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2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会 Nagaoka University of Technology 室温強磁性半導体を用いた 新しい半導体デバイスの創製 長岡技術科学大学 工学部 電気系 教授 内富直隆 [email protected]

室温強磁性半導体を用いた 新しい半導体デバイスの …...2012.5.29 長岡技術科学大学新技術説明会 Nagaoka University of Technology 研究・技術開発の背景

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  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    室温強磁性半導体を用いた 新しい半導体デバイスの創製

    長岡技術科学大学

    工学部

    電気系

    教授

    内富直隆

    [email protected]

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    研究・技術開発の背景

    Spintronics

    =

    charge

    + Photon

    + spin

    半導体半導体エレクトロニクスエレクトロニクス 電荷制御電荷制御

    半導体スピントロニクス半導体スピントロニクス 電荷制御+電荷制御+スピン制御スピン制御

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    磁気抵抗素子への応用MRAM

    (Magnetoresistive random access memory

    書き込みワード線

    読み出しワード線

    ビット線

    電流

    磁界

    TMR 素子

    FET

    金属ベース・スピントロニクス

    スピン依存伝導を利用した、GMRやTMRはすでに実用化されているGMRセンサー:

    ハードディスクドライブ(HDD)の高密度化・大容量化

    不揮発性メモリー:トンネル磁気抵抗効果を用いたMRAM

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    半導体ベース・スピントロニクス

    >ドーピングなどによるキャリアの制御>混晶やヘテロ接合の結晶成長とバンドエンジニアリング>電子のスピンを制御する電子デバイスや光デバイスなどの能動素子>半導体エレクトロニクスとの整合性が高い

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    磁性半導体の強磁性転移温度(キュリー温度)は、実用化のために

    室温300 K以上が必要であること。

    磁性半導体に望まれる要件の一つとして、現在利用できる半導体プ

    ロセス技術と整合性があること。

    希薄磁性半導体

    GaMnAs

    (1) キュリー温度が100 K以上と比較的高いこと。(2) III-V 化合物半導体プロセスと整合性があること.

    スピントロニクスデバイスのプロトタイプが作製されている。

    磁性半導体に求められる要件

    半導体スピントロにクスを実現するために磁性半導 体材料に求められる要件として、

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    III-V族希薄磁性半導体はGaAs基板に格子整合 デバイス応用の可能性

    磁性半導体の代表的な報告例

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    代表的な磁性半導体

    GaMnAs

    III-V族GaAsに磁性イオンMn2+を添加したGaMnAsはGaAs基板に格子 整合することから、半導体スピントロニクスへの応用が期待され盛んに研

    究されている。

    結晶成長後の熱処理

    Mn

    濃度を増やす

    (Ga1-x

    Mnx

    )As

    1990 1995 2000 2005 20100

    50

    100

    150

    200

    250

    300

    Reco

    rd T

    c(K

    )

    Date (year)

    191K

    185K

    X=20%

    Our data152k

    GaMnAsのスピントロニクスデバイス応用のために、室温強磁性の実現 に向けた研究が行われている。

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    300KCr incorporated during MBE2.37(Zn,Cr)Te

    600KCo incorporated during MBE3.2TiO2:Co

    ~300Mn-implanted epi3.52ZnSiGeN2329KBridgman bulk growth0.65ZnSnAs2350KMn

    incorporated by diff.< 2.8(ZnMn)GeP2

    312Sealed ampule

    growth; insulating; 5.6% Mn

    1.83-2.8(Zn1-xMnx)GeP2

    >330Mn

    incorporated by implant or MBE; p ~1020 cm-3

    2.2(Ga,Mn)P:C>400Cr incorporated during

    MBE3.4(Ga,Cr)N

    940Mn

    incorporated during MBE3.4(Ga,Mn)N

    >300Mn

    incorporated during MBE; n-type

    3.4(Ga,Mn)N

    228-370Mn

    incorporated by diffn3.4(Ga,Mn)N

    >300Solid-phase reaction of evap. Mn

    1.72Cd1-xMnxGeP2(eV)

    TC(K)SynthesisBandgapMaterial

    室温強磁性半導体の報告例

    利用できる室温強磁性半導体は?

