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1. Portabilità e robustezza 2. Qualità di spettri a T ambiente 3. Riconoscimenti di picchi deboli 4. Costi contenuti 5. Software di identificazione mePix Calibration Supervisors: Samir Arfaoui Mathieu Benoit Student: Damiano Celeste

Portabilità e robustezza Qualità di spettri a T ambiente Riconoscimenti di picchi deboli

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TimePix Calibration. Supervisors:Samir Arfaoui Mathieu Benoit Student: Damiano Celeste. Portabilità e robustezza Qualità di spettri a T ambiente Riconoscimenti di picchi deboli Costi contenuti Software di identificazione. Procedure. Goal : Average calibration of detectors. - PowerPoint PPT Presentation

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Page 1: Portabilità e robustezza Qualità di spettri a T ambiente Riconoscimenti di picchi deboli

1. Portabilità e robustezza

2. Qualità di spettri a T ambiente

3. Riconoscimenti di picchi deboli

4. Costi contenuti

5. Software di identificazione

TimePix Calibration

Supervisors: Samir ArfaouiMathieu Benoit

Student: Damiano Celeste

Page 2: Portabilità e robustezza Qualità di spettri a T ambiente Riconoscimenti di picchi deboli

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ProcedureProcedure: Sources and XRF spectra acquisitions to obtain a fit to the surrogate function.

Goal: 1) Average calibration of detectors.2) Study of the sensor uniformity and single

pixel calibration.3) Use energy values instead of TOT for test-

beam analysis.

Detectors: Sources:1) A06-W0110: 50μm, V=15V - 55Fe: 5.8 keV2) L04-W0125: 100μm, V=35V - 109Cd: 22.9 keV3) C04-W0110: 50μm, V=15V - 241Am 26.2 keV; 60 keV4) D09-W0126: 300μm, V=35V X-ray fluorescence:5) B06-W0125: 100μm, V=-50V - Indium: 24 kev6) B07-W0125: 100μm, V=40V - Copper: 8 kev

Page 3: Portabilità e robustezza Qualità di spettri a T ambiente Riconoscimenti di picchi deboli

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Previous tate of workFe55 Cd109 Am241 In(XRF) CuZn(XRF)

Av. SPC Av SPC Av. SPC Av. SPC Av. SPC

A06-W0110

L04-W0125

C04-W0110

D09-W0126

B06-W0125

B07-W0125

Done WIP Next steps

Page 4: Portabilità e robustezza Qualità di spettri a T ambiente Riconoscimenti di picchi deboli

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State of workFe55 Cd109 Am241 In(XRF) Cu(XRF)

Av. SPC Av SPC Av. SPC Av. SPC Av. SPC

A06-W0110

L04-W0125

C04-W0110

D09-W0126

B06-W0125

B07-W0125

Done WIP Next steps

Page 5: Portabilità e robustezza Qualità di spettri a T ambiente Riconoscimenti di picchi deboli

5

C04-W0110

RECONNECT

RECONNECT

CLOSER SAMPLE

CLOSER SAMPLE

Page 6: Portabilità e robustezza Qualità di spettri a T ambiente Riconoscimenti di picchi deboli

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B07-W0125

COPPER MASK

COPPER MASK

Page 7: Portabilità e robustezza Qualità di spettri a T ambiente Riconoscimenti di picchi deboli

D09-W0126

COPPER MASK

COPPER MASK

NO MASK

NO MASK

MASK + RECONNECT

MASK + RECONNECT

Page 8: Portabilità e robustezza Qualità di spettri a T ambiente Riconoscimenti di picchi deboli

C04-W0110: χ2

Source <TOT> Energy Fe55 233 5.9

Cd109 591 ≈22

Am241 635 26.3

1130 59.5

Copper 339 8

Indium 626 24

Source <TOT> Energy Fe55 233 5.9

Cd109 591 ≈22

Am241 633 26.3

1128 59.5

Copper 339 8

Indium 626 24

Page 9: Portabilità e robustezza Qualità di spettri a T ambiente Riconoscimenti di picchi deboli

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Questions and next stepsQuestions:

1. Why and how does the reconnection of the device affect measurements?

2. Which is the best set-up for XRF flourescence?

3. Should we take into account the χ2 factor? How?

4. Does the great amount of events on the detector affect measurements?

Next steps:

5. To try to understand what happens to DAC when reconnecting

6. Using a Co57 source, gamma emission around 8 keV

7. Once obtained good global results Single Pixel Calibration

Page 10: Portabilità e robustezza Qualità di spettri a T ambiente Riconoscimenti di picchi deboli

-NO RECONNECT-NO MASK-CLOSER SAMPLE

-NO RECONNECT-NO MASK-CLOSER SAMPLE

-NO RECONNECT-MASK-CLOSER SAMPLE

-NO RECONNECT-MASK-CLOSER SAMPLE

Page 11: Portabilità e robustezza Qualità di spettri a T ambiente Riconoscimenti di picchi deboli

-RECONNECT-MASK-CLOSER SAMPLE

-RECONNECT-MASK-CLOSER SAMPLE