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超音波探傷法によるコーティング上からのタンク底部溶接部検査に係る検討
実タンクにおける探傷性能の確認試験結果について
資料１－４
2018年6月27日
独立行政法人石油天然ガス・金属鉱物資源機構株式会社 ＩＨＩ検査計測
Copyright © 2017 IHI Inspection & Instrumentation Co., Ltd. All Rights Reserved. 1
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株式会社IHI検査計測
１．目 的
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平成29年度に消防庁殿試験片（12mmと20mmの裏当て継手）を工場での性能試験を実施した。平成30年度は、実タンクでのフィールド試験にて、機器の性能や運用方法、データ評価方法について確認することを目的とした。
当該装置 外観
探傷装置制御PC
フェーズドアレイ超音波探傷装置
制御BOX
レーザー受光部
接触媒質用水タンク
走行装置操作盤
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２．現地試験日程
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現地試験は5月16日から5月23日で下記の項目について実施した。探傷試験は5月17日から5月22日の5日間で行った。
現地試験日程
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３．検査実施箇所 （No.39タンク）
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（探傷パターンについては後述）
（入槽口）
Aパターン探傷
Bパターン探傷
（溶接線番号は弊社独自のもの）
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４．探傷方法
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①探傷（走行）速度：20mm/s（溶接線一本の検査に約12分）②データ採取ピッチ：2mm
③超音波探触子：5MHz 32chリニア配列のフェーズドアレイ探触子④接触媒質：水道水⑤基準感度：長さ6mm、深さ3mm、幅1mmの表面開口スリットのエコー高さ80%
⑥探傷感度：Aパターン：基準感度+9dB、Bパターン：基準感度+21dB（塗膜補正）⑦探傷長さ：約15m
（始点を横断する溶接線の中心から、溶接線終点を横断する溶接線の中心までの距離）⑧途中に障害物があり走行できない場合：一旦検査を中断し障害物を迂回した後に再探傷を実施
（一部、検査を続行しながら障害物の迂回を試行したデータあり）
４-1.探傷条件
探傷の方法は、平成29年度に工場にて実施した性能試験と同じ方法の超音波フェーズドアレイで実施し、縦割れきず検出用のAパターン、横割れきず検出用のB-2パターン、斜めきず検出用B’-2パターンとした。 また、超音波フェーズドアレイの設定条件も平成29年度と同様条件で実施した。
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４．探傷方法
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Aパターン（2条件同時実施）屈折角33°～70°
Bパターン（3条件同時実施）屈折角40°～73°
B-2パターン
B’-2パターンB-R
A-RA-L 当該装置進行方向
探触子
溶接線
発受信
受信 発信
発受信
発受信発受信 Bパターンの探触子配置
45°
４-2.探触子の配置と探傷パターン
B’-2パターンB-L
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４．探傷方法
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４-3.フェーズドアレイ探傷（原理）
裏面
(表面)
①
① ② ③
表面
裏面
(表面)
②
③
裏面 表面送信波形
超音波伝搬例
結果表示例
波形例（Ａスコープ）
探傷走査と探傷結果画像
Ｂスコープ：断面投影図
Ｃスコープ：上面投影図
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４．探傷方法
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４-3.フェーズドアレイ探傷（探傷結果の表示）
表面
裏面
Cスコープ（上面投影図）
Bスコープ（側面投影図）
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４．探傷方法
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タンク内での溶接線倣いレーザーマーカー 当該装置での探傷状況
接触媒質用水補給 接触媒質（水）の除去作業
４-4.現地試験の探傷作業状況
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５．感度校正結果
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A-RA-L
校正用試験体長さ6mm、深さ3mm、幅1mmのスリットを導入→このスリットの指示が80%になる感度を基準感度とした
A-L
A-R
5-1.Aタパーン感度校正結果
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５．感度校正結果
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B’-2パターン B-RB’-2パターン B-L
B-2パターン
B-R
B-L
B-2
5-2.Bタパーン感度校正結果
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A-RA-L
B-RB-L B-2
溶接線範囲（校正用試験体のため実際には溶接線はない）
裏面表面（一回反射後）
深さ
溶接線横断方向
感度校正結果 断面像
探傷範囲のイメージ図
溶接線横断方向
深さ
溶接線範囲
溶接線範囲 溶接線範囲 溶接線範囲
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６．探傷結果
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長さ15ｍの溶接線で溶接線番号C-05,C-06,C-09,K-01,L-01の5ラインの内、Ｃ-05：3ヶ所、Ｃ-06：1ヶ所、Ｃ-09：1ヶ所、Ｋ-01：3ヶ所、Ｌ-01：2ヶ所の合計10ヶ所に指示が得られた。以下に指示の位置図を示す。
6-1.探傷結果指示
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![Page 14: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/14.jpg)
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６．探傷結果
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6-2.探傷パターンによる指示
溶接No位置[mm] 2,983 5,417 8,369 1,594 4,536
A-R × × × × ×A-L ○ ○ ○ ○ ○B-2 × × × × ×B-R × × × × ×B-L × × × × ×
K-01 L-01
10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得られていなく、全てがAパターン探傷での指示であった。従って、溶接線に対し長手方向のきず、または介在物からの反射と考えられる。
溶接No C-06 C-09位置[mm] 604 3,798 6,796 12,396 1,000
A-R ○ × ○ ○ ○A-L △<20% ○ ○ × ×B-2 × × - × ×B-R × × - × ×B-L × × - × ×
C-05 ○：指示あり△：＜20％×：指示なし－：探傷未実施
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![Page 15: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/15.jpg)
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６-3.指示波形
