MICROSCOPIA ELECTRNICA DE BARRIDO O SEM
UNIVERSIDAD NACIONAL DEL SANTA
FACULTAD DE INGENIERA
E.A.P. INGENIERA AGROINDUSTRIAL
CURSO: QUMICA ANALTICADOCENTE: Daniel Snchez VacaCICLO:
IIIINTEGRANTES:
NDICE
INTRODUCCIN
El Microscopio electrnico de barrido o SEM (Scanning Electron
Microscopy), utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz
para formar una imagen ampliada de la superficie de un objeto. Es
un instrumento que permite la observacin y caracterizacin
superficial de slidos inorgnicos y orgnicos. Tiene una gran
profundidad de campo, la cual permite que se enfoque a la vez una
gran parte de la muestra.
El microscopio electrnico de barrido est equipado con diversos
detectores, entre los que se pueden mencionar: el detector de
electrones secundarios para obtener imgenes de alta resolucin SEI
(Secundary Electron Image), un detector de electrones
retrodispersados que permite la obtencin de imgenes de composicin y
topografa de la superficie BEI (Backscattered Electron Image), y un
detector de energa dispersiva EDS ( Energy Dispersive Spectrometer)
permite colectar los Rayos X generados por la muestra y realizar
diversos anlisis semicuantitativo y de distribucin de elementos en
superficies.
Se pueden realizar estudios de los aspectos morfolgicos de zonas
microscpicas de los distintos materiales con los que trabajan los
investigadores cientficos y las empresas privadas, adems del
procesamiento y anlisis de las imgenes obtenidas. Las principales
utilidades del SEM son la alta resolucin (~1 nm), la gran
profundidad de campo que le da apariencia tridimensional a las
imgenes y la sencilla preparacin de las muestras.
La preparacin de las muestras es relativamente sencilla las
principales caractersticas son: muestra slida, conductora. Caso
contario, la muestra es recubierta con una capa de carbn o una capa
delgada de un metal como el oro para darle propiedades conductoras
a la muestra. De lo contrario, las muestras no conductoras se
trabajan en bajo vaco.
Las aplicaciones del equipo son muy variadas, y van desde la
industria petroqumica o la metalurgia hasta la medicina
forense.
CAPTULO I PRINCIPIOS
1. Principio de FuncionamientoEl microscopio electrnico de
transmisin (TEM) fue el primer tipo de microscopio electrnico
desarrollado, en 1931. Utiliza un haz de electrones en lugar de luz
para enfocar la muestra consiguiendo aumentos de 100.000 X. Para
ello emplea las propiedades ondulatorias de los electrones porque
genera imgenes de los objetos que no pueden verse a simple vista o
con el microscopio de luz. Segn las leyes de la ptica, es imposible
formar una imagen de un objeto de dimensiones inferiores a la mitad
de la longitud de onda de la luz empleada para observarlo. Dado que
el intervalo de longitudes de onda de la luz visible comienza
alrededor de 400 nanmetros (00000004 metros), no es posible ver
algo que mida menos de 00000002 metros.
En principio, con los rayos X se pueden ver objetos en la escala
atmica y molecular porque sus longitudes de onda estn entre 0,01 y
10 nm. Sin embargo, no es posible enfocar los rayos X, y las
imgenes que se obtienen son difusas. El microscopio electrnico, al
trabajar con partculas cargadas, los electrones, se enfocan
aplicando un campo elctrico o un campo magntico, de la misma forma
en que se enfoca una imagen en la pantalla de televisin. Segn la
mecnica cuntica, la longitud de onda de un electrn est en proporcin
inversa con su velocidad, por lo que si los electrones se aceleran
a grandes velocidades, se obtienen longitudes de onda tan cortas
como 0,004 nm.Micrografa (50X) con microscopa electrnica de barrido
(SEM) de las capas de la piel con una glndula en el centro
En 1942 se desarroll el microscopio electrnico de barrido (SEM),
con una resolucin entre 3 y 20 nm, dependiendo del microscopio.
Aunque permite una menor capacidad de aumento que el microscopio
electrnico de transmisin, este permite apreciar con mayor facilidad
texturas y objetos en tres dimensiones que hayan sido pulverizados
metlicamente antes de su observacin. Por esta razn solamente pueden
ser observados organismos muertos, y no se puede ir ms all de la
textura externa que se quiera ver. Los microscopios electrnicos slo
pueden ofrecer imgenes en blanco y negro puesto que no utilizan la
luz. Posteriormente son coloreadas las imgenes digitales para
proporcionar ms realismo.
CAPTULO II FUNDAMENTOS
Microscopa electrnica de barrido. SEM del ingls Scanning
Electron Microscopy. Los electrones secundarios de baja energa
(
