mediciones, Precisión
2.24 Condición de reproducibilidad de una medición:
Condición de medición, dentro de un conjunto de condiciones que incluyediferentes lugares, operadores, sistemas de medida y medicionesrepetidas de los mismos objetos u objetos similares
2.25 Reproducibilidad de medida: precisión bajo condiciones dereproducibilidad
VIM 2008: 2. Mediciones, Precisión
CondicionesEspecificadas
Repetibilidad Precisión*intermedia
Reproducibilidad
Procedimiento
Operador
Sistema de Medida
Operación
Lugar
Tiempo
*Otras condiciones que involucre variaciones
1
1
1
1
1
1 día
1
1
> 1
> 1
> 1
> 1
> 1
VIM 2008: 2. Mediciones, Precisión
>1
1
1
2.26 Incertidumbre de medida:Parámetro que caracteriza la dispersión de los valores atribuidos a unmensurando
2.28 Evaluación tipo A de la incertidumbre de medida:Evaluación de una componente de la incertidumbre de medida medianteun análisis estadístico de los valores medidos obtenidos bajocondiciones de medida definidas
2.30 Incertidumbre típica de medida: Expresada como una desviacióntípica(Estadísticas)
(Estadística)
VIM 2008: 2. Mediciones, Incertidumbres
2.29 Evaluación tipo B de la incertidumbre de medida: Evaluación distintaa la tipo A (Presupuesto de la incertidumbre, Matemática)
2.31 Incertidumbre típica combinada de medida: Obtenida a partir de lasincertidumbres típicas individuales asociadas a las magnitudes de entradade un modelo de medición (Matemática)
2.33 Contribuciones a la incertidumbre: Declaración de una incertidumbrey sus componentes (Matemática)
2.35 Incertidumbre expandida de medida:Producto de una incertidumbre típica combinada y un factor mayor queuno (Matemática)
VIM 2008: 2. Mediciones, Incertidumbres
2.39 Calibración:
4.31 Curva de calibración: Expresión de la relación entre una indicación yel valor medido
Operación que bajo condiciones especificadas establece, en una primeraetapa, una relación entre los valores y sus incertidumbres de medidaasociadas obtenidas a partir de los patrones de medida, y lascorrespondientes indicaciones con sus incertidumbres asociadas y, enuna segunda etapa, utiliza esta información para establecer una relaciónque permita obtener un resultado de medida a partir de una indicación
* Relación entre patrón y valor obtenido por el equipo* Permite la interpolación para obtener un resultado
VIM 2008: 2. Mediciones, Calibración
4.30 Diagrama de calibración: Expresión gráfica de una relación
2.40 Jerarquía de calibración:Secuencia de calibraciones desde una referencia hasta el sistema demedida final, en la cual el resultado de cada calibración depende delresultado de la calibración precedente
VIM 2008: 2. Mediciones, Calibración
2.41 Trazabilidad metrológica:
Propiedad de un resultado de medida por la cual el resultado puederelacionarse con una referencia mediante una cadena ininterrumpida ydocumentada de calibraciones, cada una de las cuales contribuye a laincertidumbre de medida
VIM 2008: 2. Mediciones, Trazabilidad
3.1 Instrumento de medida: Dispositivo de medida (Medidas físicas “Metro”)
3.2 Sistema de medida: Conjunto de uno o más instrumentos de medida y, frecuentemente, otros dispositivos, incluyendo reactivos e insumos varios, ensamblados y adaptados para proporcionar valores medidos dentro de intervalos especificados, para magnitudes de naturalezas dadas
(Medidas químicas “Método analítico”)
VIM 2008: 3. Dispositivos de medida
4.1 Indicación: Valor proporcionado por un instrumento o sistema de medida
4.7 Intervalo de medida: Conjunto de los valores de una misma naturaleza (Rango)
4.12 Sensibilidad de un sistema de medida: Cociente entre la indicación y el valor medido(Pendiente m = (y – b)/ x )
VIM 2008: 4. Propiedades de los dispositivos de medida
4.20 Sesgo instrumental: Diferencia de la medida y un valor de referencia
4.21 Deriva instrumental: Variación continua o incremental de una indicación a lo largo del tiempo, debida a variaciones de las características metrológicas de un instrumento de medida
4.24 Incertidumbre instrumental: Procede del instrumento o sistema de medida utilizado
VIM 2008: 4. Propiedades de los dispositivos de medida
5.1 Patrón de medida: Valor de referencia determinado con unaincertidumbre asociada
5.4 Patrón primario de medida: Establecido mediante un procedimiento de medida primario
5.5 Patrón secundario de medida: Patrón establecido por medio de una calibración respecto a un patrón primario
5.7 Patrón de medida de trabajo: Utilizado para calibrar o verificar
VIM 2008: 5. Patrones de medición
5.13 Material de referencia:Suficientemente homogéneo y estable con respecto a propiedadesespecificadas, establecido como apto para su uso previsto en una medición
5.14 Material de referencia certificado:Acompañado por la documentación emitida, que proporciona valores de propiedades especificadas, con incertidumbres y trazabilidades asociadas
VIM 2008: 5. Patrones de medición
2.44 Verificación:Aportación de evidencia objetiva de que un elemento satisface losrequisitos especificados
2.45 Validación:Verificación de que los requisitos especificados son adecuados para unuso previsto
VIM 2008: 2. Mediciones, Validación