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探傷結果、指示が得られた部位のAパターンの指示波形を次に示す。
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C-05 604ｍｍ指示波形 Aパターン
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]1000 500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（底面で1回反射後）
500mm
A-R
A-L
振幅[%]
100
01000mm
走査方向
きずと思われる指示
きずと思われる指示
位置：604mm
スペクトラム
スペクトラム
38%
(<20%)
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C-05 3,798ｍｍ指示波形 Ａパターン
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]4000 3500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
走査方向
3500mm
振幅[%]
100
04000mm
A-R
A-L
（指示なし）
きずと思われる指示
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
位置：3,798mm
スペクトラム
スペクトラム43%
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]7000 6500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
走査方向
6500mm
振幅[%]
100
07000mm
A-R
A-L
きずと思われる指示
きずと思われる指示
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
位置：6,796mm
スペクトラム
スペクトラム
24%
29%
C-05 6,796mm指示波形 Ａパターン
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]12500 12000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（底面で1回反射後）
12000mm
A-R
A-L
振幅[%]
100
012500mm
走査方向
スペクトラム
スペクトラム
30% きずと思われる指示
位置：12,396mm
（指示なし）
C-06 12,396mm指示波形 Ａパターン
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]1500 1000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
1000mm
A-R
A-L
振幅[%]
100
01500mm
走査方向
スペクトラム
27% きずと思われる指示
位置：1004mm
スペクトラム
（表面付近に指示があるが溶接部から遠い）
C-09 1,000mm指示波形 Aパターン
20
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]3000 2500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
2500mm
A-R
A-L
振幅[%]
100
03000mm
走査方向
スペクトラム
スペクトラム66% きずと思われる指示
（指示なし）
位置：2984mm
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
K-01 2,983mm指示波形 Aパターン
21
![Page 22: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/22.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]5500 5000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
5000mm
A-R
A-L
振幅[%]
100
05500mm
走査方向
スペクトラム
スペクトラム きずと思われる指示
（指示なし）
位置：5416mm
39%
K-01 5,417mm指示波形 Aパターン
22
![Page 23: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/23.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]8500 8000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
8000mm
A-R
A-L
振幅[%]
100
08500mm
走査方向
スペクトラム
スペクトラム きずと思われる指示
（指示なし）
位置：8369mm
30%
K-01 8,369mm指示波形 Aパターン
23
![Page 24: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/24.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]2000 1500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（底面で1回反射後）
1500mm
A-R
A-L
振幅[%]
100
02000mm
走査方向
位置：1594mm
スペクトラム
スペクトラム 26% きずと思われる指示
（指示なし）
L-01 1,594mm指示波形 Aパターン
24
![Page 25: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/25.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]5000 4500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（底面で1回反射後）
4500mm
A-R
A-L
振幅[%]
100
05000mm
走査方向
位置：4536mm
スペクトラム
スペクトラム44%
きずと思われる指示
L-01 4,536mm指示波形 Aパターン
25
![Page 26: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/26.jpg)
株式会社IHI検査計測
７．実機試験での障害物箇所について
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天井支柱の土台が溶接線に接近し台車タイヤに干渉する部分は台車が走行できない
・台車の横幅を小さくすることで適用可能な範囲を拡大できる・台車の適用が困難な場合は探触子を取り外し、手動探傷にて実施する
26
![Page 27: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/27.jpg)
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８．今後の課題
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今後は、○ 実タンクでの2回目のフィールド試験○ 塗膜厚さの影響試験○ 性能規定及び実機運用条件の整理を実施予定です。
以 上
27
![Page 28: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/28.jpg)
実タンク（むつ小川原国家備蓄基地タンク）でのフィールド試験
探傷波形データ集
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![Page 29: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/29.jpg)
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C-05 指示位置604mm
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（走査位置の始点0mmは、走査開始側の溶接線端部にあるT字の中央）（装置走行時のがたつきや蛇行により位置情報に十数mm～数十mm程度の誤差が生じる）