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    II-VI族希薄磁性半導体:

    MnはII族サイトをII族イオ ンとして置換するためキャリアは導入されない

    III-V族希薄磁性半導体:

    MnはIII族サイトII族イ オンとして置換するためホールが導入される

    > 通常、Mn間に反強磁性的相互作用が働く> Mnの固溶度が大きい

    > ホール

    を介在した強磁性的相互作用が働く> Mnの固溶度が小さい

    II-IV-V2族希薄磁性半導体: Mn添加はII-VI族 とIII-V族の両方の効果が期待できる

    II-IV-V2族希薄磁性半導体への期待

    Mn

    As

    Zn

    Sn

    Zn

    Te

    Cd

    Cd

    Mn

    Cd

    Ga

    As

    GaGa

    Mn

    > ホールを介在した強磁性的相互作用が働く> Mnの固溶度が大きい

    CdMnTe

    GaMnAs

    ZnSnAs2:Mn

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    カルコパイライト型半導体(II-IV-V2)

    新しい室温強磁性半導体の提案ZnSnAs2

    磁性原子Mnを添加

    Mn

    MnZn

    Sn

    As

    格子整合室温強磁性半導体

    ZnSnAs2 ZnSnAs2:Mn

    5B 13Al 31Ga 49In 81Tl

    6C 14Si 32Ge 50Sn 82Pb

    7N 15P 33As 51Sb 83Bi

    30Zn 48Cd80Hg

    IIB

    IIIA IVA VA

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    三元化合物半導体

    ZnSnAs2

    ZnSnAs2

    InP

    a=5.869Å

    a=5.853Å

    InP基板上で磁性半導体を含む半導体デバイスの可能性

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    Ultra High Vacuum System 

    ~10‐10Torr

    molecular flow with minimum collision

    slow grow rate

    ~1Å/s 

    nanoscale

    capability

    in situ monitoring

    probing surface structure during growth

    real time feedback of growth rate

    high purity source material

    ~99.9999%

    excellent epitaxial film quality

    high control of composition 

    shutter

    cell temperature

    Zn

    SnEffusion cells

    Cryo

    panel (LN2

    )

    (LN2

    )

    substrateFluorescent screen

    ~10-10

    Torr

    RHEED gun

    view port

    Mn

    As

    substrate heater

    UHV pump

    ion gauge

    substrate stage

    Source oven

    shutter

    分子線エピタキシーを用いる

    MBEMn:ZnSnAs2薄膜の作製方法

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    6 2 .0 6 2 .5 6 3 .0 6 3 .5 6 4 .0 6 4 .5 6 5 .0

    In P

    In P

    InP

    Zn Sn A s2

    Z n S n A s2

    ZnSnA s2

    Zn3A s

    2

    T s= 3 20oC

    Ts= 30 0oC

    T s= 2 80oC

    In P (0 0 4 ) p eak

    inte

    nsity

    [arb

    . uni

    ts]

    2 [d eg ]

    Ts= 2 6 5oCZn 3A s 2

    2 6 0 2 7 0 2 8 0 2 9 0 3 0 0 3 1 0 3 2 0 3 3 00

    1 0

    2 0

    3 0

    4 0

    5 0

    6 0

    7 0A s

    Sn

    % co

    mpo

    sitio

    nS u b stra te tem p era tu re T

    S [

    oC ]

    Zn Sn A sZ n

    @ Ts=300°C最適

    TS 300ºC

    ZnSnAs2薄膜の成膜条件

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    1nm

    ZnSnAs2

    InP

    High interfacial quality

    ZnSnAs2/InP界面のTEM

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    ZnSnAs2:Mn=2.4%

    InPa=0.5869c=0.5869ZnSnAs2a=0.5869c=0.5918

    InPa=0.5869c=0.5869ZnSnAs2a=0.5869c=0.5918

    ZnSnAs2:Mn/InPの逆格子空間マップ

    Δc=0.049Å

    ZnSnAs2:Mn=5%

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    0 1 0 0 2 0 0 3 0 0 4 0 0-0 .5

    0 .0

    0 .5

    1 .0

    1 .5

    2 .0

    M [a

    rb. u

    nits

    ]

