Keysight TechnologiesN1125A バウンダリ・スキャン・アナライザ

Technical Overview

バウンダリスキャンは、テスト上の問題を解決するために不可欠なツールになっています。新たに登場したN1125A バウンダリ・スキャン・アナライザは、キーサイトの最新テクノロジーと豊富な経験を結集した製品であり、お客様の問題解決をサポートします。

N1125A バウンダリ・スキャナ・アナライザは、汎用でありながら使いやすいツールであり、デザイン検証やプロトタイプ作成、ランプアップ前から量産まで、あらゆる段階で威力を発揮します。

新製品の発売：

・ すぐにテストを開始可能

・ デザイン検証／プロトタイプでのテストプランを100 ％再利用可能

・ 高額なフィクスチャは不要

・ 広いテストカバレージ（Cover-Extend、シリコンネイル、1149.1および1149.6、プルアップ／ダウン抵抗）

・ ピンレベル解析を実現

デザイン検証／ プロトタイプ作成：

・ テスト時間の短縮

・ 高額なフィクスチャは不要

・ NPIでも量産でもテストの再利用が可能

・ 広いテストカバレージ（Cover-Extend、シリコンネイル、1149.1および1149.6、プルアップ／ダウン抵抗）

量産：

・ すぐにテストを開始可能

・ NPIのテストプランを100 ％再利用 可能

・ i3070（当社フラッグシップICT）を お使いであれば、そこにN1125Aの 本体とテストプランを統合可能

・ 広いテストカバレージ（Cover-Extend、シリコンネイル、1149.1 および1149.6、プルアップ／ダウン抵抗）

・ ピンレベル解析を実現

広いカバレージ、正確な診断、従来品にない最高級のユーザビリティー

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Cover-Extendテクノロジー（CET）

N1125Aは、Cover-Extendテクノロジー（CET）に対応した唯一のベンチトップソリューションです。CETは、バウンダリスキャンと容量性結合センサテクノロジーを組み合わせた特許取得済みの革新技術であり、多くの受賞実績があります *（下記の「仕組み」をご覧ください）。

・ テストカバレージ向上を実現

・ バウンダリスキャン非対応コンポーネントにもカバレージを拡大

・ コネクタ用デジタル・プラグイン・モジュール等は不要

・ 面倒なライブラリーの記述が不要

・ 業界で高い評価を受けているベクタレステスト性能拡張（VTEP）

・ 自動デバッグ機能

仕組み

1. テスト対象コンポーネント（コネクタなど）にVTEPセンサを配置します。このセンサは、電気信号を容量性結合により検出します。

2. ユーザーは、テスト・アクセス・ポートを制御して、バウンダリ・スキャン・デバイスが供給する入力信号を制御します。

3. 入力信号は、VTEPセンサが配置されているコネクタに供給されます。

4. バウンダリ・スキャン・デバイスとVTEPセンサ間の経路に欠陥（オープンなど）があれば、センサに到着する入力信号に変化が生じます。

5. この結果をN1125A バウンダリ・スキャン・アナライザで捕捉／診断することにより、欠陥を検出できます。

バウンダリ・スキャン非対応デバイス／コンポーネント

バウンダリ・スキャン・デバイス

Cover-Extendテクノロジー

VTEPセンサ

TDITCKTMS

TD0

アクセス不要

* 受賞実績：TMW Best In Test（2009年）、Circuit Assembly NPI（2009年）、SMT Vision（2009年）、EMAsia Innovation（2009年）、SMT China Vision（2009年）、EDN Innovation（2008年）、IPC Innovative Technology Center Award（2008年）

広いカバレージ

主な特長

・ Cover-Extendテクノロジー （非バウンダリスキャン部品でも実装検証が可能）

・ CPLD/FPGAでIn-System Programmingを実行

・ 複数のチェーンを1つにまとめてカバレッジを上げる リンカー機能

・ ピンレベル解析とレポートにより、次のアクションを 特定

・ イーサネットによるリモートアクセス機能内蔵

・ 22.5 MHzテストクロック

・ 4つの専用TAP/IOポート

ハードウェア

・ 4つのテスト・アクセス・ポート（TAP）を備えたバウンダリ・スキャン・コントローラ

・ 自己診断クリップ

・ 12 V電源

・ LANケーブル

・ USBケーブル

・ フィルター機能付きHDMIケーブル

・ リボンケーブル（20ピン・メス-メス）

・ CETモジュール（オプション）

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ISP（In-System Programmer）

CPLDとFPGAのプログラミングが従来 よりも格段に簡単になりました。付属のSTAPL（Standard Test And Programming Language）プレーヤーを使用すれば、ファイルの実行と同様の手順で、デバイスを簡単にプログラミングできます。

このソフトウェアでは、STAPL、SVF、JAM、JBCフォーマットを使用でき、内蔵エンジンで実行可能です。ファイルはその場で変更できるので、ISPの実装がシンプルになるだけでなく、上流工程でも活用できます。