![Page 30: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/30.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-05 Aパターン（500ｍｍ～1,000ｍｍ）
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]1000 500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
500mm
A-R
A-L
振幅[%]
100
01000mm
走査方向
きずと思われる指示
きずと思われる指示
位置：604mm
スペクトラム
スペクトラム
38%
（A-Lでは距離が遠いため1回以上の反射が必要⇒Bスコープに表れない）
3
![Page 31: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/31.jpg)
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C-05 B-2パターン（500ｍｍ～1,000ｍｍ）
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2
スペクトラム
振幅
[%]
0
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]1000 500
溶接線
裏面表面（1回反射後）
500mm
振幅[%]
100
01000mm
走査方向
B-2
30
96
（指示なし）
位置：604mm
4
![Page 32: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/32.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-05 B’-2パターン（500ｍｍ～1,000ｍｍ）
Copyright © 2017 IHI Inspection & Instrumentation Co., Ltd. All Rights Reserved.
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
30
96
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]1000 500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
96
30
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
500mm
振幅[%]
100
01000mm
走査方向
溶接線
B-R
B-L
（指示なし）
（指示なし）
位置：604mm
スペクトラム
スペクトラム
5
![Page 33: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/33.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-05 Aパターン（500ｍｍ～1,000ｍｍ）しきい値20％
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]1000 500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
76
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
500mm
A-R
A-L1000mm
走査方向
きずと思われる指示
（指示なし）
位置：604mm
スペクトラム
スペクトラム
38%
振幅[%]
100
20
（しきい値なしの図では表れていたが20%以下の指示であるためここでは表れない）
6
![Page 34: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/34.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-05 B-2パターン（500ｍｍ～1,000ｍｍ）しきい値20％
Copyright © 2017 IHI Inspection & Instrumentation Co., Ltd. All Rights Reserved.
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2振幅
[%]
0
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]1000 500
溶接線
裏面表面（1回反射後）
500mm1000mm
走査方向
B-2
30
96
（指示なし）
位置：604mm
スペクトラム
振幅[%]
100
20
7
![Page 35: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/35.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-05 B’-2パターン（500ｍｍ～1,000ｍｍ）しきい値20％
Copyright © 2017 IHI Inspection & Instrumentation Co., Ltd. All Rights Reserved.
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]1000 500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
500mm1000mm
走査方向
溶接線
B-R
B-L
30
96
96
30
（指示なし）
（指示なし）
位置：604mm
スペクトラム
スペクトラム
振幅[%]
100
20
8
![Page 36: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/36.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-05 指示位置3,798mm
Copyright © 2017 IHI Inspection & Instrumentation Co., Ltd. All Rights Reserved. 9
（走査位置の始点0mmは、走査開始側の溶接線端部にあるT字の中央）（装置走行時のがたつきや蛇行により位置情報に十数mm～数十mm程度の誤差が生じる）
![Page 37: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/37.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-05 Ａパターン（3,500ｍｍ～4,000ｍｍ）
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]4000 3500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
走査方向
3500mm
振幅[%]
100
04000mm
A-R
A-L
（指示なし）
きずと思われる指示
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
位置：3,798mm
スペクトラム
スペクトラム43%
10
![Page 38: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/38.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-05 B-2パターン（3,500ｍｍ～4,000ｍｍ）
Copyright © 2017 IHI Inspection & Instrumentation Co., Ltd. All Rights Reserved.
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2振幅
[%]
0
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]4000 3500
溶接線
裏面表面（1回反射後）
3500mm
振幅[%]
100
04000mm
走査方向
B-2
30
96
（指示なし）
位置：3,798mm
スペクトラム
11
![Page 39: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/39.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-05 B’-2パターン（3,500ｍｍ～4,000ｍｍ）
Copyright © 2017 IHI Inspection & Instrumentation Co., Ltd. All Rights Reserved.