    T [K ]

    3 3 3 K

    InP substrate

    ZnSnAs2

    :Mn

    Applied H=300 öe

    -5 0 0 0 -2 5 0 0 0 2 5 0 0 5 0 0 0

    -3 0

    -2 0

    -1 0

    0

    1 0

    2 0

    3 0

    5K

    300K

    1.5B/Mn atom

    M [

    emu

    /cm

    3]

    H [O e ]

    Mn:ZnSnAs2薄膜の室温強磁性

    Tc~333K

    Mn:4%

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

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    In-plane In-plane

    ZnSnAs2:Mn

    薄膜のM-H曲線

    ZnSnAs2:Mn (5%), Mn(7%)

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    磁界

    H

    偏光子1偏光子2

    ファラデー回転素子

    永久磁石

    光アイソレータ45度偏光方向

    光アイソレータは、順方向には光を通すが逆方向には光を通さない素子である。光通信では、半導体レーザの戻り光が発振モードの変化、周波数特性の劣化、

    雑音発生の原因となるために、光アイソレータによって戻り光を抑制する

    想定される用途

    磁気光学効果を示す材料が必要

    磁気光学応用への可能性

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    導波型薄膜光アイソレータへの応用

    Magnetic-optic film(Mn-ZnSnAs2 film)Rib waveguide

    InP substrate

    室温強磁性半導体Mn-ZnSnAs2薄膜を用いたInP光・ 電子集積回路と半導体導波路光アイソレータの一体化 の可能性

    Magnetic field

    Linearly polarized light

    Faraday rotation

    非相反性

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    0ZE 0ZERashbaスピン軌道相互作用

    真空中のスピン軌道相互作用

    zV(z)

    eE(z)

    1

    effB

    想定される用途

    これまで、電子のスピンは磁場によって制御されてきた。

    半導体量子井戸構造では、スピン軌道相互作用 により電子スピンを電場で制御することができる

    2次元電子2次元電子

    有効磁場

    2

    02 cmEPH BSO

    電子スピンの電場制御の可能性

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    InGaAs

    InAlAs

    ZnSnAs(Mn) ZnSnAs(Mn)

    InP

    GateDMS DrainDMS Source

    スピン

    注入 スピン

    検出

    >Spin polarized field effect transistor (SPIN FET)

    S.Datta

    and B.Das, Appl.Phys.Lett. 56,665 (1990)

    )(])(

    [ UpXEE

    PHSO

    1113 200

    20

    2

    InPベーススピンFETへの応用

    Rashba

    Spintronics

    スピン伝導

    強磁性半導体Mn添加ZnSnAs2をスピン注 入・検出の電極として使用する

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    • 現在、磁性半導体薄膜(ZnSnAs2:Mn)に ついて薄膜形成が可能なところまで開発済み。

    しかし、デバイス応用の点が未解決である。

    • 今後、磁性半導体薄膜(ZnSnAs2:Mn)に ついて実験データを蓄積し、トンネル磁気抵 抗素子などに応用することでデバイス応用の 可能性を実証予定。

    実用化に向けた課題

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    発明の名称

    :磁性半導体薄膜及び磁性半 導体薄膜の製造方法

    出願番号 :特願2006-238022

    出願人

    :長岡技術科学大学

    発明者

    :内富直隆

    本技術に関する知的財産権

  • 2012.5.29 長岡技術科学大学 新技術説明会Nagaoka University of Technology

    長岡技術科学大学

    総務部

    産学・地域連携課

    知的財産係

    TEL

    0258-47

    -9279

    FAX

    0258-47

    -9040

    e-mail

    patent@jcom.nagaokaut.ac.jp

    お問い合わせ先

    室温強磁性半導体を用いた�新しい半導体デバイスの創製スライド番号 2磁気抵抗素子への応用スライド番号 4スライド番号 5スライド番号 6スライド番号 7スライド番号 8スライド番号 9スライド番号 10スライド番号 11スライド番号 12スライド番号 13スライド番号 14スライド番号 15スライド番号 16スライド番号 17スライド番号 18スライド番号 19スライド番号 20スライド番号 21スライド番号 22スライド番号 23スライド番号 24