スキャン・パス・リンカー内蔵

内蔵のスキャン・パス・リンカーは、スキャンチェーンを1つにリンクすることにより、インターコネクトノードのテストカバレージを最大限に高めます。チェーンを個別に処理した場合、カバレージは低下してしまいます。デバッグでは、リンクしたチェーンの結合／分離など、柔軟な操作が可能です。

広いカバレージ

IEEE 1149.6

今日の高速デジタルネットワーク（AC結合差動ラインなど）にも対応しています。N1125Aでは、IEEE 1149.6が標準でサポートされています。

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ショートキャパシタ

IEEE 1149.6に準拠した高度なデジタルネットワークに対応するために、ショートカップリングキャパシタに対するサポートが追加されました。このテストの効率は、AC結合キャパシタの時定数に対するステート変化のタイミングが適切に管理できるかどうかに依存します。すべての処理は、バックグラウンドで自動的に実行されます。

プルアップ／プルダウン抵抗

現在のボード設計では、プルアップ抵抗やプルダウン抵抗が、終端、電圧ディバイダ、ロジック接続などの目的で使用されています。N1125Aでは、バウンダリ・スキャン・セルのネットワークを使ってこれらのコンポーネントを確認することにより、このようなコンポーネントにも最初から対応しています。

シリコンネイル

バウンダリスキャン非対応のデバイスのテストも問題ありません。シリコン・ネイル・テストは、クラスターテストとも呼ばれ、スキャンチェーン内のバウンダリ・スキャン・セルをドライバやレシーバとして使用して、メモリデバイスを含むバウンダリスキャン非対応デバイスもテストできます。シリコンネイルにより、IEEE 1149.xに準拠したデバイスのみという制限がなくなり、テストカバレージが広がります。

広いカバレージ

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アクション可能な 不具合レポート

不具合レポートでは、修理アクションが表示されます。N1125Aで作成される不具合レポートでは、不具合の場所がわかりやすく指摘されるので、解決にかかる時間を短縮できます。特に、離れた場所にいるスタッフ間の連絡ミスを低減できます。

バスワイヤーテスト

ボードで検出される不具合は、ネットのドライブ側と受信側のいずれか一方または両方で発生します。

バスワイヤーテストは、双方向のバウンダリ・スキャン・セルを持つネットを両方向で動作させることで、検出された不具合の診断が正確に行えます。

正確な診断

電圧モニター

電圧のモニター機能は、デバッグツールとしてだけでなく、デバッグ後に行う構造テストのベースとしても不可欠です。ラインを制御し、テストとテストの間にも必要なラインを保持しておくことができます。これにより、パーツではなく電源の不具合によって問題が発生しているのではないかという誤解を回避できます。

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カバレージレポート

テスト・カバレージ・レポートでは、ボードデザインを完成して量産する前に、テストの有効性とテストカバレージを確認できます。

優れた信号品質

ロジックレベルが低くなるほど、信号品質の重要性が高まります。意図しない状態遷移による不合格判定が出ることがないように、I/Oを正しく制御し、想定通りに応答させる必要があります。

Keysight N1125A バウンダリ・スキャン・アナライザ

競合他社のPCスキャン

正確な診断

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従来品にない最高級のユーザー インタフェース

ツールの有効性において、ユーザビリティーが果たす役割はますます高まっています。ツールのユーザビリティーを高めるには、直観的でわかりやすく、タスク実行を適切にサポートするユーザーインタフェースが必要です。N1125Aは、従来品にない最高級のユーザーインタフェース（UI）を備えています。

自動スキャン・チェーン・ ディテクター

バウンダリスキャンで重要なタスクの1つが、スキャンチェーンの検証です。UIには、潜在的なスキャンチェーンを特定する機能が付属しています。これは特に、チェーンが複雑で長い場合に威力を発揮します。このソフトウェアにはボードトポロジーの解析機能もあり、バウンダリ・スキャン・デバイス間のコンポーネントも考慮してスキャンチェーンの状態を表示できます。

適切なBSDLの取得

バウンダリスキャンでは、適切なバウンダリスキャン記述言語（BSDL）ファイルを取得することも重要です。UIにはBSDL構文チェッカーとコンパイラが付属し、デポジトリーフォルダ内でBSDLファイルが自動検出されるので、ユーザーが明示的に指定する必要がありません。また、既知のプロジェクトからBSDLファイルを取得することも可能です。操作は、単一のプロジェクト名をインポートするだけで、BSDLファイル名をいくつも指定する必要はありません。手順が簡単で、操作にかかる時間も短縮できます。