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
30
96
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]4000 3500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
96
30
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
3500mm
振幅[%]
100
04000mm
走査方向
溶接線
B-R
B-L
（指示なし）
（指示なし）
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
位置：3,798mm
スペクトラム
スペクトラム
12
![Page 40: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/40.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-05 Ａパターン（3,500ｍｍ～4,000ｍｍ）しきい値20％
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]4000 3500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
走査方向
3500mm4000mm
A-R
A-L
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
きずと思われる指示
（指示なし）
位置：3,798mm
スペクトラム
スペクトラム43%
振幅[%]
100
20
13
![Page 41: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/41.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-05 Bパターン（3,500ｍｍ～4,000ｍｍ）しきい値20％
Copyright © 2017 IHI Inspection & Instrumentation Co., Ltd. All Rights Reserved.
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2振幅
[%]
0
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]4000 3500
溶接線
裏面表面（1回反射後）
3500mm4000mm
走査方向
30
96
B-2
（指示なし）
位置：3,798mm
スペクトラム
振幅[%]
100
20
14
![Page 42: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/42.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-05 B’-2パターン（3,500ｍｍ～4,000ｍｍ）しきい値20％
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
30
96
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]4000 3500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
96
30
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
3500mm4000mm
走査方向
溶接線
B-R
B-L
（指示なし）
（指示なし）
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
位置：3,798mm
スペクトラム
スペクトラム
振幅[%]
100
20
15
![Page 43: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/43.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-05 指示位置6,796mm
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（走査位置の始点0mmは、走査開始側の溶接線端部にあるT字の中央）（装置走行時のがたつきや蛇行により位置情報に十数mm～数十mm程度の誤差が生じる）
![Page 44: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/44.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]7000 6500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
走査方向
6500mm
振幅[%]
100
07000mm
A-R
A-L
きずと思われる指示
きずと思われる指示
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
位置：6,796mm
スペクトラム
スペクトラム
24%
29%
C-05 Ａパターン（6,500ｍｍ～7,000ｍｍ）
17
![Page 45: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/45.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-05 Ａパターン（6,500ｍｍ～7,000ｍｍ）しきい値20％
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]7000 6500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
走査方向
6500mm
A-R
A-L7000mm
きずと思われる指示
きずと思われる指示
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
スペクトラム
スペクトラム
位置：6,796mm
24%
29%
振幅[%]
100
20
18
![Page 46: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/46.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-05 Ｂパターン（6,500ｍｍ～7,000ｍｍ）探傷困難
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走査方向
6500mm7000mm
※支柱土台の障害物があり、Ｂパターンの6,500ｍｍ～7,000ｍｍは探傷困難
19
![Page 47: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/47.jpg)
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C-06 指示位置12,397mm
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（走査位置の始点0mmは、走査開始側の溶接線端部にあるT字の中央）（装置走行時のがたつきや蛇行により位置情報に十数mm～数十mm程度の誤差が生じる）
![Page 48: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/48.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]12500 12000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（底面で1回反射後）
12000mm
A-R
A-L
振幅[%]
100
012500mm
走査方向
スペクトラム
スペクトラム
30%
C-06 Aパターン（12,000ｍｍ～12,500ｍｍ）
きずと思われる指示
位置：12397mm
（指示なし）
21
![Page 49: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/49.jpg)
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C-06 B-2パターン（12,000ｍｍ～12,500ｍｍ）
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2振幅
[%]
0
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]12500 12000
溶接線
裏面表面（1回反射後）
12000mm
振幅[%]
100
012500mm
走査方向
B-2
30
96
（指示なし）スペクトラム
位置：12397mm
22
![Page 50: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/50.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
30
96
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]12500 12000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
96
30
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
12000mm
振幅[%]
100
012500mm
走査方向
溶接線
B-R
B-L
（指示なし）
（指示なし）
スペクトラム
スペクトラム
C-06 B’-2パターン（12,000ｍｍ～12,500ｍｍ）
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
位置：12397mm
23
