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FF20 CT 高分解能 計測用XCT システム

高分解能 X線CTシステム FF20 CT...Φ150 x H300mm 20kg W2,400 x D950 x H2,220mm 3,400kg VDI/VDE2630-1.3規格準拠 寸法測定精度3.9μm + L/75 [ L=mm] 150nmのギャップを検出

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Page 1: 高分解能 X線CTシステム FF20 CT...Φ150 x H300mm 20kg W2,400 x D950 x H2,220mm 3,400kg VDI/VDE2630-1.3規格準拠 寸法測定精度3.9μm + L/75 [ L=mm] 150nmのギャップを検出

FF20 CT高分解能 計測用X線CTシステム

Page 2: 高分解能 X線CTシステム FF20 CT...Φ150 x H300mm 20kg W2,400 x D950 x H2,220mm 3,400kg VDI/VDE2630-1.3規格準拠 寸法測定精度3.9μm + L/75 [ L=mm] 150nmのギャップを検出

エクスロン・インターナショナル株式会社

〒221-0031 横浜市神奈川区新浦島町1-1-32 ニューステージ横浜1F

Tel:045-450-1730 Fax:045-450-1740

E-mail:[email protected]:www.yxlon.co.jp

CFRPなどの微細なワークから小型電子部品まで多種多様なサンプルに対応高分解能に適した透過型190kVマイクロフォーカスX線管を搭載

寸法測定精度3.9μm+L/75[L=mm](計測用CTオプション)

積層物の撮影に適したヘリカルCT(オプション)

熱膨張率が低い花崗岩ステージ

X線管   タイプ 

      最大管電圧

    最大出力

認識解像度

X線検出器 タイプ

      ピクセルサイズ

最大サンプルサイズ

最大サンプル重量

装置サイズ

装置重量

計測用CTオプション

仕様FF20 CT マイクロフォーカス開放管

190kV

80W

≦150nm

16bit フラットパネル

139µm

Φ150 x H300mm

20kg

W2,400 x D950 x H2,220mm

3,400kg

VDI/VDE2630-1.3規格準拠寸法測定精度3.9μm + L/75 [ L=mm]

SEM image150nmのギャップを検出(FF20 CTの透過型190kVマイクロフォーカスX線管で撮影)

FF20 CT 透視image

SEM image