従来品にない最高級のユーザビリティー

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従来品にない最高級のユーザー インタフェース

デバッグツール

豊富なデバッグツールが用意されています。Auto-Adjustでは、スルーレート、TCK速度、TDI/TDOの電圧オフセットなど各種パラメーターを自動調整することにより、最適なUUT設定が得られます。フレームデバッガでは、フレーム単位の解析が必要な場合に詳細なデバッグ機能を提供します。Cover-Extendテスト（CET）自動デバッグツールでは、テスト品質（Cpkなど）を維持しながら、しきい値を自動設定できます。

これ以外にも、BOMパーサーや波形ビュワーに加えて、コード比較、表示の除外と選択を行うノード名のフィルタリングなど、テストを効率化するさまざまな機能があります。

言語のローカリゼーション

標準の英語版ユーザーインタフェースには、簡体字中国語のオプションが付属しています。翻訳マトリクスに従って、言語の追加が可能です。各地域の言語で業務を行うことができるので、グローバルな企業環境に最適です。

従来品にない最高級のユーザビリティー

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トランスポータブルライセンス

投資を最大限に活用いただくために、ソフトウェアライセンスは共有が可能です。ライセンスサーバーのセットアップは不要で、チーム内でライセンスを共有できます。別のビル、さらには別の国にいるメンバー間で簡単に共有できるこのライセンスは、ハードウェアドングルではなく、ソフトウェアドングルと呼ぶことができます。

従来品にない最高級のユーザビリティー

電源の集中制御

バウンダリ・スキャン・テストを実行するたびに電源のスイッチを手動で切り替えていませんか？ N1125Aに付属するKeysight I/Oライブラリにより、ユーザーインタフェースから実行可能なプログラマブル計測器用標準コマンド（SCPI）を使用して、電源を制御できます。

さらに、テスト実行中にパワーアップ／パワーダウンシーケンスを挿入できます。

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テストシーケンサー

テスト実行の制御機能は、テストの実行順序を調整するだけではありません。通常のプロンプトや待機時間に加えて、意思決定の分岐やサブルーチンの挿入というニーズもあります。N1125A テストシーケンスを使用することにより、テスト実行を自由自在に制御することができます。

コントローラーへのリモート アクセス

ラボや遠く離れた場所に設置されているN1125A コントローラーに、オフィスからアクセスすることが可能です。付属のイーサネット接続を使えば、コントローラーを簡単に制御できます。ホストPCなどハードウェアの追加が必要になるリモートデスクトップ制御とは異なり、N1125A コントローラーではダイレクト接続が可能です。

専用TAP/IOポート

テスト・アクセス・ポートおよびデジタル入出力（TAP/IOポート）向けの専用ハードウェアにより、目的のパーツを被試験ユニット（UUT）の近くに設置することで、シグナルインテグリティーを最大限に高めることができます。スペースのないフィクスチャに対応できるように、ポートは小型になっています。

従来品にない最高級ユーザビリティー

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機能 フルバンドル ランタイムバンドルテスト開発環境： インフラストラクチャーテスト：スキャン・パス・インテグリティー √ インフラストラクチャーテスト：IDCODE √ インフラストラクチャーテスト：USERCODE √ インフラストラクチャーテスト：BREG √ インフラストラクチャーテスト：DISABLE √ インターコネクトテスト：IEEE 1149.1 √ バスワイヤーテスト：IEEE 1149.1 √ インターコネクトテスト：IEEE 1149.6 √ バスワイヤーテスト：IEEE 1149.6 √ IEEE 1149.6ショート・キャパシタ・テスト √ プルアップ／プルダウン抵抗テスト √ スキャン・パス・リンカー √ Cover-Extendテクノロジー（CET）テスト √ CPLD/FPGA In-System Programming √

シリコン・ネイル・テスト（メモリテストなど） √ 電圧モニター √ SCPIによる電源制御 √トランスポータブルライセンス √CADトランスレーター：あらゆる形式に完全アクセス可能 （i3070ボードファイルを含む）

√

BOMパーサー √自動スキャンチェーンの検出と表示 √テストの自動生成 √テストシーケンスの生成 √デバッグツール （Auto-Adjust、フレームデバッガー、波形ビュワー、CET自動デバッグ）

√

しきい値の自動設定：CETテスト √ユーザー定義のソースコード挿入 √テスト内ロジックレベル変更 √テスト・カバレージ・レポート √フィクスチャ情報の生成 √テスト実行（すべてのテスト） √ √製造ツール（ファーストパス歩留まり、使用率レポート、アラーム） √ √自己診断クリップおよびテスト √ √言語のローカリゼーション √ √イーサネットによるリモートアクセス機能を内蔵 √ √ファームウェアのリモートアップグレード √ √ピンレベルの欠陥レポート √ √2年間のソフトウェアサポート √ √2年間のハードウェアサポート √ √

最高のエクスペリエンスとは、パーソナルなエクスペリエンスです。キーサイトはN1125Aを最大限に活用する方法をご紹介します。是非お問い合わせください！

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© Keysight Technologies, 2013 - 2015Published in Japan, February 2, 20155991-1202JAJP0000-00DEPwww.keysight.co.jp