![Page 51: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/51.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-06 Aパターン（12,000ｍｍ～12,500ｍｍ）しきい値20％
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]12500 12000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
76
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
12000mm12500mm
振幅[%]
走査方向
スペクトラム
スペクトラム
100
20
（指示なし）
きずと思われる指示
A-R
A-L
位置：12397mm
30%
24
![Page 52: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/52.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-06 B-2パターン（12,000ｍｍ～12,500ｍｍ）しきい値20％
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2振幅
[%]
0
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]12500 12000
溶接線
裏面表面（1回反射後）
12000mm12500mm
走査方向
振幅[%]
30
96
（指示なし）スペクトラム
100
20
位置：12397mm
B-2
25
![Page 53: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/53.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]12500 12000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
12000mm12500mm
走査方向
溶接線
振幅[%]
30
96
96
30
（指示なし）
（指示なし）
スペクトラム
スペクトラム
C-06 B’-2パターン（12,000ｍｍ～12,500ｍｍ）しきい値20％ 100
20
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
位置：12397mm
B-R
B-L
26
![Page 54: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/54.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-09 指示位置1,004mm
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（走査位置の始点0mmは、走査開始側の溶接線端部にあるT字の中央）（装置走行時のがたつきや蛇行により位置情報に十数mm～数十mm程度の誤差が生じる）
![Page 55: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/55.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]1500 1000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
1000mm
A-R
A-L
振幅[%]
100
01500mm
走査方向
スペクトラム
27%
C-09 Aパターン（1,000ｍｍ～1,500ｍｍ）
きずと思われる指示
位置：1004mm
スペクトラム
（表面付近に指示があるが溶接部から遠い）
28
![Page 56: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/56.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-09 B-2パターン（1,000ｍｍ～1,500ｍｍ）
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2振幅
[%]
0
24
0
100
走査位置[mm]1500 1000
溶接線
裏面表面（1回反射後）
振幅[%]
100
01500mm
走査方向
B-2
30
96
（指示なし）スペクトラム
深さ
[mm
]1000mm
位置：1004mm
29
![Page 57: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/57.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
30
96
24
0
100
走査位置[mm]1500 1000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
96
30
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
振幅[%]
100
01500mm
走査方向
溶接線
B-R
B-L
（指示なし）
（指示なし）
スペクトラム
スペクトラム
C-09 B’-2パターン（1,000ｍｍ～1,500ｍｍ）
深さ
[mm
]深さ
[mm
]1000mm
位置：1004mm
30
![Page 58: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/58.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]1500 1000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
1000mm
A-R
A-L1500mm
走査方向
スペクトラム
27%
C-09 Aパターン（1,000ｍｍ～1,500ｍｍ）しきい値20％
きずと思われる指示
位置：1004mm
スペクトラム
（表面付近に指示があるが溶接部から遠い）
振幅[%]
100
20
31
![Page 59: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/59.jpg)
株式会社IHI検査計測
C-09 B-2パターン（1,000ｍｍ～1,500ｍｍ）しきい値20％
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2振幅
[%]
0
24
0
100
走査位置[mm]1500 1000
溶接線
裏面表面（1回反射後）
1500mm
走査方向
B-2
30
96
（指示なし）スペクトラム
深さ
[mm
]1000mm
位置：1004mm
振幅[%]
100
20
32
![Page 60: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/60.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
30
96
24
0
100
走査位置[mm]1500 1000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
96
30
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
1500mm
走査方向
溶接線
B-R
B-L
（指示なし）
（指示なし）
スペクトラム
スペクトラム
C-09 B’-2パターン（1,000ｍｍ～1,500ｍｍ）
深さ
[mm
]深さ
[mm
]1000mm
位置：1004mm
振幅[%]
100
20
33
![Page 61: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/61.jpg)
株式会社IHI検査計測
K-01 指示位置2,984mm
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（走査位置の始点0mmは、走査開始側の溶接線端部にあるT字の中央）（装置走行時のがたつきや蛇行により位置情報に十数mm～数十mm程度の誤差が生じる）
![Page 62: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/62.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]3000 2500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
2500mm
A-R
A-L
振幅[%]
100
03000mm
走査方向
スペクトラム
スペクトラム66%
K-01 Aパターン（2,500ｍｍ～3,000ｍｍ）
きずと思われる指示
（指示なし）
位置：2984mm
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
35
![Page 63: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/63.jpg)
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K-01 B-2パターン（2,500ｍｍ～3,000ｍｍ）
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2振幅
[%]
0
24
0
100
走査位置[mm]3000 2500
溶接線
裏面表面（1回反射後）
2500mm
振幅[%]
100
03000mm
走査方向
B-2
30
96
（指示なし）スペクトラム
位置：2984mm
深さ
[mm
]
36
![Page 64: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/64.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
30
96
24
0
100
走査位置[mm]3000 2500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
96
30
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
2500mm
振幅[%]
100
03000mm
走査方向
溶接線
B-R
B-L
（指示なし）
（指示なし）
スペクトラム
スペクトラム
K-01 B’-2パターン（2,500ｍｍ～3,000ｍｍ）
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
深さ
[mm
]
位置：2984mm
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
37
![Page 65: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/65.jpg)
株式会社IHI検査計測
K-01 Aパターン（2,500ｍｍ～3,000ｍｍ）しきい値20％
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
振幅
[%]
A-L
0
0
76
24
0
100
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
76
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
振幅[%]
スペクトラム
スペクトラム
100
20
（指示なし）
きずと思われる指示
深さ
[mm
]A-R 走査位置[mm]3000 2500
2500mm
A-R
A-L3000mm
走査方向
位置：2984mm
66%
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
38
![Page 66: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/66.jpg)
株式会社IHI検査計測
K-01 B-2パターン（2,500ｍｍ～3,000ｍｍ）しきい値20％
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2振幅
[%]
0
24
0
100
走査位置[mm]3000 2500
溶接線
裏面表面（1回反射後）
3500mm3000mm
走査方向
B-2
30
96
（指示なし）スペクトラム
位置：2984mm
深さ
[mm
]
振幅[%]
100
20
39
![Page 67: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/67.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
30
96
24
0
100
走査位置[mm]3000 2500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
96
30
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
2500mm3000mm
走査方向
溶接線
B-R
B-L
（指示なし）
（指示なし）
スペクトラム
スペクトラム
K-01 B’-2パターン（2,500ｍｍ～3,000ｍｍ）しきい値20％
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
深さ
[mm
]
位置：2984mm
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
振幅[%]
100
20
40
![Page 68: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/68.jpg)
株式会社IHI検査計測
K-01 指示位置5,416mm
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（走査位置の始点0mmは、走査開始側の溶接線端部にあるT字の中央）（装置走行時のがたつきや蛇行により位置情報に十数mm～数十mm程度の誤差が生じる）
![Page 69: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/69.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]5500 5000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
5000mm
A-R
A-L
振幅[%]
100
05500mm
走査方向
スペクトラム
スペクトラム
K-01 Aパターン（5,000ｍｍ～5,500ｍｍ）
きずと思われる指示
（指示なし）
位置：5416mm
39%
42
![Page 70: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/70.jpg)
株式会社IHI検査計測
K-01 B-2パターン（5,000ｍｍ～5,500ｍｍ）
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2振幅
[%]
0
24
0
100
走査位置[mm]5500 5000
溶接線
裏面表面（1回反射後）
5000mm
振幅[%]
100
05500mm
走査方向
B-2
30
96
（指示なし）スペクトラム
深さ
[mm
]
位置：5416mm
43
![Page 71: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/71.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
30
96
24
0
100
走査位置[mm]5500 5000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
96
30
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
5000mm
振幅[%]
100
05500mm
走査方向
溶接線
B-R
B-L
（指示なし）
（指示なし）
スペクトラム
スペクトラム
K-01 B’-2パターン（5,000ｍｍ～5,500ｍｍ）
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
深さ
[mm
]
位置：5416mm
44
![Page 72: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/72.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]5500 5000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
5000mm
A-R
A-L5500mm
走査方向
スペクトラム
スペクトラム
K-01 Aパターン（5,000ｍｍ～5,500ｍｍ）しきい値20％
きずと思われる指示
（指示なし）
位置：5416mm
39%
振幅[%]
100
20
45
![Page 73: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/73.jpg)
株式会社IHI検査計測
K-01 B-2パターン（5,000ｍｍ～5,500ｍｍ）しきい値20％
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2振幅
[%]
0
24
0
100
走査位置[mm]5500 5000
溶接線
裏面表面（1回反射後）
5000mm5500mm
走査方向
B-2
30
96
（指示なし）スペクトラム
深さ
[mm
]
位置：5416mm
振幅[%]
100
20
46
![Page 74: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/74.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
30
96
24
0
100
走査位置[mm]5500 5000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
96
30
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
5000mm5500mm
走査方向
溶接線
B-R
B-L
（指示なし）
（指示なし）
スペクトラム
スペクトラム
K-01 B’-2パターン（5,000ｍｍ～5,500ｍｍ）しきい値20％
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
深さ
[mm
]
位置：5416mm
振幅[%]
100
20
47
![Page 75: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/75.jpg)
株式会社IHI検査計測
K-01 指示位置8,368mm
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（走査位置の始点0mmは、走査開始側の溶接線端部にあるT字の中央）（装置走行時のがたつきや蛇行により位置情報に十数mm～数十mm程度の誤差が生じる）
![Page 76: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/76.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]8500 8000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
8000mm
A-R
A-L
振幅[%]
100
08500mm
走査方向
スペクトラム
スペクトラム
K-01 Aパターン（8,000ｍｍ～8,500ｍｍ）
きずと思われる指示
（指示なし）
位置：8368mm
30%
49
![Page 77: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/77.jpg)
株式会社IHI検査計測
K-01 B-2パターン（8,000ｍｍ～8,500ｍｍ）
Copyright © 2017 IHI Inspection & Instrumentation Co., Ltd. All Rights Reserved.
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2振幅
[%]
0
24
0
100
走査位置[mm]8500 8000
溶接線
裏面表面（1回反射後）
8000mm
振幅[%]
100
08500mm
走査方向
B-2
30
96
（指示なし）スペクトラム
深さ
[mm
]
位置：8368mm
50
![Page 78: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/78.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
30
96
24
0
100
走査位置[mm]8500 8000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
96
30
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
8000mm
振幅[%]
100
058500mm
走査方向
溶接線
B-R
B-L
（指示なし）
（指示なし）
スペクトラム
スペクトラム
K-01 B’-2パターン（8,000ｍｍ～8,500ｍｍ）
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
深さ
[mm
]
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
位置：8368mm
51
![Page 79: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/79.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]8500 8000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
8000mm
A-R
A-L8500mm
走査方向
スペクトラム
スペクトラム
K-01 Aパターン（8,000ｍｍ～8,500ｍｍ）しきい値20％
きずと思われる指示
（指示なし）
位置：8368mm
30%
振幅[%]
100
20
52
![Page 80: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/80.jpg)
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K-01 B-2パターン（8,000ｍｍ～8,500ｍｍ）しきい値20％
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2振幅
[%]
0
24
0
100
走査位置[mm]8500 8000
溶接線
裏面表面（1回反射後）
8000mm8500mm
走査方向
B-2
30
96
（指示なし）スペクトラム
深さ
[mm
]
位置：8368mm
振幅[%]
100
20
53
![Page 81: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/81.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
30
96
24
0
100
走査位置[mm]8500 8000
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
96
30
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
8000mm58500mm
走査方向
溶接線
B-R
B-L
（指示なし）
（指示なし）
スペクトラム
スペクトラム
K-01 B’-2パターン（8,000ｍｍ～8,500ｍｍ）しきい値20％
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
深さ
[mm
]
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
位置：8368mm
振幅[%]
100
20
54
![Page 82: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/82.jpg)
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L-01 指示位置1,594mm
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（走査位置の始点0mmは、走査開始側の溶接線端部にあるT字の中央）（装置走行時のがたつきや蛇行により位置情報に十数mm～数十mm程度の誤差が生じる）
![Page 83: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/83.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]2000 1500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（底面で1回反射後）
1500mm
A-R
A-L
振幅[%]
100
02000mm
走査方向
位置：1594mm
スペクトラム
スペクトラム 26%
L-01 Aパターン（1,500ｍｍ～2,000ｍｍ）
きずと思われる指示
（指示なし）
56
![Page 84: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/84.jpg)
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L-01 B-2パターン（1,500ｍｍ～2,000ｍｍ）
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2
スペクトラム
振幅
[%]
0
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]2000 1500
溶接線
裏面表面（1回反射後）
1500mm
振幅[%]
100
02000mm
走査方向
B-2
30
96
（指示なし）
位置：1594mm
57
![Page 85: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/85.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
30
96
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]2000 1500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
96
30
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
1500mm
振幅[%]
100
02000mm
走査方向
溶接線
B-R
B-L
（指示なし）
（指示なし）
位置：1594mm
スペクトラム
スペクトラム
L-01 B’-2パターン（1,500ｍｍ～2,000ｍｍ）
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
58
![Page 86: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/86.jpg)
株式会社IHI検査計測
L-01 Aパターン（1,500ｍｍ～2,000ｍｍ）しきい値20％
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]2000 1500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
76
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
1500mm
A-R
A-L2000mm
振幅[%]
走査方向
スペクトラム
スペクトラム
位置：1594mm
26%
100
20
（指示なし）
きずと思われる指示
59
![Page 87: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/87.jpg)
株式会社IHI検査計測
L-01 B-2パターン（1,500ｍｍ～2,000ｍｍ）しきい値20％
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2振幅
[%]
0
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]2000 1500
溶接線
裏面表面（1回反射後）
1500mm2000mm
走査方向
振幅[%]
30
96
（指示なし）スペクトラム
B-2
位置：1594mm
100
20
60
![Page 88: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/88.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]2000 1500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
1500mm2000mm
走査方向
溶接線
振幅[%]
30
96
96
30
（指示なし）
（指示なし）
スペクトラム
スペクトラム
L-01 B’-2パターン（1,500ｍｍ～2,000ｍｍ）しきい値20％B-R
B-L
位置：1594mm
100
20
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
61
![Page 89: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/89.jpg)
株式会社IHI検査計測
L-01 指示位置4,536mm
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（走査位置の始点0mmは、走査開始側の溶接線端部にあるT字の中央）（装置走行時のがたつきや蛇行により位置情報に十数mm～数十mm程度の誤差が生じる）
![Page 90: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/90.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]5000 4500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
76
0
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（底面で1回反射後）
4500mm
A-R
A-L
振幅[%]
100
05000mm
走査方向
位置：4536mm
スペクトラム
スペクトラム44%
L-01 Aパターン（4,500ｍｍ～5,000ｍｍ）
きずと思われる指示
（指示なし）
63
![Page 91: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/91.jpg)
株式会社IHI検査計測
L-01 B-2パターン（4,500ｍｍ～5,000ｍｍ）
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2
スペクトラム
振幅
[%]
0
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]5000 4500
溶接線
裏面表面（1回反射後）
4500mm
振幅[%]
100
05000mm
走査方向
B-2
30
96
（指示なし）
位置：4536mm
64
![Page 92: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/92.jpg)
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
30
96
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]5000 4500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
96
30
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
4500mm
振幅[%]
100
05000mm
走査方向
溶接線
B-R
B-L
（指示なし）
（指示なし）
スペクトラム
スペクトラム
L-01 B’-2パターン（4,500ｍｍ～5,000ｍｍ）
位置：4536mm
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
65
![Page 93: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/93.jpg)
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L-01 Aパターン（4,500ｍｍ～5,000ｍｍ）しきい値20％
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Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
A-R振幅
[%]
A-L
0
0
76
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]5000 4500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
76
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
溶接線
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
4500mm5000mm
振幅[%]
走査方向
スペクトラム
スペクトラム
100
20
A-R
A-L
位置：4536mm
44%きずと思われる指示
（指示なし）
66
![Page 94: 資料1－4 - fdma.go.jp...位置[mm] 2,9835,4178,3691,5944,536 A-R × × × × × A-L B-2 × × × × × B-R × × × × × B-L × × × × × K-01 L-01 10ヶ所の指示が得られた探傷パターンを以下に示す。その結果、Bパターンでは指示が得ら](https://reader036.pdfslide.net/reader036/viewer/2022081619/60fd46d32ba71a6b8e2cc40e/html5/thumbnails/94.jpg)
株式会社IHI検査計測
L-01 B-2パターン（4,500ｍｍ～5,000ｍｍ）しきい値20％
Copyright © 2017 IHI Inspection & Instrumentation Co., Ltd. All Rights Reserved.
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-2振幅
[%]
0
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]5000 4500
溶接線
裏面表面（1回反射後）
4500mm5000mm
走査方向
振幅[%]
30
96
（指示なし）スペクトラム
100
20
B-2
位置：4536mm
67
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株式会社IHI検査計測Copyright © 2017 IHI Inspection & Instrumentation Co., Ltd. All Rights Reserved.
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
B-R振幅
[%]
B-L
0
深さ
[mm
]
24
0
100
走査位置[mm]5000 4500
Cスコープ(上面像)
Bスコープ(側面像)
0
240
100
振幅
[%]
深さ
[mm
]
裏面表面（1回反射後）
溶接線
裏面
表面（1回反射後）
4500mm5000mm
走査方向
溶接線
振幅[%]
30
96
96
30
（指示なし）
（指示なし）
スペクトラム
スペクトラム
L-01 B’-2パターン（4,500ｍｍ～5,000ｍｍ）しきい値20％ 100
20
B-R
B-L
位置：4536mm
（超音波の多重反射によるエコー⇒評価対象外）
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